JP2000088891A - ブリッジ回路及びこれを用いた検出器 - Google Patents
ブリッジ回路及びこれを用いた検出器Info
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- JP2000088891A JP2000088891A JP10257160A JP25716098A JP2000088891A JP 2000088891 A JP2000088891 A JP 2000088891A JP 10257160 A JP10257160 A JP 10257160A JP 25716098 A JP25716098 A JP 25716098A JP 2000088891 A JP2000088891 A JP 2000088891A
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- circuit
- measured
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R17/00—Measuring arrangements involving comparison with a reference value, e.g. bridge
- G01R17/10—AC or DC measuring bridges
- G01R17/105—AC or DC measuring bridges for measuring impedance or resistance
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Measuring Fluid Pressure (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Measurement Of Force In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】雰囲気温度に関わらず安定した出力を得るブリ
ッジ回路およびこれを用いた検出器を提供する。 【解決手段】４つの抵抗体1〜４が四辺形を形成するよ
うに接続されたホイートストンブリッジ回路を有し、前
記回路の一部の抵抗体１が、目的となる被測定部位に取
り付けられてその部位における被測定現象が変化するこ
とにより、ブリッジの電圧の不平衡を出力する回路にお
いて、ホイートストンブリッジ回路の２つの対角間のそ
れぞれの電圧を測定し、上記２つの電圧値から温度補正
した出力電圧を求めることにより、雰囲気温度の影響を
除去した測定ができるようにする。
ッジ回路およびこれを用いた検出器を提供する。 【解決手段】４つの抵抗体1〜４が四辺形を形成するよ
うに接続されたホイートストンブリッジ回路を有し、前
記回路の一部の抵抗体１が、目的となる被測定部位に取
り付けられてその部位における被測定現象が変化するこ
とにより、ブリッジの電圧の不平衡を出力する回路にお
いて、ホイートストンブリッジ回路の２つの対角間のそ
れぞれの電圧を測定し、上記２つの電圧値から温度補正
した出力電圧を求めることにより、雰囲気温度の影響を
除去した測定ができるようにする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はブリッジ回路および
このブリッジ回路を用いた検出器に関し、さらに詳細に
は雰囲気温度の変動によるドリフトを低減させたブリッ
ジ回路とこの回路を用いた各種検出器に関する。
このブリッジ回路を用いた検出器に関し、さらに詳細に
は雰囲気温度の変動によるドリフトを低減させたブリッ
ジ回路とこの回路を用いた各種検出器に関する。
【０００２】
【従来の技術】抵抗体の抵抗値が圧力、温度、真空度な
ど観測する物理量の変動に応じて変動することを利用し
て、抵抗体を用いてブリッジ回路を構成し、この抵抗変
化から物理量の変動を検出する各種検出器が実用化され
ている。例えば、ガスクロマトグラフの圧力センサーや
熱伝導度検出器をはじめ、歪ゲージや真空計や温度検出
器等にも適用されている。
ど観測する物理量の変動に応じて変動することを利用し
て、抵抗体を用いてブリッジ回路を構成し、この抵抗変
化から物理量の変動を検出する各種検出器が実用化され
ている。例えば、ガスクロマトグラフの圧力センサーや
熱伝導度検出器をはじめ、歪ゲージや真空計や温度検出
器等にも適用されている。
【０００３】図１は、このようなブリッジ回路を用いた
検出器の１つであるガスクロマトグラフ等に用いる圧力
センサの概略構成図である。図において１は感圧用の抵
抗体であり、圧力測定のために抵抗体を密閉容器に入れ
観測すべき雰囲気気体が密閉容器内に導入されるように
なっている。抵抗体２、３、４はセンサ内で感圧用の抵
抗体１と組み合わされて四辺形のブリッジを構成するた
めの抵抗であり、５は定電流回路、６は増幅回路、７は
電圧測定回路、８、９は電圧測定点である。この回路は
ホイートストンブリッジ回路として知られているもので
ある。定電流回路５はブリッジを構成する4つの抵抗に
測定用の定電流（数ｍＡ程度）を流す。感圧用の抵抗体
１、抵抗体２〜４で構成されたブリッジにおける電圧測
定点８、９の間の電圧は増幅回路６により増幅された
後、電圧測定回路７により測定される。感圧用の抵抗体
１と抵抗体２〜４とは、感圧抵抗体１が被測定圧力にさ
らされていない標準状態のときにほぼ等しい抵抗値とな
るように調整して取り付けてある。したがって、電圧測
定点８、９の間の電圧差が標準状態ではほぼ零であるの
で、電圧測定回路により測定される電圧も同様にほぼ零
となる。ここで、感圧用の抵抗体１が被測定圧力にさら
されると、その圧力により感圧用の抵抗体１が歪む。感
圧用の抵抗体１は歪むことにより電気抵抗値が変化する
特性を有している。よって、感圧用の抵抗体１が圧力変
化により抵抗値が変化すると、電圧測定部８、９の間に
電圧差が生じ、その電圧差は増幅回路６を介して電圧測
定回路７に入力され、その結果、被観測圧力に応じた電
圧を電圧測定部７により測定することができる。
検出器の１つであるガスクロマトグラフ等に用いる圧力
センサの概略構成図である。図において１は感圧用の抵
抗体であり、圧力測定のために抵抗体を密閉容器に入れ
観測すべき雰囲気気体が密閉容器内に導入されるように
なっている。抵抗体２、３、４はセンサ内で感圧用の抵
抗体１と組み合わされて四辺形のブリッジを構成するた
めの抵抗であり、５は定電流回路、６は増幅回路、７は
電圧測定回路、８、９は電圧測定点である。この回路は
ホイートストンブリッジ回路として知られているもので
ある。定電流回路５はブリッジを構成する4つの抵抗に
測定用の定電流（数ｍＡ程度）を流す。感圧用の抵抗体
１、抵抗体２〜４で構成されたブリッジにおける電圧測
定点８、９の間の電圧は増幅回路６により増幅された
後、電圧測定回路７により測定される。感圧用の抵抗体
１と抵抗体２〜４とは、感圧抵抗体１が被測定圧力にさ
らされていない標準状態のときにほぼ等しい抵抗値とな
るように調整して取り付けてある。したがって、電圧測
定点８、９の間の電圧差が標準状態ではほぼ零であるの
で、電圧測定回路により測定される電圧も同様にほぼ零
となる。ここで、感圧用の抵抗体１が被測定圧力にさら
されると、その圧力により感圧用の抵抗体１が歪む。感
圧用の抵抗体１は歪むことにより電気抵抗値が変化する
特性を有している。よって、感圧用の抵抗体１が圧力変
化により抵抗値が変化すると、電圧測定部８、９の間に
電圧差が生じ、その電圧差は増幅回路６を介して電圧測
定回路７に入力され、その結果、被観測圧力に応じた電
圧を電圧測定部７により測定することができる。
【０００４】圧力センサにおいては感圧用の抵抗体１と
したが、抵抗体は圧力のみならず温度、聴力等の物理量
に対しても抵抗値が変化する特性を有しているので、そ
れぞれの物理量を測定できるように抵抗体１を取り付け
れば、温度検出器、力検出器（例えば歪ケージ）とな
る。また、特開平９―２３６５９２号のように、密閉容
器内に抵抗体１を入れるとともにこれを加熱しておき、
密閉容器内に試料を含む測定ガスを導入して測定ガスの
熱伝導度により抵抗体１の温度が変化することを利用し
て抵抗値の変化を検出することを利用して測定ガスの検
出を行うようにすると、ガスクロマトグラフ等の熱伝導
度検出器となる。このように検出器が検出しようとする
物理現象に応じて、抵抗体の取り付け方を適当にするこ
とにより、抵抗値の変化から物理現象の変動を検出する
ことができる。
したが、抵抗体は圧力のみならず温度、聴力等の物理量
に対しても抵抗値が変化する特性を有しているので、そ
れぞれの物理量を測定できるように抵抗体１を取り付け
れば、温度検出器、力検出器（例えば歪ケージ）とな
る。また、特開平９―２３６５９２号のように、密閉容
器内に抵抗体１を入れるとともにこれを加熱しておき、
密閉容器内に試料を含む測定ガスを導入して測定ガスの
熱伝導度により抵抗体１の温度が変化することを利用し
て抵抗値の変化を検出することを利用して測定ガスの検
出を行うようにすると、ガスクロマトグラフ等の熱伝導
度検出器となる。このように検出器が検出しようとする
物理現象に応じて、抵抗体の取り付け方を適当にするこ
とにより、抵抗値の変化から物理現象の変動を検出する
ことができる。
【０００５】
【本発明が解決しようとする課題】従来のブリッジ回路
による測定では雰囲気温度による影響を受ける問題があ
った。例えば上述の圧力センサでは感圧用の抵抗体１は
被測定気体の圧力変化を検出するものであるが、圧力変
化とともに雰囲気温度が変動した場合、雰囲気温度の変
動による抵抗値の変化分が圧力変動による抵抗値の変化
分に重畳されるため、正確に圧力変化量を測定すること
ができなかった。また、被測定気体の圧力が一定である
ときに、温度が変化した場合に抵抗体の抵抗値が変化
し、出力がドリフトしていた。したがって、本発明は、
雰囲気温度の変化によるドリフトの影響をなくして、本
来測定しようとする物理量のみの変化を測定することが
できるブリッジ回路およびブリッジを用いた検出器を提
供することを目的とする。
による測定では雰囲気温度による影響を受ける問題があ
った。例えば上述の圧力センサでは感圧用の抵抗体１は
被測定気体の圧力変化を検出するものであるが、圧力変
化とともに雰囲気温度が変動した場合、雰囲気温度の変
動による抵抗値の変化分が圧力変動による抵抗値の変化
分に重畳されるため、正確に圧力変化量を測定すること
ができなかった。また、被測定気体の圧力が一定である
ときに、温度が変化した場合に抵抗体の抵抗値が変化
し、出力がドリフトしていた。したがって、本発明は、
雰囲気温度の変化によるドリフトの影響をなくして、本
来測定しようとする物理量のみの変化を測定することが
できるブリッジ回路およびブリッジを用いた検出器を提
供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
になされた本発明のブリッジ回路は、４つの抵抗体が四
辺形を形成するように接続されたホイストンブリッジ回
路を有し、前記回路の一部の抵抗値が、目的となる被測
定部位に取り付けられてその部位における被測定現象が
変化することにより、ブリッジの電圧の不平衡を出力す
るブリッジ回路において、前記ホイートストンブリッジ
回路の２つの対角間のそれぞれの電圧を測定する電圧測
定手段と、上記２つの電圧測定手段の電圧値から温度補
正した出力電圧を求める演算手段とを備えたことを特徴
とする。また、前記ブリッジ回路のうちの１の抵抗体を
観測用の抵抗体として被測定対象物に接触させる手段を
備え、被測定対象の物理的変化を測定するようにしたこ
とを特徴とする。
になされた本発明のブリッジ回路は、４つの抵抗体が四
辺形を形成するように接続されたホイストンブリッジ回
路を有し、前記回路の一部の抵抗値が、目的となる被測
定部位に取り付けられてその部位における被測定現象が
変化することにより、ブリッジの電圧の不平衡を出力す
るブリッジ回路において、前記ホイートストンブリッジ
回路の２つの対角間のそれぞれの電圧を測定する電圧測
定手段と、上記２つの電圧測定手段の電圧値から温度補
正した出力電圧を求める演算手段とを備えたことを特徴
とする。また、前記ブリッジ回路のうちの１の抵抗体を
観測用の抵抗体として被測定対象物に接触させる手段を
備え、被測定対象の物理的変化を測定するようにしたこ
とを特徴とする。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、本発明のブリッジ回路およ
びこれを用いた検出器を実施例を図２を用いて説明す
る。 １は感圧用の抵抗体、２〜４はブリッジを構成す
る抵抗体、５は定電流回路、６は増幅回路、７は電圧測
定回路（第1の電圧測定回路）、８、９、１０は電圧測
定点、１１は第2の電圧測定回路、１２はマイコンであ
る。即ち電圧測定点１０の電圧を測定する第2の電圧測
定回路１１と演算のためのマイコン１２を追加された構
成以外は従来例である図１のものと同じである。定電流
回路５は１〜４で構成されたブリッジに測定用の定電流
（一般に数ｍＡ）を流す。１〜４で構成されたブリッジ
における電圧測定点８、９の間の電圧は増幅回路６によ
り増幅された後、電圧測定回路７により測定される。感
圧抵抗体１が被測定圧力にさらされていない状態では感
圧用の抵抗体１とブリッジ抵抗２〜４はほぼ等しい電気
抵抗値を持つように設計されているが、生産上のばらつ
きにより、少し異なるときがある。例えばブリッジ抵抗
１、３，４の抵抗値がＲΩであり、ブリッジ抵抗２の抵
抗値がＲ＋ｒΩであったとすると、電圧測定点８と電圧
測定点９の間の電位差は以下の式で表される。 ΔＶ＝ＲｒＩ／（４Ｒ＋ｒ） ・・・式１ Ｉ：定電流回路５により流される電流値このとき雰囲気
温度が変化し、ブリッジ抵抗１〜４の抵抗値が当初の
（１＋ｋ）倍になったとすると、電圧測定点８と９の電
位差は ΔＶ１＝（１＋ｋ）＊ＲｒＩ／（４Ｒ＋ｒ） ・・・式２ となる。よって、雰囲気温度が変化する前と後では ΔΔＶ＝ΔＶ１−ΔＶ＝ｋＲｒＩ／（４Ｒ＋ｒ） ・・・式３ という出力の変化が観察されることになる。即ち、雰囲
気温度の変化により、出力はΔΔＶ＝ｋＲｒＩ／（４Ｒ
＋ｒ）ボルトドリフトすることになる。本発明において
はブリッジ電圧測定回路１１が電圧測定点１０の電圧を
測定している。電圧測定点１０の電圧は Ｖ１０＝２ＩＲ（２Ｒ＋ｒ）／（４Ｒ＋ｒ） ・・・式４ で表される。式２と式４よりＶ１０とΔΔＶは比例関係
にあることがわかる。よって、Ｖ１０を計測することに
より、ΔΔＶをマイコン１２により予想することができ
る。これにより、出力を補正する。具体的には、予め異
なる２つの雰囲気温度でＶ１０とΔΔＶとを測定して、
比例係数を求めて、マイコンに記憶させておき、これ以
降はこの係数を用いて温度補正を行う。
びこれを用いた検出器を実施例を図２を用いて説明す
る。 １は感圧用の抵抗体、２〜４はブリッジを構成す
る抵抗体、５は定電流回路、６は増幅回路、７は電圧測
定回路（第1の電圧測定回路）、８、９、１０は電圧測
定点、１１は第2の電圧測定回路、１２はマイコンであ
る。即ち電圧測定点１０の電圧を測定する第2の電圧測
定回路１１と演算のためのマイコン１２を追加された構
成以外は従来例である図１のものと同じである。定電流
回路５は１〜４で構成されたブリッジに測定用の定電流
（一般に数ｍＡ）を流す。１〜４で構成されたブリッジ
における電圧測定点８、９の間の電圧は増幅回路６によ
り増幅された後、電圧測定回路７により測定される。感
圧抵抗体１が被測定圧力にさらされていない状態では感
圧用の抵抗体１とブリッジ抵抗２〜４はほぼ等しい電気
抵抗値を持つように設計されているが、生産上のばらつ
きにより、少し異なるときがある。例えばブリッジ抵抗
１、３，４の抵抗値がＲΩであり、ブリッジ抵抗２の抵
抗値がＲ＋ｒΩであったとすると、電圧測定点８と電圧
測定点９の間の電位差は以下の式で表される。 ΔＶ＝ＲｒＩ／（４Ｒ＋ｒ） ・・・式１ Ｉ：定電流回路５により流される電流値このとき雰囲気
温度が変化し、ブリッジ抵抗１〜４の抵抗値が当初の
（１＋ｋ）倍になったとすると、電圧測定点８と９の電
位差は ΔＶ１＝（１＋ｋ）＊ＲｒＩ／（４Ｒ＋ｒ） ・・・式２ となる。よって、雰囲気温度が変化する前と後では ΔΔＶ＝ΔＶ１−ΔＶ＝ｋＲｒＩ／（４Ｒ＋ｒ） ・・・式３ という出力の変化が観察されることになる。即ち、雰囲
気温度の変化により、出力はΔΔＶ＝ｋＲｒＩ／（４Ｒ
＋ｒ）ボルトドリフトすることになる。本発明において
はブリッジ電圧測定回路１１が電圧測定点１０の電圧を
測定している。電圧測定点１０の電圧は Ｖ１０＝２ＩＲ（２Ｒ＋ｒ）／（４Ｒ＋ｒ） ・・・式４ で表される。式２と式４よりＶ１０とΔΔＶは比例関係
にあることがわかる。よって、Ｖ１０を計測することに
より、ΔΔＶをマイコン１２により予想することができ
る。これにより、出力を補正する。具体的には、予め異
なる２つの雰囲気温度でＶ１０とΔΔＶとを測定して、
比例係数を求めて、マイコンに記憶させておき、これ以
降はこの係数を用いて温度補正を行う。
【０００８】なお、上記の実施例は圧力センサである
が、本発明はこれに限らず、熱伝導度検出器、歪ゲー
ジ、真空計など、種々の検出器に適用できる。
が、本発明はこれに限らず、熱伝導度検出器、歪ゲー
ジ、真空計など、種々の検出器に適用できる。
【０００９】以下、本発明の実施態様をまとめておく。 （１）観測用の抵抗体１と抵抗体２とが直列接続される
第1の抵抗群、抵抗体４と抵抗体３とが直列接続される
第2の抵抗群とが、並列に接続され、第1の抵抗群と第2
の抵抗群との並列接続点間に定電流を印加する定電流回
路が接続され、第1の抵抗群の抵抗体１と抵抗体２との
中間点と、第2の抵抗群の抵抗体４と抵抗体３の中間点
との2点間の電圧を測定する第1の電圧測定回路を備えた
ホイートストンブリッジ回路において、第1の抵抗群と
第2の抵抗群との並列接続点の電圧を測定するための第2
のブリッジ電圧測定回路を備え、第2のブリッジ電圧測
定回路で測定した電圧により第1の電圧測定回路で測定
した電圧を補正することを特徴とするブリッジ回路。 （２）（１）に記載の発明において、抵抗体のうちの１
つを被測定対象物に取付手段により接触するように取り
付けるようにして、被測定対象物の圧力や温度や歪等の
物理量の変化による抵抗値の変化を電圧測定回路で検出
するようにしたことを特徴とする検出器。 （３）（２）に記載の発明において、抵抗体の１つを密
閉容器に封入し、この密閉容器内に被測定対象となる雰
囲気気体を導入するようにしたことを特徴とする圧力セ
ンサ。 （４）（２）に記載の発明において、抵抗体の１つを密
閉容器に封入し、この密閉容器内に被測定対象となる雰
囲気気体を導入するようにしたことを特徴とする真空
計。 （５）（２）に記載の発明において、抵抗体の１つを被
測定対象物の表面に取り付け、この対象物の歪を検出す
るようにしたことを特徴とする歪ゲージ。
第1の抵抗群、抵抗体４と抵抗体３とが直列接続される
第2の抵抗群とが、並列に接続され、第1の抵抗群と第2
の抵抗群との並列接続点間に定電流を印加する定電流回
路が接続され、第1の抵抗群の抵抗体１と抵抗体２との
中間点と、第2の抵抗群の抵抗体４と抵抗体３の中間点
との2点間の電圧を測定する第1の電圧測定回路を備えた
ホイートストンブリッジ回路において、第1の抵抗群と
第2の抵抗群との並列接続点の電圧を測定するための第2
のブリッジ電圧測定回路を備え、第2のブリッジ電圧測
定回路で測定した電圧により第1の電圧測定回路で測定
した電圧を補正することを特徴とするブリッジ回路。 （２）（１）に記載の発明において、抵抗体のうちの１
つを被測定対象物に取付手段により接触するように取り
付けるようにして、被測定対象物の圧力や温度や歪等の
物理量の変化による抵抗値の変化を電圧測定回路で検出
するようにしたことを特徴とする検出器。 （３）（２）に記載の発明において、抵抗体の１つを密
閉容器に封入し、この密閉容器内に被測定対象となる雰
囲気気体を導入するようにしたことを特徴とする圧力セ
ンサ。 （４）（２）に記載の発明において、抵抗体の１つを密
閉容器に封入し、この密閉容器内に被測定対象となる雰
囲気気体を導入するようにしたことを特徴とする真空
計。 （５）（２）に記載の発明において、抵抗体の１つを被
測定対象物の表面に取り付け、この対象物の歪を検出す
るようにしたことを特徴とする歪ゲージ。
【００１０】
【発明の効果】以上、説明したように本発明によるブリ
ッジ回路およびこれを用いた検出器は雰囲気温度に関わ
らず、ドリフトの少ない安定した出力を得ることがで
き、正確な測定が可能となる。
ッジ回路およびこれを用いた検出器は雰囲気温度に関わ
らず、ドリフトの少ない安定した出力を得ることがで
き、正確な測定が可能となる。
【図１】従来のブリッジ回路の構成図。
【図２】本発明の一実施例であるブリッジ回路の構成
図。
図。
１：感圧用の抵抗体 ２〜４：ブリッジ抵抗 ５：定電流回路 ６：増幅回路 ７：電圧測定回路 ８、９、１０：電圧測定点 １１：電圧測定部 １２：マイコン
Claims (2)
- 【請求項１】 ４つの抵抗体が四辺形を形成するように
接続されたホイストンブリッジ回路を有し、前記回路の
一部の抵抗値が、目的となる被測定部位に取り付けられ
てその部位における被測定現象が変化することにより、
ブリッジの電圧の不平衡を出力する回路において、前記
ホイートストンブリッジ回路の２つの対角間のそれぞれ
の電圧を測定する電圧測定手段と、上記２つの電圧測定
手段の電圧値から温度補正した出力電圧を求める演算手
段とを備えたことを特徴とするブリッジ回路。 - 【請求項２】請求項１に記載のブリッジ回路のうちの１
の抵抗体を観測用の抵抗体として被測定対象物に接触さ
せる手段を備え、被測定対象の物理的変化を測定するよ
うにしたことを特徴とする検出器。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10257160A JP2000088891A (ja) | 1998-09-10 | 1998-09-10 | ブリッジ回路及びこれを用いた検出器 |
| US09/361,457 US6417678B2 (en) | 1998-09-10 | 1999-07-27 | Bridge circuit for detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10257160A JP2000088891A (ja) | 1998-09-10 | 1998-09-10 | ブリッジ回路及びこれを用いた検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000088891A true JP2000088891A (ja) | 2000-03-31 |
Family
ID=17302543
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10257160A Pending JP2000088891A (ja) | 1998-09-10 | 1998-09-10 | ブリッジ回路及びこれを用いた検出器 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6417678B2 (ja) |
| JP (1) | JP2000088891A (ja) |
Cited By (4)
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| JP2007225214A (ja) * | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Howa Mach Ltd | 発射弾数計数装置 |
| US8350579B2 (en) | 2008-11-20 | 2013-01-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for optimizing wheatstone bridge robust in change in temperature |
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| US6991367B2 (en) * | 2003-11-04 | 2006-01-31 | Raytheon Company | Integrated thermal sensor for microwave transistors |
| US7030600B2 (en) * | 2003-11-04 | 2006-04-18 | Raytheon Company | Broadband microwave power sensor |
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| US8893554B2 (en) * | 2012-11-20 | 2014-11-25 | Hamilton Sundstrand Corporation | System and method for passively compensating pressure sensors |
| JP6341119B2 (ja) | 2015-03-03 | 2018-06-13 | 株式会社デンソー | センサ駆動装置 |
| RU2645867C1 (ru) * | 2016-11-30 | 2018-02-28 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Донской государственный технический университет" (ДГТУ) | Измерительный мост с повышенным быстродействием |
Family Cites Families (2)
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