CN103154674A - 校准检测系统和方法 - Google Patents

Abstract

一种改善的用于校准电子装置的校准检测系统，包括处理器装置、评估装置和连接装置。该连接装置包括多条引线并且由该处理器装置操作来内部地切换和连接各条引线与该评估装置的各种元件。通过使所有引线都一开始能够与电子装置连接并且通过内部地切换引线与评估装置的各种元件之间的连接，该校准检测系统在执行测试规程时节省了时间并且避免了错误。

Description

校准检测系统和方法

技术领域

所公开和要求保护的概念总体上涉及校准检测系统和方法，更特别地，涉及一种校准检测系统和方法，其中该校准检测系统包括可与电子装置连接的电引线，且其中该引线与各种测试器件的连接被该校准检测系统内部地切换。

背景技术

在比如核电站的设施和其他设施中，传感器和其他器件一般检测过程条件和其他条件，反映这种条件的数据被提供到中心位置，诸如控制室。一般在多数情况下，控制室还需要来自传感器的除了原始输出之外的输出。例如，除了可由压力传感器输出的当前存在的压力之外，控制室中还期望额外地提供平均压力、峰值压力和最小压力、以及对压力传感器提供的信号的其他处理。因此，需要执行关于传感器信号的这种额外函数的设施一般包括某些类型的电子装置，该电子装置接收来自传感器的信号，对信号执行各种处理，并且向控制室提供一个或更多数据流。

根据电子装置的复杂度，并且还根据其他因素，电子装置可能需要不时地校准。例如，核电站中的电子装置可能由于电子装置的老式设计以及需要顺应联邦的要求而是模拟性质的。这样的电子装置可能需要经常测试和校准。另一方面，控制药物制造过程方面的电子装置可能是完全数字化的，需要很少的校准。

与电子装置需要的校准频率和量无关，这些校准操作一般是耗时费力的，并且容易产生错误。例如，在用于核电站中的模拟配置的电子装置中，技术员一般需要遵循测试规程，包括连接数字万用表到电子装置上的电子组件上的某些位置，连接电压源到电子装置上的其他组件上的某些位置，产生信号，注意所检测的电压（或者其他检测参数），并将值记录在记录单上。在核电站中，由于所涉及的设备的多样性以及为了实现安全运行裕度而提供的设备冗余度，这种校准规程将会是极度麻烦的。

由于用于任何给定电子装置的测试规程一般是琐碎且复杂的，所以容易出现错误。例如，第一步可能需要技术员将特定设备连接到电子装置的特定组件并且向电子装置提供特定输入信号，注意测量器件上的检测输出并且记录它。电子装置与测试设备之间的连接中的一个或更多然后必须以测试规程中指定的方式重新连接到电子装置的其他组件。这种变化的连接和重新连接由于其复杂性而招致错误。此外，这种操作是费力且耗时的。因此期望提供一种改善的系统，其克服了已知测试方法的这些和其他缺点。

发明内容

一种改善的用于校准电子装置的校准检测系统，包括处理器装置、评估装置和连接装置。该评估装置包括一个或更多信号发生器以及一个或更多测量器件，诸如伏特计。该连接装置包括多条引线且由该处理器装置操作来内部地切换和将各条引线与该评估装置的各种元件相连接。通过使所有引线能够一开始与电子装置相连并且通过内部地切换引线与评估装置的各种元件之间的连接，该校准检测系统在执行测试规程时节省了时间且避免了错误。

此外，所公开并且要求保护的概念的一方面在于提供一种改善的校准检测系统。

所公开并且要求保护的概念的另一方面在于提供一种改善的利用这种改善的校准检测系统对电子装置执行测试规程的方法。

所公开和要求保护的概念的这些和其他方面通过一种改善的用于校准电子装置的校准检测系统来提供，该电子装置构造为接收输入信号并且利用该输入信号执行一个或更多操作，至少部分地基于该信号以及该一个或更多操作提供输出信号。该校准检测系统的一般特性可以阐述为包括：处理器装置，包括处理器和存储器；评估装置，与该处理器通信且包括至少第一信号发生器和至少第一测量器件；以及连接装置，包括多条引线，引线中的至少一些每条与该至少第一信号发生器和该至少第一测量器件中的至少一个相连，且构造为与该电子装置相连。该存储器中存储有一个或更多程序（routine），其在处理器上执行时使得该校准检测系统执行操作，该操作的一般特性可阐述为包括：用第一多条引线从该至少第一信号发生器向该电子装置输入至少第一输入信号；用该至少第一检测器件通过第二多条引线从该电子装置检测至少第一输出信号；以及至少部分基于该至少第一输入信号和该至少第一输出信号判断该电子装置的至少一部分是否适当地被校准。

所公开并且要求保护的概念的其他方面通过一种改善的在校准电子装置时操作校准检测系统的方法来提供，该电子装置构造为接收输入信号且利用输入信号执行一个或更多操作，至少部分地基于该信号和该一个或更多操作提供输出信号。该校准检测系统可以阐述为包括：处理器装置，包括处理器和存储器；评估装置，与该处理器通信且包括至少第一信号发生器和至少第一测量器件；以及连接装置，包括多条引线，引线中的至少一些每条与该至少第一信号发生器和该至少第一测量器件中的至少一个相连，且构造为与该电子装置相连。该方法的一般特性可阐述为包括：用第一多条引线从该至少第一信号发生器向该电子装置输入至少第一输入信号；用该至少第一检测器件通过第二多条引线从该电子装置检测至少第一输出信号；以及至少部分基于该至少第一输入信号和该至少第一输出信号判断该电子装置的至少一部分是否适当地被校准。

附图说明

结合附图阅读下面的详细描述，可以获得对所公开并且要求保护的概念的进一步理解，附图中：

图1是根据所公开并且要求保护的概念的改善的校准检测系统的示意图，该校准检测系统在执行测试规程期间与电子装置连接；

图2是图1的改善的校准检测系统的详细示意图；以及

图3是流程图，示出根据所公开并且要求保护的概念的改善的方法的某些方面，该改善的方法采用图1的校准检测系统。

贯穿说明书，相似的附图标记表示相似的部件。

具体实施方式

根据所公开并且要求保护的概念的改善的校准检测系统4在图1中示意性绘示为与电子装置8相连。电子装置8可以是大范围设备中的任意设备，且在这里示出的示范性实施例中，是在诸如核电站之类的设施或其他设施中采用的插件架（card rack）。

示范性电子装置8包括示范性的七个功能插件板，指定为12A-12G，其在所示的示范性实施例中是模拟特性的且包括各种暴露的电子组件，诸如电容器、电阻器、晶体管等。然而应注意，在其他实施例中，可以采用一个或更多数字插件板而不偏离本概念。电子装置8还包括所有插件板12A-12G都连接到的连接器16。传感器20诸如压力传感器或其他传感器与电子装置8相连，连接还存在于电子装置8与控制室24之间。

如在相关领域中理解的那样，电子装置8检测来自传感器20的信号并且对信号执行一函数，诸如在一时段上检测来自传感器20的指示压力值的信号并且将给定时段上的平均压力的值传递到控制室24。其他函数或附加函数或者二者可以根据应用需要而由电子装置8提供。

图1中示意性示出且在图2中以更详细的方式示出的改善的校准检测系统4包括处理器32、评估装置36、连接装置40和I/O装置44。处理器装置32包括处理器48，处理器48可以是大范围处理器中的任意处理器，且可以是微处理器（μP）或其他类型的处理器。存储器可以是用于存储数据、程序和其他电子材料的各种类型的电子存储器件中的任意存储器，诸如像RAM、ROM、EPROM等之类的存储器，没有限制。

存储在存储器52中的程序之一是操作系统程序，处理器48通过其来控制评估装置36、连接装置40和I/O装置44的各种元件。操作系统程序在校准检测系统4上被标准化且一般是不变的，与校准检测系统4所部署的环境无关。另一程序是定制校准程序，其对于部署校准检测系统4的设施而言是特定的，且包括与设施处的电子装置8相关联的各种定制写入的测试规程。各种程序在处理器48上的运行导致校准检测系统4执行各种操作，如这里将在其他地方更详细地描述的那样。

处理器48与评估装置36、连接装置40和I/O装置44连接并且控制它们。评估装置36包括一个或更多信号发生器56以及一个或更多测量器件60、64。在这里所示的实施例中，测量器件60、64是伏特计，更特别地，是数字万用表，尽管可以采用其他和/或附加的测量器件而不偏离本概念。

信号发生器56包括电压源68和函数发生器72，它们连接在一起。函数发生器72产生各种函数，诸如斜坡函数、阶梯函数、锯齿函数、正弦波函数等，并且与电压源协作以产生遵循来自函数发生器72的前述函数的电压信号。

连接装置40包括切换装置76和多条引线，在所示的示范性实施例中为十条，其编号为80A-80J。引线全部都与切换装置76相连，切换装置76由处理器48控制。来自评估装置36的组件诸如信号发生器56和测量器件60、64的连接被与切换装置76相似地连接。有利地，切换装置将引线80A-80J中的任意引线与评估装置36的组件中的任意组件内部地连接。注意，图2仅示出了引线80A和80G经由切换装置76与信号发生器56以及测量器件60、64的所有组件可以相连，但是应注意，切换装置76实际上能够独立地切将具有任意连接的引线80A-80J中的任意引线切换到评估装置36的任意组件。

有利地，提供大量引线80A-80J，其使得技术员能够在测试操作开始时连接将由校准检测系统4执行的所有连接，而不需要技术员在测试规程过程期间重新连接引线80A-80J中的任意引线。如上所述，存储在存储器52中的定制校准程序一般将包括用于部署校准检测系统4的设施处存在的各种电子装置8中的许多（如果不是全部的话）电子装置的测试规程。测试规程一般将是某些定制写入代码的形式，该代码基于部署校准检测系统4的设施处使用的操作手册。

用于任何给定电子装置的测试规程可以首先调用例如在1.0伏特和3.0伏特之间以1秒的间隔步进15秒的阶梯电压，输入被提供给插件板12C的特定组件上的特定位置，输出电压被从插件板12A的特定组件上的特定位置检测。因此，以示例的方式，且可以从图1和图2理解，切换装置76因此将会内部地连接引线80C和信号发生器56且可以连接引线80A与伏特计60。校准检测系统4然后将输入前述阶梯函数电压到电子装置8中，如上面所述的那样，并且用伏特计60检测所得电压（如果有的话）。

如果所检测的电压指示电子装置8的第一部分的适当校准，处理器48然后可以执行测试规程的下一部分，其可以是施加1.5伏特的固定电压至插件板12F上的特定组件的特定位置，同时检测来自插件板12D的特定组件上的特定位置以及来自插件板12G的特定组件上的特定位置的电压。为了这样做，切换装置76将会通过内部地连接引线80E与信号发生器56，连接引线80D与伏特计60，以及连接引线80G与伏特计64，来内部地重新连接各条引线80与评估装置36的各种组件。校准检测系统4然后将产生前述信号且同时检测所指示的电压。

因此，可以指示技术员将各种引线80A-80J中的所有引线连接到将在整个测试规程过程期间评估的插件板12A-12G上的各种位置中的所有位置，由处理器48控制的切换装置76将会内部地切换各种引线80A-80J和评估装置36的组件中的连接，以执行构成测试规程的各种测试操作。于是，校准测试系统4以及其存储的测试规程的使用有利地避免了在执行测试规程时技术员需要周期性地断开和重新连接各种引线80A-80J与电子装置8的各种其他组件。

测试规程的前述示例无意成为限制，而是应注意，测试规程一般具有非常丰富的指令开发集合。例如，在比较固定测试值诸如电压与用于该电压的固定预期值时，测试规程一般将采用对于特定电子装置8执行的具体测量而言特定的容限（tolerance），其一般是测量信号的某一百分比加上测量尺度的某一百分比的形式。作为示例，某一电压容限可以是预期测量信号（比方说，以伏特为单位）的±1.00%与尺度（比方说，0至100伏特）的±4.00%的组合。如果预期测量是50伏特，容限可以是50伏特的±1.00%（其等于0.50伏特）加上100伏特尺度的±4.00%（其等于4.00伏特），总容限为±4.50伏特。

然而，测试规程还配置为实现当输入和/或预期输出根据时间而变化时的测试，诸如在电压输入或输出遵循斜坡函数、阶梯函数、锯齿函数和正弦波函数中的一个或更多的情况下，和/或当在施加输入与检测输出之间预期有时间延迟时的测试。在这样的情况下，适当的容限将根据时间而改变，测试规程有利地包括实时计算并且应用正确的容限的能力，该容限对于根据时间而施加特定的输入而言是特定的。

I/O装置44包括显示器84和键盘88，二者都与处理器48连接。键盘88可用于技术员输入数据，诸如电子装置8的标识码，其可以使处理器48采用标识码来从存储器52检索相关的测试规程，该测试规程已经被写入和存储以用于与特定电子装置8相关的使用。

显示器84可以显示对技术员的指令，诸如连接各种引线80A-80J到电子装置8的各种元件的图，且可以向技术员提供其他指令。例如，在执行测试规程的各部分时，其可以是测试规程的一部分，用于使技术员替换给定组件，诸如电子装置8的给定插件板12A-12G。替选地，可以指示技术员调节给定插件板12A-12G上的增益或者整修（refurbish）插件板12A-12G。此外，显示器84可以向技术员输出测试规程中的每个独立测试步骤的说明，并且能在实际执行每个这种独立测试步骤之前等候来自技术员所表示的（即，输入的）赞同。

此外，显示器能配置为实时输出所产生的输入和所获得的结果，意味着显示器84能模拟否则将会在信号发生器56和伏特计60、64的单独显示器上提供的输出。

显示器84还能最后指示技术员已经对电子装置完成了测试和校准，校准检测系统4可以与不同的电子装置8相连。有利地，提供平台92和轮96以用于在各个电子装置8之间移动校准检测系统4，这里为了清除而仅明确示出了一个电子装置8。

图3大体上示出一流程图，该流程图描绘了根据所公开且要求保护的概念的改善的方法的某些方面。处理可以始于由校准检测系统4检测标识码的输入，诸如设备标识符，如在104处那样。这种输入可以通过技术员打字输入要校准的特定电子装置8的标识码来进行。

然后校准检测系统4能够检索与技术员在104处确定的特定电子装置8相关联的测试规程，如在108处那样。处理器48然后可以使显示器84输出连接图，如在112处那样，连接图指示技术员各种引线80A-80J应如何与各种插件板12A-12G相连以执行在108处所检索到的整个测试规程中的全部测试操作。注意，在执行任何给定测试规程时可能采用少于全部的引线80A-80J，还应注意，在这种测试规程期间可能少于全部的插件板12A-12G与引线80A-80J相连。还应理解，提供十条引线80A-80G仅用于示例，七个插件板12A-12G也是如此，注意，二者都可具有更多或更少的数目而不偏离本概念。

一旦各种引线80A-80J已经连接到电子装置8上的各种位置，技术员就可以通过提供<开始>命令向校准检测系统4指示已经完成了这些连接，如在116处那样。然后如在120处那样，通过根据需要一开始用切换装置76将各种引线80A-80J切换为与执行第一测试所需的评估装置36的各种组件相连、用信号发生器56输入适当的信号到电子装置8、以及用伏特计60、64或二者检测输出，来开始执行测试规程。测试规程向处理器48指示各种测试参数。

然后在124处确定是否检测到在测试规程的该点处正被测试的电子装置8的特定组件的校准问题。如果检测到这种校准问题，则在128处继续处理，咨询测试规程以识别将输出在显示器84上供技术员执行的特定指令。然后在132处检测输入，该输入指示所显示的指令已经被执行，然后在136处判断问题是否被解决。如果问题未被解决，则在128处继续处理，进一步咨询测试规程，在显示器84上输出进一步的指令供技术员执行。另一方面，如果在136处判定问题已经得到解决，则在120处继续处理，整个测试规程被从其开始处重新执行。由于技术员采取的动作已经导致电子装置8的某些类型的改变，这可能影响了在测试规程的早期部分中发生的情况，所以在这种情形下重新开始测试规程。因此，既然在136处断定问题已经得到解决，就重新开始测试规程以重新评估电子装置8的所有元件。

另一方面，如果在124处判断未检测到与电子装置8中的正在被检测的特定组件的校准相关的问题，则在140处继续处理，判定是否存在测试规程的尚未被执行的任何剩余部分。如果存在，则在144处继续处理，切换装置76根据需要内部地切换与评估装置36的各种组件的引线连接，用信号发生器产生新信号，利用伏特计60或64或二者检测一个或更多输出信号（如果有的话）。然后在124处继续处理，判断是否检测到与电子装置8的当前测试的组件的校准相关的问题。

另一方面，如果在140处判定在当前测试规程中不存在进一步的测试，则显示器84输出电子装置8的测试完成的指示。校准检测系统4然后可以与电子装置8断开连接，可以转移到另一电子装置8（这里未明确示出）且重复该过程，如在104处那样。

因此，改善的校准检测系统4和方法可以通过消除技术员所需的许多劳动而节省时间，还能通过避免现有技术系统所需的繁复重新连接而进一步减少劳动。有利的是，校准检测系统4还能在测试表格的各个空白处填写伏特计60和64或评估装置36的其他组件所检测和/或推导出的结果。就此而言，将理解，可以在评估装置36中采用任意数量的伏特计、信号发生器和其他器件，而不偏离本概念。因此，除了电压本身之外，校准检测系统4能记录诸如到达检测电压的时间、插件板的插座条状态之类的信息以及实质上可能期望获得和记录的任何其他类型信息。通过存储多个测试规程，即设施处的各种不同电子装置8每个有一个测试规程，使用单独的校准测试系统4的个体技术员可以与先前用过去的系统能执行的校准和测试相比执行多得多的校准和测试。

本公开可以以其他形式体现而不偏离其思想和实质特性。所描述的实施例在所有方面都仅视为示范性的，而不是限制性的。本公开的范围因此由所附权利要求而非前述说明来表明。落入权利要求的等价物的含义和范围内的所有改变将被涵盖在权利要求的范围内。

Claims (20)

1.一种校准检测系统（4），用于在校准电子装置（8）时使用，该电子装置（8）构造为接收输入信号，利用该输入信号执行一个或更多操作，以及至少部分地基于该信号以及该一个或更多操作提供输出信号，该校准检测系统包括：

处理器装置（32），包括处理器（48）和存储器（52）；

评估装置（36），与该处理器通信且包括至少第一信号发生器（56）和至少第一测量器件（60）；

连接装置（40），包括多条引线（80A-J），至少一些引线每条都与该至少第一信号发生器和该至少第一测量器件中的至少一个相连，且构造为与该电子装置相连；

该存储器具有存储在其中的一个或更多程序，其在该处理器上执行时使该校准检测系统执行多个操作，该操作包括：

从该至少第一信号发生器使用第一多条引线向该电子装置输入至少第一输入信号；

用该至少第一测量器件检测经由第二多条引线来自该电子装置的至少第一输出信号；以及

至少部分地基于该至少第一输入信号和该至少第一输出信号判断该电子装置的至少一部分是否被适当校准。

2.如权利要求1所述的校准检测系统，其中，所述操作还包括输出指令，该指令表示所述第一多条引线和所述第二多条引线将要连接到的该电子装置上的多个位置。

3.如权利要求2所述的校准检测系统，其中，所述存储器中存储有与该电子装置相关联的测试规程，其中所述操作还包括：

检测表示该电子装置的标识的输入；

采用该电子装置的标识来从该存储器检索该测试规程的至少一部分；以及

从该测试规程的该至少一部分获取所述第一多条引线和所述第二多条引线将要连接到的所述电子装置上的多个位置。

4.如权利要求1所述的校准检测系统，其中，所述存储器中存储有与所述电子装置相关联的测试规程，其中所述操作还包括在进行所述判断时采用该测试规程的至少一部分。

5.如权利要求4所述的校准检测系统，其中，所述操作还包括至少部分地基于所述判断和所述测试规程中的至少一个输出以下各项中的至少一项的指令：

该电子装置的特定组件应被替换；

该电子装置的特定组件应被调节；以及

该电子装置的特定组件应被整修。

6.如权利要求5所述的校准检测系统，其中，所述操作还包括检测表示所述指令已经被执行的输入，以及响应于该输入而再次执行所述输入操作、所述检测操作和所述判断操作。

7.如权利要求1所述的校准检测系统，其中，所述操作还包括：

输入多个输入信号作为所述至少第一输入信号；

检测多个输出信号作为所述至少第一输出信号，该多个输出信号中的至少一些信号每个响应于所述多个输入信号中的至少一个信号；以及

作为所述判断，至少部分地基于所述多个输入信号的至少一部分和所述多个输出信号中的至少一部分进行判断。

8.如权利要求7所述的校准检测系统，其中，所述操作还包括以下操作中的至少一个：

同时输入所述多个输入信号中的至少两个信号；以及

同时检测所述多个输出信号中的至少两个信号。

9.如权利要求8所述的校准检测系统，其中，所述评估装置还包括与所述处理器通信的多个测量器件，其中所述操作还包括同时检测：

用所述多个测量器件中的测量器件（60）测量的所述多个输出信号中的输出信号，以及

用所述多个测量器件中的另一测量器件（64）测量的所述多个输出信号中的另一输出信号。

10.如权利要求1所述的校准检测系统，其中，所述连接装置还包括连接在所述引线中的至少一些引线与所述评估装置的至少一部分之间的切换装置（76），其中所述操作还包括响应于来自所述处理器装置的多个信号，用所述切换装置切换所述引线中的所述至少一些引线中的至少第一引线在该至少第一信号发生器和该至少第一测量器件中的所述至少一个中的连接。

11.一种在校准电子装置（8）时操作校准检测系统（4）的方法，该电子装置（8）构造为接收输入信号，使用该输入信号执行一个或更多操作，以及至少部分地基于该信号和该一个或更多操作提供输出信号，该校准检测系统包括具有处理器（48）和存储器（52）的处理器装置（32）、与该处理器通信且包括至少第一信号发生器（56）和至少第一测量器件（60）的评估装置（36）、以及包括多条引线（80A-J）的连接装置（40），所述引线中的至少一些每条与所述至少第一信号发生器和所述至少第一测量器件中的至少一个相连且构造为与该电子装置相连，该方法包括：

从该至少第一信号发生器使用第一多条引线向该电子装置输入至少第一输入信号；

用该至少第一测量器件通过第二多条引线检测来自该电子装置的至少第一输出信号；以及

至少部分地基于该至少第一输入信号和该至少第一输出信号判断该电子装置的至少一部分是否被适当地校准。

12.如权利要求11所述的方法，还包括输出指令，该指令表示所述第一多条引线和所述第二多条引线将要连接到的该电子装置上的多个位置。

13.如权利要求12所述的方法，其中，所述存储器中存储有与该电子装置相关联的测试规程，且所述方法还包括：

检测表示该电子装置的标识的输入；

采用该电子装置的标识来从该存储器检索该测试规程的至少一部分；以及

从该测试规程的该至少一部分获取所述第一多条引线和所述第二多条引线将要连接到的所述电子装置上的多个位置。

14.如权利要求11所述的方法，其中，所述存储器中存储有与所述电子装置相关联的测试规程，且所述方法还包括在进行所述判断时采用该测试规程的至少一部分。

15.如权利要求14所述的方法，还包括至少部分地基于所述判断和所述测试规程中的至少一个输出以下各项中的至少一项的指令：

该电子装置的特定组件应被替换；

该电子装置的特定组件应被调节；以及

该电子装置的特定组件应被整修。

16.如权利要求15所述的方法，还包括检测表示所述指令已经被执行的输入，以及响应于该输入而再次执行所述输入步骤、所述检测步骤和所述判断步骤。

17.如权利要求11所述的方法，还包括：

输入多个输入信号作为所述至少第一输入信号；

检测多个输出信号作为所述至少第一输出信号，该多个输出信号中的至少一些信号每个响应于所述多个输入信号中的至少一个信号；以及

作为所述判断，至少部分地基于所述多个输入信号的至少一部分和所述多个输出信号中的至少一部分进行判断。

18.如权利要求17所述的方法，还包括以下步骤中的至少一个：

同时输入所述多个输入信号中的至少两个信号；以及

同时检测所述多个输出信号中的至少两个信号。

19.如权利要求18所述的方法，其中，所述评估装置还包括与所述处理器通信的多个测量器件，且所述方法还包括同时检测：

用所述多个测量器件中的测量器件（60）测量的所述多个输出信号中的输出信号，以及

用所述多个测量器件中的另一测量器件（64）测量的所述多个输出信号中的另一输出信号。

20.如权利要求11所述的方法，其中，所述连接装置还包括连接在所述引线中的至少一些引线与所述评估装置的至少一部分之间的切换装置（76），其中所述方法还包括响应于来自所述处理器装置的多个信号，用所述切换装置切换所述引线中的所述至少一些引线中的至少第一引线在该至少第一信号发生器和该至少第一测量器件中的所述至少一个中的连接。

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