JP5793879B2 - 気密パッケージ内部の水分量測定方法、及び気密パッケージのリークレート測定方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 37
- 230000005494 condensation Effects 0.000 claims description 32
- 238000009833 condensation Methods 0.000 claims description 32
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 9
- 239000000112 cooling gas Substances 0.000 claims description 9
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 3
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000994 depressogenic effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
図1は本発明の実施の形態1に係る気密パッケージを示す図である。本発明の実施の形態1に係る気密パッケージ10は、筐体12を有している。筐体12は電子デバイスなどを気密封止するものである。筐体12の内壁には結露センサ14が固定されている。結露センサ14は結露の有無により抵抗値が変わる抵抗で形成されている。結露センサ14には、配線14aが接続されている。配線14aは筐体12の外部に伸びる配線14bに接続されている。なお、図1において筐体12の内部の部品は破線で示されている。
図7は本発明の実施の形態2に係る気密パッケージ内部の水分量測定方法を示すフローチャートである。以後、このフローチャートに沿って説明する。まず、気密パッケージの温度を100℃から150℃程度まで上げる(ステップ50)。次いで、気密パッケージの温度を常温程度まで下げる(ステップ52)。次いで、前述したステップ30、32、及び34を実施する。
図8は本発明の実施の形態3に係る気密パッケージのリークレート測定方法を示すフローチャートである。以後、このフローチャートに沿って説明する。まず、ここまでに説明した本発明の実施の形態に係る気密パッケージ内部の水分量測定方法により水分量を測定する(ステップ60)。次いで、気密パッケージに負荷を印加する(ステップ62)。ここで、負荷とは耐湿性保存試験である。
Claims (6)
- 気密パッケージの温度を上げる工程と、
前記気密パッケージの温度を下げる工程と、
前記気密パッケージの筐体の所定位置を冷却する工程と、
前記所定位置の内壁に固定された結露センサにより前記冷却による結露を検出し、前記所定位置に固定された温度センサにより露点を測定する工程と、
露点と前記気密パッケージ内部の水分量の相関グラフを用いて、前記気密パッケージ内部の水分量を求める工程と、を備え、
前記気密パッケージの温度を上げる工程と、前記気密パッケージの温度を下げる工程は、前記所定位置を冷却する工程の前に行われることを特徴とする気密パッケージ内部の水分量測定方法。 - 前記冷却する工程では、先端をすぼめたノズルから前記所定位置へ冷却ガスを吹き付けることを特徴とする請求項1に記載の気密パッケージ内部の水分量測定方法。
- 前記結露センサは、抵抗、コイル、又はコンデンサのいずれかであることを特徴とする請求項1又は2に記載の気密パッケージ内部の水分量測定方法。
- 前記気密パッケージの温度を上げる工程では、前記気密パッケージの温度を100℃から150℃まで高め、
前記気密パッケージの温度を下げる工程では、前記気密パッケージを常温まで下げることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の気密パッケージ内部の水分量測定方法。 - 請求項1乃至4のいずれか1項に記載の気密パッケージ内部の水分量測定方法を実施する工程と、
前記気密パッケージに負荷を印加する工程と、
前記負荷を印加した後に請求項1乃至4のいずれか1項に記載の気密パッケージ内部の水分量測定方法を実施する工程と、
前記負荷を印加する工程の前の前記気密パッケージ内部の水分量と、前記負荷を印加する工程の後の前記気密パッケージ内部の水分量との差分から前記気密パッケージのリークレートを計算する工程と、を備えたことを特徴とする気密パッケージのリークレート測定方法。 - 前記負荷は耐湿性保存試験であることを特徴とする請求項5に記載の気密パッケージのリークレート測定方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011021504A JP5793879B2 (ja) | 2011-02-03 | 2011-02-03 | 気密パッケージ内部の水分量測定方法、及び気密パッケージのリークレート測定方法 |
TW100138666A TWI451082B (zh) | 2011-02-03 | 2011-10-25 | 氣密封裝裝置、氣密封裝內部之水分量檢測方法以及氣密封裝之洩漏率檢測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011021504A JP5793879B2 (ja) | 2011-02-03 | 2011-02-03 | 気密パッケージ内部の水分量測定方法、及び気密パッケージのリークレート測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012164689A JP2012164689A (ja) | 2012-08-30 |
JP5793879B2 true JP5793879B2 (ja) | 2015-10-14 |
Family
ID=46843831
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011021504A Active JP5793879B2 (ja) | 2011-02-03 | 2011-02-03 | 気密パッケージ内部の水分量測定方法、及び気密パッケージのリークレート測定方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5793879B2 (ja) |
TW (1) | TWI451082B (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019244297A1 (ja) * | 2018-06-21 | 2019-12-26 | 三菱電機株式会社 | 発光電子デバイスの検査方法および発光電子デバイスの製造方法 |
JP2021012961A (ja) * | 2019-07-08 | 2021-02-04 | スタンレー電気株式会社 | 発光装置、および、その製造方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4224565A (en) * | 1978-06-05 | 1980-09-23 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Moisture level determination in sealed packages |
JP2741484B2 (ja) * | 1994-09-02 | 1998-04-15 | 株式会社巴川製紙所 | 封止気密パッケージおよびその作製方法 |
SE514171C2 (sv) * | 1998-02-03 | 2001-01-15 | Ericsson Telefon Ab L M | Anordning och förfarande för luftkylning av en elektrisk anordning |
CN2404834Y (zh) * | 1999-11-16 | 2000-11-08 | 温锦耀 | 新型电子防潮箱 |
-
2011
- 2011-02-03 JP JP2011021504A patent/JP5793879B2/ja active Active
- 2011-10-25 TW TW100138666A patent/TWI451082B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012164689A (ja) | 2012-08-30 |
TWI451082B (zh) | 2014-09-01 |
TW201237400A (en) | 2012-09-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20131206 |
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A977 | Report on retrieval |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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