JP5881972B2 - Dacアンプの評価方法及び荷電粒子ビーム描画装置 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の実施の形態における荷電粒子ビーム描画装置1の全体構成を示すブロック図である。なお、以下の実施の形態においては、荷電粒子ビームの一例として電子ビームを用いた構成について説明する。但し、荷電粒子ビームは電子ビームに限られるものではなく、イオンビーム等の荷電粒子を用いたビームであっても良い。
し、その他のDACアンプを示していない。
成形偏向器47に偏向電圧を印加するDACアンプ34、及び、位置偏向器50に偏向電圧を印加するDACアンプ35から出力されるアナログ電圧信号の波形が示されている。なお、図3においては、DACアンプ34を「SHP」と、DACアンプ35を「SUB」と省略して表わしている。一方、それぞれのアンプの対極にあるアンプから出力されるアナログ電圧信号の波形が「対極アンプ」と記載される部分に示されている。
なる(図5の点線参照)。また、「電子ビーム照射のための整定待ち時間」は「DACアンプの整定時間」よりも長く設定されることから、「電子ビーム照射のための整定待ち時間」を示す点線は「DACアンプの整定時間」を示す実線よりも上に示される。
圧信号は、加算回路71において加算される。加算回路71による加算結果は、ディジタイザ回路72に入力され、コントローラ73と協力してアナログ電圧信号である加算結果(加算信号)をディジタル化(以下、このような信号を「ディジタル加算信号」と表わす)する。ディジタル加算信号は、エラー検出回路74に入力され、エラー検出回路74において入力された当該ディジタル加算信号が予め設定される閾値を超えたエラーとして検出されるか否か判断される(ST5)。
通報する(ST12)。通報を受けたユーザは、例えば、該当するDACアンプの交換をスケジューリングするといった対応を取る。但し、この状態では上述したエラーレベルにまでは達していないので、荷電粒子ビーム描画装置1を停止させるまでには至らない。このような状態で直接ユーザに危険性を通報することで実際にDACアンプの故障によって荷電粒子ビーム描画装置1が停止してしまうことを回避することが可能となる。
次に本発明における第2の実施の形態について説明する。なお、第2の実施の形態において、上述の第1の実施の形態において説明した構成要素と同一の構成要素には同一の符号を付し、同一の構成要素の説明は重複するので省略する。
反射成分に当たる部分ではエラーの検出数が増加する。そして、一旦検出数が安定するものの、さらに「DACアンプの整定時間」に掛かるため再度検出数が増加する。
2 描画部
4 電子鏡筒
7 DACアンプテスト部
32 偏向制御部
33 ブランキングアンプ
34 DACアンプ
35 DACアンプ
71 加算回路
72 ディジタイザ回路
73 コントローラ
74 エラー検出回路
A DACアンプの整定時間
B 電子ビームの照射可能な時間
C 電子ビームの照射時間
D 電子ビーム照射のための整定待ち時間
Claims (2)
- 複数の対向電極から構成される偏向器の各々の電極に接続されるDACアンプから出力されるアナログ電圧信号を受信し、少なくとも1対の前記対向電極のアナログ電圧信号をそれぞれ加算するステップと、
加算の結果生成される加算信号をデジタル加算信号に変換するステップと、
前記デジタル加算信号を基にエラーを検出するステップと、を備え、
前記エラー検出ステップでは、電子ビーム照射の整定待ち時間を、前記電子ビーム照射の移動量に合わせて可変に設定される前記DACアンプの整定時間の時間幅の略中央付近の1つに設定することで荷電粒子ビームのショット時における前記DACアンプの前記デジタル加算信号が予め設定される閾値外となった数が指定した一定数を超えることをエラーと定義することを特徴とするDACアンプの評価方法。 - 荷電粒子ビームの光路に沿って配置される複数の対向電極から構成される偏向器の各々の電極に接続され電圧を印加するDACアンプと、
前記DACアンプから出力されるアナログ電圧信号を基に前記DACアンプの評価を行うDACアンプテスト部と、を備え、
前記DACアンプテスト部は、
前記DACアンプから出力される前記アナログ電圧信号を受信し、少なくとも1対の対向電極の前記アナログ電圧信号をそれぞれ加算する加算回路と、
前記加算回路によって生成される加算信号をデジタル加算信号に変換するディジタイザ回路と、
前記デジタル加算信号を基に電子ビーム照射の整定待ち時間を、前記電子ビーム照射の移動量に合わせて可変に設定される前記DACアンプの整定時間の時間幅の略中央付近の1つに設定することで荷電粒子ビームのショット時における前記DACアンプの前記デジタル加算信号が予め設定される閾値外となった数が指定した一定数を超えることをエラーと定義し前記DACアンプの評価を行うエラー検出回路と、
を備えることを特徴とする荷電粒子ビーム描画装置。
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