JP5730218B2 - 分析装置 - Google Patents
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Description
2 反応容器
3 測定対象体
4 光源から測定対象へ照射する光軸
5 光軸を中心とした円周上に配置した検出器
6 検出回路部1
7 演算部1
8 記録部
9 上位制御部
10 表示部
11 図1の検出器DET1からの出力例
12 図1の検出器DET2からの出力例
13 図1の検出器DET3からの出力例
14 図1の検出器DET4からの出力例
15 気泡などの異物に起因するノイズ
16 光軸に対して異なる角度に配置した検出器
17 検出回路部2
18 図2の検出器DET1からの出力例
19 図2の検出器DET2からの出力例
20 図2の検出器DET3からの出力例
21 検出器(フォトダイオード)
22 オペアンプ
23 基準電圧発生回路
24 回路素子
25 検出回路部3
26 演算部3
Claims (3)
- 血液検体を格納する反応容器と、
前記反応容器に光を照射する光源部と、
前記血液検体にて散乱する光の散乱強度を測定する検出器と、
前記検出器の出力を測定する検出回路部と、
前記検出回路部からの出力を処理する演算部と、
前記検出回路部からの出力を保存する記録部を有する分析装置にあって、
前記検出器は、前記光源部から前記反応容器に照射する光軸に垂直な平面上かつ光軸を中心とする円周上であって、前記反応容器を挟んで前記光源部に対向するように2つ以上配置され、
前記演算部は、前記2つ以上の検出器のそれぞれに対して当該検出器の出力に基づく一定間隔毎の複数のデータ間において新しい順から1つ前のデータとの偏差とその平均値を算出し、前記平均値に基づいて各検出器の出力が異常かどうかを判定し、
当該判定の結果、出力が異常と判定された検出器の出力を除外し、前記除外がされない残りの検出器の出力を演算処理して平均化することを特徴とする分析装置。 - 請求項1記載の分析装置にあって、
前記円周上に配置された前記検出器から測定に用いる検出器を選択することを特徴とする分析装置。 - 請求項1記載の分析装置にあって、
前記円周上に配置された前記検出器の出力を前記検出回路部または前記演算部にて補正することを特徴とする分析装置。
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JP6454211B2 (ja) * | 2015-03-31 | 2019-01-16 | シスメックス株式会社 | 検体分析装置、血液凝固分析装置、検体分析方法、及びコンピュータプログラム |
JP6888905B2 (ja) * | 2015-12-10 | 2021-06-18 | 株式会社東芝 | 検出信号におけるa/dコンバータの雑音を低減した厚み計装置 |
TWI668426B (zh) * | 2018-08-15 | 2019-08-11 | 國立清華大學 | 光學量測裝置 |
WO2022270037A1 (ja) * | 2021-06-25 | 2022-12-29 | 古野電気株式会社 | 測光装置および分析装置 |
CN113640253A (zh) * | 2021-07-21 | 2021-11-12 | 杭州春来科技有限公司 | 浊度检测方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61173138A (ja) * | 1985-01-28 | 1986-08-04 | Olympus Optical Co Ltd | 光強度ゆらぎによる免疫反応測定方法 |
JPH02187618A (ja) * | 1989-01-17 | 1990-07-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 実装済プリント基板の検査方法 |
JPH02187615A (ja) * | 1989-01-17 | 1990-07-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 実装済みプリント基板の検査装置 |
JPH0422849A (ja) * | 1990-05-17 | 1992-01-27 | Electroplating Eng Of Japan Co | 傷検査方法 |
JP2001194308A (ja) * | 1999-10-28 | 2001-07-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 溶液濃度計測方法および溶液濃度計測装置 |
JP2001249134A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-09-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | タンパク質濃度計測用試薬、これを用いたタンパク質濃度計測方法および尿検査方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1588862A (en) * | 1978-05-11 | 1981-04-29 | Standard Telephones Cables Ltd | Measuring oil in water |
US4408880A (en) * | 1981-09-22 | 1983-10-11 | Chugai Seiyaku Kabushiki Kaisha | Laser nephelometric system |
JPS6040937A (ja) | 1983-08-16 | 1985-03-04 | Shimadzu Corp | 免疫反応測定装置 |
US6061131A (en) * | 1997-01-08 | 2000-05-09 | Horiba, Ltd. | Optical axis adjustment apparatus and method for particle size distribution measuring equipment |
JP3814190B2 (ja) * | 2001-11-09 | 2006-08-23 | 株式会社堀場製作所 | 粒径分布測定装置 |
US7693323B2 (en) * | 2002-03-12 | 2010-04-06 | Applied Materials, Inc. | Multi-detector defect detection system and a method for detecting defects |
US6798508B2 (en) * | 2002-08-23 | 2004-09-28 | Coulter International Corp. | Fiber optic apparatus for detecting light scatter to differentiate blood cells and the like |
JP2008039539A (ja) * | 2006-08-04 | 2008-02-21 | Shimadzu Corp | 光散乱検出装置 |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61173138A (ja) * | 1985-01-28 | 1986-08-04 | Olympus Optical Co Ltd | 光強度ゆらぎによる免疫反応測定方法 |
JPH02187618A (ja) * | 1989-01-17 | 1990-07-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 実装済プリント基板の検査方法 |
JPH02187615A (ja) * | 1989-01-17 | 1990-07-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 実装済みプリント基板の検査装置 |
JPH0422849A (ja) * | 1990-05-17 | 1992-01-27 | Electroplating Eng Of Japan Co | 傷検査方法 |
JP2001194308A (ja) * | 1999-10-28 | 2001-07-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 溶液濃度計測方法および溶液濃度計測装置 |
JP2001249134A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-09-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | タンパク質濃度計測用試薬、これを用いたタンパク質濃度計測方法および尿検査方法 |
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