JP5740982B2 - 波長分解ストークスベクトル測定装置および測定方法 - Google Patents
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Description
つまり、Δλの波長成分の光信号毎にt、v、q、rの4つの偏光成分強度が出力されることになる。従って、光スペクトル幅Λの光信号をΔλの波長分解能でn個の波長成分に分解して測定する場合、一回の測定で、演算部103には4×n個のデータが入力されることになる。
2 光信号源
3 光ファイバ
4 可変群遅延時間差(DGD)発生器
11 波長掃引手段
12 4偏波成分強度抽出手段
13 演算手段
41 偏波コントローラ
42 光遅延調整器
43、44 偏光ビームスプリッタ
101、201 可変光バンドパスフィルタ
102、202 4偏波成分強度抽出部
103、203 演算部
104、204 モニタ部
205 較正制御部
Claims (5)
- 入力した特定の波長帯域幅の光信号を、前記特定の波長帯域幅よりも狭い波長帯域幅で、複数の波長成分に分解して出力する波長掃引手段と、
前記波長成分のそれぞれの光信号を入力し、それぞれの光信号の相異なる4つの偏光成分強度を抽出して出力する4偏光成分強度抽出手段と、
前記波長成分のそれぞれの光信号の相異なる4つの前記偏光成分強度を入力して演算し、当該演算結果に基づいて前記波長成分のそれぞれの光信号の波長分解ストークスベクトルの測定と偏光度の算出を実行し、前記波長成分のそれぞれの光信号の偏光度の算出値と、前記波長成分の光信号の偏光度の理論値と、の差分値に基づいて、前記波長分解ストークスベクトルの測定精度を評価して出力する演算手段と、
を備え、
前記波長掃引手段は、当該波長分解ストークスベクトル測定装置が有する波長分解能の波長帯域幅の光を透過させる可変光バンドパスフィルタであり、
前記演算手段は、
前記波長成分のそれぞれの光信号の相異なる4つの前記偏光成分強度に基づく演算を実行して前記波長成分のそれぞれの光信号の前記波長分解ストークスベクトルを測定し、測定した前記波長分解ストークスベクトルに基づいて前記波長成分のそれぞれの光信号の偏光度を算出する演算部と、
前記波長成分のそれぞれの光信号の偏光度の算出値の最小値と、前記波長成分の光信号の偏光度の理論値と、の差分値に基づいて、前記波長分解ストークスベクトルの測定精度を評価して出力するモニタ部と
を含み、前記モニタ部は、許容値を超えて測定精度が劣化していると判断する前記差分値の第1の閾値と、前記第1の閾値までは達しないが、測定精度の劣化が認められると判断する、任意に設定する第2の閾値を用いて前記測定精度を評価する
ことを特徴とする波長分解ストークスベクトル測定装置。 - 前記モニタ部は、
前記演算部が算出した前記波長成分のそれぞれの光信号の偏光度の算出値を入力する偏光度入力部と、
前記偏光度の算出値の最小値と前記偏光度の理論値との差分値を前記第1の閾値および前記第2の閾値と比較して、比較結果を出力する比較部と、
前記比較結果が、前記差分値が前記第1の閾値に達した場合は、測定精度の劣化を外部に通知するアラームを出力し、前記比較結果が、前記差分値が前記第2の閾値に達した場合は、当該波長分解ストークスベクトル測定装置の劣化要因となる部位の較正を外部に指示する信号を出力するモニタ制御部と
を含むことを特徴とする請求項1に記載の波長分解ストークスベクトル測定装置。 - 当該波長分解ストークスベクトル測定装置の光学系のアライメントずれを調整するアクチュエータおよびずれを検出するセンサを備えて劣化要因となる部位を較正する較正制御部を更に備え、
前記モニタ制御部は、前記比較結果が、前記差分値が前記第2の閾値に達した場合は、前記較正制御部に制御信号を送信して較正制御を実行させ、前記較正制御部の当該較正制御実行後の前記比較結果が、測定精度の改善が認められると判断する、任意に設定する第3の閾値に前記差分値が達するまでフィードバック制御を行うことを特徴とする請求項2に記載の波長分解ストークスベクトル測定装置。 - 入力した特定の波長帯域幅の光信号を、前記特定の波長帯域幅よりも狭い波長帯域幅で、複数の波長成分に分解し、
前記波長成分のそれぞれの光信号の相異なる4つの偏光成分強度を抽出し、
抽出した前記波長成分のそれぞれの光信号の相異なる4つの前記偏光成分強度に基づいて演算し、
前記演算結果に基づいて前記波長成分のそれぞれの光信号の波長分解ストークスベクトルの測定と偏光度の算出を実行し、
前記波長成分のそれぞれの光信号の偏光度の算出値と、前記波長成分の光信号の偏光度の理論値と、の差分値に基づいて、前記波長分解ストークスベクトルの測定精度を評価して出力し、
前記特定の波長帯域幅の光信号を複数の前記波長成分に分解する前記特定の波長帯域幅よりも狭い波長帯域幅は、当該波長分解ストークスベクトル測定装置が有する波長分解能の波長帯域幅であり、
前記差分値は、前記偏光度の算出値の最小値と前記偏光度の理論値との差分値であって、
前記波長分解ストークスベクトルの測定精度の評価は、
許容値を超えて測定精度が劣化していると判断する前記差分値の第1の閾値と、前記第1の閾値までは達しないが、測定精度の劣化が認められると判断する、任意に設定する第2の閾値を設定し、
前記差分値を、前記第1の閾値および前記第2の閾値と比較して前記測定精度を評価する
ことを特徴とする波長分解ストークスベクトル測定方法。 - 前記差分値と、前記第1の閾値および前記第2の閾値との比較結果が、前記差分値が前記第1の閾値に達した場合は、測定精度の劣化を外部に通知するアラームを出力し、前記比較結果が、前記差分値が前記第2の閾値に達した場合は、当該波長分解ストークスベクトル測定装置の劣化要因となる部位の較正を外部に指示する信号を出力することを特徴とする請求項4に記載の波長分解ストークスベクトル測定方法。
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JP2011001116A JP5740982B2 (ja) | 2011-01-06 | 2011-01-06 | 波長分解ストークスベクトル測定装置および測定方法 |
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