JP5764442B2 - キャップ付きテストリード収納構造及び計測機器 - Google Patents

Description

本発明は、一般には、各種測定カテゴリを測定可能なハンディＤＭＭ（デジタルマルチメータ）、ハンディクランプ、メガーなどの電圧を測定する計測機器に関するものであり、特に、各種測定カテゴリを測定可能とされたキャップ付きテストリードを備えた計測機器及び斯かる計測機器におけるキャップ付きテストリードの収納構造に関するものである。

図７に、従来の、各種測定カテゴリを測定可能な、例えばＣＡＴII（カテゴリII）及びＣＡＴIII（カテゴリIII）以上の電圧を測定可能なハンディＤＭＭのような計測機器１Ａの全体構成を示す。計測機器１Ａは、メータ本体２とメータ本体２に接続されたプラス・マイナス一対のテストリード３（３Ａ、３Ｂ）とにて構成される。メータ本体２には、測定切替スイッチ４及びデジタル表示部５などが設けられている。

プラス、マイナスのテストリード３（３Ａ、３Ｂ）は、同じ形状、構造とされ、図８（ａ）に示すように、略円柱状とされる絶縁性のグリップ３１を備えており、グリップ３１の先端部３１ａには、探針３２が端面３１ａ１から所定長さ（Ｌ１）だけ突出して設けられている。探針３２は金属製の細長棒とされ、絶縁性のグリップ３１の内部にてリード線３３と電気的に接続されている。リード線３３はグリップ３１の後端部３１ｂから引き出され、その端部は、メータ本体２に電気的に接続されている。

ユーザは、メータ１Ａを使用するに際しては、メータ本体２に設けられた、本例ではロータリスイッチとされる測定切り換えスイッチ４を回して、測定対象を設定する。

ここで、電圧を測定する場合には、安全性の点から電圧を測定する場所に応じて、即ち、測定する対象の電圧が例えば１００Ｖのコンセントとされるような低電圧の、所謂、測定場所がＣＡＴII（カテゴリーII）の電圧測定では、測定時に、プローブ先端金属部である探針３２を測定場所のコンセント内金属部に接触させることが可能であり、そのため、探針３２のグリップ先端からの突出長さ（Ｌ１）に対する束縛はない。

一方、測定する対象の電圧が例えば２００Ｖの分電盤の高電圧の、所謂、測定場所がＣＡＴIII（カテゴリーIII）以上の電圧測定では、測定時に、プローブ先端金属部である探針３２が測定場所以外の金属部に接触しにくい構造であることが要求されている。そのため、探針３２のグリップ先端面３２ａ１からの突出長さ（Ｌ１）が４ｍｍ以下とされている。

そこで、例えば特許文献１に記載するように、探針をグリップ内に移動自在に配置し、グリップ先端部に設けたチャックスリーブにより、その探針のグリップからの突出量を使用状態に応じて調整して、グリップに固定することも考えられる。

しかしながら、特許文献１の構造では、全体構造が大型となり、また、測定の度ごとにチャックスリーブによる探針突出量の調整が必要となり、操作性の点で問題がある。

このような問題を解決するために、現状では、図７、図８（ｂ）に示すように、テストリード３（３Ａ、３Ｂ）の先端部に、それぞれ、取り外し可能なキャップ５０（５０Ａ、５０Ｂ）を別個に設け、ＣＡＴIII（カテゴリーIII）以上の電圧測定時には、キャップ５０（５０Ａ、５０Ｂ）をテストリード先端部、即ち、グリップ３１の先端部領域３１ａに嵌合させて、テストリード３（３Ａ、３Ｂ）と一体として使用することが行われている。

通常、キャップ５０（５０Ａ、５０Ｂ）は、不使用時には、図７に示すように、テストリード３（３Ａ、３Ｂ）と共に、計測機器１の収納外箱１００に設けた収納部に着脱自在に納められている。

キャップ５０はグリップ３１と同様の絶縁性材料で形成され、且つ、キャップ５０の寸法形状は、キャップ５０をテストリード先端部３１ａに取り付けた状態で、探針３２のキャップ５０からの突出長さ（Ｌ２）が４ｍｍ以下となるように作製されている。

上述のように、現在使用されているキャップ５０を別個に設けた構造の計測機器は、
（１）測定対象のカテゴリが異なってもテストリードそのものを交換する必要がない。
（２）テストリード先端部に対するキャップの着脱作業のみで良い。
（３）従って、計測機器の構造を複雑としたり、また、価格を著しく増大させるものでもない。
といった利点を有している。

実公平６−４５８９８号公報

しかしながら、図７、図８（ａ）、（ｂ）に示す構造の計測機器におけるテストリード先端部に対するキャップ５０の着脱作業に注目してみると、ＣＡＴIII（カテゴリーIII）以上の電圧測定時には、以下の作業が必要となる。
ＳＴＥＰ１：計測機器外箱１００の収納部からテストリード３を外す。
ＳＴＥＰ２：収納部からキャップ５０を外す。
ＳＴＥＰ３：テストリード３にキャップ５０を取付ける。
ＳＴＥＰ４：測定する。
ＳＴＥＰ５：テストリード３からキャップ５０を外す。
ＳＴＥＰ６：キャップ５０を計測機器外箱１００の収納部に収納する。
ＳＴＥＰ７：テストリード３を計測機器外箱１００の収納部に収納する。

一方、ＣＡＴII（カテゴリーII）の電圧測定時には、上記ＳＴＥＰ２、３、及び、５、６が省略され、合計３ＳＴＥＰとされる。

このように、図７、図８（ａ）、（ｂ）に示す構造の計測機器にてＣＡＴIII（カテゴリーIII）以上の電圧測定時には、キャップ着脱のために多くの作業手順が必要とされ、更なる操作の簡易化が切望されている。

本発明の目的は、キャップ着脱のための作業が極めて簡単となり、キャップ着脱操作を人為的に行う必要をなくしたキャップ付きテストリードを備えた計測機器及び斯かる計測機器におけるキャップ付きテストリード収納構造を提供することである。

上記目的は本発明に係るキャップ付きテストリード収納構造及び計測機器にて達成される。要約すれば、本発明の一態様によれば、計測機器本体に接続されたテストリードに対してキャップを着脱することにより測定対象のカテゴリが異なる電圧測定が可能な計測機器におけるキャップ付きテストリードの収納構造であって、
前記テストリードの先端部に着脱可能とされる前記キャップに鍔状の被保持部を形成し、前記計測機器本体には、前記キャップの被保持部を着脱可能に保持する保持部を設け、
前記テストリードの先端部に前記キャップを装着した状態で、前記キャップ部の前記被保持部を前記計測機器本体の前記保持部に保持させ、
前記保持部は、
（ａ）前記テストリードの前記計測機器本体に対する一方向への引抜き操作では、前記キャップを保持することにより、前記テストリードだけが前記計測機器本体から取出され、
（ｂ）前記テストリードの前記計測機器本体に対する前記一方向に対して異なる他の方向への引抜き操作では、前記キャップを保持することがなく、前記テストリードは前記キャップを装着した状態で前記計測機器本体から取出される、
ことを特徴とするキャップ付きテストリードの収納構造が提供される。

本発明の一実施態様によると、前記テストリードは、細長形状のグリップと、前記グリップの先端から突出した探針と、を有し、
前記キャップは、前記細長グリップの先端部に嵌合する支持部と、前記グリップの前記探針が貫通する貫通孔が形成された探針被覆部と、を有し、前記支持部に前記鍔状被保持部を形成する。

本発明の他の実施態様によると、前記保持部は、前記キャップ付きテストリードの軸線方向に沿って互いに所定の間隙（ｇ）にて離間して配置され、前記計測機器本体に固定された第１及び第２のホルダーを有し、前記間隙（ｇ）に、前記鍔状被保持部が着脱自在に保持される。

本発明の他の実施態様によると、前記第１及び第２ホルダーは、樹脂又は金属製とされ、前記キャップ付きテストリードの軸線方向に直交する形状が環形状とされ、更に、前記キャップ付きテストリードの軸線方向に沿って一部が切除され、前記キャップ付きテストリードを装着するための開口部を形成している。

本発明の他の実施態様によると、前記保持部は、前記計測機器本体に対して垂直に突出して形成され、且つ、互いに平行に所定の間隔を持って配置された対をなす第１及び第２ホルダーを有し、前記第１及び第２ホルダーの対向面に溝を形成し、前記第１及び第２ホルダーの対向面に形成した前記溝に前記鍔状の被保持部が着脱自在に保持される。

本発明の他の態様によれば、計測機器本体に接続されたテストリードに対してキャップを着脱することにより測定対象のカテゴリが異なる電圧測定が可能な計測機器において、
前記テストリードに対して前記キャップを装着した状態のキャップ付きテストリードを前記計測機器本体に着脱自在に収納するための収納構造を備えており、前記収納構造は、上記いずれかの構成とされるキャップ付きテストリードの収納構造とされることを特徴とする計測機器が提供される。

本発明によれば、キャップ着脱のための作業が極めて簡単となり、キャップ着脱操作を人為的に行う必要をなくすることができる。

図１（ａ）は、本発明に従って構成されるキャップ付きテストリードを備えた計測機器の全体構成を示す図であり、図１（ｂ）は、本発明に係るキャップ付きテストリード収納構造の部分拡大図であり、図１（ｃ）は、キャップ付きテストリードを保持する保持部の斜視図である。 キャップ及びテストリードの正面図である。 図３（ａ）は、本発明に係るキャップ付きテストリード収納構造の他の実施例の部分拡大図であり、図３（ｂ）は、キャップ付きテストリードを保持する保持部の他の実施例の斜視図である。 キャップ付きテストリードの使用態様を説明する図であり、図４（ａ）は、機器本体に収納された状態を示しており、図４（ｂ）は、テストリードだけを取り外した状態を示している。 キャップ付きテストリードの使用態様を説明する図であり、図５（ａ）は、機器本体に収納された状態を示しており、図５（ｂ）は、キャップ付きテストリードを取り外した状態を示している。 本発明に係るキャップ付きテストリード収納構造の他の実施例を説明するキャップ付きテストリードを備えた計測機器の全体構成を示す図である。 従来の計測機器の全体構成を示す図である。 従来のキャップ付きテストリードの使用態様を説明する図であり、図８（ａ）は、テストリードの正面図であり、図８（ｂ）は、キャップ付きテストリードの一部断面正面図である。

以下、本発明に係るキャップ付きテストリードを備えた計測機器及び斯かる計測機器におけるキャップ付きテストリード収納構造を図面に則して更に詳しく説明する。

実施例１
（計測機器の全体構成）
図１に、本発明に従って構成されるキャップ付きテストリードを備えた計測機器及びキャップ付きテストリード収納構造の一実施例を示す。

キャップ付きテストリードを備えた計測機器の全体構成は、図７、図８（ａ）、（ｂ）に関連して説明した従来の計測機器１Ａと同様である。

つまり、図１に示すように、計測機器１は、メータ本体２とメータ本体２に接続されたプラス・マイナス一対のテストリード３（３Ａ、３Ｂ）とにて構成される。メータ本体２には、測定切替スイッチ４及びデジタル表示部５などが設けられている。

プラス、マイナスのテストリード３Ａ、３Ｂは、同じ形状、構造とされ、図８（ａ）に示す従来のテストリード３（３Ａ、３Ｂ）と同様の構成とされる。即ち、図２を参照すると、本実施例においても、テストリード３は、外形断面が略円形の軸線方向に延在した略円柱状とされる絶縁性の細長形状のグリップ３１を備えている。勿論、グリップ３１は、その断面を多角形とすることもできる。グリップ３１は、通常、直径（ｄ３１）が約６ｍｍ、全体長さ（Ｌ３）が約９０ｍｍとされる。グリップ３１の先端部３１ａには、探針３２が端面３１ａ１から所定長さ（Ｌ１）（Ｌ１＝１０ｍｍ程度）だけ突出して設けられている。探針３２は直径２ｍｍ程度の金属製の細長棒とされ、絶縁性のグリップ３１の内部にてリード線３３と電気的に接続されている。グリップ３１の後端部３１ｂからはリード線３３が引き出され、リード線３３の端部は、メータ本体２に電気的に接続されている。なお、従来、グリップ３１には、その先端の探針３２に隣接する位置（先端面３１ａ１からの距離Ｌ３４＝１０ｍｍ程度）に環状に突出したリング状凸部から成る直径（ｄ３４）が約８ｍｍ、厚さ（ｔ３４）が１ｍｍ程度とされるバリア３４が形成されている。バリア３４は、使用時に使用者の指が滑り探針３２に接触するのを防止する滑り止め機能をなす。

また、本実施例においても、図２に示すように、テストリード３（３Ａ、３Ｂ）の先端部３１ａには、それぞれ、別個に設けたキャップ５０（５０Ａ、５０Ｂ）が着脱可能に取り付けられる構成とされている。

すなわち、ＣＡＴIII（カテゴリーIII）以上の電圧測定時には、キャップ５０（５０Ａ、５０Ｂ）をテストリード先端部、即ち、グリップ３１の先端部領域３１ａに嵌合させて、グリップ３１と一体として使用される。

キャップ５０は、従来と同様の構成とされ、グリップ先端部３１ａに嵌合する内孔５１ａを有する円筒状の支持部５１と、グリップ先端部３１ａから突出した探針３２が貫通する貫通孔５２ａが形成さえた探針被覆部５２と、支持部５１と探針被覆部５２を接続する連結部５３とを有している。支持部５１の外径（ｄ５０）は、略バリア３４の外径（ｄ３４）と同じとされる。

ただ、本実施例によれば、詳しくは後述するように、円筒状支持部５１には、円筒状支持部５１の探針被覆部５２とは反対側の端部に、環状に突出したリング状凸部から成るバリア５４が形成される。バリア５４は、詳しくは後述するように、キャップ５０を機器本体２に設けた保持部６０に保持するための被保持部としての機能と、キャップ５０を使用しての測定時における使用者の指が滑り探針３２に接触するのを防止する滑り止め機能とをなす。通常、キャップ５０の全長（Ｌ５０）は、１６ｍｍ程度とされ、キャップ５０のバリア５４の直径（ｄ５４）は、８〜１２ｍｍ、厚さ（ｔ５４）は、１〜２ｍｍ、とされる。

次に、本発明の特徴をなすキャップ付きテストリード収納構造について説明する。

（キャップ付きテストリード収納構造）
図１（ａ）に示すように、本発明の計測機器１は、図７に示す従来の計測機器１Ａと異なり、テストリード３（３Ａ、３Ｂ）及びキャップ５０（５０Ａ、５０Ｂ）の収納構造において大きく異なる。

つまり、従来の計測機器１Ａにおいては、計測機器本体２を収納する外箱１００に設けた収納部に個々に収納されていたが、本発明によれば、テストリード３（３Ａ、３Ｂ）とキャップ５０（５０Ａ、５０Ｂ）とは一体に取り付けられた状態にて、計測機器本体２の側面等に設けた保持部６０（６０Ａ、６０Ｂ）に取り外し自在に収納されている。

更に説明すると、本実施例によると、図１（ａ）に示すように、キャップ５０（５０Ａ、５０Ｂ）がそれぞれ取り付けられたプラス・マイナス一対のテストリード３（３Ａ、３Ｂ）が別々に、例えば、キャップ５０Ａが一体に取り付けられたプラスのテストリード３Ａが本体２の右側面に、また、キャップ５０Ｂが一体に取り付けられたマイナスのテストリード３Ｂが本体２の左側面に、保持部６０（６０Ａ、６０Ｂ）にて着脱自在に取り付けられて収納されている。

キャップ付きテストリードの保持部６０Ａ、６０Ｂは、同じ構造とされるので、本体２の右側面に設けられた保持部６０Ａについて説明する。

保持部６０Ａは、本実施例では、図１（ｂ）、（ｃ）に示すように、キャップ５０Ａに形成した鍔状バリア部５４を上下より挟持して保持するために保持部、即ち、第１及び第２ホルダー６１、６２を備えており、機器本体２に一体に取り付けられている。ホルダー６１、６２は、本実施例では、樹脂又は金属製とされ、幅Ｈ１、Ｈ２、厚さＴ１、Ｔ２の部材を環形状、例えば、略円形状に成形し、円周の一部が軸線方向に切除され、幅Ｗ１、Ｗ２の開口部Ｐ１、Ｐ２を形成している。即ち、各ホルダー６１、６２は、Ｃ形状とされる弾性保持部材を形成している。

また、Ｃ形状をなすホルダー６１、６２は、キャップ５０Ａの鍔状バリア部（被保持部）５４を上下より保持し得るに適した間隙を形成するように、互いに所定距離（ｇ）だけ離間して配置されている。即ち、距離（ｇ）は、鍔状バリア部の厚さ（ｔ５４）と同じか、若干小さくされ、鍔状バリア部５４が僅かの押圧力によりこの間隙部（ｇ）に出し入れ自在とされるのが好ましい。

また、本実施例では、ホルダー６１、６２は、キャップ５０Ａの支持部５１及びテストリード３Ａの先端円柱部分３１ａを保持し得るようにその内周部は、支持部５１及び円柱部３１ａに適合した形状寸法とされている。従って、キャップ付きテストリード３Ａを本体２に収納する場合には、キャップ５０Ａの支持部５１及びテストリード３Ａの円柱状先端部分３１ａを、ホルダー６１、６２の開口部Ｐ１、Ｐ２に当接させ、更に、本体側面方向へと押圧することにより、ホルダー６１、６２はその開口部Ｐ１、Ｐ２が弾性的に拡張され、キャップ５０Ａの支持部５１及びテストリード３Ａの先端部分３１ａを受容し、その後弾性的に、キャップ５０Ａの支持部５１及びテストリード３Ａの先端部分３１ａを保持することができる。

この時、キャップ５０Ａのリング状バリア部分、即ち、鍔部５４が、両ホルダー６１、６２の間の離間部（ｇ）に挿入設置される。従って、キャップ５０Ａは、支持部５１がホルダー６１にて保持されると共に、その鍔部５４がホルダー６１、６２により挟持される。また、本実施例では、同時に、テストリード３Ａの先端部分３１ａ、即ち、リング状バリア部分３４とキャップ５０Ａの鍔部５４との間の先端円柱領域が、ホルダー６２によって、保持される。この状態が図１（ｂ）に示される。

（変更実施例１）
上記実施例では、ホルダー６１、６２は、キャップ５０Ａの鍔部５４と共に、キャップ５０Ａの支持部５１及びテストリード３Ａの先端部分３１ａを保持するものとして説明したが、これに限定されるものではない。

つまり、図３（ａ）に示すように、キャップ５０Ａに形成するバリア部５４をキャップ支持部５１の端面部に形成するのではなく、更にキャップ支持部５１をテストリード３１のバリア部３４の方へと延在させて形成し、ホルダー６１、６２は、キャップ５０Ａのバリア部５４を挟持すると共に、バリア部５４の両側支持部領域５１を保持するようにしても良い。

この変更実施例の構成においても、テストリード３Ａ自体は、その先端部３１ａ及び探針部３２がキャップ５０Ａに弾発的に嵌合装着されているので、本体収納時にキャップ５０Ａから脱落することはない。

（変更実施例２）
図３（ｂ）に、保持部６０（６０Ａ、６０Ｂ）の他の実施例を示す。保持部６０Ａ、６０Ｂは同じ構成とされるので、図３（ｂ）には、保持部６０Ａのみを示す。

つまり、本変更実施例２では、保持部６０Ａは、計測機器本体２の側面より垂直に突出して形成され、互いに平行に配置された第１及び第２ホルダー６１、６２にて構成される。ホルダー６１、６２は、例えば樹脂又は金属製とされ、本例では、幅Ｈ０、長さＷ０、厚さＴ０の矩形状板部材とされているが、これに限定されるものではない。通常、幅Ｈ０は８ｍｍ、長さＷ０は８ｍｍ、厚さＴ０は２ｍｍ程度とされる。

また、ホルダー６１、６２には、互いに対向する内面に機器本体方向へと溝６３が形成される。溝幅（ｇ０）は、鍔状バリア部５４の厚さ（ｔ５４）と同じか、若干小さくされ、また、ホルダー内面間隔（ｗ１）及び最大溝間隔（ｗ２）は、それぞれ、キャップ支持部５１の外径（ｄ５０）及び鍔部５４の直径（ｄ５４）と略同じとされる。従って、鍔状バリア部５４が僅かの押圧力によりこの溝部６３内へと出し入れ自在とされる。

以上説明したように、計測機器本体２に設けられる保持部６０（６０Ａ、６０Ｂ）は、キャップ５０（５０Ａ、５０Ｂ）の鍔状バリア部５４を取り外し自在に、弾発的に保持し得る構造であれば、上記構造に限定されるものではなく、種々の構造が可能である。

次に、図１、図２を参照して説明した実施例１のテストリード収納構造を有する計測機器におけるキャップ付きテストリードの使用態様について説明する。

キャップ付きテストリードの保持部６０Ａ、６０Ｂは、同じ構造とされるので、本体２の右側面に設けられた保持部６０Ａについて説明する。

（キャップ付きテストリードの使用態様）
本実施例の計測機器１によれば、図１（ａ）に示すように、テストリード３（３Ａ、３Ｂ）とキャップ５０（５０Ａ、５０Ｂ）とは一体に取り付けられた状態にて、計測機器本体２の側面等に保持部６０（６０Ａ、６０Ｂ）により収納されている。

先ず、測定する対象の電圧が例えば１００Ｖのコンセントとされるような低電圧の、所謂、測定場所がＣＡＴII（カテゴリーII）の電圧測定を行う場合について説明する。この場合は、テストリード３Ａ、３Ｂにての測定が可能で、テストリード先端部３１ａに対するキャップ５０Ａ、５０Ｂの装着は不要である。

従って、図４（ａ）に示すように、計測機器本体２の側面等に保持部６０Ａにより取り外し自在に取り付けられているテストリード３Ａを、図４（ａ）に示すように、図４にて下方へと矢印Ｂ方向に引っ張る。キャップ５０Ａは、その鍔部５４がホルダー６１、６２により挟持されているので、テストリード３Ａに対する一方向への引抜き操作により、テストリード３Ａだけが、下方へと引抜かれる。キャップ５０Ａは、保持部６０Ａに保持されたままである（図４（ｂ）参照）。

測定が終了すると、テストリード３１Ａを下方より、図４（ｂ）に示すように、その先端部３１ａがキャップ支持部円筒孔５１ａ内に嵌合するように差し込むことにより収納することができる。この時、キャップ自体は、保持部６０Ａにより保持されているので、テストリード３Ａを下方よりキャップ５０Ａに装着することは容易である。

このように、ＣＡＴII（カテゴリーII）の電圧測定時には、以下の作業が必要となる。
ＳＴＥＰ１：計測機器１の保持部６０Ａからテストリード３Ａを外す。この時、方向１（テストリード３Ａの軸線方向である矢印Ｂ方向）への引抜き操作でテストリード３Ａは、キャップ無しの状態で取出される。
ＳＴＥＰ２：測定する。
ＳＴＥＰ３：テストリード３Ａを計測機器の保持部６０Ａに収納する。この時、方向１（矢印Ｂ方向）とは反対方向から取付ける。テストリード３Ａは、保持部６０Ａ及びキャップ５０Ａにより計測機器収納部に容易に収納される。

次に、測定する対象の電圧が例えば２００Ｖの分電盤とされるような高電圧の、所謂、測定場所がＣＡＴIII（カテゴリーIII）以上の電圧測定を行う場合について説明する。この場合は、テストリード３Ａにての測定は不可能で、テストリード先端部にキャップ５０Ａの装着が必須とされる。

従って、図５（ａ）に示すように、計測機器本体２の側面等に保持部６０Ａにより取り外し自在に取り付けられているテストリード３Ａを、図５（ｂ）に示すように、図５（ｂ）にて上記Ｂ方向（図４（ａ））とは異なる、本実施例ではテストリード３Ａの軸線方向であるＢ方向とは直交する右側方向へと矢印Ｃ方向に引っ張る。

キャップ５０Ａ及びテストリード３Ａは、ホルダー６１、６２の開口部Ｐ１、Ｐ２より外方へと引き抜かれる。つまり、キャップ付きテストリード３Ａが本体２から分離して取外される。従って、使用者は直ちに測定作業に移ることができる。

ＣＡＴIII（カテゴリーIII）以上の電圧測定時には、以下の作業が必要となる。
ＳＴＥＰ１：計測機器２の保持部６０Ａからテストリード３Ａを外す。この時、上記方向１と異なる方向２への引抜き操作で、キャップ付きの状態で取出される。
ＳＴＥＰ２：測定する。
ＳＴＥＰ３：キャップ付きのテストリード３Ａを計測機器２の保持部６０Ａに収納する。この時、方向２とは反対方向から取付けることで、キャップ付きの状態で取り付けが可能とされる。

このように、本発明によれば、測定カテゴリの違いにかかわらず、３ＳＴＥＰの動作で済む。従来例では、上述のように、ＣＡＴIII（カテゴリーIII）以上の電圧測定時には、７ＳＴＥＰを必要とした。本発明では、キャップ着脱のための作業が極めて簡単となり、キャップ着脱操作を人為的に行う必要をなくすことができる。

勿論、本発明においても、従来使用されているキャップ５０を別個に設けた構造の計測機器が有する利点、即ち、
（１）測定対象のカテゴリが異なっても、即ち、測定される電圧の違いにより、テストリードそのものを交換する必要がない。
（２）テストリード先端部に対するキャップの着脱作業のみで良い。
（３）従って、計測機器の構造を複雑とし、また、価格を著しく増大させるものでもない。
といった利点をも有している。

実施例２
図６に、本発明に係るキャップ付きテストリード収納構造の他の実施例を示す。実施例１においては、プラス・マイナス一対をなすキャップ付きテストリード３（３Ａ、３Ｂ）はそれぞれ個別に、例えば、計測機器１の側面等にホルダー６０（６０Ａ、６０Ｂ）により収納されるものとして説明した。

本実施例によれば、図６に示すように、対をなすキャップ付きテストリードは、例えば、計測機器１の側面等に設けた保持部６０に２本一緒に収納することもできる。勿論この場合は、保持部６０のホルダー６１、６２は、計測機器側面より突出して、２個のキャップ５０（５０Ａ、５０Ｂ）を収納し得る大きさとされる。

本実施例においても、実施例１と同様の作用効果を達成し得ることは明らかである。

１ 計測機器
２ 機器本体
３（３Ａ、３Ｂ） テストリード
４ スイッチ
５ 表示部
３１ グリップ
３１ａ グリップ先端部
３２ 探針
３３ リード線
３４ バリア部
５０（５０Ａ、５０Ｂ） キャップ
５１ 支持部
５２ 探針被覆部
５４ バリア部（鍔部、被保持部）
６０（６０Ａ、６０Ｂ） 保持部
６１、６２ ホルダー

Claims (6)

1. 計測機器本体に接続されたテストリードに対してキャップを着脱することにより測定対象のカテゴリが異なる電圧測定が可能な計測機器におけるキャップ付きテストリードの収納構造であって、
   前記テストリードの先端部に着脱可能とされる前記キャップに鍔状の被保持部を形成し、前記計測機器本体には、前記キャップの被保持部を着脱可能に保持する保持部を設け、
   前記テストリードの先端部に前記キャップを装着した状態で、前記キャップの前記被保持部を前記計測機器本体の前記保持部に保持させ、
   前記保持部は、
   （ａ）前記テストリードの前記計測機器本体に対する一方向への引抜き操作では、前記キャップを保持することにより、前記テストリードだけが前記計測機器本体から取出され、
   （ｂ）前記テストリードの前記計測機器本体に対する前記一方向に対して異なる他の方向への引抜き操作では、前記キャップを保持することがなく、前記テストリードは前記キャップを装着した状態で前記計測機器本体から取出される、
   ことを特徴とするキャップ付きテストリードの収納構造。
2. 前記テストリードは、細長形状のグリップと、前記グリップの先端から突出した探針と、を有し、
   前記キャップは、前記グリップの先端部に嵌合する支持部と、前記グリップの前記探針が貫通する貫通孔が形成された探針被覆部と、を有し、前記支持部に前記鍔状被保持部を形成する、
   ことを特徴とする請求項１に記載のキャップ付きテストリードの収納構造。
3. 前記保持部は、前記キャップ付きテストリードの軸線方向に沿って互いに所定の間隙（ｇ）にて離間して配置され、前記計測機器本体に取り付けられた第１及び第２ホルダーを有し、前記間隙（ｇ）に、前記鍔状被保持部が着脱自在に保持されることを特徴とする請求項２に記載のキャップ付きテストリードの収納構造。
4. 前記第１及び第２ホルダーは、樹脂又は金属製とされ、前記キャップ付きテストリードの軸線方向に直交する形状が環形状とされ、更に、前記キャップ付きテストリードの軸線方向に沿って一部が切除され、前記キャップ付きテストリードを装着するための開口部を形成していることを特徴とする請求項３に記載のキャップ付きテストリードの収納構造。
5. 前記保持部は、前記計測機器本体に対して垂直に突出して形成され、且つ、互いに平行に所定の間隔を持って配置された対をなす第１及び第２ホルダーを有し、前記第１及び第２ホルダーの対向面に溝を形成し、前記第１及び第２ホルダーの対向面に形成した前記溝に前記鍔状被保持部が着脱自在に保持されることを特徴とする請求項２に記載のキャップ付きテストリードの収納構造。
6. 計測機器本体に接続されたテストリードに対してキャップを着脱することにより測定対象のカテゴリが異なる電圧測定が可能な計測機器において、
   前記テストリードに対して前記キャップを装着した状態のキャップ付きテストリードを前記計測機器本体に着脱自在に収納するための収納構造を備えており、前記収納構造は、請求項１〜５のいずれかの項に記載のキャップ付きテストリードの収納構造とされることを特徴とする計測機器。

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