JP5900171B2 - デューティ比補正回路、ダブルエッジ装置及びデューティ比補正方法 - Google Patents
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Description
図1(A)は第1の実施形態によるダブルエッジ装置の構成例を示す図であり、図1(B)は図1(A)のダブルエッジ装置の処理例を示すタイミングチャートである。ダブルエッジ装置は、デューティ比補正回路103及びコンパレータ101,102を有する。デューティ比補正回路103は、クロック信号CLK1を入力し、クロック信号CLK1のデューティ比を補正し、クロック信号CLK11を出力する。デューティ比は、クロック信号のハイレベル期間をクロック信号の周期で割った値である。
図13は、図6に対応し、図5の位相補間器502の誤差によりスキューエラー1301が発生する例を示すタイミングチャートである。位相補間器502に誤差がある場合には、クロック信号φ0及びφ1の位相差がπ/2[rad]にならず、差動クロック信号CLK11及びCLK12のデューティ比が50%でなくなってしまう。図13の場合には、クロック信号φ0及びφ1の位相差がπ/2[rad]より大きくなり、クロック信号CLK11のデューティ比が50%より大きくなってしまい、デューティ比の補正に誤差が生じてしまう。第2の実施形態では、上記の場合にも、デューティ比を50%に補正することができる実施形態を説明する。
図15は第3の実施形態によるデューティ比補正回路103の構成例を示す図であり、図16は図15のデューティ比補正回路103の処理例を示すタイミングチャートである。図15の回路は、図5の回路に対して、スキュー検出回路1402及び位相コード変換部1501を追加したものである。以下、図15の回路が図5の回路と異なる点を説明する。
図17は、第4の実施形態によるデューティ比補正回路103の構成例を示す図である。本実施形態では、位相補間器502及び逓倍器503の誤差を補正することができるデューティ比補正回路103を示す。逓倍器503が誤差を有する場合には、クロック信号φ0及びφ1の位相差がπ/2[rad]であっても、クロック信号CLK11及びCLK12のデューティ比が50%にならない。デューティ比検出回路1701は、逓倍器503により出力されるクロック信号CLK11(又はCLK12)のデューティ比を検出する。位相コード変換部1501は、デューティ比検出回路1701により検出されたデューティ比に応じて、逓倍器503が出力するクロック信号CLK11及びCLK12のデューティ比が50%になるように、位相コードPHを出力する。位相補間器502は、位相コードPHに応じた重み付け係数wで位相補間を行う。これにより、逓倍器503が出力するクロック信号CLK11及びCLK12のデューティ比が50%になる。
501 分周器
502 位相補間器
503 逓倍器
1401 遅延器
1402 スキュー検出回路
1501 位相コード変換部
1701 デューティ比検出回路
Claims (7)
- 第1のクロック信号を入力し、前記第1のクロック信号の立ち上がりエッジのタイミング毎にレベル反転する第2のクロック信号及び前記第1のクロック信号の立ち下がりエッジのタイミング毎にレベル反転する第3のクロック信号を出力する分周器と、
前記第2のクロック信号と第3のクロック信号とを第1の重み付け係数を用いて位相補間することにより第4のクロック信号を生成し、前記第3のクロック信号と前記第2のクロック信号の反転信号とを第2の重み付け係数を用いて位相補間することにより第5のクロック信号を生成する位相補間器と、
前記第4のクロック信号及び前記第5のクロック信号の排他的論理和信号を第6のクロック信号として出力する逓倍器と
を有することを特徴とするデューティ比補正回路。 - 前記位相補間器は、さらに、前記第2のクロック信号の反転信号と前記第3のクロック信号の反転信号とを第3の重み付け係数を用いて位相補間することにより第7のクロック信号を生成し、前記第3のクロック信号の反転信号と前記第2のクロック信号とを第4の重み付け係数を用いて位相補間することにより第8のクロック信号を生成し、
前記逓倍器は、さらに、前記第7のクロック信号及び前記第8のクロック信号の排他的論理和信号を第9のクロック信号として出力することを特徴とする請求項1記載のデューティ比補正回路。 - さらに、前記位相補間器により生成された前記第4のクロック信号及び前記第5のクロック信号の位相差を検出する位相差検出器と、
前記位相差検出器により検出された位相差に応じて、前記第4のクロック信号又は前記第5のクロック信号を遅延して前記逓倍器に出力する遅延器とを有することを特徴とする請求項1又は2記載のデューティ比補正回路。 - さらに、前記位相補間器により生成された前記第4のクロック信号及び前記第5のクロック信号の位相差を検出する位相差検出器を有し、
前記位相補間器は、前記位相差検出器により検出された位相差に応じた重み付け係数を用いて位相補間することを特徴とする請求項1又は2記載のデューティ比補正回路。 - さらに、前記逓倍器により出力される前記第6のクロック信号のデューティ比を検出するデューティ比検出回路を有し、
前記位相補間器は、前記デューティ比検出回路により検出されたデューティ比に応じた重み付け係数を用いて位相補間することを特徴とする請求項1又は2記載のデューティ比補正回路。 - デューティ比補正回路と、
ダブルエッジ回路とを有し、
前記デューティ比補正回路は、
第1のクロック信号を入力し、前記第1のクロック信号の立ち上がりエッジのタイミング毎にレベル反転する第2のクロック信号及び前記第1のクロック信号の立ち下がりエッジのタイミング毎にレベル反転する第3のクロック信号を出力する分周器と、
前記第2のクロック信号と第3のクロック信号とを第1の重み付け係数を用いて位相補間することにより第4のクロック信号を生成し、前記第3のクロック信号と前記第2のクロック信号の反転信号とを第2の重み付け係数を用いて位相補間することにより第5のクロック信号を生成する位相補間器と、
前記第4のクロック信号及び前記第5のクロック信号の排他的論理和信号を第6のクロック信号として出力する逓倍器とを有し、
前記ダブルエッジ回路は、
前記第6のクロック信号の立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジの両方のタイミングに同期して処理を行うことを特徴とするダブルエッジ装置。 - 第1のクロック信号を入力し、前記第1のクロック信号の立ち上がりエッジのタイミング毎にレベル反転する第2のクロック信号及び前記第1のクロック信号の立ち下がりエッジのタイミング毎にレベル反転する第3のクロック信号を出力し、
前記第2のクロック信号と第3のクロック信号とを第1の重み付け係数を用いて位相補間することにより第4のクロック信号を生成し、前記第3のクロック信号と前記第2のクロック信号の反転信号とを第2の重み付け係数を用いて位相補間することにより第5のクロック信号を生成し、
前記第4のクロック信号及び前記第5のクロック信号の排他的論理和信号を第6のクロック信号として出力することを特徴とするデューティ比補正方法。
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