JP5765750B2 - 集光鏡加熱炉 - Google Patents

集光鏡加熱炉 Download PDF

Info

Publication number
JP5765750B2
JP5765750B2 JP2013547235A JP2013547235A JP5765750B2 JP 5765750 B2 JP5765750 B2 JP 5765750B2 JP 2013547235 A JP2013547235 A JP 2013547235A JP 2013547235 A JP2013547235 A JP 2013547235A JP 5765750 B2 JP5765750 B2 JP 5765750B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heated
reflecting mirror
mirror
heating furnace
reflecting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2013547235A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2013081107A1 (ja
Inventor
池田 伸一
伸一 池田
史朗 原
史朗 原
孝則 三ケ原
孝則 三ケ原
等 羽深
等 羽深
ソマワン クンプアン
ソマワン クンプアン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST filed Critical National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority to JP2013547235A priority Critical patent/JP5765750B2/ja
Publication of JPWO2013081107A1 publication Critical patent/JPWO2013081107A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5765750B2 publication Critical patent/JP5765750B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F27FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
    • F27DDETAILS OR ACCESSORIES OF FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS, IN SO FAR AS THEY ARE OF KINDS OCCURRING IN MORE THAN ONE KIND OF FURNACE
    • F27D11/00Arrangement of elements for electric heating in or on furnaces
    • F27D11/02Ohmic resistance heating
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/48Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating by irradiation, e.g. photolysis, radiolysis, particle radiation
    • C23C16/482Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating by irradiation, e.g. photolysis, radiolysis, particle radiation using incoherent light, UV to IR, e.g. lamps
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B13/00Single-crystal growth by zone-melting; Refining by zone-melting
    • C30B13/16Heating of the molten zone
    • C30B13/22Heating of the molten zone by irradiation or electric discharge
    • C30B13/24Heating of the molten zone by irradiation or electric discharge using electromagnetic waves
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F27FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
    • F27BFURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
    • F27B17/00Furnaces of a kind not covered by any preceding group
    • F27B17/0016Chamber type furnaces
    • F27B17/0025Especially adapted for treating semiconductor wafers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67115Apparatus for thermal treatment mainly by radiation
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F27FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
    • F27DDETAILS OR ACCESSORIES OF FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS, IN SO FAR AS THEY ARE OF KINDS OCCURRING IN MORE THAN ONE KIND OF FURNACE
    • F27D99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass
    • F27D99/0001Heating elements or systems
    • F27D99/0006Electric heating elements or system
    • F27D2099/0026Electric heating elements or system with a generator of electromagnetic radiations
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T117/00Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
    • Y10T117/10Apparatus
    • Y10T117/1024Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state
    • Y10T117/1076Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state having means for producing a moving solid-liquid-solid zone
    • Y10T117/108Including a solid member other than seed or product contacting the liquid [e.g., crucible, immersed heating element]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Control Of Resistance Heating (AREA)
  • Furnace Details (AREA)
  • Muffle Furnaces And Rotary Kilns (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)

Description

材料の加工等に使用するための加熱炉であって、赤外線による加熱を行うための集光鏡加熱炉に関する。
特許文献1〜3に記載されているように、単結晶を製造するための装置として、対象となる酸化アルミニウム等の焼結体と種結晶とに向けて赤外線を集光することにより加熱するようにした集光鏡加熱炉は知られている。
このような集光鏡加熱炉は、垂直方向に移動するステージ上に酸化アルミニウム等の焼結体と種結晶を設置し、その種結晶を水平方向に取り囲む位置に回転楕円面からなる反射鏡を設置し、その回転楕円面の一方の焦点にハロゲンランプ等の光源を設置し、回転楕円面の他方の焦点に焼結体と種結晶を位置させる。
そして、光源から放射される赤外線を直接あるいは反射鏡の反射面を介して、該焼結体と種結晶に対して焦点を当てるようにして集光し加熱する加熱炉、及び加熱時には該ステージを下げることにより単結晶を成長させるものである。
また、特許文献4に記載されているように、内面が回転楕円面である反射面の一方の焦点に被加熱物台を載置し、反射面内に設置した加熱ヒータを面光源として、放射された赤外線を直接及び該楕円面に反射させることにより、該被加熱物台上の被加熱物を加熱することが知られている。
さらに特許文献5に記載されているように、半導体の製造に使用する加熱炉として、シリコンウエハを石英ボードに載せ、これを石英ボードから加熱する抵抗加熱型の炉が知られている。しかしながら、熱源を赤外線とした場合であっても、炉内に石英ボードが挿入されるので、その炉内の大きさはウエハ以上の大きさのものを加熱できる大きさであり、抵抗加熱には昇温までに長時間を要し一つの加熱工程が短時間にて操作を行い得るものでもない。
さらに、ウエハ表面を加熱する際に、ウエハの口径を十分にカバーできる範囲を赤外線照射する目的で、載置したウエハ表面に対向するウエハの垂直上方位置に赤外線ランプを複数設置してなる面を、ウエハ表面と平行になるようにして設け、そのような装置によりウエハ表面を加熱する加熱処理装置も知られている。
特開2007−145611号公報 特許第3668738号公報 WO2005/075713号公報 特開2008−107050号公報 特開2000−223488号公報
従来の集光鏡方式加熱炉は、楕円鏡である凹面の一方の焦点に赤外線の光源を設け、該光源から該凹面に反射させて、かつ直接に他方の焦点に設置した被加熱物を上方又は側方より加熱するものである。
また特許文献1〜3に記載された発明のように、切断された回転楕円面の一方の焦点に光源を設け、他方の焦点に被加熱物を設置する構造にすると、共通の焦点である被加熱物を中心として、その周囲に一方の焦点から形成される円が形成される。
このような構造の場合、平面形状の被加熱物に対して専ら横方向の360°から加熱されるので、該被加熱物を水平に設置すると、該被加熱物の周面に専ら赤外線が照射されるものの、平面に対しては吸収される熱量が低下する。また、仮に被加熱物を垂直あるいは斜めに設置しても、該被加熱物の両面が専ら加熱されて、特定の片面を高い効率にて加熱することができない。
その結果、被加熱物以外の装置も加熱されて高温になるので、それを冷却するための空冷又は水冷の冷却システムとしては、より大がかりなものが必要になってしまい、結果的に冷却に要するエネルギーや空気や水を供給するための設備も大きくならざるを得ない。特に加熱源を冷却するために空気を流す場合であっても、回転楕円面に囲まれた比較的容積の大きい空間に空気を流してもその空気の一部が直接加熱源に触れて冷却する能力を発揮するに留まるので効率のよい冷却が困難であった。
さらに、回転楕円面鏡に挟まれた場所に被加熱物を設置する構造では、上記の冷却に要する大きな設備に加えて、被加熱物の大きさに対して相当大きな回転楕円面鏡を使用することになるので、装置の小型化には限界があった。
載置したウエハ等の表面に対向する、ウエハの垂直上方位置に赤外線ランプを複数設置してなる加熱装置によれば、ウエハを比較的均一に加熱することは可能であるが、加熱中にウエハ表面にガスを供給して処理するためにウエハの上方に設けるべきガスの供給手段を、赤外線の照射を阻害することなくウエハ表面に対向して設けることができなかった。また、均一に加熱するために、被加熱物よりも赤外線ランプの設置面を大きくする必要があった。このため、特に加熱装置の周縁部に設置された赤外線ランプから放射されたエネルギーの大部分は被加熱物のみに照射されず、被加熱物の周辺の部材をも加熱することになる。そして、被加熱物の加熱には、赤外線ランプからの放射だけでなく、加熱された周辺部材からの伝導による加熱も無視できない程度に寄与してしまい、その結果、被加熱物の加熱温度の制御が困難になる。さらにこのため制御をより正確に行うためには、加熱炉の内部空間を大きくする必要があり結果的に加熱炉全体が必要以上に大型化する。
さらに、被加熱物の上方に対向して赤外線ランプ等の加熱装置を設けると、被加熱物の上方に、加熱状態の監視、ガス供給、操作用マニピュレータ等を設置することが困難であった。
(第1の集光鏡方式加熱炉)
1.光源から放射された光を反射鏡装置により反射させて被加熱物に照射させ、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉であって、
被加熱物表面に照射される光は、該被加熱物表面に対して垂直に照射されない、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉。
2.光源から放射された光を反射鏡装置により反射させて被加熱物に照射させ、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉であって、
反射鏡装置は一次反射鏡及び二次反射鏡よりなり、光源から放射された光を一次反射鏡及び二次反射鏡に順に反射させて被加熱物に照射し、該二次反射鏡に反射して被加熱物表面に照射される光は、該被加熱物表面に対して垂直に照射されない、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉。
(第2の集光鏡方式加熱炉)
3.光源から放射された光を反射鏡装置により反射させて被加熱物に照射させ、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉であって、
光源が内部に設置された反射鏡装置を1つ以上有し、
該反射鏡装置は、回転楕円体の内面を反射面とした回転楕円体鏡を2つ組み合わせてなり、そのうちの一方の回転楕円体鏡を一次反射鏡、他方を二次反射鏡とし、
一次反射鏡の一方の焦点に光源が位置するように一次反射鏡に光源を設置すると共に、他方の焦点が二次反射鏡の一方の焦点と同じ位置に位置するように、一次反射鏡に設けた開口部と、二次反射鏡に設けた開口部を互いに接続し、二次反射鏡の他方の焦点が、加熱炉内に載置された被加熱物の被加熱面の中心点に位置するように反射鏡装置を設け、光が被加熱面に照射されるように二次反射鏡の他方の焦点側に被加熱面に向けて光が通過できる開口部が設けられており、
二次反射鏡を構成する楕円体の長軸は該被加熱面に対して垂直ではない集光鏡方式加熱炉。
4.光源から放射された光を反射鏡装置により反射させて被加熱物に照射させ、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉であって、
光源が内部に設置された反射鏡装置を1つ以上有し、
該反射鏡装置は、回転楕円体の内面を反射面とした回転楕円体鏡を2つ組み合わせてなり、そのうちの一方の回転楕円体鏡を一次反射鏡、他方を二次反射鏡とし、
一次反射鏡の一方の焦点に光源が位置するように一次反射鏡に光源を設置すると共に、他方の焦点が二次反射鏡の一方の焦点と同じ位置に位置するように、一次反射鏡に設けた開口部と、二次反射鏡に設けた開口部を互いに接続し、二次反射鏡の他方の焦点が、加熱炉内に載置された被加熱物の被加熱面の中心点とは異なる位置に位置するように反射鏡装置を設け、光が被加熱面に照射されるように二次反射鏡の他方の焦点側に被加熱面に向けて光が通過できる開口部が設けられており、
二次反射鏡を構成する楕円体の長軸は該被加熱面に対して垂直ではない集光鏡方式加熱炉。
5.光源から放射された光を反射鏡装置により反射させて被加熱物に照射させ、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉であって、
光源が内部に設置された反射鏡装置を1つ以上有し、
該反射鏡装置は、回転楕円体の内面を反射面とした回転楕円体鏡を2つ組み合わせてなり、そのうちの一方の回転楕円体鏡を一次反射鏡、他方を二次反射鏡とし、
一次反射鏡の一方の焦点に光源が位置するように一次反射鏡に光源を設置すると共に、他方の焦点が二次反射鏡の一方の焦点と同じ位置に位置するように、一次反射鏡に設けた開口部と、二次反射鏡に設けた開口部を互いに接続し、二次反射鏡の他方の焦点が、加熱炉内に載置された被加熱物の被加熱面の中心点を通る法線上に位置するように反射鏡装置を設け、光が被加熱面に照射されるように二次反射鏡の他方の焦点側に被加熱面に向けて光が通過できる開口部が設けられており、
二次反射鏡を構成する楕円の長軸は該被加熱面の該法線に対して斜めに位置してなる集光鏡方式加熱炉。
6.一次反射鏡を構成する楕円の短径に対する長径の比は、二次反射鏡を構成する楕円の短径に対する長径の比以下である3〜5のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
7.二次反射鏡の楕円の2つの焦点を結ぶ直線上に光源が位置するように、一次反射鏡と二次反射鏡を接続してなる3〜6のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
8.一次反射鏡の楕円の2つの焦点と二次反射鏡の楕円の2つの焦点とが、同一直線上にないように、一次反射鏡と二次反射鏡を接続してなる3〜6のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
9.被加熱面表面と、二次反射鏡の楕円の2つの焦点を結ぶ線とのなす角度が20〜70°である3〜8のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
(第3の集光鏡方式加熱炉)
10.光源から放射された光を反射鏡装置により反射させて被加熱物に照射させ、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉であって、
光源が内部に設置された反射鏡装置を1つ以上有し、
該反射鏡装置は、回転楕円体の内面を反射面とした回転楕円体鏡を一次反射鏡とし、回転放物面鏡の内面を反射面とした回転放物面鏡を二次反射鏡として組み合わせてなり、
一次反射鏡の2つある焦点の内の一方の焦点に光源が位置するように一次反射鏡に光源を設置すると共に、他方の焦点が二次反射鏡の焦点と同じ位置に位置するように一次反射鏡に設けた開口部と、二次反射鏡に設けた開口部を互いに接続し、二次反射鏡である回転放物面鏡の回転軸と、炉内に載置された被加熱物の被加熱面の中心点が1本の直線上に位置するように集光鏡装置を設け、光が被加熱面に照射されるように二次反射鏡の開口部が被加熱物に向けて設けられており、
二次反射鏡の該回転軸は被加熱面表面に対して垂直ではない集光鏡方式加熱炉。
11.一次反射鏡の焦点とその楕円面との最短距離が、二次反射鏡の焦点とその放物線との最短距離よりも大である10に記載の集光鏡方式加熱炉。
12.一次反射鏡の2つの焦点が回転放物面鏡である二次反射鏡の回転軸の延長線上に位置するように、一次反射鏡と二次反射鏡を接続してなる10又は11に記載の集光鏡方式加熱炉。
13.一次反射鏡の2つの焦点が回転放物面鏡である二次反射鏡の回転軸の延長線上に位置しないように、一次反射鏡と二次反射鏡を接続してなる10又は11に記載の集光鏡方式加熱炉。
14.被加熱面の法線と、二次反射鏡の回転軸とのなす角度が20〜70°である10〜13のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
(第4の集光鏡方式加熱炉)
15.光源から放射された光を反射鏡装置により反射させて被加熱物に照射させ、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉であって、
該反射鏡装置は、該被加熱面の中心を通る法線と同一の平面にあり、該法線と交差しない閉じた曲線を該法線を回転軸として回転させてなる環の内面の一部を反射面とした一次反射鏡を有し、
環状の該一次反射鏡を形成する環内に、光源を該環の円周方向の一部又は全部にわたって設置し、
さらに該被加熱物は、該法線と垂直ではあるが環と交差しない平面上に設置され、該被加熱面の中心と該光源を結ぶ最短の直線と、該反射面との交点付近の該反射面に光を被加熱物に照射するためのスリットを設け、
該スリットを形成する第一反射面の端部には、第二反射面を形成する反射面を接続してなる集光鏡方式加熱炉。
16.該法線と、該光源と被加熱物表面中心とを結ぶ線とのなす角度が20〜70°である15に記載の集光鏡方式加熱炉。
17.環状の該一次反射鏡を形成する環内に、環状の光源を円周に沿って設置し、
該環状光源からの光を被加熱面に集中させる反射板を、その反射面が、該環状光源がつくる円周に対して垂直に設置されてなる15又は16に記載の集光鏡方式加熱炉。
18.加熱時において、該反射鏡と被加熱物との相対的な位置を可変とした1〜17のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
19.加熱時において、被加熱物の温度、被膜形成時の膜厚等の被加熱物の状態を、被加熱物の真上、斜め上、及び横の少なくとも1方向から確認できるようにしてなる1〜18のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
20.加熱時において、該被加熱物を回転可能とした1〜19のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
本発明の第1の集光鏡方式加熱炉は、反射鏡装置として一次反射鏡及び二次反射鏡からなる装置を採用し、光源から放射された光を一次反射鏡及び二次反射鏡に順に反射させて、最終的には被加熱物表面に対して垂直ではない方向から照射することにより、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉である。さらに、その垂直ではない方向であっても、被加熱物表面に平行な方向から照射するものでもない。
本発明は、従来の回転楕円面に赤外線を反射させてなり、被加熱物の側方からの加熱を行う装置の構造でもないので、加熱されている被加熱物の側方又は被加熱物表面の延長線上には加熱のための装置が位置しないことにより側方より被加熱物の状態を確認でき、加熱中においてもCVD炉や単結晶育成装置の運転状況を把握することが可能である。
さらに、被加熱物表面に対して垂直ではない方向より赤外線を照射して加熱するので、赤外線ランプ及び環状反射面の位置を被加熱物表面の真正面ではない場所に位置させることが可能となり、反射鏡装置の大きさは従来の回転楕円面を採用した場合と比較して小さく、赤外線ランプ及び環状反射面と被加熱物との間をより狭くすることができる。
このように、装置を小型化した場合、赤外線ランプの出力が小さくなり、それと共に反射鏡の大きさも小さくなるが、しかしながら、元来、被加熱物自体を加熱するに要するエネルギーは変わらないので、結局、被加熱物自体が受けるエネルギーの密度は変わらないか、むしろ増大する。
例えば、CVD炉とする際には、CVDにより処理される被加熱物表面の正面からガスを流して当てることができ、加熱された被加熱物上にCVDによる良質な薄膜を成膜させることができる。
第2の集光鏡方式加熱炉は、一次反射鏡及び二次反射鏡は回転楕円体の内面を反射面としてなる2つの反射鏡からなる反射鏡装置を有する。その一次反射鏡の回転楕円鏡を構成する楕円の短径に対する長径の比は、二次反射鏡を構成する楕円の短径に対する長径の比以下である。
特に第2の集光鏡方式加熱炉は、二次反射鏡の他方の焦点が加熱炉内に載置された被加熱物の非加熱面の中心点に位置するようにしてもよく、また、加熱炉内に載置された被加熱物の被加熱面の中心点とは別の場所、例えば被加熱物表面の中心点を通る法線上に位置するようにしてもよい。
第2の集光鏡方式加熱炉によれば、被加熱物表面の特に必要とする箇所を均一に加熱することが可能であるし、また、被加熱物表面に対して光の焦点を合わせない状態で照射することもでき、この場合には、被加熱物表面をより均一に加熱することができる。
そして、一次反射鏡を構成する楕円の短径に対する長径の比は、二次反射鏡を構成する楕円の短径に対する長径の比以下とすることにより、光源である赤外線ランプをより球に近い回転楕円体の一方の焦点に置くことができるので、一次反射鏡に反射した後に二次反射鏡の反射面に向かう成分をより多くさせることが可能になる。
つまり、一次反射鏡が二次反射鏡よりも焦点近くの楕円面がより長い半径の球に近い面であるので、一次反射鏡に光源のランプを設置した場合に、二次反射鏡の焦点に直接光源を設置した場合と比較して、ランプから放射される光をより多くの反射面に反射させることができ、そのためにより強い光を被加熱物に照射することが可能であり、効率良く加熱することができる。
また、二次反射鏡の楕円の2つの焦点を結ぶ直線上に光源が位置するように一次反射鏡と二次反射鏡を接続させることによって、光源からいずれの反射鏡にも反射せずに直接被加熱物に照射される光の成分が多くなり、より効率よく被加熱物表面を加熱することができる。
一次反射鏡の楕円の2つの焦点と二次反射鏡の楕円の2つの焦点とが、同一直線上にないように一次反射鏡と二次反射鏡を接続させると、二次反射鏡に対する一次反射鏡の向きを任意に変更させることが可能になり、反射鏡装置を小型化させることや、集光鏡方式加熱炉の全体の形状に応じて、反射鏡装置の形状を任意に変更させることが可能になる。
そして、いずれの方式の集光鏡方式加熱炉も、被加熱物表面の被加熱面が水平になるようにして形成され、設置されてもよいが、被加熱物の被加熱面が水平でない状態で載置されていてもよい。
ここで、一次反射鏡と二次反射鏡の接合部の開口部の大きさは大きくてもよい。この開口部が大きいほど、一次反射鏡に反射しない成分が多くなる。
反対に開口部が小さいほど、赤外線ランプ等の光源から放射された光を、一次反射鏡及び二次反射鏡に順に反射させつつ被加熱物表面を加熱させる成分を多くすることが可能となる。
また、第3の集光鏡方式加熱炉は、二次反射鏡を回転放物面鏡からなるものとした点で第2の集光鏡方式加熱炉と異なる他は第2の集光鏡方式加熱炉と共通する。
第2の集光鏡方式加熱炉に対して、第3の集光鏡方式加熱炉は、二次反射鏡に反射してなる光の成分は互いに平行な成分であるから、被加熱物表面において、光が焦点を結ぶことがないばかりか、被加熱物表面に照射される光が平行光である成分を含むので、被加熱物の表面をより均一に加熱することが可能である点で特徴的である。
その第3の集光鏡方式加熱炉において、一次反射鏡の焦点とその楕円面との最短距離が、二次反射鏡の焦点とその放物面との最短距離よりも大であることによると、光源である赤外線ランプをより球に近い回転楕円体の一方の焦点に置くことができるので、一次反射鏡に反射した後に二次反射鏡の反射面に向かう成分をより多くさせることが可能になる。
さらに、第2の集光鏡方式加熱炉と同様に、二次反射鏡の回転放物面の回転軸の延長線上に光源が位置するように一次反射鏡と二次反射鏡を接続させることによって、光源からいずれの反射鏡にも反射せずに直接被加熱物に照射される光の成分が多くなり、より効率よく被加熱物表面を加熱させることができる。
一次反射鏡の楕円の2つの焦点と二次反射鏡の該回転軸とが、同一直線上にないように一次反射鏡と二次反射鏡を接続させると、二次反射鏡に対する一次反射鏡の向きを任意に変更させることが可能になり、反射鏡装置を小型化させることや、集光鏡方式加熱炉の全体の形状に応じて、反射鏡装置の形状を変更させることが可能になる。
第4の集光鏡方式加熱炉は、内面が反射面である環状の一次反射鏡及び二次反射鏡からなる反射鏡装置の構造と、被加熱物の被加熱面との位置関係に特徴を有する。
具体的には、該反射鏡装置は、該被加熱面の中心を通る法線と同一の平面にあり、該法線と交差しない閉じた曲線を該法線を回転軸として回転させてなる環の内面の一部を反射面とした一次反射鏡を有し、
環状の該一次反射鏡を形成する環内に、光源を該環の円周方向の一部又は全部にわたって設置し、
さらに、該反射鏡の外であって、環を含む平面上でない位置に被加熱物を設置できるようにし、該被加熱面の中心と該光源を結ぶ最短の直線と、該反射面との交点付近の該反射面に光を被加熱物に照射するためのスリットを設け、
該スリットを形成する第一反射面の端部には、第二反射面を形成する反射面を接続してなる集光鏡方式加熱炉である。
第4の集光鏡方式加熱炉において、環状の一次反射鏡に反射した光がスリットを通って二次反射鏡に反射し、その後被加熱物表面に照射されることにより、該被加熱物表面に対して多方向から光を照射することになる。このため、ある一方向からの光のみでは該被加熱物表面を均一に加熱することが困難な場合であっても、多方向からの加熱によって、より均一に加熱を行うことが可能になる。
なお、その二次反射鏡の反射面は楕円や放物線を該回転軸により回転されてなる面の一部であってもよく、その場合には、該楕円や該放物線の焦点は光源の場所に位置させることができる。
また該閉じた曲線が楕円である場合には、その楕円の2つの焦点を結ぶ線の被加熱物方向に向けた延長線が、被加熱物表面中心にあたるように傾けてなる楕円と、その延長線と楕円の交点を中心に楕円に開口部を設ける。さらに、該2つの焦点のうちの被加熱物からみて遠いほうの楕円の焦点を共通の焦点とする放物線の一部を該開口部から被加熱物に向けて開口するように複合させてなるスリットを設ける。
そして、該楕円の被加熱物から近くない方に位置する焦点に光源を設け、もう一つの焦点が二次反射鏡を構成する楕円又は放物線の焦点と共通させることにより、光源から放射された光をより効率よく、二次反射鏡に反射させると共に、被加熱物表面に照射させることができる。
なお、図9において該共通の焦点を、楕円の被加熱物に近い方の焦点とすることもできる。
この第4の集光鏡方式加熱炉において、該閉じた平面が楕円である場合には、その結果、得られた反射鏡は、被加熱物中心を通る法線に垂直であって、該楕円及び該放物線の外にある垂直軸により回転させてなる内面が反射面である楕円体鏡と放物面鏡が複合してなる反射鏡であると共に、その共通の焦点を示し、かつ垂直軸を中心とする円周上にわたって光源を設置してなる集光鏡を有することができる。
その光源は点光源を円周上に配列したものや、半円型を2つ使用するもの、あるいは円形のものを使用することができる。
このようにしてなる本発明の第4の集光鏡方式加熱炉は、内面に一次反射面を構成する断面が楕円等の形状の環状体と、二次反射面を構成する反射面が複合してなり、該環状体内に設置された光源から放射された光を直接、あるいは該一次反射面及び又は二次反射面に反射して、被加熱物台上の被加熱物に向けて照射する集光鏡方式加熱炉である。
この第4の集光鏡方式加熱炉によれば、被加熱物表面に対してより多方向からの加熱を行うことができるので、被加熱物表面をより均一に加熱することができる。
これら、第1〜第4の4種の方式の加熱炉は、いずれも被加熱物の斜め上方に加熱のための光源が位置し、斜め上方より被加熱物表面を加熱するので、被加熱物の真上方向、下方及び側方に空間を形成することができる。このため、上方に例えば石英管を設けて処理のためのガスを流したり、温度等の測定や制御手段を設けることが可能である。また、側方に設けられた空間に、被加熱物を移送する手段を設置すること等が可能になり、被加熱物周囲の空間を有効に活用することが可能となり、被加熱物を装置内に導入する段階から、装置外に取り出す段階に至る一連の動作をより効率良く行うことが可能となる。
また、これらの集光鏡方式加熱炉によれば、被加熱物の斜め上方に複数の光源を設けることができ、それにより光源から放射されたエネルギーの大部分は被加熱物表面に照射され、かつ、斜め上方を一周するように、各方向から被加熱物に向けて光を放射できる。
そのとき、被加熱物表面上のある一箇所からみた光源までの距離は、ある方向の光源には比較的遠いが、その逆方向の光源には比較的近くなり、その傾向は被加熱物表面上のどの箇所においても同じである。そうすると、結局のところ、被加熱物表面上のどの箇所においても、多方向から照射された光を積算してなるエネルギーは均一であるので、被加熱物表面上のどの箇所においても均一に加熱されることになる。
また、第1〜3の集光鏡方式加熱炉によると、使用する光源は環状ではないから、例えば集光鏡装置を3セット使用すると、各セットは120°の間隔をもって設置されるので、被加熱物表面に対しても斜め上方の3方向から光が照射されることになり、実質的にむらがない加熱が可能となる点において、実質的に360°の全方向から光を照射することと変わりがない。
このように、被加熱物表面に対して、実質的に斜め上方360°の方向から加熱を行うことができるので、より均一に加熱を行うことが可能である。
また、第4の集光鏡方式加熱炉によると、より360°に近い方向から加熱を行うことによって、第1〜3の集光鏡方式加熱炉よりも多方向からの加熱を行うことができる。そのとき、反射鏡全体が受ける全熱量が第1〜3の集光鏡方式加熱炉と変わらないとしても、反射鏡自体の容積が大きいので、加熱温度はより低温になり、冷却装置が簡便になる点において優れる。
つまり、一方向の斜め上方から被加熱物に光が照射される場合、被加熱物表面には光源からの距離が近い箇所と遠い箇所が生じることになる。その結果として被加熱物の光源から近い箇所には、光のエネルギー密度が比較的高い部分が照射され、被加熱物の光源から遠い箇所には光のエネルギー密度が比較的低い部分が照射されるので、結果的に被加熱物の光源に近い箇所は速やかにかつ高温に加熱されることになるものの、遠い箇所は温度が上昇する速度が相対的に小さく、結局被加熱物上の被加熱面において、加熱にむらが生じる可能性がある。
被加熱面に光源の焦点を結ぶときには加熱にむらが生じる傾向が顕著となるが、被加熱面に光源の焦点を結ばないときには、ぼやけた光源の像が被加熱物表面に表れることにより、被加熱物表面はより均一に加熱されやすい。しかしながら、被加熱面に照射されない成分が出るので光源から放射された光が効率よく被加熱面表面にあたらない可能性がある。
このような機構による被加熱物の均一な加熱に加えて、通常光源はフィラメントの加熱により発光しており、フィラメントは完全に点光源ではないので、本発明において、被加熱物上に二次反射鏡の焦点が厳密に結ばれても、結ばれなくてもよいことがわかる。
焦点が結ばれていないいわゆるデフォーカスされた状態で光が照射される場合には、該フィラメントの像が被加熱物上に結ばれることがない。そうすると、被加熱物上にてフィラメントの形状を反映させたような光の照射むらを生じることがなく、この点においても、被加熱物表面をより均一に加熱することが可能となる。
もちろん、被加熱物上に回転楕円面の焦点が結ばれた場合には、フィラメントの像が被加熱物上に結ばれる可能性はあるが、デフォーカスされた場合を含めて複数方向から光を被加熱物上に照射すると、それぞれの焦点が結んだことによる像が重なり、結果的に被加熱物上に均一に光を照射させることができる。
この場合には上記の第2の集光鏡方式加熱炉においてデフォーカスされた状態と同様に、第2及び3の集光鏡方式加熱炉によって、被加熱物上にデフォーカスされた状態で光を照射する結果として均一に加熱することができる。
本発明によると、被加熱物は均一に加熱されると共に、被加熱物からみて光源が上方の斜方に存在するので、被加熱物の直上、側方及び下方、及び光源と反射鏡以外の斜方には空間を設けることができ、その空間を利用して石英管の設置、気体の導入、加工・移動用治具の配置とその操作、被加熱物の移動、温度、気体の供給量等の検知と制御等の操作が可能になる。さらにCVD等のように水平に設置された被加熱物の上面を加熱することが可能になる。
加えて従来の回転楕円面を使用した加熱装置では被加熱物の横方向、あるいは完全に垂直方向からのみの加熱に留まり、単結晶成長装置等の用途に限定されるが、本発明のように被加熱物の斜め上方からの加熱を行うと、そのような用途に加えて、さらにCVD等のように水平に設置された被加熱物の上面を加熱することが可能になる。
また、従来の被加熱物の上方ではなく水平位置に360°取り囲むようにして設置される回転楕円体を反射面とする場合と比較して、反射面全体の径を小径化することができるので、装置全体もより小型化することが可能である。
さらにウエハ等の被加熱物を回転させてもよく、させなくてもよい。また石英管内にてウエハ等にガス(メインガス、サポートガス)を当てても、被加熱物以外は加熱されないために、ガスの分解による石英管内壁の堆積物を削減できる。
かつ、使用するエネルギーが少なくて済み、しかも、反射面等の加熱に消費されるエネルギーもより少量であるから、冷却システムを小さく、装置全体をより小型化することが可能となる。しかも、第4の集光鏡方式加熱炉によれば、光源は環状反射面内の比較的狭い空間に設置されるが、その環状反射面内に空気を導入すると、効率良く空気を光源と接触させて冷却することができる。
なお、光源として赤外線ランプ、光として赤外線を使用することが可能であるが、光としては、赤外線に限定されず、被加熱物を照射することによって、被加熱物が加熱されることになる光であればよい。また、そのような光を放射するための光源としても赤外線ランプに限定されない。
本発明の第1及び第2の集光鏡方式加熱炉 本発明の第1及び第2の集光鏡方式加熱炉の概念図 反射鏡装置を3つ使用した第1及び第2の集光鏡方式加熱炉を上方より見た図 本発明の集光鏡方式加熱炉に使用する一次反射鏡と光源の関係を示した図 本発明の集光鏡方式加熱炉に使用する一次反射鏡と光源の関係を示した図 本発明の第1及び第2の集光鏡方式加熱炉 本発明の第1及び第3の集光鏡方式加熱炉 本発明の第1及び第3の集光鏡方式加熱炉の概念図 本発明の第1及び第3の集光鏡方式加熱炉 本発明の第1及び第4の集光鏡方式加熱炉 本発明の第4の集光鏡方式加熱炉における光路図 本発明の第4の集光鏡方式加熱炉の上面図 本発明の第4の集光鏡方式加熱炉の上面図 本発明の装置を用いてなる結晶成長装置の模式図
1・・・集光鏡方式加熱炉
2・・・赤外線ランプ
3・・・被加熱物
4・・・一次反射鏡と二次反射鏡の接続部
5・・・開口部
6・・・石英管
7・・・集光鏡装置
M1・・・一次反射鏡
M2・・・二次反射鏡
M3・・・一次反射鏡
M4・・・二次反射鏡
M5・・・二次反射鏡
M6・・・二次反射鏡
M7・・・環状反射面
M8・・・二次反射鏡
F1・・・一次反射鏡の一方の焦点
F2・・・一次反射鏡の他方の焦点
F3・・・二次反射鏡の一方の焦点
F4・・・二次反射鏡の他方の焦点
F5・・・二次反射鏡の焦点
F6・・・二次反射鏡の焦点
101・・・集光鏡方式加熱炉
102・・・被加熱物
103・・・赤外線ランプ
104・・・ガス
105・・・ハウジング
106・・・環状反射面
107・・・管
θ1及び2・・・各モードにおける加熱に寄与する赤外線が放射される角度
111・・・スリット
112・・・電源コード
113・・・冷却ジャケット
114・・・蓋部材
115・・・冷却水供給パイプ
116・・・冷却水供給ポート
117・・・冷却水排水パイプ
118・・・冷却水排水ポート

203・・・赤外線ランプ
206・・・環状反射面
207・・・石英管
208・・・固定手段
209・・・原料棒
210・・・種結晶棒
以下、光源を赤外線ランプとし、光を赤外線とした場合について、図面を参照しつつ本発明を説明する。他の光源や他の光を採用した場合においても、本発明の構造を採用することが可能である。
被加熱物の物性や材料によっては、赤外線以外の光によっても加熱され得るものがあるので、この場合において本発明にて使用される光は赤外線以外の光を包含する。
(第1の集光鏡方式加熱炉)
第1の集光鏡方式加熱炉は、以下に説明する第2〜第4の集光鏡方式加熱炉を包含する構造を備えた集光鏡方式加熱炉である。
そこで、例として図1(a)を基に第1の集光鏡方式加熱炉を説明する。
本発明の第1の集光鏡方式加熱炉は、被加熱物3表面に光源から放射された光を反射鏡装置により反射させることにより照射して加熱を行うための加熱炉である。
反射鏡装置は一次反射鏡M1及び二次反射鏡M2からなる装置であり、赤外線ランプ2等の光源を一次反射鏡M1内に設け、該光源から放射された光を一次反射鏡M1内面で反射させ、その反射光は二次反射鏡M2内に導かれて、その二次反射鏡M2内面の反射面にて反射されて開口部5から出て被加熱物3の表面に照射される。
このとき、二次反射鏡M2は被加熱物3の表面の真正面に、その一部でも位置しないので、二次反射鏡M2の開口部5から放射された光は全て被加熱物3の表面に対して垂直に照射されることがない。
以下の点は続く第2〜4の集光鏡装置にも共通していえる事項である。
本発明の集光鏡方式加熱炉は、CVD装置、結晶成長装置等加熱を伴う処理を行うための装置一般に使用することができる。特に光により加熱を行っている用途に対して使用することができる。
及び二次反射鏡の反射面で反射して被加熱物3に照射することにより被加熱物3を加熱する加熱炉である。このような加熱と共に、あるいは加熱の前後に被加熱物に向けて上方よりガス104を供給したり、図示しないが治具を用いて加工したり、あるいは側方に窓を設けることにより任意の条件下にて被加熱物3を加熱しながら加熱中の被加熱物102の状態を確認することが可能となる。
結晶育成装置とする際には、模式図12に示すように、集光鏡装置の間に石英管207を挿入し、該管内にて多結晶の原料棒209と種結晶棒210をそれぞれ上下の固定手段208に固定しこれを駆動させる。そして、図1(a)の装置と同様に赤外線ランプ203から放射された赤外線が一次反射鏡及び二次反射鏡に反射して、上記多結晶の原料棒209と種結晶棒210を加熱しつつ、これらの原料棒209と種結晶棒210が下方に移動しながら単結晶を生成させることができる。
本発明において使用される集光鏡方式加熱炉は、光を放射する光源を用い、その放射される光によって被加熱物を加熱する装置である。
その光源としては赤外線ランプを使用することが一般的であるが、それに限定されず、光により加熱を行う加熱炉にて使用することができる光源を任意に使用することができる。
本発明における反射鏡装置は一次反射鏡及び二次反射鏡から構成され、該光源が一次反射鏡の内部にフィラメント等が位置するように設けられる。その一次反射鏡と二次反射鏡とは、光が通過することができるように互いに設けられた開口部によって接続される。このため、光源から放射された光は、多くの成分が一次反射鏡にて反射され、その後二次反射鏡にて反射されることによって反射鏡装置外に放射されて、被加熱物表面に照射される。
つまり、一次反射鏡は光源から放射された光が、最初に反射するための反射鏡であり、二次反射鏡は一次反射鏡により反射された光が次いで反射されるための反射鏡である。
もちろん、光源から放射された光の一部が一次反射鏡にて反射されず、直接二次反射鏡にて反射されて、被加熱物表面に照射されてもよい。
また、反射鏡装置の構造によっては、光源から放射された光の一部が一次反射鏡にて反射されず、直接二次反射鏡にも反射されることなく、直接被加熱物表面に照射されることもあり得る。
これらの反射鏡に関しても公知の材料から成るものでよく、金属基材そのもの、あるいは金属基材内面に反射面として別の金属層を設けたもの等、公知の反射性を有する構造を採用することができる。
また、一次及び二次反射鏡及び、これらからなる反射鏡装置としては、金属等のブロックから削り出し等の製造方法で製造してもよいが、複数のブロックに分け、このブロック毎に製造して、これらブロックを組み立てることにより製造してもよい。
さらに本発明においては、被加熱物表面に対して垂直方向から光が照射されないことが必要である。このときの垂直方向から光が照射されないとは、被加熱物表面に対して斜め方向から、言い換えれば有限の角度をもって光が照射されることを示している。
仮に被加熱物表面に対して垂直方向から光を照射すると、二次反射鏡はその一部でも被加熱物表面に対向した真正面の位置に置くことになる。CVD等のように、被加熱物表面を加熱しつつガス等を供給して処理する場合には、その被加熱物表面の真正面の位置に二次反射鏡の一部でも存在すると、そのガスの供給を円滑に行うことが困難になる。
このため、本発明では、被加熱物表面に対して垂直方向から光を照射しないことによって、CVD等を円滑に行うことができる。
もちろん、本発明において被加熱物表面に対して通常は真横から、つまり、被加熱物表面を含む平面方向から光の主成分が照射されることはない。このような場合、被加熱物表面が効率良く加熱されることがないからである。
(第2の集光鏡方式加熱炉)
図1(a)及び2は本発明の第2の集光鏡方式加熱炉に関する図であって、図1(a)はその断面図であり、集光鏡装置7を2セット又は4セット使用してなる集光鏡方式加熱炉の例である。赤外線ランプ2から放射された赤外線を反射するために内面が反射面である回転楕円体を一次反射鏡M1及び二次反射鏡M2として使用する。
この第2の集光鏡方式加熱炉に使用される反射鏡装置の概念を図1(b)に示す。この図1(b)においては、反射面が回転楕円体である一次反射鏡M1の一方の焦点F1に光源が位置する。この光源から放射された光は一次反射鏡M1により反射して、他方の焦点F2にて結像する。この焦点F2は反射面が回転楕円体である二次反射鏡M2の焦点F3と共通であり、この焦点F2かつF3にて結合した光は再度拡散する。
その後、二次反射鏡の他方の焦点F4にて再度光が結像することになるが、その焦点F4は被加熱物3の表面上に位置するようにできる。
この場合には、焦点F4を被加熱物上に位置させるが、別の態様においては、F4を被加熱物上に位置させないこと、中でも被加熱物表面の法線上に位置させることもできる。このように、これら一次及び二次反射鏡はいずれも楕円体の長軸を回転軸としてなる回転楕円体の内面を反射面としてなる反射鏡であり、一次反射鏡の焦点F1に設けられた赤外線ランプ2から被加熱物に向けて放射された赤外線が、直接及び反射面に反射して被加熱物に照射される。
図1(a)に示す本発明の集光鏡方式加熱炉1は、一次反射鏡M1の2つの焦点と二次反射鏡M2の2つの焦点が1本の直線上にあるような装置であり、一次反射鏡と二次反射鏡とを直線的に接続した形式の図である。
一次反射鏡M1内において、赤外線ランプ2から放射された赤外線はまず主に一次反射鏡M1の内面において反射する。赤外線ランプ2のフィラメントが一次反射鏡M1の一方の焦点F1に位置するように、一次反射鏡M1内に赤外線ランプ2が設けられている。一次反射鏡M1の内面にて反射された赤外線は回転楕円体の他方の焦点F2にて一旦収束する。
この収束された位置である他方の焦点F2は、二次反射鏡M2の一方の焦点F3と同じ位置であるから、二次反射鏡M2についてみると、あたかも該一方の焦点F3に赤外線ランプのフィラメントを設けたかのようになる。該一方の焦点F3にて一旦収束した赤外線は、再び発散されて二次反射鏡M2の内面にて反射される。
そして回転楕円体である二次反射鏡M2の内面にて反射されてなる赤外線は、二次反射鏡M2の他方の焦点F4において再び収束される。
このとき、二次反射鏡M2の他方の焦点F4に被加熱物3を位置させると、該被加熱物は収束された赤外線によって急速に、かつ高温に加熱されることになる。
このため、一次反射鏡M1には赤外線ランプ2を設けるために穴を開ける必要があり、さらに二次反射鏡M2との間で光路を形成するに必要な、一次反射鏡と二次反射鏡の接続部4を設ける必要もある。
同様に二次反射鏡M2には一次反射鏡M1から赤外線を導入するに必要な光路を設けるために一次反射鏡M1との間の接続部4を設けなくてはならないし、二次反射鏡M2の他方の焦点F4が被加熱物3表面上に位置するか、あるいは被加熱物表面の中心と二次反射鏡M2の一方の焦点F3とを結ぶ直線上に位置するように、二次反射鏡M2には、被加熱物3に向けて赤外線を照射するための開口部5を設けなくてはならない。
上記の構成において、一次反射鏡M1及び二次反射鏡M2には、それらの内面に設けた反射面の面積を可能な限り大きくすることが、赤外線ランプ2から発生する赤外線を、被加熱物3を加熱するためのエネルギーとして有効に利用するために必要である。そして照射対象の物質が小さい場合には特に、二次反射鏡に設けた開口部5による開口は小さいほど良い。そのために二次反射鏡M2はなるべく細長い形状とすることが好ましい。
このため、一次反射鏡M1の一方の焦点F1に赤外線ランプ2を設置する際に、一次反射鏡M1の楕円の短軸に対する長軸の比が可能な限り1に近いほど、図3に示すように焦点から放射された赤外線の一部が赤外線ランプ2自身が障害となることによって赤外線ランプ自身によって吸収されるか、あるいは本来の反射をしない光線の量が少ない。そのため一次反射鏡M1の内面により多くの赤外線が当たり、反射されて二次反射鏡M2に向けることが可能になる。しかし、上記の比が1に近すぎると一次反射鏡M1が球に近くなるので、二次反射鏡M2に向けて十分な光量の赤外線を供給できる程度の楕円形状を保てないない可能性がある。
模式的に示す図3は、一次反射鏡M1の楕円の短径に対する長径の比が小さくてより1に近い例であり、一方の焦点F1に設けた赤外線ランプのフィラメントから放射された赤外線は60°より明らかに小さい角度θ1に向けた成分のみが赤外線ランプ2自身に向けて放射され、残りの300°を超えるような広い範囲の赤外線成分を一次反射鏡M1の内面に反射させることが可能である。
しかしながら、同じく模式的に示す図4のように、一次反射鏡M1の楕円の短径に対する長径の比が大きい場合には、一次反射鏡M1の形状は細長いものとなり、焦点と内面が接近した形状を呈する。そのため、一方の焦点F1に赤外線ランプ2を設置すると、図3にて示す例よりも明らかに放射された赤外線の多く、つまりθ2のより広角に放射された成分が反射面に到達せず、図4においてはおよそ250°の範囲の程度の赤外線しか反射面に到達しないことがわかる。
その結果、一次反射鏡M1の楕円の短径に対する長径の比を可能な限り小さくすることが、赤外線ランプ2から放射された赤外線を加熱のために有効に活用すること、つまり被加熱物をより効率よく加熱するために必要であることが解る。そして、赤外線ランプ自体が吸収する熱量が削減されるために、集光鏡装置自体の温度上昇も抑制される傾向にある。
また、このような短径に対する長径の比を小さくすることにより、結果的に赤外線ランプ2と一次反射鏡M1の内面との距離が長くなるので、一次反射鏡M1が局所的に加熱される温度をより低くすることができる。
この一次反射鏡M1の短径に対する長径の比は、好ましくは1.1〜2.0であり、より好ましくは1.1〜1.5である。
さらに、二次反射鏡M2は上記のように被加熱物3に向けて赤外線を放射するための開口部5が設けられている。
例えば被加熱物3に対してガスを供給しつつ処理を行うために、被加熱物3の上方から下方にかけて石英管6等を設ける場合には、二次反射鏡M2と該石英管6等が干渉することは避けなければならない事項である。
そのため、二次反射鏡M2に設ける該開口部5は、単に赤外線を放射するために設けるのではなく、該石英管6等の大きさや位置、移動範囲等を考慮して設けることが求められる。このような事項を考慮して設けられる該開口部5は、可能な限り小さくすることが好ましい。それにより、反射鏡M2から出た赤外線が発散して被加熱物3に照射されない成分を削減することができ、より多くの赤外線を被加熱物3に照射して、温度上昇に寄与させることができる。加えて、被加熱物3に照射されず、その周囲を加熱する赤外線成分も削減することが可能となる。
このように、該石英管に限らず、被加熱物に加熱以外の何らかの処理を行う場合には、その処理手段と二次反射鏡M2が干渉しない程度に開口部5を設けることができる。
本発明の集光鏡式加熱炉1において、二次反射鏡M2の他方の焦点F4が被加熱物上に位置するように二次反射鏡M2を設けてもよいし、あるいは、二次反射鏡M2の2つの焦点を結ぶ直線上に被加熱物表面3の中央部を位置させる限りにおいて、必ずしもF4が被加熱物3上に位置しないようにしてもよい。
つまり、赤外線ランプ2のフィラメントが被加熱物3表面に結像して、均一に加熱することが困難である場合には、フィラメントの像が結像しない範囲にて、より均一に加熱を行うために、他方の焦点F4が被加熱物3上に位置せず、あえてデフォーカスさせるように、被加熱物3の中心、及び二次反射鏡M2の2つの焦点F3及びF4を結ぶ直線上に被加熱物3の中央部を位置させると共に、二次反射鏡M2の他方の焦点が位置しないようにすることもできる。
図2は本発明の他の例の集光鏡方式加熱炉の上面図の概要ではあるが、集光鏡装置7を3つ設け、これらの集光鏡装置7及び又は被加熱物を図示しない手段により任意に垂直方向及び水平方向に移動可能とすることにより、被加熱物表面の中心部と二次反射鏡の他方の焦点との位置関係を調整することが可能となる。また図2においては3つの集光鏡装置7の間には空間が形成されるので、この空間には必要に応じて集光鏡装置7を冷却するための装置、あるいは被加熱物の搬送、処理等のための装置を設置してもよい。
図5に、本発明の集光鏡方式加熱炉の別の態様を示す。この図5にて示す集光鏡方式加熱炉は、図1(a)及び2にて示す集光鏡方式加熱炉とは基本的な構造において共通するものの、一次反射鏡M3と二次反射鏡M4との接続の態様において異なる形式を有する。つまり、一次反射鏡M3と二次反射鏡M4とは、これらを構成する回転楕円体のそれぞれの焦点が1つの直線上に位置せず、二次反射鏡M4に対して一次反射鏡M3は上方に折れるようにして接続されることにより、一次反射鏡M3の楕円の焦点を結ぶ直線と、二次反射鏡M4の楕円の焦点を結ぶ直線の2つの直線が同一直線上にない例である。
この例は図1(a)及び2に記載されているような2つの直線が同一直線上にある装置とは異なる。このような形式を備えることにより、集光鏡方式加熱炉1の幅方向の大きさをより小さくすることが可能となるし、一次反射鏡M3及び使用する赤外線ランプ2を垂直に設置することによって、赤外線ランプ2の交換等の装置のメンテナンス等を上方から行い得るのでより容易になり、冷却のための装置を設置する際の作業性も向上する。
また、図5に示すように一次反射鏡M3を立てるのではなく、横に寝かせるように設ける場合には、反射鏡装置全体の高さを低くすることができ、しかも、赤外線ランプを一次反射鏡M3に対して真横から設置することも可能となり、横からのメンテナンスが容易となり、冷却のための装置を設置する際の作業性も同様に向上する。
(第3の集光鏡方式加熱炉)
本発明の第3の集光鏡方式加熱炉に関して、図6(a)及び7に示すように、図面にて見る限り、その構成が第2の集光鏡方式加熱炉と同じ図1(a)及び5で示す構成を基本とするが、第3の集光鏡方式加熱炉1は、第2の集光鏡方式加熱炉1にて使用した二次反射鏡M2及びM4を、回転楕円鏡ではなく回転放物面鏡M5又はM6に置き換えることにより第3の集光鏡方式加熱炉1としている。
この第3の集光鏡方式加熱炉に使用される反射鏡装置の概念を図6(b)に示す。この図6(b)においては、反射面が回転楕円体である一次反射鏡M1の一方の焦点F1に光源が位置する。この光源から放射された光は一次反射鏡M1により反射されて、他方の焦点F2にて結像する。この焦点F2は反射面が回転放物面体である二次反射鏡M2の焦点F3と共通であり、この焦点F2かつF3にて結合した光は再度拡散する。
その後、二次反射鏡にて反射することにより光は平行光となり、その平行光の状態にて被加熱物3の表面上に照射される。
該回転放物面鏡M5及びM6の焦点F5は一次反射鏡M1及びM3の他方の焦点と共通しているので、第2の集光鏡方式加熱炉と同じようにして、赤外線ランプから放射された赤外線は回転放物面鏡である二次反射鏡M5又はM6に導入される。一旦この二次反射鏡M5及びM6の回転放物面鏡の焦点に導入された赤外線は、直接これらの二次反射鏡M5又はM6の被加熱物側開口部5から放射されたり、又は、二次反射鏡M5又はM6の内面にて反射した後に被加熱物側開口部5から放射される。
この第3の集光鏡方式加熱炉1についても、第2の集光鏡方式加熱炉1と同様に、二次反射鏡M5及びM6に設ける該被加熱側開口部5は、単に赤外線を放射するために設けるのではなく、該石英管等の装置に付属する部材や設備の大きさや位置あるいは移動等を考慮して設けることが求められる。このような事項を考慮して設けられる該被加熱側開口部5は、可能な限り焦点から遠い位置に設けることが、二次反射鏡M5及び6から出た赤外線の発散する量を削減させ、より多くの赤外線を被加熱物に照射して、温度上昇に寄与させる点からみて好ましい。
本発明の第3の集光鏡方式加熱炉1においても、第2の集光鏡方式加熱炉1と同様に集光鏡装置7の間には空間が形成されるので、この空間には必要に応じて集光鏡装置7を冷却するための装置、あるいは被加熱物の搬送、処理等のための装置を設置してもよい。
(第4の集光鏡方式加熱炉)
第4の集光鏡方式加熱炉については、図8を示して説明をする。
まず、このような集光鏡方式加熱炉101において環状反射面106を構成する曲面について述べる。
本発明の第4の集光鏡方式加熱炉は、集光鏡方式加熱炉において、楕円面等の閉じた空間からなる一次反射鏡を形成する環状反射面を形成し、赤外線ランプが閉じた空間内に設置される。それと共に赤外線ランプと被加熱物の間を結ぶ直線と、環状反射面が交差する箇所の環状反射面に、放物線面等を構成する形状の二次反射面を形成するスリットを形成して、赤外線ランプ103から放射された赤外線を直接被加熱物に照射する、あるいは環状反射面及び又は放物面からなる鏡に反射して被加熱物に照射するようにした装置を基本とする。加えて、反射面がガスの流路若しくは石英管等の管107を囲むように環状に形成される構造としてもよい。
図8は第4の集光鏡方式加熱炉の一つの例の断面の概念図であり、赤外線ランプ103から放射された赤外線を反射するための内面が反射面である。図8で示す断面が楕円面等の閉じた反射面106と、断面が放物線からなる放物面111が複合してなる環状体(以下、「環状反射面」という。)は一部しか示されていないが、図示された反射面106は環状反射面の一部であり、被加熱物に向けて赤外線ランプ103から放射された赤外線が直接及び環状反射面に反射して被加熱物102に照射される。
この楕円面等の反射面106や放物面等からなるスリット111は、上記の第2及び第3の集光鏡方式加熱炉とは異なり、楕円の2つの焦点を結ぶ線や放物線の対称軸を中心に回転させてなる回転楕円面や回転放物面ではなく、楕円と交差しない回転軸や放物線の対称軸に対して斜めに交差する軸を中心に回転してなる楕円面等のドーナツ状の空間や回転されてなる放物面である。
この第4の集光鏡方式加熱炉においても、被加熱物102の全面が均一に加熱されることが必要であるから、楕円面等の反射面106に反射された赤外線は被加熱物102の面にて焦点を結ぶのではなく、ある程度の拡がりを持った光とすることもできる。また、焦点を結んだ場合でも被加熱物102の全面を均一に加熱可能であれば、被加熱物上にて焦点を結ぶようにしてもよい。
反射面106の断面が楕円面の場合、赤外線ランプ103が楕円の焦点のうちの被加熱物から遠いほうの焦点にあると、より被加熱物に近い位置にある他の焦点に放射された赤外線が焦点を結ぶ。この結果、仮に被加熱物102の面を他の焦点とするとして該被加熱物にて焦点を結ぶ場合、被加熱物102の面で加熱温度のばらつきが発生して、適切な処理を行うことができない。
よって、必ずしも被加熱物102表面にて焦点を結ぶ必要がないので、楕円を楕円外に設けた回転軸により回転させてなる回転楕円面を基本に環状反射面を構成して、被加熱物表面に焦点を結ぶことなく赤外線を照射することができる。
なお、もちろん楕円に限定されるものではなく、任意の閉じた曲線等の閉じた線であればよい。
そして、図8の断面図に示すように、本発明の集光鏡方式加熱炉101の反射面106は、回転楕円鏡と回転放物鏡が複合してなる環状反射面であって、その間の中心を通り環に垂直な平面により切断されてなる断面において、赤外線ランプ103を囲むように閉じた曲線を示している。
なお、この赤外線ランプ103はランプ内のフィラメントから赤外線を放射するようにされてなり、フィラメントは点光源ではなくある程度の面光源あるいは線光源である。回転楕円鏡と回転放物鏡が複合してなる環状反射面は、該楕円が被加熱物に向けて傾斜されることにより、該放物線も被加熱物に向けて開口するように傾斜された状態とされる。
図8において、赤外線ランプ103が設けられた楕円の一方の焦点と他方の焦点及び被加熱物102の中心とを結ぶ線上と、楕円を示す線の交点付近の箇所に、赤外線が通過できるように回転放物面からなるスリット111が設けられ、このスリット111の箇所において該楕円が途切れており、赤外線ランプ103からみてスリット111の延長線上に被加熱物が設置されている。
図8において、赤外線ランプ103から各方向に放射された光は、なるべく少ない環状反射面106への反射回数にて被加熱物102に照射されることが、エネルギー効率向上の点から望ましい。このため環状反射面106の切断面の一部は上記の通り楕円形状とするのが望ましいが、類似する任意の形状を有していてもよい。
また、当然に図8で示される放物面を構成する該スリット111の壁面に反射して被加熱物102に照射されるような光路をたどる赤外線があってもよい。
このような装置においての第2及び第3の集光鏡方式加熱炉と同様に、石英管等の管107を集光鏡方式加熱炉101の中央部で環状反射面の管の中心を貫通するように設置することができる。管107を設置することにより、加熱と共に、あるいは加熱の前後に被加熱物に向けて管107内の上方又は下方よりガス104を供給することができる。
もちろん、この管107内に被加熱物が位置するようにしてもよいし、被加熱物の上方、又は下方に管107の端部が位置するようにしてもよい。図示しないが治具を用いて被加熱物を加工したり、あるいは側方に窓を設けることにより任意の条件下にて被加熱物102を加熱しながら加熱中の被加熱物102の状態を確認することが可能となる。
図8に示された集光鏡方式加熱炉101において使用される具体的な反射面の一例を模式図として図9に示す。
図9に示す反射面は、(a)〜(c)に示すように、F5とF6を焦点とする断面が楕円の楕円鏡等の環状反射面106と、該楕円の焦点の1つであるF6を焦点として共有する断面が図8における放物線の二次反射鏡M8である放物面鏡等のスリット111を複合してなる形状を有している。
例えば、環状反射面M7を楕円とした場合、環状反射面M7において実線で示される部分は赤外線を反射させるための鏡を構成した部分であるが、破線で示される部分は実際には鏡とはなっておらず、開口部を形成しており、図9における楕円鏡であることを表すために描いた楕円の一部分である。
同様に図8に示す放物面鏡を示すM8のスリット111のうち、実線で示される部分は赤外線を反射させるための鏡を構成した部分であるが、破線で示される部分は実際には鏡にはなっておらず、放物線を構成するものの、図9においてスリット111が放物面鏡であることを示すために描いた放物線の一部である。
図9においては、F5に設置した赤外線ランプから放射された赤外線が、どの経路を辿って反射鏡から被加熱物に向けて放射されるのかを場合分けして示している。(a)に示すように、赤外線ランプから放射された赤外線の一部は、該スリット111内面で反射せずに、あるいは反射して平行光となってスリット111を通過して直接被加熱物に照射される。
また、赤外線ランプから放射された赤外線のほとんどは、(b)及び(c)のように環状反射面M7に当たり、これが二次反射鏡であるM8の回転放物面にて1回以上反射して該スリット111を通過して被加熱物102に照射される。
(b)においては、F5に設置した赤外線ランプからスリット111とは反対側に向けて放射された赤外線が、楕円鏡等の環状反射面M7で1度反射された後、直接、あるいはスリット111に反射されて被加熱物に向けて進む光路の場合が示されている。
(c)においては、F5に設置した赤外線ランプから赤外線ランプ側方の(a)又は(b)の方向でない方向に向けて赤外線が放射された場合であって、赤外線が楕円鏡等の環状反射面M7で1度反射されて、その後直接被加熱物に照射されるのではなく、スリット111にて1回以上反射した後に被加熱物に照射される光路を辿る場合が示されている。
上記のように、環状反射面M7の切断面は環状反射面とスリットが複合してなり、赤外線ランプ103がその楕円等の環状反射面の焦点、あるいは焦点ではなくても焦点に近いものの位置に設置されている。しかしながら、被加熱物は該楕円の他方の焦点等に位置してないので、環状反射面M7にて反射された光は被加熱物102の加熱面にて焦点を結ぶことがなく、被加熱物102の表面に均一に当たることになり、被加熱物102は赤外線ランプのコイルの形状を映すことがない。
このような(a)〜(c)に示されるように、赤外線ランプから放射された赤外線の多くを、被加熱物に照射させることができるので、赤外線ランプから放射されたエネルギーの多くを加熱に費やすことが可能となり、加熱効率が向上することが明らかである。
もちろん、図8及び9における環状反射面は楕円ではあるが、その楕円形状を基本として、一部の面が直線等の楕円でない形状を呈するものでもよい。
さらに、図9にて示す事項は本発明の第1〜3の集光鏡方式加熱炉における光の光路についても準じていえる事項である。
図10は環状反射面を構成するための部材を組合せたものを下から見た図であって、特に右半分は赤外線ランプ103の部分で切断した図である。
図10においては環状反射面は完全に閉じた環ではなく、電源コードに接続された2つの赤外線ランプ103を、それぞれ1つずつ収容できる略半分の環状反射面106を2つ備えてもよく、それぞれの赤外線ランプ103は図示されていない部材により固定されている。このように、環状といっても装置の組み立て上、あるいは赤外線ランプの構造上、360°にわたる完全な環になっておらず、赤外線ランプの屈曲部付近は環が途切れている場合もあるが、その環の途切れは360度のうちの一部に留め、被加熱物表面に加熱ムラを生じないようにする必要がある。
加えて、その赤外線ランプ103の固定部に、環状反射面106で構成される区域内に冷却用空気の供給口と排出口を設けておくことにより加熱時の高温加熱路自体の過熱が防止される。
さらに、図10には示されていないが、下面にはスリットが形成され、環状反射面の環の周方向に沿って延びている。
本発明における環状反射面106は、反射面が構成する環の径が120〜160mm、環状反射面の環の中心を通り環に垂直な面による切断面の長軸方向は45〜55mm、短軸方向は35mm〜45mmである。どちらもあまり小さいと赤外線ランプが反射面との十分な距離を保持して挿入できないこと、あまりに大きいと集光鏡方式加熱炉自体の小型化が困難になる可能性があるし、そもそも、赤外線ランプの出力にもよるが、数秒以内に2000℃以上に加熱する場合でもこの大きさの反射面で十分である。
環状反射面106を構成する部材はアルミニウム合金等でよく、安定で熱膨張性が小さく、耐熱性に優れた金属部材からなる。よって、その環状反射面106を構成する部材も環状の金属部材であり、赤外線の反射効率が高い金によりメッキされていることが好ましい。このためにその環の中心に石英管等を挿入して、石英管内にて単結晶の生成等を行うことができる。また、CVD等の処理を行うことも可能である。
そのような処理が可能なように、該環状金属部材自体の外径が190〜230mm、好ましくは200〜220mm、その厚さは60〜80mm、好ましくは65〜75mm、その中心の穴部分の径は30〜40mmである。外径の範囲は中に形成する環状反射面106の大きさを反映し、それに金属部材の肉厚等を加えたものであり、厚さも同様に環状反射面106の厚さに金属部材の肉厚等を加えたものである。該環状金属部材の中心の穴の外径は中に石英管等の部材を貫通できる大きさが必要である。
環状反射面106に設けた上記のスリットは、被加熱物を均一に加熱できるように放物線により形成されており、具体的には、赤外線ランプ103と被加熱物を結ぶ線が通過できるように設けられている。そして該スリットの内面にも赤外線が反射できるように環状反射面106の表面と共に、赤外線の反射率が高い金等の材料でメッキ等の手段により被覆されている。
そして該スリットは、可能な限り被加熱物まで延ばされることが、より赤外線を被加熱物に照射させるために必要である。このため、環状金属部材のスリットを構成する下部の部分が延びるように形成されている。
効率のよい加熱及び装置の小型化のために、赤外線ランプ103と被加熱物中心の最短の直線距離は70〜95mm、好ましくは75〜90mm、スリット上部からは30〜40mmである。
この距離が大きくなると効率よい加熱及び小型化が困難になり、小さい場合には、装置の運転、均一な加熱が困難になる可能性がある。
このようなそれぞれの部材等の大きさを考慮すると、本発明の集光鏡方式加熱炉は、水平に設置された被加熱物表面が20〜70°の角度で照射される赤外線により加熱されるように構成されるようにすることが好ましい。この角度が30°未満であると、環状反射面から放射される赤外線を効率よく被加熱物に照射させることができず、赤外線が被加熱物を外れて他の部材に照射されることになる恐れを生じる。またこの角度が70°以上であると、被加熱物の垂直上に治具を設置したり、ガスを供給する装置を設けることができる空間を確保することが困難になる。
図10において電源コード112を備えた赤外線ランプ103は環状反射面の半分ずつに1つ設置されており、赤外線ランプ103はその両端において加熱炉に固定されている。このような構成によると、2つの赤外線ランプ103を設置した状態において被加熱物に対してほぼ全方向から赤外線の照射を行うことができる。赤外線ランプ103は2つでなくてもよく、なるべく全周にわたって赤外線ランプ103を設置できる範囲において1つ、あるいは3つ以上に分けて設置されていてもよい。
環状反射面106及び環状金属部材は運転中に赤外線ランプからの赤外線を吸収して加熱されるため、集光鏡方式加熱炉には冷却装置を設置することが不可欠である。図8にもどり、環状反射面106等の装置に関して説明する。
図8には、環状反射面106を構成する環状金属部材を冷却するために、予め環状金属部材の外面に冷却水を通す冷却ジャケット113のための溝部を設けておき、取り付けた蓋部材114との間で形成された冷却ジャケット113を設け、これに冷却水供給パイプ115を冷却水供給ポート116を介して接続されている。環状金属部材の上面にのみ冷却水を通しているが、環状金属部材の周等の他の部分にも冷却水を通過させる構造を設けてもよい。
図11において本発明の集光鏡方式加熱炉101の上面を示す。円形を示す集光鏡方式加熱炉101の上面には冷却水供給パイプ115及び冷却水排水パイプ117がそれぞれ冷却水供給ポート116及び冷却水排水ポート118を介して接続されている。図11に記載された破線の中で最も大きい区域を取り囲む線は上面からはみえないが環状反射面106の位置を示し、その内側の破線で囲まれた区域は冷却ジャケット113を示している。
冷却水供給パイプ115から冷却水供給ポート116を介して冷却ジャケット113に供給された水は冷却ジャケット113内を流れ、冷却ジャケット113内にて環状金属部材を冷却し、次いで冷却水排水ポート118を介して冷却水排水パイプ117から排出される。
排水された水が図示されていないラジエータに供給されて、そこで冷却用空気により空冷されることにより冷却される。その冷却された水は再度加熱炉に接続された冷却水供給パイプを介して冷却ジャケットに供給されるという循環経路をたどることになる。
もちろん、ラジエータに供給して循環させずに外部から新たに冷却水を供給してもよいが、冷却水を装置外部から供給するためのパイプを接続する必要が生じるので、加熱炉の配置箇所が制限されかねず、このためラジエータ等の冷却装置を介してポンプにより冷却水を循環させるのが好ましい。
本発明の第2〜3の集光鏡方式加熱炉において、赤外線ランプ103は公知の赤外線ランプを使用できるが、好ましくはハロゲンランプであり、赤外線ランプ103はフィラメントにより赤外線を放射する形式であってもよい。
さらに、必要性を鑑みて、例えば赤外線ランプ103を環状反射面106に固定するための部材に、環状反射面106内を冷却するための空気を導入、排出するための開口部を設けることもできる。その場合、冷却用空気は赤外線ランプ103と環状反射面との間隙を通過してこれらを冷却できるので、供給された冷却用空気が効率よく冷却に使用されることになる。
また図示はしないが、本発明の第2〜3の集光鏡方式加熱炉は公知の加熱炉と同様に、フレームカバー内において支持部材により支持された構造を有し、集光鏡方式加熱炉を収納するフレームカバーは天板、前扉、側板、背板、底板からなり、該前扉の開閉により被加熱物等の挿入、取り出しを行う。天板には単結晶を生成する際に使用する石英管等の長尺部材を挿入するための開口部を設けてもよく、また、天板、側板、背板、底板には、赤外線ランプのための電源コード、冷却水の供給、排出のためのパイプ、及び集光鏡方式加熱炉内に処理用気体を流通させるための気体の供給及び排出のためのパイプを通す開口部、赤外線ランプと反射面を共に冷却用空気で冷却する場合には、その冷却用空気を供給、排出するためのパイプを通す開口部を設けることができる。
さらに、フレームカバーに覗き窓を設けると被加熱物を装置外より観察することができる。
本発明の集光鏡方式加熱炉を収納した該フレームカバーは、架台上に設置され得る。架台には加熱炉の電源やコントローラー、ラジエーター、冷却水の循環装置、冷却用空気の供給装置、被加熱物の移動装置等、加熱炉を運転するための各種装置を設置してもよい。
単結晶育成装置とする際には、模式図である図12に示すように、環状反射面206の環の中心を貫通するように石英管207を挿入し、該管内にて多結晶の原料棒209と種結晶棒210をそれぞれ上下の固定手段208に固定しこれを駆動させる。そして、赤外線ランプ203から放射された赤外線が環状反射面206に反射して、上記多結晶の原料棒209と種結晶棒210を加熱しつつ、これらの原料棒209と種結晶棒210が下方に移動しながら単結晶を生成させていくことができる。
このように、本発明では、従来の回転楕円面に赤外線を反射させてなる側方からの加熱を行う装置の構造ではないので、加熱されている被加熱物の側方から被加熱物を確認でき、加熱中においてもCVD炉や単結晶育成装置の運転状況を把握することが可能である。
さらに、被加熱物に対して斜め上方より赤外線を照射して加熱するので、赤外線ランプ203及び環状反射面206の位置を被加熱物の上方に位置させることが可能となり、環状反射面206自体の大きさは従来の回転楕円面を採用した場合と比較して小さく、赤外線ランプ203及び環状反射面206と被加熱物との間をより狭くすることができる。
このような集光鏡方式加熱炉を用いて処理する方法を示す。例えば図12において環状反射面206が設けられた環状金属部材の中心部の穴に石英管207を挿入し、例えば該石英管207の下部側の開口端より被加熱物を挿入固定して、赤外線ランプ203からの赤外線が放射される位置に固定する。必要により該石英管207内を処理気体で置換・気体を供給した状態とし、また、冷却ジャケットに冷却水を供給、流通させ、赤外線ランプ203の固定部より赤外線ランプ203を冷却するための空気を導入して流通させる。
この状態において、赤外線ランプ203の電源を入れて加熱を開始し、温度を管理しながら、所定の処理を行った時点において加熱温度を下げる。処理後には、被加熱物を石英管207の下端より取り出し、次の処理工程に向けて搬送を行う。
続いて、加熱処理を行う場合には、冷却のための水や空気の供給はそのまま止めることなく、次の被加熱物を石英管207の下端より挿入し、固定した後に加熱を行うものである。もちろん、石英管207は必ずしも使用しなくてはならないものではなく、必要により使用の有無を任意に決定することができる。
本発明の集光鏡方式加熱炉により加熱される被加熱物としては、ガラス、半導体材料、金属、セラミック、樹脂等通常加熱により加工される物であれば対象となる。LSI、MEMS等の製造工程の一部等にも使用することが可能である。
具体的には蒸着装置、CVD炉、単結晶製造装置等の加熱を伴う装置として使用することができる。
これらの用途によって被加熱物の大きさがある程度決定するが、本発明では任意の大きさの被加熱物を処理可能であり、好ましくは径が50mm以下、さらに好ましくは30mm以下、特に好ましくは15mm以下が適切である。
そして、被加熱物の形状としては、光が照射される面が平面であればよく、また、本発明の目的を逸脱しない範囲において平面でない面でもよい。
また、本発明の集光鏡方式加熱炉によれば、加熱開始から数秒後には被加熱物表面の温度を2000℃以上に加熱することができ、被加熱物を加熱処理する速度を向上させることができる。

Claims (21)

  1. 光源から放射された光を反射鏡装置により反射させて被加熱物に照射させ、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉であって、
    反射鏡装置は一次反射鏡及び二次反射鏡よりなり、光源から放射された光を一次反射鏡及び二次反射鏡に順に反射させて被加熱物に照射し、該二次反射鏡に反射して被加熱物表面に照射される光は、該被加熱物表面に対して垂直に照射されない、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉。
  2. 光源から放射された光を反射鏡装置により反射させて被加熱物に照射させ、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉であって、
    光源が内部に設置された反射鏡装置を1つ以上有し、
    該反射鏡装置は、回転楕円体の内面を反射面とした回転楕円体鏡を2つ組み合わせてなり、そのうちの一方の回転楕円体鏡を一次反射鏡、他方を二次反射鏡とし、
    一次反射鏡の一方の焦点に光源が位置するように一次反射鏡に光源を設置すると共に、他方の焦点が二次反射鏡の一方の焦点と同じ位置に位置するように、一次反射鏡に設けた開口部と、二次反射鏡に設けた開口部を互いに接続し、二次反射鏡の他方の焦点が、加熱炉内に載置された被加熱物の被加熱面の中心点に位置するように反射鏡装置を設け、光が被加熱面に照射されるように二次反射鏡の他方の焦点側に被加熱面に向けて光が通過できる開口部が設けられており、
    二次反射鏡を構成する楕円の長軸は該被加熱面に対して垂直ではない集光鏡方式加熱炉。
  3. 光源から放射された光を反射鏡装置により反射させて被加熱物に照射させ、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉であって、
    光源が内部に設置された反射鏡装置を1つ以上有し、
    該反射鏡装置は、回転楕円体の内面を反射面とした回転楕円体鏡を2つ組み合わせてなり、そのうちの一方の回転楕円体鏡を一次反射鏡、他方を二次反射鏡とし、
    一次反射鏡の一方の焦点に光源が位置するように一次反射鏡に光源を設置すると共に、他方の焦点が二次反射鏡の一方の焦点と同じ位置に位置するように、一次反射鏡に設けた開口部と、二次反射鏡に設けた開口部を互いに接続し、二次反射鏡の他方の焦点が、加熱炉内に載置された被加熱物の被加熱面の中心点とは異なる位置に位置するように反射鏡装置を設け、光が被加熱面に照射されるように二次反射鏡の他方の焦点側に被加熱面に向けて光が通過できる開口部が設けられており、
    二次反射鏡を構成する楕円の長軸は該被加熱面に対して垂直ではない集光鏡方式加熱炉。
  4. 光源から放射された光を反射鏡装置により反射させて被加熱物に照射させ、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉であって、
    光源が内部に設置された反射鏡装置を1つ以上有し、
    該反射鏡装置は、回転楕円体の内面を反射面とした回転楕円体鏡を2つ組み合わせてなり、そのうちの一方の回転楕円体鏡を一次反射鏡、他方を二次反射鏡とし、
    一次反射鏡の一方の焦点に光源が位置するように一次反射鏡に光源を設置すると共に、他方の焦点が二次反射鏡の一方の焦点と同じ位置に位置するように、一次反射鏡に設けた開口部と、二次反射鏡に設けた開口部を互いに接続し、二次反射鏡の他方の焦点が、加熱炉内に載置された被加熱物の被加熱面の中心点を通る法線上に位置するように反射鏡装置を設け、光が被加熱面に照射されるように二次反射鏡の他方の焦点側に被加熱面に向けて光が通過できる開口部が設けられており、
    二次反射鏡を構成する楕円体の長軸は該被加熱面の該法線に対して斜めに位置してなる集光鏡方式加熱炉。
  5. 一次反射鏡を構成する楕円の短径に対する長径の比は、二次反射鏡を構成する楕円の短径に対する長径の比以下である請求項2〜4のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
  6. 二次反射鏡の楕円の2つの焦点を結ぶ直線上に光源が位置するように、一次反射鏡と二次反射鏡を接続してなる請求項2〜5のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
  7. 一次反射鏡の楕円の2つの焦点と二次反射鏡の楕円の2つの焦点とが、同一直線上にないように、一次反射鏡と二次反射鏡を接続してなる請求項2〜5のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
  8. 被加熱面表面と、二次反射鏡の楕円の2つの焦点を結ぶ線とのなす角度が20〜70°である請求項2〜7のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
  9. 光源から放射された光を反射鏡装置により反射させて被加熱物に照射させ、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉であって、
    光源が内部に設置された反射鏡装置を1つ以上有し、
    該反射鏡装置は、回転楕円体の内面を反射面とした回転楕円体鏡を一次反射鏡とし、回転放物面体の内面を反射面とした回転放物面鏡を二次反射鏡として組み合わせてなり、
    一次反射鏡の2つある焦点の内の一方の焦点に光源が位置するように一次反射鏡に光源を設置すると共に、他方の焦点が二次反射鏡の焦点と同じ位置に位置するように一次反射鏡に設けた開口部と、二次反射鏡に設けた開口部を互いに接続し、二次反射鏡の回転放物面鏡の回転軸と、炉内に載置された被加熱物の被加熱面の中心点が1本の直線上に位置するように集光鏡装置を設け、光が被加熱面に照射されるように二次反射鏡の開口部が被加熱物に向けて設けられており、
    二次反射鏡の該回転軸は被加熱面表面に対して垂直ではない集光鏡方式加熱炉。
  10. 一次反射鏡の焦点とその楕円面との最短距離が、二次反射鏡の焦点とその放物線との最短距離よりも大である請求項に記載の集光鏡方式加熱炉。
  11. 一次反射鏡の2つの焦点が回転放物面鏡である二次反射鏡の回転軸の延長線上に位置するように、一次反射鏡と二次反射鏡を接続してなる請求項9又は10に記載の集光鏡方式加熱炉。
  12. 一次反射鏡の2つの焦点が回転放物面鏡である二次反射鏡の回転軸の延長線上に位置しないように、一次反射鏡と二次反射鏡を接続してなる請求項9又は10に記載の集光鏡方式加熱炉。
  13. 被加熱面の法線と、二次反射鏡の回転軸とのなす角度が20〜70°である請求項9〜12のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
  14. 光源から放射された光を反射鏡装置により反射させて被加熱物に照射させ、被加熱物を加熱するための集光鏡方式加熱炉であって、
    該反射鏡装置は、該被加熱面の中心を通る法線と同一の平面にあり、該法線と交差しない閉じた曲線を該法線を回転軸として回転させてなる環の内面の一部を反射面とした一次反射鏡を有し、
    環状の該一次反射鏡を形成する環内に、光源を該環の円周方向の一部又は全部にわたって設置し、
    さらに該被加熱物は、該法線と垂直ではあるが環と交差しない平面上に設置され、該被加熱面の中心と該光源を結ぶ最短の直線と、該反射面との交点付近の該反射面に光を被加熱物に照射するためのスリットを設け、
    該スリットを形成する第一反射面の端部には、第二反射面を形成する反射面を接続してなる集光鏡方式加熱炉。
  15. 該法線と、該光源と被加熱物表面中心とを結ぶ線とのなす角度が20〜70°である請求項14に記載の集光鏡方式加熱炉。
  16. 環状の該一次反射鏡を形成する環内に、環状の光源を円周に沿って設置し、
    該環状光源からの光を被加熱面に集中させる反射板を、その反射面が、該環状光源がつくる円周に対して垂直に設置されてなる請求項14又は15に記載の集光鏡方式加熱炉。
  17. 加熱時において、該反射鏡と被加熱物との相対的な位置を可変とした請求項1〜16のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
  18. 加熱時において、被加熱物の温度、被膜形成時の膜厚等の被加熱物の状態を、被加熱物の真上、斜め上、及び横の少なくとも1方向から確認できるようにしてなる請求項1〜17のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
  19. 加熱時において、該被加熱物を回転可能とした請求項1〜18のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
  20. 被加熱物を内部に設けるようにした管を囲むように、反射鏡を設けてなる請求項1〜19のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
  21. 被加熱物表面に集光鏡の焦点が位置しない請求項1〜20のいずれかに記載の集光鏡方式加熱炉。
JP2013547235A 2011-12-02 2012-11-30 集光鏡加熱炉 Active JP5765750B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013547235A JP5765750B2 (ja) 2011-12-02 2012-11-30 集光鏡加熱炉

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011264939 2011-12-02
JP2011264939 2011-12-02
PCT/JP2012/081093 WO2013081107A1 (ja) 2011-12-02 2012-11-30 集光鏡加熱炉
JP2013547235A JP5765750B2 (ja) 2011-12-02 2012-11-30 集光鏡加熱炉

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2013081107A1 JPWO2013081107A1 (ja) 2015-04-27
JP5765750B2 true JP5765750B2 (ja) 2015-08-19

Family

ID=48535555

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013547235A Active JP5765750B2 (ja) 2011-12-02 2012-11-30 集光鏡加熱炉

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9777375B2 (ja)
JP (1) JP5765750B2 (ja)
KR (1) KR101677819B1 (ja)
CN (1) CN104011491B (ja)
WO (1) WO2013081107A1 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013113600B4 (de) 2013-12-06 2021-09-23 Technische Universität Dresden Prüfvorrichtung und hochfokussierende Heizvorrichtung zur Erzeugung hoher Wärmestromdichten
KR101581341B1 (ko) * 2014-02-03 2015-12-31 한국교통대학교산학협력단 복수의 독립된 광 경로를 갖는 광 도파관 및 그를 이용한 광학적 가스센서
CN107429973A (zh) * 2014-08-03 2017-12-01 普拉迪普金属有限公司 微波复合加热炉
JP6732235B2 (ja) * 2014-12-02 2020-07-29 国立研究開発法人産業技術総合研究所 集光鏡方式加熱炉
CN108028214B (zh) * 2015-12-30 2022-04-08 玛特森技术公司 用于毫秒退火系统的气体流动控制
WO2020086091A1 (en) * 2018-10-26 2020-04-30 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Mirror assemblies for three dimensional printers
CN109548222B (zh) * 2019-01-17 2024-04-12 西南石油大学 一种加热装置及用于制备长线材超导体的综合热处理系统

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62292265A (ja) * 1986-06-11 1987-12-18 Hitachi Ltd 光ビ−ム式加熱装置
JPH067507B2 (ja) * 1986-06-18 1994-01-26 株式会社日立製作所 加熱装置
JPH05205852A (ja) * 1992-01-23 1993-08-13 Seiko Instr Inc 赤外線加熱装置
JP3772933B2 (ja) * 1996-03-22 2006-05-10 株式会社村田製作所 3価のセリウムを含む磁性ガーネット単結晶の製造方法
JPH11255593A (ja) 1998-03-12 1999-09-21 Super Silicon Kenkyusho:Kk 原料溶解補助装置
JP3233280B2 (ja) 1999-01-28 2001-11-26 日本電気株式会社 半導体装置の製造方法
JP4090170B2 (ja) 1999-12-14 2008-05-28 有限会社トステック 赤外線高温加熱炉
JP2002249399A (ja) * 2001-02-21 2002-09-06 Murata Mfg Co Ltd 単結晶の製造方法および単結晶
JP4405320B2 (ja) * 2003-06-12 2010-01-27 古河機械金属株式会社 赤外線加熱単結晶製造装置
JP4226466B2 (ja) * 2003-12-26 2009-02-18 株式会社ユニテック 反射光学系、拡散光源測定装置の反射光学系および拡散光源測定装置ならびにその測定方法
US20070131162A1 (en) 2004-02-05 2007-06-14 Nec Machinery Corporation Single crystal growing apparatus
JP3668738B1 (ja) 2004-02-09 2005-07-06 Necマシナリー株式会社 単結晶育成装置
JP5067596B2 (ja) 2005-11-24 2012-11-07 独立行政法人産業技術総合研究所 サファイア単結晶製造方法及びその製造装置
JP2008107050A (ja) 2006-10-27 2008-05-08 Iwasaki Electric Co Ltd 高温加熱炉
EP2128308B1 (en) 2007-01-10 2012-03-14 Crystal Systems Corporation Floating zone melting apparatus
JP5481715B2 (ja) * 2007-10-22 2014-04-23 株式会社ブイ・テクノロジー レーザ加工装置及びレーザ加工方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN104011491A (zh) 2014-08-27
KR101677819B1 (ko) 2016-11-18
WO2013081107A1 (ja) 2013-06-06
US20140338591A1 (en) 2014-11-20
US9777375B2 (en) 2017-10-03
KR20140088897A (ko) 2014-07-11
JPWO2013081107A1 (ja) 2015-04-27
CN104011491B (zh) 2016-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5765750B2 (ja) 集光鏡加熱炉
TW201128708A (en) Heat treatment apparatus
JP2013197423A (ja) 熱処理装置
CN106463399B (zh) 用于低压热处理的光导管结构窗
JP4911819B2 (ja) 二表面反射体
CN103572211B (zh) 物理气相沉积设备及物理气相沉积工艺
KR100970013B1 (ko) 열처리 장치
KR102227281B1 (ko) 원형 램프 어레이들
JP2002202192A (ja) 温度測定方法、熱処理装置及び方法、コンピュータプログラム、並びに、放射温度計
CN1985125A (zh) 光源模块
JP2002134430A (ja) 指向性を高める高反射率の膜を有するランプ及び熱処理装置
US20140255013A1 (en) Lamphead pcb with flexible standoffs
JP6783571B2 (ja) 放射装置及び放射装置を用いた処理装置
JP2009200330A (ja) 半導体製造装置
JP6732235B2 (ja) 集光鏡方式加熱炉
JP2015211122A (ja) 基板処理装置
KR100902633B1 (ko) 가열유닛 및 이를 구비하는 기판 처리 장치
JP4080665B2 (ja) 赤外線加熱炉
TW202405357A (zh) 具有整合的熱交換器之空氣罩
JP4666427B2 (ja) 石英ウインドウ及び熱処理装置
JP3784662B2 (ja) 熱処理装置
JPS62181422A (ja) 光照射装置
JP2008235570A (ja) 基板加熱・冷却処理装置
JP2006078019A (ja) 熱処理装置
JP2010103183A (ja) 光照射加熱装置及び光照射加熱方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150210

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20150403

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150403

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20150501

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150501

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150602

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150610

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5765750

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250