JP5855390B2 - 荷電粒子ビーム描画装置及びブランキングタイミングの調整方法 - Google Patents
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Description
2 描画部
4 電子鏡筒
7 DACアンプテスター
7a CPU
7b ROM
7c RAM
7d 入出力インターフェイス
7e バス
7f 入力部
7g 表示部
7h 通信制御部
7i 記憶部
7j リムーバブルディスク
31 制御計算機
32 偏向制御部
33 ブランキングアンプ
34 成形偏向アンプ
35 副偏向アンプ
36 主偏向アンプ
37 ブランキングインターフェイス
38 DACアンプ診断回路
U コントロールユニット
Claims (5)
- 試料への荷電粒子ビームの照射の可否を制御するブランキングアンプと、
前記荷電粒子ビームの光路に沿って配置される偏向器に電圧を印加するDACアンプと、
前記ブランキングアンプや前記DACアンプの制御を行う偏向制御部と、
前記偏向制御部を制御する制御計算機と、
前記DACアンプから出力されるアナログ電圧信号を加算する加算回路を備えるDACアンプ診断回路と、
前記DACアンプ診断回路から出力される信号を基に前記DACアンプの評価を行うDACアンプテスターと、を備え、
前記DACアンプテスターは、
前記ブランキングアンプから出力されるブランキング信号と前記DACアンプ診断回路から出力される加算回路出力信号を基に、セトリング時間内において、前記ブランキングアンプにおける照射時間から前記セトリング時間へと移行する時点から、前記DACアンプでの偏向が開始される時点までの時間差であるブランキングタイミングの調整を行うことを特徴とする荷電粒子ビーム描画装置。 - 前記DACアンプテスターは、前記ブランキングアンプにおける照射時間からセトリング時間へと移行する時点に向けて、前記DACアンプでの偏向が開始される時点を移動させることによって、前記ブランキングタイミングの調整を行うことを特徴とする請求項1に記載の荷電粒子ビーム描画装置。
- 前記ブランキングタイミングの調整結果は、前記DACアンプテスターから前記偏向制御部へと送信されることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の荷電粒子ビーム描画装置。
- 試料に対して描画処理が行われる際のDACアンプから偏向器へ出力されるアナログ電圧信号をDACアンプ診断回路に入力し、加算回路にて加算し、加算回路出力信号を生成するステップと、
前記加算回路出力信号が前記DACアンプ診断回路からDACアンプテスターに入力されるステップと、
ブランキング信号が、ブランキングアンプから前記DACアンプテスターに入力されるステップと、
前記描画処理が開始される際に、前記DACアンプからの出力信号が異常であるか否かの信号と、前記試料に照射される荷電粒子ビームに関するブランキング信号とがDACアンプテスターに入力されるステップと、
前記DACアンプテスターが、前記ブランキングアンプにおける照射時間からセトリング時間へと移行する時点に向けて、前記加算回路出力信号において示される前記DACアンプでの偏向が開始される時点を移動させるステップと、
を備えることを特徴とするブランキングタイミングの調整方法。 - 前記ブランキングアンプにおける照射時間からセトリング時間へと移行する時点に向けて、前記加算回路出力信号において示される前記DACアンプでの偏向が開始される時点を移動させるに当たり、前記移動を前記DACアンプテスターにおける調整可能幅に基づいて行い、所望のブランキングタイミングに調整することを特徴とする請求項4に記載のブランキングタイミングの調整方法。
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