JP5745037B2 - 光学調整フィルム及びそれを用いた透明導電性フィルム - Google Patents
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Description
ΔR=|R1 −R2 | ・・・(式)
但し、R1 は、パターン開口部についての、波長:400〜
650nmにおける正反射率の平均値であり、R2 は、パター
ン部についての、波長:400〜650nmにおける正反射率
の平均値である。
ΔR=|R1 −R2 | ・・・(式)
但し、R1 は、パターン開口部についての、波長:400〜
650nmにおける正反射率の平均値であり、R2 は、パター
ン部についての、波長:400〜650nmにおける正反射率
の平均値である。
各層の屈折率及び厚さ(物理的膜厚)を測定し、それらを乗ずることにより(屈折率×物理的膜厚)、光学膜厚を算出した。屈折率の測定は、株式会社アタゴ製のアッべ屈折率計を用いて、各測定面に対して測定光を入射させるようにして、屈折率計に示される規定の測定方法により実施した。また、各層の厚さ(物理的膜厚)は、大塚電子株式会社製の反射分光膜厚計(商品名:FE-3000 )を用いて算出した。尚、透明導電層の光学膜厚とは、パターン部における屈折率及び厚さ(物理的膜厚)により算出されるものである。
株式会社日立製作所製の分光光度計(商品名:U4100 )に、付属の5°正反射ユニットを取り付け、正反射モードを用いて、入射角を5°として波長:200〜800nm(測定範囲)における反射スペクトルを測定し、この測定範囲内における正反射率の最小値を与える波長(測定波長)を最小正反射率波長とした。尚、測定に際しては、サンプルの裏面反射や裏面側からの光の入射を無くすために、サンプルの裏面側を黒色のテープで遮光した。
株式会社日立製作所製の分光光度計(商品名:U4100 )に、付属の5°正反射ユニットを取り付け、正反射モードを用いて、入射角を5°として波長:200〜800nmの反射スペクトルを測定し、450〜650nmの範囲内における正反射率の平均値(算術平均値)を算出した。尚、測定に際しては、サンプルの裏面反射や裏面側からの光の入射を無くすために、サンプルの裏面側を黒色のテープで遮光した。また、透明導電性フィルムについては、パターン開口部及びパターン部のそれぞれの部位について測定し、R1 (パターン開口部についての、波長:400〜650nmにおける正反射率の平均値)、及びR2 (パターン部についての、波長:400〜650nmにおける正反射率の平均値)を算出した。更に、ΔRは、以下の式より算出した。
ΔR=|R1 −R2 | ・・・(式)
光重合剤含有ウレタンアクリレートオリゴマー(日本化薬株式会社製、商品名:KAYANOVA FOP4000 )に、トルエンとメチルエチルケトン(MEK)とを5:5(重量比)の割合にて混合してなる混合溶媒を加えて、液状のハードコート用材料(固形分濃度:30重量%)を調製した。
平均粒子径が20〜40nmである酸化ジルコニウム:16重量部と、ウレタンアクリレートオリゴマー(荒川化学工業株式会社製、商品名:ビームセット575 ):5重量部と、光重合開始剤(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ株式会社製、商品名:イルガキュア184 ):3重量部と、メチルイソブチルケトン(MIBK)とメチルエチルケトン(MEK)とを5:5(重量比)の割合にて混合してなる混合溶媒(以下、MIBK/MEK混合溶媒という)とを用いて、液状の高屈折率層用材料(固形分濃度:5重量%)を調製した。
平均粒子径が10〜20nmであるコロイダルシリカ(日産化学株式会社製、商品名:MEK-ST):100重量部と、光重合剤含有ウレタンアクリレートオリゴマー(中国塗料株式会社製、商品名:オーレックス344 ):20重量部と、MIBK/MEK混合溶媒とを用いて、液状の低屈折率層用材料(固形分濃度:5重量%)を調製した。
厚さ:125μmの易接着性ポリエステルフィルム(東洋紡績株式会社製、商品名:A4300 )の一方の面に、液状のハードコート用材料をロールコーターで塗工し、その塗工膜を、ドライヤーオーブンを用いて、100℃×1分の条件で加熱乾燥した。次いで、乾燥後の塗工膜に対して紫外線を照射することにより(照射量:200mJ/cm2 )、ポリエステルフィルム上に厚さ:約3μmのハードコートを設けた。ポリエステルフィルムの他方の面に対しても同一の作業を施すことにより、ポリエステルフィルムの両面に厚さ:約3μmのハードコートが設けられてなるハードコートフィルムを得た。
高屈折率層の光学膜厚が77nmとなるように、また、低屈折率層の光学膜厚が46nmとなるように、種々の条件を変更した以外は実施例1と同様にして、透明導電性フィルムを得た。
高屈折率層の光学膜厚が68nmとなるように、また、低屈折率層の光学膜厚が42nmとなるように、種々の条件を変更した以外は実施例1と同様にして、透明導電性フィルムを得た。
高屈折率層の光学膜厚が78nmとなるように、また、低屈折率層の光学膜厚が40nmとなるように、種々の条件を変更した以外は実施例1と同様にして、透明導電性フィルムを得た。
高屈折率層の光学膜厚が89nmとなるように、また、低屈折率層の光学膜厚が46nmとなるように、種々の条件を変更した以外は実施例1と同様にして、透明導電性フィルムを得た。
高屈折率層の光学膜厚が59nmとなるように、また、低屈折率層の光学膜厚が48nmとなるように、種々の条件を変更した以外は実施例1と同様にして、透明導電性フィルムを得た。
高屈折率層の光学膜厚が75nmとなるように、また、低屈折率層の光学膜厚が47nmとなるように、種々の条件を変更した以外は実施例1と同様にして、透明導電性フィルムを得た。
高屈折率層の光学膜厚が73nmとなるように、また、低屈折率層の光学膜厚が47nmとなるように、種々の条件を変更した以外は実施例1と同様にして、透明導電性フィルムを得た。
高屈折率層の光学膜厚が75nmとなるように、また、低屈折率層の光学膜厚が51nmとなるように、種々の条件を変更した以外は実施例1と同様にして、透明導電性フィルムを得た。
高屈折率層の光学膜厚が90nmとなるように、また、低屈折率層の光学膜厚が48nmとなるように、種々の条件を変更した以外は実施例1と同様にして、透明導電性フィルムを得た。
高屈折率層の光学膜厚が69nmとなるように、また、低屈折率層の光学膜厚が30nmとなるように、種々の条件を変更した以外は実施例1と同様にして、透明導電性フィルムを得た。
黒い板の上に、透明導電性フィルムを、透明導電層側が最表面となるように載置し、かかる透明導電層側より、目視にてフィルムを観察した。パターン部とパターン開口部との判別が困難な場合を〇とし、パターン部とパターン開口部との判別が可能である場合を×として、評価した。評価結果を、下記表1に示す。
白い板の上に、透明導電性フィルムを、透明導電層側が最表面となるように載置し、かかる透明導電層側より、目視にてフィルムを観察した。パターン部とパターン開口部との判別が困難な場合を〇とし、目視の角度によってパターン部とパターン開口部との判別が僅かに可能な場合を△とし、パターン部とパターン開口部との判別が可能である場合を×として、評価した。評価結果を、下記表1に示す。
14 透明性基材 16 高屈折率層
18 低屈折率層 20 透明導電層
Claims (4)
- 透明フィルム基材の少なくとも一方の面に、直接若しくは一以上の機能層を介して、該基材側から順に高屈折率層及び低屈折率層が積層形成されてなる光学調整フィルムにして、前記高屈折率層の光学膜厚が73〜77nmであり、前記低屈折率層の光学膜厚が47〜51nmであり、波長:200〜800nmにおける正反射率の最小値が、波長:230〜259nmの範囲内において与えられることを特徴とする光学調整フィルム。
- 透明フィルム基材の少なくとも一方の面に、直接若しくは一以上の機能層を介して、該基材側から順に高屈折率層及び低屈折率層が積層形成されてなる光学調整フィルムにして、前記高屈折率層の光学膜厚が73〜77nmであり、前記低屈折率層の光学膜厚が47〜51nmであり、波長:200〜800nmにおける正反射率の最小値が、波長:230〜265nmの範囲内において与えられ、更に、波長:400〜650nmにおける正反射率の平均値が6.16%〜6.90%であることを特徴とする光学調整フィルム。
- 請求項1又は請求項2に記載の光学調整フィルムにおける、前記高屈折率層及び前記低屈折率層が設けられた面に、直接若しくは一以上の機能層を介して、パターン部及びパターン開口部からなる透明導電層が設けられてなる透明導電性フィルム。
- 下記式より算出されるΔRが0.5以下である請求項3に記載の透明導電性フィルム。
ΔR=|R1 −R2 | ・・・(式)
但し、R1 は、パターン開口部についての、波長:400〜650nmに おける正反射率の平均値であり、R2 は、パターン部についての、波長:4 00〜650nmにおける正反射率の平均値である。
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