JP5855667B2 - 較正検出システム及び方法 - Google Patents
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- 入力信号を受信し、前記入力信号に処理を施し、前記信号及び前記処理に少なくとも部分的に基づいて出力信号を供給するように構成された電子装置(8)を較正する際に用いる較正検出システム(4)であって、
プロセッサ(48)及びストレージ(52)を含むプロセッサ装置(32)と、
前記プロセッサと通信状態にあり、少なくとも第1の信号発生器(56)及び少なくとも第1の測定デバイス(60)を含む評価装置(36)と、
複数のリード(80A〜80J)を含む接続装置(40)であって、前記リードの少なくとも一部がそれぞれ前記少なくとも第1の信号発生器及び前記少なくとも第1の測定デバイスの少なくとも一方に接続され、且つ前記電子装置と接続されるように構成された接続装置と、を含み、
前記ストレージが1つ以上のルーチンを格納しており、前記ルーチンが前記プロセッサで実行されると、
前記少なくとも第1の信号発生器から少なくとも第1の入力信号を第1の数の前記リードを通じて前記電子装置に入力することと、
前記少なくとも第1の測定デバイスによって少なくとも第1の出力信号を第2の数の前記リードを通じて前記電子装置から検出することと、
前記少なくとも第1の入力信号及び前記少なくとも第1の出力信号に少なくとも部分的に基づいて、前記電子装置の少なくとも一部が適当に較正されているか否かの判定を行うことと、
を含む動作を前記較正検出システムに実行させる、較正検出システム。 - 前記動作が、前記第1の数の前記リード及び前記第2の数の前記リードが接続される前記電子装置の多数の場所を表す命令を出力することを更に含む、請求項1に記載の較正検出システム。
- 前記ストレージが前記電子装置に関連する試験プロトコルを格納し、前記動作が、
前記電子装置の識別子を表す入力を検出することと、
前記電子装置の前記識別子を用いて前記試験プロトコルの少なくとも一部を前記ストレージから検索することと、
前記試験プロトコルの前記少なくとも一部から、前記第1の数の前記リード及び前記第2の数の前記リードが接続される前記電子装置の前記多数の場所を取得することと、
を更に含む、請求項2に記載の較正検出システム。 - 前記ストレージが前記電子装置に関連する試験プロトコルを格納し、前記動作が、前記判定を行う際に前記試験プロトコルの少なくとも一部を用いることを更に含む、請求項1に記載の較正検出システム。
- 前記動作が、前記判定及び前記試験プロトコルの少なくとも一方に少なくとも部分的に基づいて、
前記電子装置の特定のコンポーネントを交換するべきであることと、
前記電子装置の特定のコンポーネントを調整するべきであること、
前記電子装置の特定のコンポーネントを一新するべきであること、
の少なくとも1つである指示を出力することを更に含む、請求項4に記載の較正検出システム。 - 前記動作が、前記命令が実行されたことを表す入力を検出することと、検出したことに応答して、前記入力、前記検出、及び前記判定を再び行うことと、を更に含む、請求項5に記載の較正検出システム。
- 前記動作が、
前記少なくとも第1の入力信号として複数の入力信号を入力すること、
前記少なくとも第1の出力信号として、少なくとも一部がそれぞれ前記複数の入力信号の少なくとも1つに応答する複数の出力信号を検出すること、
前記判定として、前記複数の入力信号の少なくとも一部及び前記複数の出力信号の少なくとも一部に少なくとも部分的に基づいて判定を行うこと、
を含む、請求項1に記載の較正検出システム。 - 前記動作が、
前記複数の入力信号の少なくとも2つを同時に入力することと、
前記複数の出力信号の少なくとも2つを同時に検出すること、
の少なくとも一方を更に含む、請求項7に記載の較正検出システム。 - 前記評価装置が前記プロセッサと通信状態にある複数の測定デバイスを更に含み、前記動作が、
前記複数の測定デバイスの1つの測定デバイス(60)によって前記複数の出力信号の1つの出力信号と、
前記複数の測定デバイスの別の測定デバイス(64)によって前記複数の出力信号の別の出力信号と、
を同時に検出することを更に含む、請求項8に記載の較正検出システム。 - 前記接続装置が、前記リードの少なくとも一部と前記評価装置の少なくとも一部との間に接続された切り換え装置(76)を更に含み、前記動作が、前記少なくとも第1の信号発生器及び前記少なくとも第1の測定デバイスの前記少なくとも一方の間で、前記リードの前記少なくとも一部のうち少なくとも第1のリードの接続を、前記切り換え装置により、前記プロセッサ装置からの多数の信号に応答して、切り換えることを更に含む、請求項1に記載の較正検出システム。
- 入力信号を受信し、前記入力信号に処理を施し、前記信号及び前記処理に少なくとも部分的に基づいて出力信号を供給するように構成された電子装置(8)を較正するに当たって較正検出システム(4)を動作させる方法であって、前記較正検出システムが、プロセッサ(48)及びストレージ(52)を含むプロセッサ装置(32)と、前記プロセッサと通信状態にあり、少なくとも第1の信号発生器(56)及び少なくとも第1の測定デバイス(60)を含む評価装置(36)と、複数のリード(80A〜80J)を含み、前記リードの少なくとも一部がそれぞれ前記少なくとも第1の信号発生器及び前記少なくとも第1の測定デバイスの少なくとも一方に接続され、且つ前記電子装置と接続されるように構成された接続装置と、を含み、前記方法が、
前記少なくとも第1の信号発生器からの少なくとも第1の入力信号を第1の数の前記リードを通じて前記電子装置に入力することと、
前記少なくとも第1の測定デバイスによって少なくとも第1の出力信号を第2の数の前記リードを通じて前記電子装置から検出することと、
前記少なくとも第1の入力信号及び前記少なくとも第1の出力信号に少なくとも部分的に基づいて、前記電子装置の少なくとも一部が適当に較正されているか否かの判定を行うことと、
を含む、方法。 - 前記第1の数の前記リード及び前記第2の数の前記リードが接続される前記電子装置の多数の場所を表す命令を出力することを更に含む、請求項11に記載の方法。
- 前記ストレージが前記電子装置に関連する試験プロトコルを格納しており、
前記電子装置の識別子を表す入力を検出することと、
前記電子装置の前記識別子を用いて前記試験プロトコルの少なくとも一部を前記ストレージから検索することと、
前記試験プロトコルの前記少なくとも一部から、前記第1の前記リード及び前記第2の数の前記リードが接続される前記電子装置の前記多数の場所を取得することと、
を更に含む、請求項12に記載の方法。 - 前記ストレージが前記電子装置に関連する試験プロトコルを格納しており、
前記判定を行う際に前記試験プロトコルの少なくとも一部を用いることを更に含む、請求項11に記載の方法。 - 前記判定及び前記試験プロトコルの少なくとも一方に少なくとも部分的に基づいて、
前記電子装置の特定のコンポーネントを交換するべきであること、
前記電子装置の特定のコンポーネントを調整するべきであること、
前記電子装置の特定のコンポーネントを一新するべきであること、
の少なくとも1つである指示を出力することを更に含む、請求項14に記載の方法。 - 前記命令が実行されたことを表す入力を検出することと、
検出したことに応答して、前記入力、前記検出、及び前記判定を再び行うことと、を更に含む、請求項15に記載の方法。 - 前記少なくとも第1の入力信号として複数の入力信号を入力することと、
前記少なくとも第1の出力信号として、少なくとも一部がそれぞれ前記複数の入力信号の少なくとも1つに応答する複数の出力信号を検出することと、
前記判定として、前記複数の入力信号の少なくとも一部及び前記複数の出力信号の少なくとも一部に少なくとも部分的に基づいて判定を行うこと、
を更に含む、請求項11に記載の方法。 - 前記複数の入力信号の少なくとも2つを同時に入力することと、
前記複数の出力信号の少なくとも2つを同時に検出すること、
の少なくとも一方を更に含む、請求項17に記載の方法。 - 前記評価装置が前記プロセッサと通信状態にある複数の測定デバイスを更に含み、
前記複数の測定デバイスの1つの測定デバイス(60)によって前記複数の出力信号の1つの出力信号と、
前記複数の測定デバイスの別の測定デバイス(64)によって前記複数の出力信号の別の出力信号と、
を同時に検出することを更に含む、請求項18に記載の方法。 - 前記接続装置が、前記リードの少なくとも一部と前記評価装置の少なくとも一部との間に接続された切り換え装置(76)を更に含み、前記少なくとも第1の信号発生器及び前記少なくとも第1の測定デバイスの前記少なくとも一方の間で、前記リードの前記少なくとも一部のうち少なくとも第1のリードの接続を、前記切り換え装置により、前記プロセッサ装置からの多数の信号に応答して、切り換えることを更に含む、請求項11に記載の方法。
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