KR20140020825A - 캘리브레이션 검출 시스템 및 방법 - Google Patents

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Abstract

전자 장치의 캘리브레이팅 시에 사용하기 위한 개선된 캘리브레이션 검출 시스템은 프로세서 장치, 평가 장치, 및 접속 장치를 포함한다. 접속 장치는 복수의 리드를 포함하고, 프로세서에 의해 동작되어 다양한 리드를 평가 장치의 다양한 구성요소로 내부적으로 스위칭하여 접속시킨다.모든 리드가 전자 장치의 초기에 접속되도록함으로써, 그리고 리드와 평가 장치의 다양한 구성요소 간의 접속을 내부적으로 스위칭함으로써, 캘리브레이션 검출 시스템은 테스팅 프로토콜을 수행할 때 시간을 절약하고 에러를 회피한다.

Description

캘리브레이션 검출 시스템 및 방법{CALIBRATION DETECTION SYSTEM AND METHOD}
개시되고 청구되는 개념은 일반적으로 캘리브레이션(calibration) 검출 시스템 및 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로, 캘리브레이션 검출 시스템이 전자 장치와 접속가능한 전기 리드들을 포함하고, 다양한 테스트 디바이스들과 리드들의 접속은 캘리브레이션 검출 시스템에 의해 내부적으로 스위칭되는 캘리브레이션 검출 시스템 및 방법에 관한 것이다.
원자력 발전소와 같은 설비 또는 다른 설비에서, 센서들 및 다른 디바이스들은 전형적으로 프로세스 조건들 및 다른 조건들을 검출하고, 그러한 조건들을 반영하는 데이터가 제어실과 같은 중앙 위치에 제공된다. 보다 전형적으로, 제어실에서는 센서로부터의 미가공 출력에 부가한 출력이 필요하다. 예를 들면, 압력 센서에 의해 출력될 수 있는 현재의 압력에 부가하여, 압력 센서에 의해 제공되는 신호의 평균 압력, 피크 및 최소 압력, 및 다른 조작을 제어실에 부가적으로 제공하는 것이 바람직하다. 따라서, 센서 신호들에 대해 수행된 그러한 부가의 기능들을 요구하는 설비는, 센서로부터 신호를 수신하고, 그 신호에 대해 다양한 조작을 수행하며, 하나 이상의 데이터 스트림을 제어실에 제공하는 몇몇 유형의 전자 장치를 포함한다.
전자 장치의 복잡도에 따라, 그리고 다른 인자들에 또한 의존하여, 전자 장치는 종종 캘리브레이션될 필요가 있을 수 있다. 예를 들면, 원자력 발전소의 전자 장치는 전자 장치의 낡은 설계 및 연방정부의 요구에 필요한 준수 사항에 기인하여 아날로그적 특성을 가질 수 있다. 그러한 전자 장치는 빈번한 테스팅 및 캘리브레이션을 필요로 할 수 있다. 한편, 의약품 제조 프로세스의 양상을 제어하는 제어 장치는 그 전체가 디지털식일 수 있고 최소의 캘리브레이션을 요구할 수 있다.
전자 장치에 요구되는 캘리브레이션의 양 또는 빈도와는 관계없이, 그러한 캘리브레이션 동작은 종종 시간을 소모하고, 노동 집약적이며, 에러가 발생하는 경향이 있다. 예를 들면, 원자력 발전소에서 사용되는 아날로그 구성의 전자 장치에서, 기술자들은 전형적으로 디지털 멀티미터를 전자 장치의 전자 컴포넌트 상의 임의의 위치에 연결시키고, 전압 소스를 전자 장치의 다른 컴포넌트 상의 임의의 위치에 연결시키며, 신호를 생성하고, 검출된 전압(또는 다른 검출된 파라미터)를 통지하며, 그 값을 기록 시트에 기록하는 것을 포함하는 테스팅 프로토콜을 따를 것을 요구받는다. 원자력 발전소에서, 그러한 캘리브레이션 프로토콜들은 포함된 다양한 장비 및 허용가능한 동작 안전성을 가능하게 하기 위해 제공되는 여분의 장비의 정도에 기인하여 극도로 번거로울 수 있다.
임의의 주어진 전자 장치에 대한 테스팅 프로토콜이 세부적이고 복잡하기 때문에, 에러가 발생하는 경향이 있을 수 있다. 예를 들면, 제1 단계는 기술자가 임의의 장비를 전자 장치의 임의의 컴포넌트에 연결시키고 임의의 입력 신호를 전자 장치에 제공하고 측정 디바이스에서 검출된 출력을 통지하고 그것을 기록할 것을 요구할 수 있다. 전자 장치와 테스팅 장비 간의 하나 이상의 접속은 테스팅 프로토콜에서 지정된 형식으로 전자 장치의 다른 컴포넌트에 재접속되어야한다. 그러한 가변 접속 및 재접속은 복잡도로 인해 에러를 일으킬 수 있다. 더욱이, 그러한 동작은 노동 집약적이고 시간을 소모하게 된다. 따라서, 알려진 테스팅 방법론이 갖는 이들 단점 및 다른 단점을 극복하는 개선된 시스템을 제공하는 것이 바람직할 것이다.
전자 장치를 캘리브레이팅하는데 사용하기 위한 개선된 캘리브레이션 검출 시스템은 프로세서 장치, 평가 장치, 및 접속 장치를 포함한다. 평가 장치는 하나 이상의 신호 생성기 및, 전압계와 같은 하나 이상의 측정 디바이스를 포함한다. 접속 장치는 복수의 리드를 포함하고, 내부적으로 스위칭하여 다양한 리드를 평가 장치의 다양한 구성요소와 접속시키도록 프로세서 장치에 의해 동작된다. 모든 리드가 전자 장치와 처음에 접속되도록 하고 리드와 평가 장치의 다양한 구성요소 간의 접속을 내부적으로 스위칭함으로써, 캘리브레이션 검출 시스템은 테스팅 프로토콜 수행시에 시간을 절약하고 에러를 피한다.
따라서, 개시되고 청구되는 개념의 양상은 개선된 캘리브레이션 검출 시스템을 제공하는 것이다.
개시되고 청구되는 개념의 또 다른 양상은 그러한 개선된 캘리브레이션 검출 시스템을 사용하여 전자 장치상에서 테스팅 프로토콜을 실행하는 개선된 방법을 제공하는 것이다.
개시되고 청구되는 개념의 이들 양상 및 다른 양상은, 입력 신호를 수신하고 그 입력 신호를 사용하여 하나 이상의 동작을 수행하고, 그 신호 및 하나 이상의 동작에 적어도 부분적으로 기초하여 출력 신호를 제공하도록 구성되는, 전자 장치를 캘리브레이팅하는데 사용하기 위한 개선된 캘리브레이션 검출 시스템에 의해 제공된다. 캘리브레이션 검출 시스템의 일반적인 특성은, 프로세서 및 스토리지를 포함하는 프로세서 장치, 프로세서와 통신하고 적어도 제1 신호 생성기 및 적어도 제1 측정 디바이스를 포함하는 평가 장치, 및 복수의 리드 - 리드 중 적어도 몇몇의 리드 각각은 적어도 제1 신호 생성기 및 적어도 제1 측정 디바이스 중 적어도 하나와 접속되고 전자 장치와 접속되도록 구성됨 - 를 포함하는 접속 장치를 포함하는 것으로 설명될 수 있다. 스토리지는, 프로세서상에서 실행될 때, 캘리브레이션 검출 시스템이 동작들을 수행하도록 하는 하나 이상의 루틴을 저장하고, 이 동작들의 일반적인 특성은, 제1 수의 리드를 이용하여 전자 장치에 적어도 제1 신호 생성기로부터의 적어도 제1 입력 신호를 입력하고, 제2 수의 리드를 이용하여 전자 장치로부터 적어도 제1 측정 디바이스를 이용하여 적어도 제1 출력 신호를 검출하고, 적어도 제1 입력 신호 및 적어도 제1 출력 신호에 적어도 부분적으로 기초하여 전자 장치의 적어도 일부가 적절히 캘리브레이팅되는지 여부를 결정하는 것을 포함하는 것으로서 설명될 수 있다.
개시되고 청구되는 개념의 또 다른 양상은, 전자 장치를 캘리블레이팅할 때, 입력 신호를 수신하고 그 입력 신호를 이용하여 하나 이상의 동작을 수행하며 그 신호 및 하나 이상의 동작에 적어도 부분적으로 기초하여 출력 신호를 제공하도록 구성되는 캘리브레이션 시스템을 동작시키는 개선된 방법에 의해 제공된다. 캘리브레이션 검출 시스템은 프로세서 및 스토리지를 포함하는 프로세서 장치, 프로세서와 통신하고 적어도 제1 신호 생성기 및 적어도 제1 측정 디바이스를 포함하는 평가 장치, 및 복수의 리드 - 리드 중 적어도 몇몇의 리드 각각은 적어도 제1 신호 생성기 및 적어도 제1 측정 디바이스 중 적어도 하나와 접속되고 전자 장치와 접속되도록 구성됨 - 를 포함하는 접속 장치를 포함하는 것으로 설명될 수 있다. 이러한 방법의 일반적인 특성은, 제1 수의 리드를 이용하여 전자 장치에 적어도 제1 신호 생성기로부터의 적어도 제1 입력 신호를 입력하고, 제2 수의 리드를 이용하여 전자 장치로부터 적어도 제1 측정 디바이스를 이용하여 적어도 제1 출력 신호를 검출하고, 적어도 제1 입력 신호 및 적어도 제1 출력 신호에 적어도 부분적으로 기초하여 전자 장치의 적어도 일부가 적절히 캘리브레이팅되는지 여부를 결정하는 것을 포함하는 것으로서 설명될 수 있다.
개시되고 청구되는 개념의 추가적인 이해는 첨부 도면과 결합하여 읽을 때 다음의 설명으로부터 얻어질 수 있다.
도 1은 테스팅 프로토콜의 실행동안 전자 장치와 접속되는, 개시되고 청구되는 개념에 따른 개선된 캘리브레이션 검출 시스템의 개략도이다.
도 2는 도 1의 개선된 캘리브레이션 검출 시스템의 세부적인 개략도이다.
도 3은 도 1의 캘리브레이션 검출 시스템을 채용하는, 개시되고 청구되는 개념에 따른 개선된 방법의 임의의 양상을 도시하는 플로우차트이다.
유사한 참조번호는 명세서에 걸쳐 유사한 부분을 지칭한다.
개시되고 청구되는 개념에 따른 개선된 캘리브레이션 검출 시스템(4)은 전자 장치(8)와 접속되는 바와 같이 도 1에 개략적으로 도시되어 있다. 전자 장치(8)는 임의의 다양한 장비일 수 있고, 여기서 설명되는 예시적인 실시예에서는, 원자력 발전소와 같은 설비 또는 다른 설비에서 채용되는 카드랙(card rack)이다.
예시적인 전자 장치(8)는, 여기서 도시된 실시예에서, 아날로그 성질이고 커패시터, 저항, 트랜지스터 등과 같은 다양한 노출된 전자 컴포넌트를 포함하는, 12A-12G로 도시된 예시적인 7개의 기능 카드를 포함한다. 그러나, 다른 실시예에서, 본 개념을 벗어나지 않으면서 하나 이상의 디지털 카드가 채용될 수 있다는 것을 유의하자. 전자 장치(8)는 부가적으로 모든 카드(12A-12G)가 접속되는 커넥터(16)를 포함한다. 압력 센서 또는 다른 센서와 같은 센서(20)가 전자 장치(8)와 접속되고, 전자 장치(8)와 제어실(24) 간에도 접속이 이루어진다.
관련 분야에서 이해되는 바와 같이, 전자 장치(8)는 센서(20)로부터의 신호를 검출하고, 예를 들면, 시구간에 걸쳐 센서(20)로부터의 압력 값을 나타내는 신호를 검출하고 주어진 시구간에 걸쳐 평균 압력에 대한 값을 제어실(24)로 통신함으로써, 신호에 기능을 수행한다. 애플리케이션의 필요에 따라 전자 장치(8)에 의해 다른 기능 또는 부가의 기능 또는 이들 모든 기능이 제공될 수 있다.
도 1에 개략적으로 도시되고 도 2에 보다 자세하게 도시되는 개선된 캘리브레이션 검출 시스템(4)은 프로세서(32), 평가 장치(36), 접속 장ㅇ치(40) 및 I/O 장치(44)를 포함한다. 프로세서 장치(32)는 임의의 다양한 프로세서일 수 있고, 마이크로프로세서(μP)이거나 다른 유형의 프로세서일 수 있는 프로세서(48)를 포함한다. 스토리지는 데이터, 루틴 및 다른 전자 재료의 저장을 위한 스토리지 디바이스로서 기능하는 것을 제한함이 없는 RAM, ROM, EPROM 등과 같은 임의의 다양한 유형의 전자 스토리지 디바이스일 수 있다.
스토리지(52)에 저장되는 루틴 중 하나는 운영 시스템 루틴으로서, 그에 의해 프로세서가 평가 장치(36), 접속 장치(40), 및 I/O 장치(44)의 다양한 구성요소를 제어한다. 운영 시스템 루틴은 캘리브레이션 검출 시스템(4) 상에 표준화되어 있고, 캘리브레이션 검출 시스템(4)이 배치되는 환경과 관계없이 일반적으로 불변이다. 루틴 중 또 다른 루틴은 캘리블레이션 검출 시스템(4)이 배치되는 설비에 특정되고 설비에서 전자 장치(8)와 연관되는 다양한 맞춤형 테스팅 프로토콜을 포함하는 맞춤형 캘리브레이션 루틴이다. 프로세서(48) 상에서의 다양한 루틴의 실행은 캘리브레이션 검출 시스템(4)이 본 명세서의 이외 부분에서 더 상세히 설명되는 바와 같이 다양한 동작을 수행하도록 한다.
프로세서(48)는 평가 장치(36), 접속 장치(40) 및 I/O 장치(44)와 접속되어 이들을 제어한다. 평가 장치(36)는 하나 이상의 신호 생성기(56) 및 하나 이상의 측정 디바이스(60, 64)를 포함한다. 여기서 설명되는 실시예에서, 측정 디바이스(60, 64)는, 본 발명의 개념으로부터 벗어나지 않고 다른 및/또는 부가의 측정 디바이스가 채용될 수 있지만, 전압계이고, 보다 상세하게는, 디지털 멀티미터이다.
신호 생성기(56)는 함께 접속된 전압원(68) 및 함수 생성기(72)를 포함한다. 함수 생성기(72)는 등가속 함수, 계단 함수, 톱니 함수, 사인파 함수 등과 같은 다양한 함수를 생성하고, 전압원과 협업하여 함수 생성기(72)로부터의 전술한 함수를 따르는 전압 신호를 생성한다.
접속 장치(40)는 스위칭 장치(76) 및, 도시된 예시적인 실시예에서, 80A-80J의 번호가 부여된 복수의 리드를 포함한다. 리드는 모두, 프로세서(48)에 의해 제어되는 스위칭 장치(76)와 접속된다. 신호 생성기(56) 및 측정 디바이스(60, 64)와 같은 평가 장치의 컴포넌트들로부터의 접속은 스위칭 장치(76)와 유사하게 접속된다. 이롭게도, 스위칭 장치는 리드(80A-80J) 중 임의의 리드를 평가 장치(36)의 컴포넌트들 중 임의의 컴포넌트와 내부적으로 접속한다. 도 2는 단지 리드(80A 및 80G)가 스위칭 장치(76)를 통해 신호 생성기(56) 및 측정 디바이스(60, 64)의 모든 접속부와 접속가능한 것으로 도시되어 있지만, 스위칭 장치(76)는 실제로 리드(80A-80J) 중 임의의 리드를, 평가 장치(36)의 임의의 컴포넌트로의 접속부 중 임의의 접속부에 독립적으로 스위칭할 수 있다는 것을 유의하자.
이롭게도, 기술자가 테스팅 프로토콜 과정 동안 리드(80A-80J) 중 임의의 리드를 재접속시키는 것을 요구하지 않으면서, 기술자가 테스팅 동작 초기에 캘리브레이션 검출 시스템(4)에 의해 수행될 모든 접속부를 접속시키는 것을 가능하게 하는 큰 수의 리드(80A-80J)가 제공된다. 전술한 바와 같이, 스토리지(52)에 저장된 맞춤형 캘리브레이션 루틴은 전형적으로 캘리브레이션 검출 시스템(4)이 배치되는 설비에 존재하는 다양한 전자 장치(8) 중 모든 것은 아니지만 다수의 전자 장치를 위한 테스팅 프로토콜을 포함할 것이다. 테스팅 프로토콜은 전형적으로 캘리브레이션 검출 시스템(4)이 배치되는 설비에서 사용되는 동작 매뉴얼에 기초하는 몇몇의 맞춤형 기입 코드 형태일 것이다.
임의의 주어진 전자 장치에 대한 테스팅 프로토콜은, 예를 들면, 처음에 15초 동안 1초의 간격들을 두고 1.0 볼트와 3.0 볼트 사이를 스테핑(step)하는 스텝 전압을 요구하면서, 카드(12C)의 특정 컴포넌트에 입력이 제공되고 카드(12A)의 특정 컴포넌트 상의 특정 위치로부터 출력 전압이 검출된다. 예를 들면, 따라서, 그리고, 도 1 및 도 2로부터 이해될 수 있는 바와 같이, 스위칭 장치(76)는 리드(80C)를 신호 생성기(56)와 내부적으로 접속시킬 수 있고 리드(80A)를 전압계(60)와 접속시킬 수 있다. 캘리브레이션 검출 시스템(4)은 전술한 스텝 함수 전압을 전술한 바와 같이 전자 장치(8)에 입력하고, 있다면, 그 결과의 전압을 전압계(60)를 이용하여 검출한다.
검출된 전압이 전자 장치(8)의 제1 부분의 적절한 캘리브레이션을 나타내면, 프로세서(48)는 다음 부분의 테스팅 프로토콜을 수행하여, 1.5 볼트의 고정 전압을 카드(12F) 상의 특정 컴포넌트의 특정 위치에 인가하고 동시에 카드(12D)의 특정 컴포넌트 상의 특정 위치 및 카드(12G)의 특정 컴포넌트 상의 특정 위치로부터 전압을 검출할 수 있다. 그와 같이 하기 위해, 스위칭 장치(76)는 리드(80E)를 신호 생성기(56)와 내부적으로 접속시키고, 리드(80D)를 전압계(60)와 접속시키고, 리드(80G)를 전압계(64)와 접속시킴으로써, 다양한 리드(80)를 평가 장치(36)의 다양한 컴포넌트와 내부적으로 재접속시킬 것이다. 캘리브레이션 검출 시스템(4)은 전술한 신호를 생성하고 동시에 전압을 표시된 바와 같이 검출할 수 있다.
따라서, 기술자는 모든 다양한 리드(80A-80J)를 전체의 테스팅 프로토콜 과정 동안 평가될 카드(12A-12G) 상의 모든 다양한 위치에 접속시킬 수 있고, 프로세서(48)에 의해 제어되는 스위칭 장치(76)는 다양한 리드(80A-80J)과 평가 장치(36)의 컴포넌트들 중의 접속부들을 내부적으로 스위칭하여, 테스팅 프로토콜을 구성하는 다양한 테스팅 동작을 실행할 것이다. 따라서, 캘리브레이션 검출 시스템(4)과 그의 저장된 테스팅 프로토콜의 사용은, 테스팅 프로토콜 수행이 진행됨에 따라, 기술자가 다양한 리드(80A-80J)를 전자 장치(8)의 다양한 다른 컴포넌트들과 주기적으로 접속해제하고 재접속할 필요성을 피한다.
테스팅 프로토콜의 전술한 예는 제한하고자 하는 것이 아니고, 오히려, 테스팅 프로토콜은 전형적으로 보다 많은 풍부하게 개발된 명령어 세트를 갖는다는 것을 유의하자. 예를 들면, 전압과 같은 고정 테스팅 값을 전압에 대한 고정된 예상값과 비교할 때, 테스팅 프로토콜은, 전형적으로 특정 전자 장치(8) 상에서 취해지는 특정 측정에 특별하고 전형적으로 측정 신호의 임의의 백분율 더하기 측정 스케일의 임의의 백분율의 형태인 허용 오차를 사용할 것이다. 예를 들면, 임의의 전압 측정 허용 오차는 예상 측정 신호(말하자면, 볼트)의 ±1.00%와 스케일(말하자면, 0 내지 100 볼트)의 ±4.00%의 결합일 수 있다. 예상 측정치가 50 볼트이면, 허용 오차는 50 볼트의 ±1.00%인 0.5 볼트에, 100 볼트 스케일의 ±4.00%인 4.00 볼트를 더한 총 ±4.50 볼트의 허용 오차가 될 것이다.
그러나, 테스팅 프로토콜은 또한 입력 및/또는 예상 출력이, 등가속 함수, 계단 함수, 톱니 함수, 사인파 함수 중 하나 이상을 따르는 전압 입력 또는 출력의 상황에서와 같이 시간의 함수로서 가변할 때, 및/또는 입력의 인가와 출력의 검출 사이에 시간 지연이 예상될 때 테스팅을 가능하게 하도록 구성된다. 그러한 상황에서, 적절한 허용 오차는 시간의 함수로서 가변할 것이고, 테스팅 프로토콜은 이롭게도 실시간으로 계산하는 능력을 포함하고 특정 입력의 인가에 특정되는 올바른 허용 오차를 시간의 함수로서 인가한다.
I/O 장치(44)는 디스플레이(84) 및 키보드(88)를 포함하고, 이들 모두는 프로세서(48)와 접속된다. 키보드(88)는, 프로세서(48)가, 특정 전자 장치(8)에 기록하고 그 장치(8)와의 접속에 사용하기 위해 저장된 관련 테스팅 프로토콜을 스토리지로부터 검색하기 위해 식별 코드를 사용하게 할 수 있는, 전자 장치(8)의 식별 코드와 같은 데이터를 기술자가 입력하는데 사용가능하다.
디스플레이(84)는 다양한 리드(80A-80J)를 전자 장치(8)의 다양한 구성요소에 접속하기 위해 다이어그램과 같은 명령어를 기술자에게 디스플레이할 수 있고, 추가의 명령어를 기술자에게 제공할 수 있다. 예를 들면, 테스팅 프로토콜의 다양한 부분들을 수행할 때, 기술자가 전자 장치(8)의 주어진 카드(12A-12G)와 같은 주어진 컴포넌트를 대체하기 위한 테스팅 프로토콜의 일부일 수 있다. 대안으로, 기술자는 주어진 카드(12A-12G)에 대한 이득을 조정하거나, 또는 카드(12A-12G)를 개조하도록 명령받을 수 있다. 더욱이, 디스플레이(84)는 테스팅 프로토콜에서 각각의 개별 테스팅 단계의 설명을 기술자에게 출력할 수 있고, 그러한 각각의 개별 테스팅 단계가 실제로 수행되기 전에 기술자로부터 표현된, 즉, 입력된 협력(concurrence)을 대기할 수 있다. 부가하여, 디스플레이는 생성되는 입력 및 얻어지는 결과를 실시간으로 출력하도록 구성될 수 있는데, 이것은 디스플레이(84)가 신호 생성기(56) 및 전압계(60, 64)의 개별 디스플레이에 제공될 출력을 시뮬레이션할 수 있다는 것을 의미한다.
디스플레이(84)는 또한 궁극적으로 전자 장치에 대한 테스팅 및 캘리브레이션이 완료되었고 또한 캘리브레이션 검출 시스템(4)이 상이한 전자 장치(8)와 접속될 수 있다는 것을 기술자에게 명령할 수 있다. 이롭게도, 명료성의 목적으로 여기서는 명시적으로 하나만 도시된, 다양한 전자 장치(8) 중 캘리브레이션 검출 시스템(4)을 운송하기 위한 플랫폼(92) 및 휠(96)이 제공된다.
개시되고 청구되는 개념에 따른 개선된 방법의 임의의 양상을 도시하는 플로우차트가 도 3에 일반적으로 도시되어 있다. 프로세싱은 104에서 장비 식별자와 같은 식별 코드의 입력을 캘리브레이션 검출 시스템(4)이 검출하는 것으로 시작할 수 있다. 그러한 입력은 캘리브레이팅될 특정 전자 장치(8)의 식별 코드를 타이핑하는 기술자에 의해 발생할 수 있다.
다음에, 108에서, 캘리브레이션 검출 시스템(4)은 104에서 기술자에 의해 식별된 특정 전자 장치(8)와 연관된 테스팅 프로토콜을 검색할 수 있다. 다음에, 프로세서(48)는, 112에서와 같이, 다양한 리드(80A-80J)가 108에서와 같이 검색된 전체 테스팅 프로토콜의 모든 테스팅 동작을 수행하기 위해 다양한 카드(12A-12G)와 어떻게 접속되어야 하는지를 기술자에게 명령하는 접속 다이어그램을 디스플레이(84)가 출력하게 할 수 있다. 임의의 주어진 테스팅 프로토콜을 수행할 때 모든 리드(80A-80J)보다는 적은 리드가 사용될 수 있다는 것을 유의하고, 또한 그러한 테스팅 프로토콜 동안 모든 카드(12A-12G)보다는 적은 카드가 리드(80A-80J)와 접속될 수 있다는 것을 유의하자. 또한, 7개의 카드(12A-12G)와 같이 단지 예시적인 목적으로 10개의 리드(80A-80G)가 제공된다는 것이 이해되고, 이들 중 어느 것이나 본 발명의 개념을 벗어나지 않으면서 더 많거나 더 적은 수가 가능하다는 것을 유의하자.
다양한 리드(80A-80J)가 전자 장치(80)의 다양한 위치에 접속되었으면, 기술자는, 116에서, 그러한 접속이 <START> 커맨드를 제공함으로써 이루어졌다는 것을 캘리브레이션 검출 시스템(4)에 지시할 수 있다. 다음에, 120에서와 같이, 테스팅 프로토콜의 시작은 스위칭 장치(76)를 이용하여 다양한 리드(80A-80J)를 처음 테스트를 수행하는데 필요한 평가 장치(36)의 다양한 컴포넌트와 접속되도록 내부적으로 스위칭하고, 신호 생성기(56)를 이용하여 적절한 신호를 전자 장치(8)에 입력하고, 전압계(60, 64) 또는 양자 모두를 이용하여 적절하게 출력을 검출함으로써 발생한다. 테스팅 프로토콜은 프로세서(48)에게 다양한 테스트 파라미터를 지시한다.
다음에, 124에서, 전자 장치(8)의 테스팅 프로토콜에서의 그 포인트에서 테스팅되고 있는 특정 컴포넌트의 캘리브레이션이 갖고 있는 문제가 검출되는지 여부가 결정된다. 캘리브레이션이 갖고 있는 그러한 문제가 검출되면, 프로세싱은 128에서 계속되며, 여기서, 테스팅 프로토콜은 기술자가 수행할, 디스플레이(84) 상에 출력될 특정 명령을 식별하도록 조언을 받는다. 다음에, 132에서와 같이, 디스플레이된 명령이 수행되었다는 것을 나타내는 입력이 검출되고, 136에서, 문제가 해결되었는지 여부가 결정된다. 문제가 해결되지 않았다면, 프로세싱은 128에서 계속되고, 여기서, 테스팅 프로토콜은 추가로 조언을 받고 기술자를 위해 추가의 명령이 디스플레이(84) 상에 출력된다. 한편, 136에서, 문제가 해결되었다고 결정되면, 프로세싱은 120에서 계속되며, 여기서, 모든 테스팅 프로토콜은 처음부터 재실행된다. 테스팅 프로토콜은 기술자가 취한 액션이 전자 장치(8)에 대해, 테스팅 프로토콜의 이전 부분에서 어떤 영향을 받을 수 있고 무슨 일이 발생할 수 있는 몇몇 유형의 변화를 가져왔기 때문에, 그러한 상황에서 재시작된다. 따라서, 테스팅 프로토콜은,136에서, 이제 문제가 해결된 전자 장치(8)의 모든 구성 요소를 재평가하기 위해 재시작된다.
한편, 124에서, 전자 장치(8)에서 테스팅되고 있는 특정 컴포넌트의 캘리브레이션이 갖는 문제가 검출되지 않았다고 결정되면, 프로세싱은 140에서 계속되며, 여기서, 테스팅 프로토콜의 아직 실행되지 않은 임의의 나머지 부분이 존재하는지 여부가 결정된다. 존재한다면, 프로세싱은 144에서 계속되며, 여기서, 스위칭 장치(76)는 필요에 따라 평가 장치(36)의 다양한 컴포넌트와의 리드 접속을 내부적으로 스위칭하고, 신호 생성기를 이용하여 새로운 신호를 생성하고, 존재한다면, 전압계(60 또는 64) 또는 양자 모두를 이용하여 하나 이상의 출력 신호를 검출한다. 프로세싱은 다음에 124에서 계속되며, 여기서, 전자 장치(8)에서 현재 테스트 중인 컴포넌트의 캘리브레이션이 갖는 문제가 검출되는지 여부가 결정된다.
한편, 140에서 현재의 테스팅 프로토콜에서 추가의 테스트가 존재하지 않는다고 결정되면, 디스플레이(84)는 전자 장치(8)에 대한 테스팅이 완료되었다는 표시를 출력한다. 다음에, 캘리브레이션 검출 시스템(4)은 전자 장치(8)로부터 접속해제되고, 또 다른 전자 장치(8)(여기서는 명시적으로 도시되어 있지는 않음)로 선회하여 104에서 프로세스가 반복된다.
따라서, 개선된 캘리브레이션 검출 시스템(4) 및 방법은 기술자에게 요구될 수 있는 노력의 상당 부분을 제거함으로써 시간을 절약할 수 있고, 또한 이전 시스템에서 요구되는 장황한 재접속을 회피함으로써 에러를 줄일 수 있다. 이롭게도, 캘리브레이션 검출 시스템(4)은 전압계(60 및 64) 또는 평가 장치(36)의 다른 컴포넌트를 이용하여 검출되고 및/또는 그로부터 도출되는 결과를 테스팅 형태에 대한 다양한 블랭크(blank)에 부가적으로 채울 수 있다. 이와 관련하여, 임의의 수의 전압계, 신호 생성기, 및 다른 디바이스가 본 발명의 개념을 벗어나지 않으면서 평가 장치(36)에 채용될 수 있다는 것이 이해된다. 따라서, 전압 자체에 부가하여, 캘리브레이션 검출 시스템은 검출 전압에 도달하는 시간, 카드의 스트립 상태, 및 가상적으로 바람직하게 획득되거나 기록될 수 있는 임의의 다른 유형의 정보와 같은 값들을 기록할 수 있다. 다수의 테스팅 프로토콜, 즉, 설비에서 다양하고 상이한 전자 장치(8) 각각에 대한 것을 저장함으로써, 개별적인 캘리브레이션 검출 시스템(4)을 이용하는 개별적인 기술자는 이전 시스템을 이용하여 이전에 가능했던 것보다 더 많은 캘리브레이션 및 테스팅을 수행할 수 있다.
본 개시는 본 개시의 사상 또는 기본적인 특성을 벗어나지 않고 다른 특정형태에서 구체화될 수 있다. 개시된 실시예는 모든 관점에서 단지 예시적인 것이고 제한적인 것은 아니라는 것이 고려되어야 한다. 따라서, 본 개시의 범위는 전술한 설명에 의한다기 보다는 오히려 첨부된 청구범위에 의해 표시된다. 청구범위의 균등물의 범위 및 의미 내에 들어오는 모든 변경은 청구범위의 범위 내에 포함되어야 한다.

Claims (20)

  1. 입력 신호를 수신하고 상기 입력 신호를 이용하여 하나 이상의 동작을 수행하며, 상기 신호 및 상기 하나 이상의 동작에 적어도 부분적으로 기초하여 출력 신호를 제공하도록 구성되는, 전자 장치(8)를 캘리브레이팅할 때 사용하기 위한 캘리브레이션(calibration) 검출 시스템(4)으로서,
    프로세서(48) 및 스토리지(52)를 포함하는 프로세서 장치(32)와,
    상기 프로세서와 통신하고, 적어도 제1 신호 생성기(56) 및 적어도 제1 측정 디바이스(60)를 포함하는 평가 장치(36)와,
    복수의 리드(lead)(80A-J)를 포함하는 접속 장치(40) - 상기 리드 중 적어도 몇몇의 각각은 상기 적어도 제1 신호 생성기 및 상기 적어도 제1 측정 디바이스와 접속되고, 상기 전자 장치와 접속되도록 구성됨 - 를 포함하되,
    상기 프로세서상에서 실행될 때, 상기 캘리브레이션 검출 시스템으로 하여금,
    상기 적어도 제1 신호 생성기로부터 적어도 제1 입력 신호를 제1 수의 리드를 이용하여 상기 전자 장치에 입력하는 것,
    제2 수의 리드를 이용하여 상기 전자 장치로부터의 적어도 제1 출력 신호를 상기 적어도 제1 측정 디바이스를 이용하여 검출하는 것,
    상기 적어도 제1 입력 신호 및 상기 적어도 제1 출력 신호에 적어도 부분적으로 기초하여, 상기 전자 장치의 적어도 일부가 적절히 캘리브레이팅되는지 여부를 결정하도록 하는 것을 포함하는 동작을 수행하도록 하는 하나 이상의 루틴을 저장한 스토리지를 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 동작은 상기 제1 수의 리드 및 상기 제2 수의 리드가 접속될, 상기 전자 장치 상의 다수의 위치를 나타내는 명령어를 출력하는 것을 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 스토리지는 상기 전자 장치와 관계된 테스팅 프로토콜을 내부에 저장하고, 상기 동작은,
    상기 전자 장치의 식별(identification)을 나타내는 입력을 검출하는 것,
    상기 전자 장치의 식별을 이용하여, 상기 테스팅 프로토콜의 적어도 일부를 상기 스토리지로부터 검색하는 것, 및
    상기 프로토콜의 적어도 일부로부터, 상기 제1 수의 리드 및 상기 제2 수의 리드가 접속될, 상기 전자 장치 상의 다수의 위치를 획득하는 것을 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 스토리지는 상기 전자 장치와 연관된 테스팅 프로토콜을 내부에 저장하고, 상기 동작은 상기 결정시에 상기 테스팅 프로토콜의 적어도 일부를 이용하는 것을 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 동작은, 상기 결정 및 상기 테스팅 프로토콜 중 적어도 하나에 적어도 부분적으로 기초하여,
    상기 전자 장치의 특정 컴포넌트가 대체되어야 한다는 명령,
    상기 전자 장치의 특정 컴포넌트가 조정되어야 한다는 명령, 및
    상기 전자 장치의 특정 컴포넌트가 개조(refurbish)되어야 한다는 명령
    중 적어도 하나를 출력하는 것을 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 동작은 상기 명령을 나타내는 입력이 실행되었다는 것을 검출하는 것과, 그에 응답하여, 상기 입력하는 것, 상기 검출하는 것, 및 상기 결정하는 것을 다시 수행하는 것을 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 동작은,
    복수의 입력 신호를 상기 적어도 제1 입력 신호로서 입력하는 동작,
    복수의 출력 신호 - 상기 복수의 출력 신호 중 적어도 일부는 각각 상기 복수의 입력 신호 중 적어도 하나에 응답함 - 를 상기 적어도 제1 출력 신호로서 검출하는 동작, 및
    상기 결정으로서, 상기 복수의 입력 신호의 적어도 일부와 상기 복수의 출력 신호의 적어도 일부에 적어도 부분적으로 기초하는 결정을 하는 동작을 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 동작은,
    상기 복수의 입력 신호 중 적어도 두 개를 동시에 입력하는 것, 및
    상기 복수의 출력 신호 중 적어도 두 개를 동시에 검출하는 것을 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 평가 장치는 상기 프로세서와 통신하는 복수의 측정 디바이스를 더 포함하고, 상기 동작은,
    상기 복수의 측정 디바이스 중 측정 디바이스(60)를 이용하여 상기 복수의 출력 신호 중 출력 신호, 및
    상기 복수의 측정 디바이스 중 다른 측정 디바이스(64)를 이용하여 상기 복수의 출력 신호 중 다른 출력 신호를 동시에 검출하는 것을 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 접속 장치는 상기 리드의 적어도 일부와 상기 평가 장치의 적어도 일부 사이에 접속되는 스위칭 장치(76)를 더 포함하고, 상기 동작은 상기 프로세서 장치로부터의 다수의 신호에 응답하여 상기 적어도 제1 신호 생성기 중 적어도 하나와 상기 적어도 제1 측정 디바이스 사이에서, 상기 리드 중 적어도 몇몇 중 적어도 제1 리드의 접속을 상기 스위칭 장치를 이용하여 스위칭하는 것을 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템.
  11. 입력 신호를 수신하고 상기 입력 신호를 이용하여 하나 이상의 동작을 수행하며, 상기 신호 및 상기 하나 이상의 동작에 적어도 부분적으로 기초하여 출력 신호를 제공하도록 구성되는, 전자 장치(8)를 캘리브레이팅할 때의 캘리브레이션 검출 시스템(4)을 동작시키는 방법으로서,
    상기 캘리브레이션 검출 시스템은,
    프로세서(48) 및 스토리지(52)를 포함하는 프로세서 장치(32);
    상기 프로세서와 통신하고, 적어도 제1 신호 생성기(56) 및 적어도 제1 측정 디바이스(60)를 포함하는 평가 장치(36);
    복수의 리드(80A-J)를 포함하는 접속 장치(40) - 상기 리드 중 적어도 몇몇의 각각은 상기 적어도 제1 신호 생성기 및 상기 적어도 제1 측정 디바이스와 접속되고, 상기 전자 장치와 접속되도록 구성됨 - 를 포함하고,
    상기 방법은,
    상기 적어도 제1 신호 생성기로부터 적어도 제1 입력 신호를 제1 수의 리드를 이용하여 상기 전자 장치에 입력하는 단계와,
    제2 수의 리드를 이용하여 상기 전자 장치로부터의 적어도 제1 출력 신호를 상기 적어도 제1 측정 디바이스를 이용하여 검출하는 단계와,
    상기 적어도 제1 입력 신호 및 상기 적어도 제1 출력 신호에 적어도 부분적으로 기초하여, 상기 전자 장치의 적어도 일부가 적절히 캘리브레이팅되는지 여부를 결정하도록 하는 단계를 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템 동작 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 제1 수의 리드 및 상기 제2 수의 리드가 접속될, 상기 전자 장치 상의 다수의 위치를 나타내는 명령어를 출력하는 단계를 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템 동작 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 스토리지는 상기 전자 장치와 관계된 테스팅 프로토콜을 내부에 저장하고,
    상기 방법은,
    상기 전자 장치의 식별을 나타내는 입력을 검출하는 단계와,
    상기 전자 장치의 식별을 이용하여, 상기 테스팅 프로토콜의 적어도 일부를 상기 스토리지로부터 검색하는 단계와,
    상기 프로토콜의 적어도 일부로부터, 상기 제1 수의 리드 및 상기 제2 수의 리드가 접속될, 상기 전자 장치상의 다수의 위치를 획득하는 단계를 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템 동작 방법.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 스토리지는 상기 전자 장치와 연관된 테스팅 프로토콜을 내부에 저장하고, 상기 방법은 상기 결정시에 상기 테스팅 프로토콜의 적어도 일부를 이용하는 단계를 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템 동작 방법.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 결정 및 상기 테스팅 프로토콜 중 적어도 하나에 적어도 부분적으로 기초하여,
    상기 전자 장치의 특정 컴포넌트가 대체되어야 한다는 명령과,
    상기 전자 장치의 특정 컴포넌트가 조정되어야 한다는 명령과,
    상기 전자 장치의 특정 컴포넌트가 개조되어야 한다는 명령
    중 적어도 하나를 출력하는 단계를 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템 동작 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 명령을 나타내는 입력이 실행되었다는 것을 검출하는 단계와, 그에 응답하여, 상기 입력하는 단계, 상기 검출하는 단계, 및 상기 검출하는 단계를 다시 수행하는 단계를 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템 동작 방법.
  17. 제11항에 있어서,
    복수의 입력 신호를 적어도 상기 제1 입력 신호로서 입력하는 단계와,
    복수의 출력 신호 - 상기 복수의 출력 신호 중 적어도 일부는 각각 상기 복수의 입력 신호 중 적어도 하나에 응답함 - 를 상기 적어도 제1 출력 신호로서 검출하는 단계와,
    상기 결정으로서, 상기 복수의 입력 신호의 적어도 일부와 상기 복수의 출력 신호의 적어도 일부에 적어도 부분적으로 기초하는 결정을 하는 단계를 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템 동작 방법.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 복수의 입력 신호 중 적어도 두 개를 동시에 입력하는 단계와,
    상기 복수의 출력 신호 중 적어도 두 개를 동시에 검출하는 단계를 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템 동작 방법.
  19. 제18항에 있어서,
    상기 평가 장치는 상기 프로세서와 통신하는 복수의 측정 디바이스를 더 포함하고, 상기 방법은,
    상기 복수의 측정 디바이스 중 측정 디바이스(60)를 이용하여 상기 복수의 출력 신호 중 출력 신호, 및
    상기 복수의 측정 디바이스 중 다른 측정 디바이스(64)를 이용하여 상기 복수의 출력 신호 중 다른 출력 신호를 동시에 검출하는 단계를 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템 동작 방법.
  20. 제11항에 있어서,
    상기 접속 장치는 상기 리드의 적어도 일부와 상기 평가 장치의 적어도 일부 사이에 접속되는 스위칭 장치(76)를 더 포함하고, 상기 방법은 상기 프로세서 장치로부터의 다수의 신호에 응답하여 상기 적어도 제1 신호 생성기 중 적어도 하나와 상기 적어도 제1 측정 디바이스 사이에서, 상기 리드 중 적어도 몇몇 중 적어도 제1 리드의 접속을 상기 스위칭 장치를 이용하여 스위칭하는 단계를 더 포함하는
    캘리브레이션 검출 시스템 동작 방법.
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