JP5855001B2 - エポキシシリコーン縮合物、該縮合物を含む硬化性組成物およびその硬化物 - Google Patents

エポキシシリコーン縮合物、該縮合物を含む硬化性組成物およびその硬化物 Download PDF

Info

Publication number
JP5855001B2
JP5855001B2 JP2012528668A JP2012528668A JP5855001B2 JP 5855001 B2 JP5855001 B2 JP 5855001B2 JP 2012528668 A JP2012528668 A JP 2012528668A JP 2012528668 A JP2012528668 A JP 2012528668A JP 5855001 B2 JP5855001 B2 JP 5855001B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
condensate
group
epoxy
curable composition
cured product
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2012528668A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2012020730A1 (ja
Inventor
真尚 原
真尚 原
内田 博
博 内田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Showa Denko KK
Original Assignee
Showa Denko KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Showa Denko KK filed Critical Showa Denko KK
Priority to JP2012528668A priority Critical patent/JP5855001B2/ja
Publication of JPWO2012020730A1 publication Critical patent/JPWO2012020730A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5855001B2 publication Critical patent/JP5855001B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07FACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
    • C07F7/00Compounds containing elements of Groups 4 or 14 of the Periodic Table
    • C07F7/02Silicon compounds
    • C07F7/08Compounds having one or more C—Si linkages
    • C07F7/0803Compounds with Si-C or Si-Si linkages
    • C07F7/081Compounds with Si-C or Si-Si linkages comprising at least one atom selected from the elements N, O, halogen, S, Se or Te
    • C07F7/0812Compounds with Si-C or Si-Si linkages comprising at least one atom selected from the elements N, O, halogen, S, Se or Te comprising a heterocyclic ring
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07FACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
    • C07F7/00Compounds containing elements of Groups 4 or 14 of the Periodic Table
    • C07F7/02Silicon compounds
    • C07F7/08Compounds having one or more C—Si linkages
    • C07F7/18Compounds having one or more C—Si linkages as well as one or more C—O—Si linkages
    • C07F7/1804Compounds having Si-O-C linkages
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G59/00Polycondensates containing more than one epoxy group per molecule; Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups
    • C08G59/18Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups ; e.g. general methods of curing
    • C08G59/20Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups ; e.g. general methods of curing characterised by the epoxy compounds used
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G59/00Polycondensates containing more than one epoxy group per molecule; Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups
    • C08G59/18Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups ; e.g. general methods of curing
    • C08G59/20Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups ; e.g. general methods of curing characterised by the epoxy compounds used
    • C08G59/22Di-epoxy compounds
    • C08G59/30Di-epoxy compounds containing atoms other than carbon, hydrogen, oxygen and nitrogen
    • C08G59/306Di-epoxy compounds containing atoms other than carbon, hydrogen, oxygen and nitrogen containing silicon
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G77/00Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule
    • C08G77/04Polysiloxanes
    • C08G77/14Polysiloxanes containing silicon bound to oxygen-containing groups
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L83/00Compositions of macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon only; Compositions of derivatives of such polymers
    • C08L83/04Polysiloxanes
    • C08L83/06Polysiloxanes containing silicon bound to oxygen-containing groups
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B1/00Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
    • G02B1/04Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements made of organic materials, e.g. plastics
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B1/00Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
    • G02B1/04Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements made of organic materials, e.g. plastics
    • G02B1/041Lenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/29Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/29Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
    • H01L23/293Organic, e.g. plastic
    • H01L23/296Organo-silicon compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/52Encapsulations
    • H01L33/56Materials, e.g. epoxy or silicone resin

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Silicon Polymers (AREA)
  • Epoxy Resins (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Description

本発明は、分子内に脂環式エポキシ基を有するエポキシシリコーン縮合物、該縮合物を含む硬化性組成物およびその硬化物に関する。
従来、発光ダイオード(LED)素子や半導体チップの封止材としては、これらの部品を実装する基板との接着性や強靭性、ガスバリア性などの点から一般にエポキシ樹脂が用いられている。
しかし、エポキシ樹脂を封止材として用いた場合、樹脂の耐熱性や耐光性が十分でないため、発熱や光エネルギーの大きい青色および白色LEDにおいて封止材の着色が見られ、LED素子の性能を大きく低下させている。
そこで、耐熱性および耐光性に優れたシリコーン樹脂をLED封止材として用いる検討が多く実施されている(例えば、特許文献1,2)。しかしシリコーン樹脂は、配線部の金属面や、反射板(リフレクタ)として用いられる有機樹脂との接着性が悪いため、シリコーン樹脂をLED封止樹脂として用いた場合には、長時間の使用により封止樹脂の剥離がみられる。
上記シリコーン樹脂の欠点を改善させるために、シロキサン骨格の繰り返し単位中に置換基としてエポキシ基を有する、エポキシシリコーン樹脂が検討されている(例えば、特許文献3,4)。この樹脂は、シリコーン樹脂が有する耐熱性、耐光性、透明性と、エポキシ樹脂の有する硬度、強度、接着性を併せもつことが期待されている。
特許文献3には、エポキシ基および脂環式炭化水素基をケイ素上の置換基として含むシリコーン組成物が開示されているが、その製造方法では、Si−H基を含むシロキサンコポリマーに対し、ヒドロシリル化により置換基を導入させて合成している。この方法では、多くの場合組成物中に未反応のSi−H基が残存するため、Si−H基の加水分解で発生する水素ガスにより硬化物中に気泡が混入する可能性がある。
特許文献4には、グリシジル基またはエポキシシクロヘキシル基を含むトリアルコキシシラン化合物を、水および酸性触媒または塩基性触媒により高分子量化させた後、モノアルコキシシランを末端封止剤として用い残存アルコキシ基およびシラノール基をエンドキャップすることを特徴とする多官能エポキシシリコーン樹脂の製造方法が開示されている。この方法により高透明性、高硬度、高耐光性、低収縮率の硬化性樹脂組成物が得られるものの、樹脂組成物に占めるシリコーン部位の割合が低いため、エポキシ樹脂の欠点である耐熱性に問題が生じることがある。
さらに、近年、シリコーン樹脂の欠点として、ガス透過性の高さが問題となっている。例えば、封止樹脂を通り抜けた水蒸気によるLED中の無機蛍光体の劣化や、酸素による基板の配線の銀メッキ表面の酸化劣化などが問題点として挙げられている。これに関し、上記特許文献3、4においては、記載の樹脂を用いることによる、耐熱性・耐光性・透明性・硬度・収縮率等の改良に関しては述べられているものの、ガスバリア性の向上に関しては全く記載されてはいない。
また、特許文献5において、電気・電子・光学部品の封止材料、成形材料、注型材料、積層材料、複合材料、接着剤および粉体塗料、シランカップリング剤、変性シリコーン等の原料用途に有用である新規エポキシ化合物が開示されている。しかしながら、上記エポキシ化合物のエポキシシリコーン縮合物については全く記載されてはいない。
特開2004−221308号公報 特開2004−186168号公報 特開2004−155865号公報 特開2008−248170号公報 国際公開第2008/020637号パンフレット
本発明は、上記のような問題に鑑みてなされたものであり、透明性、耐熱性、ガスバリア性に優れた硬化物が得られるエポキシ基含有シリコーン縮合物を提供することを目的としている。
本発明者らは前記の課題を解決するために鋭意検討を行った結果、以下の一般式(1)で表されるエポキシ基含有アルコキシシラン化合物を、下記一般式(2)で表されるアルコキシシラン化合物と共に、酸性触媒または塩基性触媒存在下で加水分解縮合することで得られるエポキシシリコーン縮合物を含む硬化性組成物の硬化物により、上記課題を解決することができることを見出した。具体的には、本発明は以下に記載するものを含む。
[1]以下の一般式(1)
Figure 0005855001
(式中、RおよびRは、各々独立して炭素数が1から5のアルキル基を示し、R〜R11は、各々独立して水素原子または炭素数1から6までのアルキル基、もしくは炭素数3から12までのトリアルキルシリル基を表し、nは1から3の整数である。また、RまたはRと、RまたはRとは、互いに結合して環を構成していてもよい。)で表されるエポキシ基含有アルコキシシラン化合物と、下記一般式(2)
Figure 0005855001
(式中、R12およびR13は、各々独立して炭素数が1から5のアルキル基を示し、mは1から3の整数である。)で表されるアルコキシシラン化合物との加水分解縮合生成物であるエポキシシリコーン縮合物であって、上記エポキシ基含有アルコキシシラン化合物(1)のモル数をx、アルコキシシラン化合物(2)のモル数をyとするとき、0.2≦my/nx≦0.7の範囲である、エポキシシリコーン縮合物。
[2]前記一般式(1)中のR〜R11がすべて水素原子である、[1]に記載のエポキシシリコーン縮合物。
[3][1]または[2]に記載のエポキシシリコーン縮合物を含有することを特徴とする、硬化性組成物。
[4][3]に記載の硬化性組成物の硬化物。
[5][4]に記載の硬化物を封止材として含む光学素子。
[6][4]に記載の硬化物を封止材として含む電子部品。
本発明のエポキシ基含有シリコーン縮合物を含む硬化性組成物の硬化物は、透明性、耐熱(黄変)性、ガスバリア性に優れるため、プラスチックレンズなどの光学材料用の原料や発光ダイオード(LED)等の光学素子、半導体チップ等の電子部品の封止材料として有用である。
実施例1で得られたエポキシシリコーン縮合物のH−NMRスペクトルである。 実施例2で得られたエポキシシリコーン縮合物のH−NMRスペクトルである。 実施例3で得られたエポキシシリコーン縮合物のH−NMRスペクトルである。 実施例4で得られたエポキシシリコーン縮合物のH−NMRスペクトルである。
以下本発明を具体的に説明する。
本発明のエポキシシリコーン縮合物は、以下の一般式(1)
Figure 0005855001
(式中、RおよびRは、各々独立して炭素数が1から5のアルキル基を示し、R〜R11は、各々独立して水素原子または炭素数1から6までのアルキル基、もしくは炭素数3から12までのトリアルキルシリル基を表し、nは1から3の整数である。また、RまたはRと、RまたはRとは、互いに結合して環を構成していてもよい。)で表されるエポキシ基含有アルコキシシラン化合物と、下記一般式(2)
Figure 0005855001
(式中、R12およびR13は、各々独立して炭素数が1から5のアルキル基を示し、mは1から3の整数である。)で表されるアルコキシシラン化合物とを、上記エポキシ基含有アルコキシシラン化合物(1)のモル数をx、アルコキシシラン化合物(2)のモル数をyとするとき、0.2≦my/nx≦0.7の範囲で混合し、加水分解縮合することで得られる。
式(1)におけるRおよびRは、炭素数が1から5のアルキル基を示す。炭素数が1から5のものは原料として入手しやすく、さらにOR基としたときの加水分解縮合の反応性が高い。具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、ペンチル基等が例示されるが、これらに限定されるものではない。RおよびRはより好ましくは、メチル基またはエチル基である。
式(1)中のR〜R11は具体的には、各々独立して水素原子または炭素数1から6までのアルキル基、もしくは炭素数3から12までのトリアルキルシリル基を表す。具体的には、水素原子、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、イソブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、トリメチルシリル基、トリエチルシリル基、tert−ブチルジメチルシリル基、等が例示されるが、これらに限定されるものではない。R〜R11は好ましくは、原料の入手容易性から、水素原子、メチル基、トリメチルシリル基、tert−ブチルジメチルシリル基であり、R〜R11のすべてが水素原子である場合以外の具体例として以下の構造式のものが挙げられる。より好ましくは、水素原子、メチル基であり、R〜R11のすべてが水素原子であることがさらに好ましい。
Figure 0005855001
また、RまたはRと、RまたはRとは、互いに結合して環を構成していてもよい。例えば、RとRが結合して環を構成する場合、RとRが各々結合している炭素原子同士が、二価基、例えば置換または非置換のアルキレン基を介して結合して、エポキシ基含有アルコキシシラン化合物中に追加の環構造が導入される。具体的には、以下の一般式(1')で表されるエポキシ基含有アルコキシシラン化合物が好ましい。
Figure 0005855001
式(1')中のR〜R、R、R〜R11、およびnは、式(1)について説明したとおりである。R14は炭素数1から3の二価アルキレン基、好ましくはメチレン基を表し、二価アルキレン基は、任意の炭素原子上に、炭素数1から6までのアルキル基、および炭素数3から12までのトリアルキルシリル基からなる群から選択される、1または複数の置換基を有してもよい。二価アルキレン基は、非置換であるか、置換基としてメチル基、トリメチルシリル基、tert−ブチルジメチルシリル基を有することが好ましく、例えば、以下の構造式のものが挙げられるが、非置換であるか、置換基としてメチル基を有することがより好ましい。
Figure 0005855001
エポキシ基含有アルコキシシラン化合物は、国際公開第2008/020637号パンフレットに記載されているように、Si−H結合を有するアルコキシシラン化合物を、アリル基を有するエポキシ化合物とヒドロシリル化反応させることによって調製することができる。
式(2)中のR12およびR13は、炭素数が1から5のアルキル基を示す。炭素数が1から5のものは原料として入手しやすく、さらに加水分解縮合の反応性が高い。具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、ペンチル基等が例示されるが、これらに限定されるものではない。R12およびR13はより好ましくは、メチル基またはエチル基である。
本発明のエポキシシリコーン縮合物を調製する際、上記エポキシ基含有アルコキシシラン化合物(1)とアルコキシシラン化合物(2)との混合比率は、エポキシ基含有アルコキシシラン化合物(1)のモル数をx、アルコキシシラン化合物(2)のモル数をyとするとき、0.2≦my/nx≦0.7の範囲が好ましく、より好ましくは0.25≦my/nx≦0.65の範囲であり、さらにより好ましくは0.3≦my/nx≦0.6の範囲である。my/nxが大きすぎる場合、樹脂組成物に占めるシリコーン部位の割合が高過ぎるため、ガスバリア性やTgに問題が生じる可能性がある。またmy/nxが小さすぎる場合、耐熱(黄変)性が不十分となることが多い。
本発明のエポキシシリコーン縮合物の分子構造は、使用するエポキシ基含有アルコキシシラン化合物(1)およびアルコキシシラン化合物(2)の一分子中の加水分解性基の数、すなわちnおよびmによって様々であり、直鎖状、環状、分岐状、三次元網状構造のいずれであってもよい。一分子中のケイ素原子の数は一般に2〜200、好ましくは4〜100である。一分子中のケイ素原子の数が多すぎる場合、粘度が高くなり取扱性が悪くなる。一方一分子中のケイ素原子の数が少なすぎる場合、硬化物の柔軟性が低下し強度が十分でなくなる可能性がある。また、本発明のエポキシシリコーン縮合物のエポキシ当量は、一般に180g/eq〜1000g/eqの範囲であり、好ましくは200〜500g/eqの範囲である。
本発明のエポキシシリコーン縮合物を調製する際、添加される水の量は特に限定されないが、原料とするエポキシ基含有アルコキシシラン化合物(1)とアルコキシシラン化合物(2)中の加水分解性基の合計1モルに対して、通常1〜10モルの範囲であり、好ましくは1.5〜5モルの範囲である。添加される水の量が多すぎる場合、反応溶液に対する縮合物の溶解性が下がり、目的とする高分子量体を得ることができない可能性がある。また添加される水の量が少なすぎる場合、加水分解縮合が十分に進行しないことがある。
本発明のエポキシシリコーン縮合物を調製する際に、反応速度を高める目的で触媒を用いることが好ましい。用いる加水分解縮合触媒は特に限定されず、公知の酸性触媒または塩基性触媒を用いることができる。酸性触媒としては例えば、塩酸、硝酸、硫酸、トルエンスルホン酸、酢酸、リン酸、シュウ酸、クエン酸などが挙げられる。また塩基性触媒としては、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化セシウム、水酸化テトラメチルアンモニウム、水酸化テトラブチルアンモニウム、水酸化ベンジルトリメチルアンモニウムなどが挙げられる。
本発明のエポキシシリコーン縮合物を調製する際、前記触媒の添加量は特に限定されないが、十分な反応性を有し、かつエポキシ環の開環やゲル化を低く抑えるために、前記エポキシ基含有アルコキシシラン化合物(1)とアルコキシシラン化合物(2)中の加水分解性基の合計1モルに対して、0.001〜0.2モルの範囲が好ましく、より好ましくは0.005〜0.1モルの範囲である。
本発明のエポキシシリコーン縮合物を調製する際の上記反応の反応温度は、原料とするエポキシ基含有アルコキシシラン化合物(1)とアルコキシシラン化合物(2)との反応性、用いる溶媒などによっても異なるため特に限定されないが、反応速度が十分大きくなり、且つ望まない副反応を抑制するためには、0℃〜100℃の範囲が好ましく、より好ましくは、10℃〜80℃の範囲である。反応温度が低すぎると効率的に反応が進行せず、また高すぎるとエポキシ環の開環等の副反応が進行する可能性がある。
本発明のエポキシシリコーン縮合物を調製する際に、溶媒を用いることが好ましい。用いる溶媒としては、原料のアルコキシシランと水とを均一に溶解させるものならば特に限定はされないが、例えば、メタノール、エタノール、2−プロパノール、n−ブタノール、イソブタノール、tert−ブタノール等のアルコール系溶媒、アセトン、メチルエチルケトン、ジエチルケトン、メチルプロピルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン系溶媒を挙げることができる。また、これらの溶媒は単独で使用してもよく、あるいは2種以上を混合して使用してもよい。
本発明のエポキシシリコーン縮合物を調製する際の上記反応の反応時間は、原料とするエポキシ基含有アルコキシシラン化合物(1)とアルコキシシラン化合物(2)の反応性、反応温度などによっても異なるため特に限定されないが、生成物の分子量を十分大きくするためには、1時間〜40時間の範囲とすることが好ましい。反応時間が1時間未満の場合、未反応原料や低分子量オリゴマーが残存することがあり、また40時間より長く反応させたとしても、それ以上縮合反応が進行しない場合が多い。
前記エポキシシリコーン縮合物を含む硬化性組成物は、硬化物とするために硬化剤または重合開始剤のいずれかをさらに含むことができる。
まず、硬化剤を含む場合について説明する。
硬化剤としては、エポキシ樹脂の硬化剤として公知なものなら特に限定されない。例えば、フェノール樹脂等のフェノール化合物、ジアミン、ポリアミン等のアミン化合物、無水フタル酸、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸等の酸無水物、トリメリット酸等の多価カルボキシル基含有化合物等が挙げられ、これら化合物の1種を単独で用いても良いし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。これらの硬化剤のうち、得られる硬化物の耐熱性、耐光性、透明性等を考えると、酸無水物硬化剤を用いることが好ましい。
硬化剤として使用可能な酸無水物としては特に限定されない。例えば、無水フタル酸、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、無水マレイン酸、テトラヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、メチルナジック酸無水物、水素化メチルナジック酸無水物、トリアルキルテトラヒドロ無水フタル酸、ドデセニル無水コハク酸、無水2,4−ジエチルグルタル酸等を挙げることができる。これらの中で好ましいものとしては、25℃で液状の酸無水物、例えば、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、メチルナジック酸無水物、水素化メチルナジック酸無水物、トリアルキルテトラヒドロ無水フタル酸、ドデセニル無水コハク酸、無水2,4−ジエチルグルタル酸等が挙げられ、中でも脂環式酸無水物が好ましく、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、水素化メチルナジック酸無水物が特に好ましい。これら酸無水物は単独もしくは複数の混合物として用いても良く、例えば、3−メチル−ヘキサヒドロ無水フタル酸と、4−メチル−ヘキサヒドロ無水フタル酸の混合物等であってもよい。また、液状の酸無水物に固体の酸無水物を溶解して、25℃で液状になっている酸無水物の混合物であってもよい。
硬化剤として酸無水物のみを使用する場合には、その使用量は組成物中のエポキシ基の総数に対する酸無水物基の総数の比が、0.7〜1.5の範囲内であることが好ましく、さらに好ましくは、0.8〜1.2の範囲内である。組成物中のエポキシ基の総数に対する酸無水物基の総数が0.7未満であると、架橋密度が低くなり好ましくない。一方、1.5より大きいと、組成物を硬化して得られる硬化物の強度や耐湿性が悪化する傾向にあり好ましくない。
前記エポキシシリコーン縮合物を含む硬化性組成物には、必要に応じて硬化促進剤を使用することができる。併用可能な硬化促進剤としては、エポキシ基含有化合物と硬化剤の反応を促進する化合物であれば限定されるものではなく、例えば、メラミン、アセトグアナミン、ベンゾグアナミン、2,4−ジアミノ−6−ビニル−s−トリアジン等のトリアジン系化合物、イミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、ビニルイミダゾール、1−メチルイミダゾール等のイミダゾール系化合物、1,5−ジアザビシクロ[4.3.0]ノネン−5、1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]ウンデセン−7等のジアザビシクロアルケンなどのシクロアミジン化合物及びその誘導体、トリエチレンジアミン、ベンジルジメチルアミン、トリエタノールアミン等の3級アミノ基含有化合物、トリフェニルホスフィン、ジフェニル(p−トリル)ホスフィン、トリス(アルキルフェニル)ホスフィン、トリス(アルコキシフェニル)ホスフィン等の有機ホスフィン化合物、エチルトリフェニルホスホニウムホスフェート、テトラブチルホスホニウムヒドロキシド、テトラブチルホスホニウムアセテート、テトラブチルホスホニウムハイドロジェンジフルオライド、テトラブチルホスホニウムジハイドロジェントリフルオライド、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラフェニルホスホニウムテトラ−p−トリボレート、ベンジルトリフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラフェニルホスホニウムテトラフルオロボレート、p−トリルトリフェニルホスホニウムテトラ−p−トリルボレート、サンアプロ(株)製 U−CAT5003(テトラ置換ホスホニウムブロマイド)等のホスホニウム塩化合物、ジシアンジアジド等を挙げることができる。これらの硬化促進剤は単独で使用してもよいし、2種類以上を併用しても良い。これらの硬化促進剤の中で、好ましいものとしては、トリアジン系化合物、有機ホスフィン化合物及びホスホニウム塩化合物が挙げられる。
硬化促進剤の配合量は、硬化促進効果が達成できれば特に制限はない。しかし、本発明の組成物の硬化性及び本発明の組成物を硬化して得られる硬化物の耐熱性や耐湿性の観点からは、本発明の組成物中のエポキシシリコーン縮合物の合計100質量部に対し、0.1〜10質量部の範囲内で配合することが好ましく、より好ましくは1〜7質量部である。配合量が0.1質量部未満では短時間で硬化させることが困難であり、10質量部を超えると組成物を硬化して得られる硬化物の耐熱性や耐湿性を悪化させてしまう場合がある。
次に重合開始剤を含む場合について説明する。
本発明の硬化性組成物に含有させることができる重合開始剤は、前記エポキシシリコーン縮合物より硬化物を得ることができるものであれば特に限定されるものではない。通常の脂環式エポキシ基を有する化合物と同様に、カチオン重合開始剤を用いてカチオン重合を行なうことにより硬化物を得ることができる。
使用可能なカチオン重合開始剤としては、エポキシ基の開環重合を開始する化合物であれば特に限定はない。カチオン重合開始剤は、大きく、熱によって活性種を生ずる熱カチオン重合開始剤と、光照射されることによって活性種を生ずる光カチオン重合開始剤に分けられるが、前記エポキシシリコーン縮合物をカチオン重合させるためのカチオン重合開始剤としては、熱カチオン重合開始剤と光カチオン重合開始剤のいずれのものを用いてもよく、また、併用してもよい。
光カチオン重合開始剤は、紫外線の照射によってエポキシ基のカチオン重合を開始する化合物である。例えば、カチオン部分が、トリフェニルスルホニウムやジフェニル−4−(フェニルチオ)フェニルスルホニウムなどのスルホニウム、ジフェニルヨードニウムやビス(ドデシルフェニル)ヨードニウムなどのヨードニウム、フェニルジアゾニウムなどのジアゾニウム、1−ベンジル−2−シアノピリジニウムや1−(ナフチルメチル)−2−シアノピリジニウムなどのアンモニウム、(2,4−シクロペンタジエン−1−イル)[(1−メチルエチル)ベンゼン]−FeなどのFeカチオンであり、アニオン部分が、BF 、PF 、SbF 、[BX(ただし、Xは少なくとも2つ以上のフッ素またはトリフルオロメチル基で置換されたフェニル基)で構成されるオニウム塩が挙げられる。
熱カチオン重合開始剤としては、トリフル酸(Triflic acid)塩、三フッ化ホウ素エーテル錯化合物、三フッ化ホウ素等のようなカチオン系またはプロトン酸触媒、アンモニウム塩、ホスホニウム塩およびスルホニウム塩等の各種オニウム塩を用いることができる。
これらの光及び熱カチオン重合開始剤の中で、オニウム塩が、取り扱い性及び保存安定性と硬化性のバランスに優れるという点で好ましく、その中で、ジアゾニウム塩、ヨードニウム塩、スルホニウム塩及びホスホニウム塩が特に好ましい。
カチオン重合開始剤の使用量は特に限定されず、当該開始剤の反応性や、使用するエポキシシリコーン縮合物の粘度、該エポキシシリコーン縮合物中のエポキシ基の量に応じて適宜設定すればよいが、一般的には、使用するエポキシシリコーン縮合物100質量部に対し、0.01〜15質量部、より好ましくは0.05〜5質量部の量で添加する。この範囲を外れると、カチオン重合後の硬化物の耐熱性及び耐湿性のバランスが悪くなるため好ましくはない。
本発明のエポキシシリコーン縮合物を含む硬化性組成物は、必要に応じて各種添加剤を含むことができる。代表的な添加剤としては、例えば、硬化時の熱による酸化劣化を防止し着色の少ない硬化物とするための酸化防止剤や、硬化物の耐光性をさらに向上させるための紫外線吸収剤が挙げられる。
酸化防止剤としては、フェノール系、硫黄系、燐系等の酸化防止剤が使用でき、その配合割合は、本発明の組成物中のエポキシシリコーン縮合物の総量100質量部に対して、10質量部以下であることが好ましい。
紫外線吸収剤としては、ベンゾフェノン系、ベンゾトリアゾール系、ヒンダードアミン系、サリチル酸系等の紫外線吸収剤が使用でき、その配合割合は、本発明の組成物中のエポキシシリコーン縮合物の総量100質量部に対して、10質量部以下であることが好ましい。
その他の添加剤として、例えば、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム等の金属酸化物、微粉末シリカ、溶融シリカ、結晶シリカ等の珪素化合物、水酸化アルミニウム等の金属水酸化物、カオリン、マイカ、石英粉末、グラファイト、二硫化モリブデン、ガラスビーズ等の粉末状充填材等を配合することもできる。これらの配合割合は、本発明の組成物中のエポキシシリコーン縮合物100質量部に対して、通常、粉末状充填材が100質量部以下であることが好ましい。
本発明のエポキシシリコーン縮合物を含む硬化性組成物は、各種成分を均一に分散混合できるのであれば、いかなる手法を用いて調製してもよい。一般的な手法としては、所定の配合量の成分をミキサー等によって十分混合した後、ミキシングロール、押出機等によって溶融混練した後、冷却、粉砕する方法を挙げることができる。より具体的には、例えば、上述した成分の所定量を均一に撹拌、混合し、プラネタリーミキサー、三本ロール、二本熱ロール、ライカイ機などの装置を用いて分散混練したのち、真空下で脱泡処理して製造することができる。
本発明のエポキシシリコーン縮合物を含む硬化性組成物の硬化物は、硬化性組成物中に前記硬化剤または熱カチオン重合開始剤を含有する場合には硬化性組成物を熱硬化させることにより得られ、硬化性組成物中に前記光カチオン重合開始剤を含有する場合には硬化性組成物を光硬化させることにより得られる。硬化性組成物を熱硬化させる条件としては特に限定はされないが、一般的には、温度60〜150℃、時間1〜8時間の条件とするのが好ましい。また、硬化性組成物を光硬化させる条件としては特に限定はされないが、一般的には、光源として低圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、重水素ランプ、メタルハライドランプ、ハロゲンランプ、キセノンランプ、タングステンランプ、ガリウムランプ、カーボンアーク灯、白熱電球、蛍光灯、エキシマランプ、レーザーなどを用い、波長200nm〜750nmの光を、照射量50mJ/cm〜2000mJ/cm照射することによって行うことが好ましい。
本発明の硬化物は、透明性、耐熱(黄変)性、ガスバリア性に優れるため、プラスチックレンズなどの光学材料用の原料や発光ダイオード(LED)等の光学素子、半導体チップ等の電子部品の封止材料として好適に利用でき、これらの封止材を含んだ有用な光学素子および電子部品を得ることができる。
以下実施例により本発明を更に具体的に説明するが、本発明は以下の実施例にのみ制限されるものではない。
エポキシ当量の測定
以下の実施例および比較例において、エポキシ当量の測定はJIS K7236の指示薬滴定法に準拠して測定した。
数平均分子量の測定
数平均分子量Mnの測定にはゲルパーミエーションクロマトグラフィー(以下GPCと省略する。)を用い、ポリスチレン(標準試料 昭和電工(株)製STANDARD SM−105使用)に換算した値で求めた。
なお、GPCの測定条件は以下のとおりである。
装置名:日本分光(株)製HPLCユニット HSS−2000
カラム:ShodexカラムLF−804
移動相:テトラヒドロフラン
流速:1.0mL/min
検出器:日本分光(株)製 RI−2031Plus
温度:40.0℃
試料量:サンプルループ 100μリットル
試料濃度:0.1質量%前後に調製
参考合成例1
3−(3,4−エポキシシクロヘキサン−1−カルボン酸)プロピルトリエトキシシラン(一般式(1)におけるnが3、Rがエチル基、R〜R11が全て水素原子である化合物)の合成
滴下漏斗、還流管、玉栓を付けた1000mLの三口フラスコに、3,4−エポキシシクロヘキサン−1−カルボン酸アリル(昭和電工(株)製)200g(1.1mol)、Pt(dvs)の3%IPA溶液(エヌ・イー ケムキャット社製 3%−PT−VTS−IPA溶液(ジビニルテトラメチルジシロキサン白金錯体イソプロピルアルコール溶液))0.14g、トルエン(純正化学(株)製)100gを入れ、三口フラスコ内を窒素置換した。前記滴下漏斗にトリエトキシシラン(東京化成工業(株)製)270g(1.65mol)、トルエン200gを入れ、60℃で5時間かけて三口フラスコ内に滴下した。滴下終了後、60℃でさらに5時間撹拌を継続した。得られた反応液を減圧蒸留により精製することで、150℃/0.6Torrの留分において、120gの3−(3,4−エポキシシクロヘキサン−1−カルボン酸)プロピルトリエトキシシランを無色透明液体として得た(収率31%)。
実施例1
CEA−SiO(0.50)縮合物の合成
滴下漏斗を付けた500mLのナスフラスコに2−プロパノール100g、蒸留水35.1g、水酸化テトラメチルアンモニウムの25%水溶液(昭和電工(株)製)1.42gを入れ均一に混合した。前記滴下漏斗に参考合成例1で得られた3−(3,4−エポキシシクロヘキサン−1−カルボン酸)プロピルトリエトキシシラン30g(86.6mmol)、ジメトキシジメチルシラン(一般式(2)におけるmが2、R12、R13がともにメチル基である化合物)(東京化成工業(株)製)7.81g(65mmol)、2−プロパノール(純正化学(株)製)50gを入れ、室温で20分かけてナスフラスコ内に滴下した。滴下終了後、室温でさらに9時間撹拌し、12時間静置した。得られた反応液に蒸留水150g、0.5%酢酸水溶液47gを加えた後、2−プロパノールを溶媒留去した。フラスコ内の液体をトルエン150gにより抽出した。得られた有機層を水で洗浄し、無水硫酸ナトリウム(純正化学(株)製)を用いて乾燥させた。無機塩(硫酸ナトリウム)をろ過し溶媒留去した後、真空ポンプを用いて乾燥させることで、23.4gの無色透明液体を得た。図1はそのH−NMRスペクトルである。0.6ppm付近に位置するピークが一般式(1)における珪素原子に隣接するメチレンの2つの水素原子に基づくものであり、0.1ppm付近に位置するピークが一般式(2)における珪素原子に隣接する2つのメチル基の6つの水素原子に基づくものである。両者のピーク面積比より算出されるmy/nxは0.49であり、仕込み比である0.50とほぼ同等であった。得られた反応混合物(以下、CEA−SiO(0.50)縮合物と記載)のエポキシ当量は332.35で、GPCの分析で、数平均分子量1653、重量平均分子量1971であった。また、数平均分子量より算出された一分子中の平均ケイ素原子の数は9であった。
実施例2
CEA−SiO(0.33)縮合物の合成
滴下漏斗を付けた100mLのナスフラスコに2−プロパノール10g、蒸留水2.07g、水酸化テトラメチルアンモニウムの25%水溶液(昭和電工(株)製)0.21gを入れ均一に混合した。前記滴下漏斗に3−(3,4−エポキシシクロヘキサン−1−カルボン酸)プロピルトリエトキシシラン5g(14.4mmol)、ジメトキシジメチルシラン0.87g(7.2mmol)、2−プロパノール5gを入れ、室温で10分かけてナスフラスコ内に滴下した。滴下終了後、室温でさらに9時間撹拌し、12時間静置した。得られた反応液に蒸留水20gを加えた後、2−プロパノールを溶媒留去した。フラスコ内の液体をトルエン20gにより抽出した。得られた有機層を水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムを用いて乾燥させた。無機塩(硫酸ナトリウム)をろ過し溶媒留去した後、真空ポンプを用いて乾燥させることで、3.2gの無色透明液体を得た。図2はそのH−NMRスペクトルである。実施例1と同様に算出されたmy/nxは0.33であり、仕込み比である0.33と同等であった。得られた反応混合物(以下、CEA−SiO(0.33)縮合物と記載)のエポキシ当量は304.23で、GPCの分析で、数平均分子量2176、重量平均分子量3045であった。また、数平均分子量より算出された一分子中の平均ケイ素原子の数は11であった。
実施例3
CEA−SiO(0.67)縮合物の合成
滴下漏斗を付けた100mLのナスフラスコに2−プロパノール10g、蒸留水2.6g、水酸化テトラメチルアンモニウムの25%水溶液(昭和電工(株)製)0.26gを入れ均一に混合した。前記滴下漏斗に3−(3,4−エポキシシクロヘキサン−1−カルボン酸)プロピルトリエトキシシラン5g(14.4mmol)、ジメトキシジメチルシラン1.73g(14.4mmol)、2−プロパノール5gを入れ、室温で20分かけてナスフラスコ内に滴下した。滴下終了後、室温でさらに8時間撹拌し、12時間静置した。得られた反応液に蒸留水20gを加えた後、2−プロパノールを溶媒留去した。フラスコ内の液体をトルエン20gにより抽出した。得られた有機層を水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムを用いて乾燥させた。無機塩(硫酸ナトリウム)をろ過し溶媒留去した後、真空ポンプを用いて乾燥させることで、3.5gの無色透明液体を得た。図3はそのH−NMRスペクトルである。実施例1と同様に算出されたmy/nxは0.65であり、仕込み比である0.67とほぼ同等であった。得られた反応混合物(以下、CEA−SiO(0.67)縮合物と記載)のエポキシ当量は324.33で、GPCの分析で、数平均分子量1925、重量平均分子量3220であった。また、数平均分子量より算出された一分子中の平均ケイ素原子の数は12であった。
実施例4
CEA−SiO(0.30)縮合物の合成
滴下漏斗を付けた100mLのナスフラスコにアセトン20g、蒸留水1.3g、水酸化テトラメチルアンモニウムの25%水溶液(昭和電工(株)製)0.05gを入れ均一に混合した。前記滴下漏斗に3−(3,4−エポキシシクロヘキサン−1−カルボン酸)プロピルトリエトキシシラン5g(14.4mmol)、トリメトキシメチルシラン0.59g(4.3mmol)(一般式(2)におけるmが3、R12、R13がともにメチル基である化合物)(東京化成工業(株)製)、アセトン10gを入れ、室温で10分かけてナスフラスコ内に滴下した。滴下終了後、室温でさらに8時間撹拌し、12時間静置した。得られた反応液に蒸留水20gを加えた後、アセトンを溶媒留去した。フラスコ内の液体を酢酸エチル20gにより抽出した。得られた有機層を水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムを用いて乾燥させた。無機塩(硫酸ナトリウム)をろ過し溶媒留去した後、真空ポンプを用いて乾燥させることで、4.0gの無色透明液体を得た。図4はそのH−NMRスペクトルである。3.2ppm付近に位置するピークが一般式(1)におけるオキシラン環を形成する2つの炭素原子に結合した2つの水素原子(B)に基づくものであり、0.1ppm付近に位置するピークが一般式(2)における珪素原子に隣接する1つのメチル基の3つの水素原子(C)に基づくものである。両者のピーク面積比より算出されるmy/nxは0.29であり、仕込み比である0.30とほぼ同等であった。得られた反応混合物(以下、CEA−SiO(0.30)縮合物と記載)のエポキシ当量は363.25で、GPCの分析で、数平均分子量1895、重量平均分子量3014であった。また、数平均分子量より算出された一分子中の平均ケイ素原子の数は6であった。
比較例1
CEA−SiO(0.00)縮合物の合成
滴下漏斗を付けた100mLのナスフラスコに2−プロパノール10g、蒸留水1.56g、水酸化テトラメチルアンモニウムの25%水溶液(昭和電工(株)製)0.16gを入れ均一に混合した。前記滴下漏斗に3−(3,4−エポキシシクロヘキサン−1−カルボン酸)プロピルトリエトキシシラン5g(14.4mmol)、2−プロパノール5gを入れ、室温で20分かけてナスフラスコ内に滴下した。滴下終了後、室温でさらに8時間撹拌し、12時間静置した。得られた反応液に蒸留水20gを加えた後、2−プロパノールを溶媒留去した。フラスコ内の液体をトルエン20gにより抽出した。得られた有機層を水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムを用いて乾燥させた。無機塩(硫酸ナトリウム)をろ過し溶媒留去した後、真空ポンプを用いて乾燥させることで、2.6gの無色透明液体を得た。この比較例ではmy/nxは0である。得られた反応混合物(以下、CEA−SiO(0.00)縮合物と記載)のエポキシ当量は271.05で、GPCの分析で、数平均分子量2817、重量平均分子量3803であった。また、数平均分子量より算出された一分子中の平均ケイ素原子の数は11であった。
比較例2
CEA−SiO(0.17)縮合物の合成
滴下漏斗を付けた100mLのナスフラスコに2−プロパノール10g、蒸留水1.8g、水酸化テトラメチルアンモニウムの25%水溶液(昭和電工(株)製)0.18gを入れ均一に混合した。前記滴下漏斗に3−(3,4−エポキシシクロヘキサン−1−カルボン酸)プロピルトリエトキシシラン5g(14.4mmol)、ジメトキシジメチルシラン0.43g(3.6mmol)、2−プロパノール5gを入れ、室温で10分かけてナスフラスコ内に滴下した。滴下終了後、室温でさらに9時間撹拌し、12時間静置した。得られた反応液に蒸留水20gを加えた後、2−プロパノールを溶媒留去した。フラスコ内の液体をトルエン20gにより抽出した。得られた有機層を水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムを用いて乾燥させた。無機塩(硫酸ナトリウム)をろ過し溶媒留去した後、真空ポンプを用いて乾燥させることで、3.0gの無色透明液体を得た。仕込み比から計算したmy/nxは0.17である。得られた反応混合物(以下、CEA−SiO(0.17)縮合物と記載)のエポキシ当量は309.75で、GPCの分析で、数平均分子量2005、重量平均分子量2378であった。また、数平均分子量より算出された一分子中の平均ケイ素原子の数は9であった。
比較例3
CEA−SiO(1.00)縮合物の合成
滴下漏斗を付けた100mLのナスフラスコに2−プロパノール30g、蒸留水7.79g、水酸化テトラメチルアンモニウムの25%水溶液(昭和電工(株)製)0.31gを入れ均一に混合した。前記滴下漏斗に3−(3,4−エポキシシクロヘキサン−1−カルボン酸)プロピルトリエトキシシラン5g(14.4mmol)、ジメトキシジメチルシラン2.6g(21.6mmol)、2−プロパノール10gを入れ、室温で20分かけてナスフラスコ内に滴下した。滴下終了後、室温でさらに8時間撹拌し、12時間静置した。得られた反応液に蒸留水20gを加えた後、2−プロパノールを溶媒留去した。フラスコ内の液体をトルエン20gにより抽出した。得られた有機層を水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムを用いて乾燥させた。無機塩(硫酸ナトリウム)をろ過し溶媒留去した後、真空ポンプを用いて乾燥させることで、3.9gの無色透明液体を得た。仕込み比から計算したmy/nxは1.00である。得られた反応混合物(以下、CEA−SiO(1.00)縮合物と記載)のエポキシ当量は358.15で、GPCの分析で、数平均分子量1990、重量平均分子量3458であった。また、数平均分子量より算出された一分子中の平均ケイ素原子の数は14であった。
比較例4
CEA−SiO(2.00)縮合物の合成
滴下漏斗を付けた100mLのナスフラスコに2−プロパノール30g、蒸留水9.33g、水酸化テトラメチルアンモニウムの25%水溶液(昭和電工(株)製)0.38gを入れ均一に混合した。前記滴下漏斗に3−(3,4−エポキシシクロヘキサン−1−カルボン酸)プロピルトリエトキシシラン4g(11.5mmol)、ジメトキシジメチルシラン4.16g(34.6mmol)、2−プロパノール10gを入れ、室温で20分かけてナスフラスコ内に滴下した。滴下終了後、室温でさらに8時間撹拌し、12時間静置した。得られた反応液に蒸留水30gを加えた後、2−プロパノールを溶媒留去した。フラスコ内の液体をトルエン30gにより抽出した。得られた有機層を水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムを用いて乾燥させた。無機塩(硫酸ナトリウム)をろ過し溶媒留去した後、真空ポンプを用いて乾燥させることで、3.6gの無色透明液体を得た。仕込み比から計算したmy/nxは2.00である。得られた反応混合物(以下、CEA−SiO(2.00)縮合物と記載)のエポキシ当量は503.64で、GPCの分析で、数平均分子量942、重量平均分子量1569であった。また、数平均分子量より算出された一分子中の平均ケイ素原子の数は9であった。
比較例5
CEA−SiO(3.00)縮合物の合成
滴下漏斗を付けた100mLのナスフラスコに2−プロパノール30g、蒸留水9.34g、水酸化テトラメチルアンモニウムの25%水溶液(昭和電工(株)製)0.38gを入れ均一に混合した。前記滴下漏斗に3−(3,4−エポキシシクロヘキサン−1−カルボン酸)プロピルトリエトキシシラン3g(8.6mmol)、ジメトキシジメチルシラン4.68g(39mmol)、2−プロパノール10gを入れ、室温で20分かけてナスフラスコ内に滴下した。滴下終了後、室温でさらに7時間撹拌し、12時間静置した。得られた反応液に蒸留水30gを加えた後、2−プロパノールを溶媒留去した。フラスコ内の液体をトルエン30gにより抽出した。得られた有機層を水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムを用いて乾燥させた。無機塩をろ過し溶媒留去した後、真空ポンプを用いて乾燥させることで、2.8gの無色透明液体を得た。仕込み比から計算したmy/nxは3.00である。得られた反応混合物(以下、CEA−SiO(3.00)縮合物と記載)のエポキシ当量は565.68で、GPCの分析で、数平均分子量904、重量平均分子量1577であった。また、数平均分子量より算出された一分子中の平均ケイ素原子の数は9であった。
硬化物の作製
実施例5
CEA−SiO(0.50)樹脂の作製
実施例1で得られたCEA−SiO(0.50)縮合物71質量部と、硬化剤としてメチルヘキサヒドロ無水フタル酸(日立化成工業(株)製 HN−5500E)28質量部、硬化促進剤としてテトラ置換ホスホニウムブロマイド(サンアプロ(株)製 U−CAT5003)1質量部を均一になるように混合し、硬化性組成物を調製した。この硬化性組成物をTPX(メチルペンテン(三井化学(株)製))樹脂製シャーレ上に流し込み、60℃−1時間、100℃−2時間、150℃−2時間の温度プロファイルで加熱することにより、厚さ約1mmの無色透明の硬化板を得た。
実施例6
CEA−SiO(0.33)樹脂の作製
実施例2で得られたCEA−SiO(0.33)縮合物66質量部と、硬化剤としてメチルヘキサヒドロ無水フタル酸(日立化成工業(株)製 HN−5500E)33質量部、硬化促進剤としてテトラ置換ホスホニウムブロマイド(サンアプロ(株)製 U−CAT5003)1質量部を均一になるように混合し、硬化性組成物を調製した。この硬化性組成物をTPX(メチルペンテン(三井化学(株)製))樹脂製シャーレ上に流し込み、60℃−1時間、100℃−2時間、150℃−2時間の温度プロファイルで加熱することにより、厚さ約1mmの無色透明の硬化板を得た。
実施例7
CEA−SiO(0.67)樹脂の作製
実施例3で得られたCEA−SiO(0.67)縮合物67質量部と、硬化剤としてメチルヘキサヒドロ無水フタル酸(日立化成工業(株)製 HN−5500E)32質量部、硬化促進剤としてテトラ置換ホスホニウムブロマイド(サンアプロ(株)製 U−CAT5003)1質量部を均一になるように混合し、硬化性組成物を調製した。この硬化性組成物をTPX(メチルペンテン(三井化学(株)製))樹脂製シャーレ上に流し込み、60℃−1時間、100℃−2時間、150℃−2時間の温度プロファイルで加熱することにより、厚さ約1mmの無色透明の硬化板を得た。
実施例8
CEA−SiO(0.30)樹脂の作製
実施例4で得られたCEA−SiO(0.30)縮合物71質量部と、硬化剤としてメチルヘキサヒドロ無水フタル酸(日立化成工業(株)製 HN−5500E)28質量部、硬化促進剤としてテトラ置換ホスホニウムブロマイド(サンアプロ(株)製 U−CAT5003)1質量部を均一になるように混合し、硬化性組成物を調製した。この硬化性組成物をTPX(メチルペンテン(三井化学(株)製))樹脂製シャーレ上に流し込み、60℃−1時間、100℃−2時間、150℃−2時間の温度プロファイルで加熱することにより、厚さ約1mmの薄黄色透明の硬化板を得た。
比較例6
CEA−SiO(0.00)樹脂の作製
比較例1で得られたCEA−SiO(0.00)縮合物63質量部と、硬化剤としてメチルヘキサヒドロ無水フタル酸(日立化成工業(株)製 HN−5500E)36質量部、硬化促進剤としてテトラ置換ホスホニウムブロマイド(サンアプロ(株)製 U−CAT5003)1質量部を均一になるように混合し、硬化性組成物を調製した。この硬化性組成物をTPX(メチルペンテン(三井化学(株)製))樹脂製シャーレ上に流し込み、60℃−1時間、100℃−2時間、150℃−2時間の温度プロファイルで加熱することにより、厚さ約1mmの無色透明の硬化板を得た。
比較例7
CEA−SiO(0.17)樹脂の作製
比較例2で得られたCEA−SiO(0.17)縮合物66質量部と、硬化剤としてメチルヘキサヒドロ無水フタル酸(日立化成工業(株)製 HN−5500E)33質量部、硬化促進剤としてテトラ置換ホスホニウムブロマイド(サンアプロ(株)製 U−CAT5003)1質量部を均一になるように混合し、硬化性組成物を調製した。この硬化性組成物をTPX(メチルペンテン(三井化学(株)製))樹脂製シャーレ上に流し込み、60℃−1時間、100℃−2時間、150℃−2時間の温度プロファイルで加熱することにより、厚さ約1mmの無色透明の硬化板を得た。
比較例8
CEA−SiO(1.00)樹脂の作製
比較例3で得られたCEA−SiO(1.00)縮合物70質量部と、硬化剤としてメチルヘキサヒドロ無水フタル酸(日立化成工業(株)製 HN−5500E)29質量部、硬化促進剤としてテトラ置換ホスホニウムブロマイド(サンアプロ(株)製 U−CAT5003)1質量部を均一になるように混合し、硬化性組成物を調製した。この硬化性組成物をTPX(メチルペンテン(三井化学(株)製))樹脂製シャーレ上に流し込み、60℃−1時間、100℃−2時間、150℃−2時間の温度プロファイルで加熱することにより、厚さ約1mmの無色透明の硬化板を得た。
比較例9
CEA−SiO(2.00)樹脂の作製
比較例4で得られたCEA−SiO(2.00)縮合物76質量部と、硬化剤としてメチルヘキサヒドロ無水フタル酸(日立化成工業(株)製 HN−5500E)23質量部、硬化促進剤としてテトラ置換ホスホニウムブロマイド(サンアプロ(株)製 U−CAT5003)1質量部を均一になるように混合し、硬化性組成物を調製した。この硬化性組成物をTPX(メチルペンテン(三井化学(株)製))樹脂製シャーレ上に流し込み、60℃−1時間、100℃−2時間、150℃−2時間の温度プロファイルで加熱することにより、厚さ約1mmの無色透明の硬化板を得た。
比較例10
CEA−SiO(3.00)樹脂の作製
比較例5で得られたCEA−SiO(3.00)縮合物78質量部と、硬化剤としてメチルヘキサヒドロ無水フタル酸(日立化成工業(株)製 HN−5500E)21質量部、硬化促進剤としてテトラ置換ホスホニウムブロマイド(サンアプロ(株)製 U−CAT5003)1質量部を均一になるように混合し、硬化性組成物を調製した。この硬化性組成物をTPX(メチルペンテン(三井化学(株)製))樹脂製シャーレ上に流し込み、60℃−1時間、100℃−2時間、150℃−2時間の温度プロファイルで加熱することにより、厚さ約1mmの無色透明の硬化板を得た。
比較例11
脂環式エポキシ樹脂の作製
3,4−エポキシシクロヘキセニルメチル−3’,4’−エポキシシクロヘキセンカルボキシレート(ダイセル化学(株)製 セロキサイド2021P)46質量部と、硬化剤としてメチルヘキサヒドロ無水フタル酸(日立化成工業(株)製 HN−5500E)53質量部、硬化促進剤としてテトラ置換ホスホニウムブロマイド(サンアプロ(株)製 U−CAT5003)1質量部を均一になるように混合し、硬化性組成物を調製した。この硬化性組成物を1mm厚のシリコーンゴム紐を挟み込んだアルミ板に流し込み、60℃−1時間、100℃−2時間、150℃−2時間の温度プロファイルで加熱することにより、厚さ約1mmの無色透明の硬化板を得た。
比較例12
ジメチルシリコーン樹脂の作製
LPS−3412A(信越化学(株)製)50質量部と、LPS−3412B(信越化学(株)製)50質量部とを均一になるように混合し、硬化性組成物を調製した。この硬化性組成物をTPX(メチルペンテン(三井化学(株)製))樹脂製シャーレ上に流し込み、60℃−1時間、70℃−1時間、80℃−1時間、90℃−1時間、120℃−1時間、150℃−1時間の温度プロファイルで加熱することにより、厚さ約1mmの無色透明の硬化板を得た。
色調の測定
実施例5〜8および比較例6〜12で得られた厚さ約1mmの硬化板を用い、各々測色色差計(日本電色工業株式会社製、ZE−2000)により透過モードでの色数L,a,bを求めた。
透湿度の測定
実施例5〜8および比較例6〜12で得られた厚さ約1mmの硬化板を用い厚みを実測の上、各々ガス透過率測定装置(GTRテック株式会社製、GTR−30XASD)により、40℃、1気圧での透湿度[g/m・24hr]を求めた。
酸素透過度の測定
実施例5〜8および比較例6〜12で得られた厚さ約1mmの硬化板を用い厚みを実測の上、各々ガス透過率測定装置(GTRテック株式会社製、GTR−30XASD)により、40℃での酸素透過度[cc/m・24hr・atm]を求めた。
耐熱性の測定
実施例5〜8および比較例6〜12で得られた厚さ約1mmの硬化板を用い、各々測色色差計(日本電色工業株式会社製、ZE−2000)により透過モードでの色数L,a,bを測定した。次に該硬化物を150℃の回転ギア付きオーブンに入れ、100時間加熱した後の硬化物の色数L,a,bを測定した。加熱前後の色差ΔEを求めた。
実施例5〜8および比較例6〜12で得られた硬化板を用いて測定した上記特性値を表1にまとめて記した。
Figure 0005855001
実施例5〜8のΔE値は比較例6〜10に比べて小さく、耐熱性に優れた硬化物を与えることが分かる。実施例5〜8の透湿度は比較例11に比べて半分以下と小さく、酸素透過度も遜色無いレベルであり、ガスバリア性の高い樹脂であることが分かる。比較例12は従来のシリコーン樹脂の一例であるジメチルシリコーン樹脂を同様に評価した結果である。耐熱性は良好であるが実施例5〜8と比較して著しく水蒸気バリア性、酸素バリア性に劣ることが分かる。実施例5〜8の色調は、従来、光学材料に使用されていた比較例11や12の樹脂と同レベルであった。
本発明によれば、青色・白色発光ダイオード等の光学素子用封止材、半導体等の電子回路用封止材などの分野への利用が期待される、耐熱性、ガスバリア性に優れた硬化物を提供することが可能となる。

Claims (6)

  1. 以下の一般式(1)
    Figure 0005855001
    (式中、RおよびRは、各々独立して炭素数が1から5のアルキル基を示し、R〜R11は、各々独立して水素原子または炭素数1から6までのアルキル基、もしくは全体の炭素数3から12までのトリアルキルシリル基を表し、nは1から3の整数である。また、RまたはRと、RまたはRとは、互いに結合して環を構成していてもよい。)で表されるエポキシ基含有アルコキシシラン化合物と、下記一般式(2)
    Figure 0005855001
    (式中、R12およびR13は、各々独立して炭素数が1から5のアルキル基を示し、mは1から3の整数である。)で表されるアルコキシシラン化合物との加水分解縮合生成物であるエポキシシリコーン縮合物であって、上記エポキシ基含有アルコキシシラン化合物(1)のモル数をx、アルコキシシラン化合物(2)のモル数をyとするとき、0.2≦my/nx≦0.7の範囲である、エポキシシリコーン縮合物。
  2. 前記一般式(1)中のR〜R11がすべて水素原子である、請求項1に記載のエポキシシリコーン縮合物。
  3. 請求項1または2に記載のエポキシシリコーン縮合物を含有することを特徴とする、硬化性組成物。
  4. 請求項3に記載の硬化性組成物の硬化物。
  5. 請求項4に記載の硬化物を封止材として含む光学素子。
  6. 請求項4に記載の硬化物を封止材として含む電子部品。
JP2012528668A 2010-08-11 2011-08-08 エポキシシリコーン縮合物、該縮合物を含む硬化性組成物およびその硬化物 Expired - Fee Related JP5855001B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012528668A JP5855001B2 (ja) 2010-08-11 2011-08-08 エポキシシリコーン縮合物、該縮合物を含む硬化性組成物およびその硬化物

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010180178 2010-08-11
JP2010180178 2010-08-11
JP2012528668A JP5855001B2 (ja) 2010-08-11 2011-08-08 エポキシシリコーン縮合物、該縮合物を含む硬化性組成物およびその硬化物
PCT/JP2011/068069 WO2012020730A1 (ja) 2010-08-11 2011-08-08 エポキシシリコーン縮合物、該縮合物を含む硬化性組成物およびその硬化物

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2012020730A1 JPWO2012020730A1 (ja) 2013-10-28
JP5855001B2 true JP5855001B2 (ja) 2016-02-09

Family

ID=45567695

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012528668A Expired - Fee Related JP5855001B2 (ja) 2010-08-11 2011-08-08 エポキシシリコーン縮合物、該縮合物を含む硬化性組成物およびその硬化物

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8957136B2 (ja)
JP (1) JP5855001B2 (ja)
KR (1) KR101408006B1 (ja)
CN (1) CN103154090B (ja)
WO (1) WO2012020730A1 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5817297B2 (ja) * 2011-06-03 2015-11-18 東芝ライテック株式会社 発光装置及び照明装置
KR101546729B1 (ko) * 2013-12-11 2015-08-24 한국과학기술원 에폭시 실록산 수지 조성물을 이용한 하드코팅막 및 이의 제조 방법
CN105504287A (zh) * 2014-10-09 2016-04-20 瓦克化学(中国)有限公司 硅烷低聚物组合物的制备方法及应用
JP6571923B2 (ja) * 2014-10-31 2019-09-04 浜松ホトニクス株式会社 レーザー光照射による硬化物の製造方法
JP6557521B2 (ja) * 2015-06-17 2019-08-07 株式会社ダイセル ポリオルガノシルセスキオキサン、ハードコートフィルム、接着シート、積層物及び装置
JP2020173226A (ja) * 2019-04-12 2020-10-22 三菱ケミカル株式会社 シンチレータアレイ、放射線検出器、及び放射線検査装置
JP7465703B2 (ja) 2020-03-30 2024-04-11 日東電工株式会社 光半導体封止用樹脂成形物およびその製造方法
JPWO2023008493A1 (ja) * 2021-07-29 2023-02-02

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58222160A (ja) * 1982-06-16 1983-12-23 Tokuyama Soda Co Ltd コ−テイング用組成物
WO2008020637A1 (fr) * 2006-08-15 2008-02-21 Showa Denko K.K. Nouveau composé époxy et son procédé de fabrication
WO2009060862A1 (ja) * 2007-11-07 2009-05-14 Showa Denko K.K. エポキシ基含有オルガノシロキサン化合物、転写材料用硬化性組成物および該組成物を用いた微細パターン形成方法
WO2009119469A1 (ja) * 2008-03-24 2009-10-01 昭和電工株式会社 エポキシ化合物およびその製造方法
JP2010024229A (ja) * 2008-06-20 2010-02-04 Showa Denko Kk (メタ)アクリロイルオキシ基含有篭状シルセスキオキサン化合物およびその製造方法
JP2010106199A (ja) * 2008-10-31 2010-05-13 Showa Denko Kk 接着剤用硬化性組成物
JP2010111811A (ja) * 2008-11-07 2010-05-20 Showa Denko Kk 半導体封止用硬化性組成物

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4088697B2 (ja) 2002-11-05 2008-05-21 旭化成株式会社 変性ポリシロキサン及びそれを用いた硬化性樹脂組成物
JP2004186168A (ja) 2002-11-29 2004-07-02 Shin Etsu Chem Co Ltd 発光ダイオード素子用シリコーン樹脂組成物
JP4071639B2 (ja) 2003-01-15 2008-04-02 信越化学工業株式会社 発光ダイオード素子用シリコーン樹脂組成物
JP2008248170A (ja) 2007-03-30 2008-10-16 Nippon Steel Chem Co Ltd 多官能エポキシシリコーン樹脂、その製造方法及び硬化性樹脂組成物
US8293354B2 (en) * 2008-04-09 2012-10-23 The Regents Of The University Of Michigan UV curable silsesquioxane resins for nanoprint lithography

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58222160A (ja) * 1982-06-16 1983-12-23 Tokuyama Soda Co Ltd コ−テイング用組成物
WO2008020637A1 (fr) * 2006-08-15 2008-02-21 Showa Denko K.K. Nouveau composé époxy et son procédé de fabrication
WO2009060862A1 (ja) * 2007-11-07 2009-05-14 Showa Denko K.K. エポキシ基含有オルガノシロキサン化合物、転写材料用硬化性組成物および該組成物を用いた微細パターン形成方法
WO2009119469A1 (ja) * 2008-03-24 2009-10-01 昭和電工株式会社 エポキシ化合物およびその製造方法
JP2010024229A (ja) * 2008-06-20 2010-02-04 Showa Denko Kk (メタ)アクリロイルオキシ基含有篭状シルセスキオキサン化合物およびその製造方法
JP2010106199A (ja) * 2008-10-31 2010-05-13 Showa Denko Kk 接着剤用硬化性組成物
JP2010111811A (ja) * 2008-11-07 2010-05-20 Showa Denko Kk 半導体封止用硬化性組成物

Also Published As

Publication number Publication date
KR101408006B1 (ko) 2014-06-17
CN103154090B (zh) 2015-03-04
CN103154090A (zh) 2013-06-12
WO2012020730A1 (ja) 2012-02-16
US8957136B2 (en) 2015-02-17
KR20130018320A (ko) 2013-02-20
JPWO2012020730A1 (ja) 2013-10-28
US20130137795A1 (en) 2013-05-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5855001B2 (ja) エポキシシリコーン縮合物、該縮合物を含む硬化性組成物およびその硬化物
US9453105B2 (en) Epoxy and alkoxysilyl group-containing silsesquioxane and composition thereof
KR101858638B1 (ko) 규소 함유 경화성 수지조성물
JP2005263869A (ja) 光半導体封止用樹脂組成物
JP5838790B2 (ja) 光反射部材用樹脂組成物、光反射部材及び発光素子
JP7273603B2 (ja) 脂環式エポキシ化合物製品
US20110201763A1 (en) Thermosetting resin composition for optical-semiconductor element encapsulation and cured material thereof, and optical-semiconductor device obtained using the same
JP2008512546A (ja) 無水物官能性シルセスキオキサン樹脂
JP2007326988A (ja) エポキシ樹脂組成物
JP5149126B2 (ja) 半導体封止用硬化性組成物
JP5653826B2 (ja) エポキシ化合物、エポキシ基含有シリコーン化合物および硬化性組成物
JP7171619B2 (ja) 脂環式エポキシ化合物製品の製造方法
US11149118B2 (en) Insulating film forming composition, insulating film, and semiconductor device provided with insulating film
JP6540188B2 (ja) エポキシ樹脂用希釈剤、及びエポキシ樹脂組成物
JP5842600B2 (ja) エポキシ樹脂組成物、硬化物、透明封止材料及び光半導体装置
JP5213547B2 (ja) エポキシ基含有エステル化合物を含む硬化性組成物、該組成物の製造方法およびエポキシ基含有エステル化合物
JP5523816B2 (ja) 変性樹脂組成物、その製造方法、及びそれを含む硬化性樹脂組成物
JP5387638B2 (ja) エポキシ樹脂組成物
JP2012092172A (ja) 光半導体封止用組成物および発光素子
JP6171284B2 (ja) 高純度脂環式ジエポキシ化合物、硬化性エポキシ樹脂組成物、硬化物、透明封止材料および発光素子
WO2014136805A1 (en) Curable silicone composition, cured product thereof, and optical semiconductor device
JP5642820B2 (ja) エポキシ基含有エステル化合物を含む硬化性組成物、該組成物の製造方法およびエポキシ基含有エステル化合物
JP2013028790A (ja) 高純度脂環式ジエポキシ化合物、硬化性エポキシ樹脂組成物、硬化物、透明封止材料及び発光素子
JP2023145203A (ja) エポキシ化合物、硬化性組成物および硬化物

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140703

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150414

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150601

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20151110

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20151208

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5855001

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees