JP5917133B2 - 防振制御装置、防振制御方法、光学機器、撮像装置 - Google Patents
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Description
図1及び図2は本発明の第1の実施形態に係わる防振制御装置(補正機構)を備えた撮像装置としてのデジタルカメラを示す平面図及び側面図である。このカメラに搭載される防振システムは、光軸102に対して矢印103p、103yで示す振れ(以下、角度振れ)、及び矢印104p、104yで示す振れ(以下、平行振れ)に対して振れ補正を行う。
V=Lω …(2)
A=Lωa …(3)
尚、回転半径L(502p)は、回転中心501pから加速度計109pまでの距離である。
ここで、右辺第1項のf、βは撮像光学系のズーム、フォーカス及びそれにより得られる撮影倍率βや焦点距離fより求まり、振れ角度θは角速度計108pの積分結果より求まる。よってその情報に応じて、図3を用いて説明したように、振れ補正レンズ111の移動量を算出し、角度振れ補正を行うことができる。
即ち、平行振れに関しては、加速度計109pより直接求まる平行振れ変位Yを用いるのではない。一旦式(1)或いは式(2)或いは式(3)で求まる回転半径Lを求め、この回転半径Lと角速度計108pの出力の積分結果θとズーム、フォーカス及びそれにより得られる撮影倍率βにより補正している。
また、近接撮影は水平方向に対してのみならず、例えば撮像装置を真下に向けて撮影するシーンのように、あおり方向の撮像装置の傾きも考えられる。あおり方向の傾き検知方法は、正位置姿勢の場合はY軸成分とZ軸成分に関して、縦位置姿勢の場合はZ軸成分とX軸成分に関して各々の加速度出力を用いれば角度θが求まる。
本実施形態では、比較部308の出力に重み付けゲインを乗算しているが、角速度計BPF部306の出力、加速度計BPF部307の出力に重み付けゲインを乗算しても良い。また、各々に重み付けゲインを乗算しても良い。
本実施形態は、以下の点で第1の実施形態と異なる。本実施形態では、サンプリング毎に角速度計の出力信号と加速度計の出力信号の相関性の判定を行い、相関性が高い場合は1倍程度の補正ゲインを設定し積極的に平行振れ補正を行う。また、相関性が低い場合は0.5倍程度の補正ゲインを設定し平行振れ補正を弱めるようにする。
回転半径算出部801の出力は上限処理部802に入力され、上限値にクランプされた信号を出力する。
Claims (4)
- 光学機器に搭載される防振制御装置であって、
前記光学機器の振れによる画像ブレを、補正部材を移動させることにより補正する振れ補正手段と、
前記振れの角速度を検出する第1振れ検出手段と、
前記第1振れ検出手段とは異なる方法で振れを検出する第2振れ検出手段と、
前記光学機器の傾き位置を検出する姿勢検出手段と、
前記第1振れ検出手段の出力に基づく第1信号と前記第2振れ検出手段の出力に基づく第2信号と前記姿勢検出手段に基づく姿勢判定値とを用いて、前記補正部材の移動量である補正値を演算する演算手段と、
前記補正値を用いて前記第1振れ検出手段の出力を補正する出力手段とを備え、
前記演算手段は、各姿勢判定値により変化する、前記第1振れ検出手段の出力に基づく第1信号と第2振れ検出手段の出力に基づく第2信号の相関性に基づいて、前記振れ補正手段のピッチ軸方向の補正値及びヨー軸方向の補正値に対して重み付けを行い、
前記演算手段は、前記姿勢検出手段にて水平正位置姿勢と判定された場合、前記ヨー軸方向の補正値のゲインを前記ピッチ軸方向の補正値のゲインよりも低くし、前記姿勢検出手段にて水平縦位置姿勢と判定された場合、前記ピッチ軸方向の補正値のゲインを前記ヨー軸方向の補正値のゲインよりも低くすることを特徴とする防振制御装置。 - 請求項1に記載の防振制御装置を備えた光学機器。
- 請求項1に記載の防振制御装置を備えた撮像装置。
- 光学機器に搭載される防振制御装置の防振制御方法であって、
前記光学機器の振れによる画像ブレを補正部材を移動させることにより補正する振れ補正工程と、
前記振れの角速度を検出する第1振れ検出工程と、
前記第1振れ検出工程とは異なる方法で振れを検出する第2振れ検出工程と、
前記光学機器の傾き位置を検出する姿勢検出工程と、
前記第1振れ検出工程の出力に基づく第1信号と前記第2振れ検出工程の出力に基づく第2信号と前記姿勢検出工程に基づく姿勢判定値とを用いて、前記補正部材の移動量である補正値を演算する演算工程と、
前記補正値を用いて前記第1振れ検出工程の出力を補正する出力工程とを備え、
前記演算工程においては、各姿勢判定値により変化する、前記第1振れ検出工程の出力に基づく第1信号と第2振れ検出工程の出力に基づく第2信号の相関性に基づいて、前記振れ補正工程でのピッチ軸方向の補正値及びヨー軸方向の補正値に対して重み付けを行い、
前記演算工程においては、前記姿勢検出工程にて水平正位置姿勢と判定された場合、前記ヨー軸方向の補正値のゲインを前記ピッチ軸方向の補正値のゲインよりも低くし、前記姿勢検出工程にて水平縦位置姿勢と判定された場合、前記ピッチ軸方向の補正値のゲインを前記ヨー軸方向の補正値のゲインよりも低くすることを特徴とする防振制御方法。
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