JP6038464B2

JP6038464B2 - 自動分析装置

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Publication number: JP6038464B2
Application number: JP2012044341A
Authority: JP
Inventors: 智司松本
Original assignee: Toshiba Medical Systems Corp
Current assignee: Canon Medical Systems Corp
Priority date: 2012-02-29
Filing date: 2012-02-29
Publication date: 2016-12-07
Anticipated expiration: 2032-02-29
Also published as: JP2013181781A

Description

本発明の実施形態は、自動分析装置に関する。

自動分析装置は、測定項目の測定のために測光部により測光を行っている。測光部は、測光位置を通過する反応管を通過タイミングに合わせて測光している。測光は、単一の高さで行われている。反応管は、縦長の構造を有している。この構造上の制約のため、反応液が縦方向には混ぜにくいが、横方向には混ぜやすい。従って、液体の性質によっては反応管内の反応液の化学反応にむらが生じる場合があり、同一条件で測光を行っていても測定結果にばらつきが生じてしまう。

特開２００７−１９８７３９号公報

目的は、測定結果の信頼性を向上可能な自動分析装置を提供することにある。

本実施形態に係る自動分析装置は、サンプル及び試薬が吐出される複数の反応管を保持し、所定量のサンプル及び試薬が吐出された複数の反応管各々を測光位置に位置させる反応ディスクと、前記反応管各々に吐出するサンプル及び試薬の各々の量、解析結果として用いる測定値を得る測光高さを測定項目毎に設定するための画面を表示する表示部と、前記測光位置に位置する各反応管における異なる複数の高さ各々に光を集光し、前記反応管を通過した光の強度に応じた電気信号を生成する測光部と、前記電気信号に基づいて前記解析結果として用いる測定値を前記測定項目毎に計算する計算部と、を具備する。

本実施形態に係る自動分析装置の機能ブロックを示す図。図１の自動分析装置の構成を示す図。図１の測光部における反応管と測光位置との位置関係を示す図。図２の反応管内において反応液の高さ方向に濃度むらが発生している例を示す図。図２の反応管内において反応液上部に泡が発生している例を示す図。図２の反応管内において液量不足が発生している例を示す図。図２の測光部の構成を示す図。図１の表示部により表示される分析条件設定画面を示す図。図７の測光部の具体例を示す図。図７の測光部の他の具体例を示す図。本実施形態の変形例１に係る測光部の構成を模式的に示す図。本実施形態の変形例２に係る測光部の構成を模式的に示す図。

以下、図面を参照しながら本実施形態に係わる自動分析装置を説明する。

図１は、本実施形態に係る自動分析装置の機能ブロックを示す図である。図１に示すように、本実施形態に係る自動分析装置は、システム制御部１を中枢として、分析機構２、分析機構制御部３、測定値計算部４、判定部５、設定部６、表示部７、操作部８、及び記憶部９を備える。

図２は、分析機構の概略的な構造を示す図である。図２に示すように、分析機構２は、自動分析装置の筐体に設けられている。分析機構２は、例えば、図１に示すように、反応ディスク１１、サンプルディスク１３、第１試薬庫１５、第２試薬庫１７、サンプルアーム１９―１、第１試薬アーム１９―２、第２試薬アーム１９―３、サンプルプローブ２１―１、第１試薬プローブ２１―２、第２試薬プローブ２１―３、撹拌部２３、測光部２５、及び洗浄部２７を搭載する。

反応ディスク１１は、円周上に配列された複数の反応管３１を保持する。反応ディスク１１は、既定の時間間隔で回動と停止とを交互に繰り返す。サンプルディスク１３は、反応ディスク１１の近傍に配置されている。サンプルディスク１３は、サンプルが収容されたサンプル容器３３を保持する。サンプルディスク１３は、分注対象のサンプルが収容されたサンプル容器３３がサンプル吸入位置に配置されるように回動する。第１試薬庫１５は、サンプルの検査項目に選択的に反応する第１試薬が収容された複数の第１試薬容器３５を保持する。第１試薬庫１５は、分注対象の第１試薬が収容された第１試薬容器３５が第１試薬吸入位置に配置されるように回動する。第２試薬庫１７は、反応ディスク１１の近傍に配置される。第２試薬庫１７は、第１試薬に対応する第２試薬が収容された複数の第２試薬容器３７を保持する。第２試薬庫１７は、分注対象の第２試薬が収容された第２試薬容器３７が第２試薬吸入位置に配置されるように回動する。

反応ディスク１１とサンプルディスク１３との間にはサンプルアーム１９―１が配置される。サンプルアーム１９―１の先端には、サンプルプローブ２１―１が取り付けられている。サンプルアーム１９―１は、サンプルプローブ２１―１を上下動可能に支持している。また、サンプルアーム１９―１は、円弧状の回動軌跡に沿って回動可能にサンプルプローブ２１―１を支持している。サンプルプローブ２１―１の回動軌跡は、サンプルディスク１３上のサンプル吸入位置や反応ディスク１１上のサンプル吐出位置を通過する。サンプルプローブ２１―１は、サンプルディスク１９―１上のサンプル吸入位置に配置されているサンプル容器３３からサンプルを吸入し、反応ディスク１１上のサンプル吐出位置に配置されている反応管３１にサンプルを吐出する。

反応ディスク１１の外周近傍には第１試薬アーム１９―２が配置される。第１試薬アーム１９―２の先端には第１試薬プローブ２１―２が取り付けられている。第１試薬アーム１９―２は、第１試薬プローブ２１―２を上下動可能に支持する。また、第１試薬アーム１９―２は、円弧状の回動軌跡に沿って回動可能に第１試薬プローブ２１―２を支持している。第１試薬プローブ２１―２の回動軌跡は、第１試薬庫１５上の第１試薬吸入位置と反応ディスク１１上の第１試薬吐出位置とを通る。第１試薬プローブ２１―２は、第１試薬庫１５上の第１試薬吸入位置に配置されている第１試薬容器３５から第１試薬を吸入し、反応ディスク１１上の第１試薬吐出位置に配置されている反応管３１に第１試薬を吐出する。

反応ディスク１１と第２試薬庫１７との間には第２試薬アーム１９―３が配置される。第２試薬アーム１９―３の先端には第２試薬プローブ２１―３が取り付けられている。第２試薬アーム１９―３は、第２試薬プローブ２１―３を上下動可能に支持する。また、第２試薬アーム１９―３は、円弧状の回動軌跡に沿って回動可能に第２試薬プローブ２１―３を支持している。第２試薬プローブ２１―３の回動軌跡は、第２試薬庫１７上の第２試薬吸入位置と反応ディスク１１上の第２試薬吐出位置とを通る。第２試薬プローブ２１―３は、第２試薬庫１７上の第２試薬吸入位置に配置されている第２試薬容器３７から第２試薬を吸入し、反応ディスク１１上の第２試薬吐出位置に配置されている反応管３１に第２試薬を吐出する。

反応ディスク１１の外周近傍には撹拌部２３が配置される。撹拌部２３の先端には撹拌子２５が取り付けられている。撹拌部２３は、反応ディスク１１上の撹拌位置に配置された反応管３１内のサンプルと第１試薬との混合液、または、サンプルと第１試薬と第２試薬との混合液を攪拌子で攪拌する。以下、これら反応液と呼ぶことにする。

図２に示すように、反応ディスク１１の近傍には、測光部２５が設けられている。測光部２５は、分析機構制御部３による制御に従って作動する。具体的には、測光部２５は、測光位置に位置する反応管３１について複数の高さで測光を行う。測光部２５の出力は、図１に示すように、測定値計算部４に供給される。

反応ディスク１１の外周には、洗浄部２７が設けられている。洗浄部２７は、分析機構制御部３による制御に従って作動する。具体的には、洗浄部２７は、洗浄ノズルと乾燥ノズルとが取り付けられている。洗浄部２７は、反応ディスク１１の洗浄位置にある反応管３１を洗浄ノズルで洗浄し、乾燥ノズルで乾燥する。

分析機構制御部３は、システム制御部１による制御に従って分析機構２の各装置や機構を作動する。分析機構制御部３による制御に従って分析機構２は作動する。測定値計算部４は、測光部２５の出力に基づいて反応液の吸光度や濁度等の測光による測定値を計算する。測定値は、測光の高さ毎に計算される。判定部５は、高さ間の測光結果のばらつきの有無を判定する。設定部５は、操作部７を介して入力された指示に従って分析条件を設定する。表示部６は、例えばＣＲＴディスプレイや、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、プラズマディスプレイ等の表示デバイスを有する。表示部６は、判定部による判定結果を表示する。また、表示部６、分析条件を設定するための画面（以下、分析条件設定画面と呼ぶ）を表示する。操作部７は、オペレータからの入力機器を介した各種指令や情報入力を受け付ける。入力機器としては、マウスやトラックボールなどのポインティングデバイス、スイッチボタン等の選択デバイス、あるいはキーボード等の入力デバイスが適宜利用可能である。記憶部８は、自動分析装置１の動作プログラム等を記憶している。システム制御部９は、自動分析装置１の中枢として機能する。システム制御部９は、記憶部８から動作プログラムを読み出し、動作プログラムに従って各部を制御する。

以下、本実施形態に係る自動分析装置１について詳細に説明する。

まずは、図３を参照しながら、反応管３１と測光位置Ｐ１との位置関係を説明する。図３に示すように、反応ディスク１１により複数の反応管３１が配列されている。複数の反応管３１は、反応ディスク１１の移動に伴い移動する。測光位置Ｐ１は、反応管３１の回転軌道上の所定位置に設けられている。反応管３１は、長軸が鉛直軸に沿うように反応ディスク１１に配置されている。ここで、反応管３１の長軸に沿う方向を高さ方向と呼ぶことにする。本実施形態においては、測光位置Ｐ１において、複数の高さに測光点ＰＰが設定されている。複数の測光点ＰＰは、離散的に設定されている。測光部２５の光源からの光は、複数の測光点ＰＰで集光される。なお、測光に利用される光は、図３の紙面手前側から奥側、または、奥側から手前側に進行する。複数の測光点ＰＰは、測光高さに依存した測光異常を検出するために設定される。すなわち、測光点ＰＰは、比較的正常に測光しやすい高さ位置と比較的正常に測光しにくい高さ位置とに設定されるとよい。

次に、測光異常について説明する。図４及び図５は、測光異常を説明するための図である。図４は、反応液の高さ方向に濃度むらが発生している例を示す図であり、図５は、反応液上部に泡が発生している例を示す図である。図４及び図５に示すように、反応管３１は縦長の構造を有している。従って、反応管３１内の反応液は横方向（水平方向）には混ざりやすいが、高さ方向（鉛直方向）には混ざりにくい。従って、反応液内において高さ方向に濃度のむらが発生しやすい。液体の粘性などの原因により、高さに応じて反応液の濃度が異なる場合がある。この場合、複数の高さにある光路上の濃度に応じてそれぞれ測定値が異なる。また、攪拌時やサンプル分注時、試薬分注時に反応液が泡立つ場合がある。泡立ちによっても反応液内の濃度にむらが発生する。光路に泡が存在する場合の測定値と泡が存在しない場合の測定値とは値が異なる。例えば、図４及び図５に示すように、上から高さＡ、高さＢ、及び高さＣで測光を行ったとする。この場合、高さＡを通る光線に由来する測定値と高さＣを通る光線に由来する測定値とは値が異なる。

図６は、測光異常の他の例を説明するための図であり、液量不足が発生している例を示す図である。図６に示すように、サンプルや試薬の分注機構の故障等により、反応管３１内の反応液が不足する場合がある。この場合にも高さに応じて測定値が異なる。例えば、高さＡ及びＢのように反応液を通らない光線に由来する測定値と高さＣのように反応液を通る光線に由来する測定値とは値が異なる。

すなわち、反応液の液面側は、比較的正常に測光しにくく、反応液の底側は、比較的正常に測光しやすいといえる。従って、少なくとも反応液の上部と反応液の下部とに測光点が設定されるとよい。なお、測光点の数は、２以上であれば幾つでも良い。例えば、測光点は、反応液の上部と反応液の下部とに加え、反応液の高さ方向の中間に設定されてもよい。

図３に示すように、反応ディスク１１は、測光位置Ｐ１を通過するように反応管３１を移動する。反応管３１内の反応液は、測光位置Ｐ１を通過する毎に、測光部２５により複数の測光点ＰＰを対象として測光される。なお、後述するように、測光点ＰＰは、離散的ではなく、連続的に配置されていてもよい。

次に図７を参照しながら、測光部２５の構成の詳細について説明する。図７に示すように、測光部２５は、光源５１、検出器５３、分光器５５、信号処理部５７、及び光伝送系統５９を有している。図７に示すように、光源５１と検出器５３とは、測光位置Ｐ１を挟むように配置される。光源５１は、光を発生する。光源５１から照射される光は、反応液の濁度あるいは吸光度を計測可能な波長帯域を含むものであることが好ましい。光源５１としては、ハロゲンランプやＬＥＤ（light-emitting diode）などを用いることができる。測光位置Ｐ１と検出器５３との間には、分光器５５が設けられている。分光器５５は、光源５１からの光を分光する。分光器５５としては、例えば、回折格子が採用される。回折格子は、例えば、鏡面に等間隔に形成された複数の溝（格子線）が形成された凹面鏡により構成される。回折格子に照射された光は、回折格子上の格子線により波長毎に分散される。検出器５３は、分光器５５からの光を検出し、検出された光に応じた強度を有する電気信号を発生する。

図７に示すように、光源５１と分光器５５との間には、光伝送系統５９が設けられている。光伝送系統５９は、複数の高さの測光を行うために、光源５１から発生された光が測光位置において複数の高さの測光点ＰＰで集光するように設けられている。ここで、光伝送系統５９により集光された光を光線と呼ぶことにする。光源５１からの光は、測光点ＰＰにおいて、反応管３１外を通過せずに、反応管３１内のみを通過するように光伝送系統５９により幅が制限される。具体的には、光伝送系統５９は、光源５１からの光を複数の光線に分配可能な複数の光伝送路からなる。例えば、光伝送路としては、光の伝送損失が少ない光ファイバーが用いられると良い。

図７に示すように、光伝送系統５９は、第１の光伝送系統５９―１と第２の光伝送系統５９―２とからなる。第１の光伝送系統５９―１は、光源５１と測光位置Ｐ１との間に設けられている。第１の光伝送系統５９―１は、光源５１から発生された光を集光し、複数の測光点ＰＰに導くように設けられている。第２の光伝送系統５９―２は、測光位置Ｐ１と分光器５５との間に設けられている。第２の光伝送系統５９―２は、複数の測光点ＰＰからの複数の光線を、分光器５５まで導くように設けられている。

分光器５５からの光は、検出器５３により検出される。検出器５３は、検出された光線の強度に応じた電気信号を測光点ＰＰ毎に生成する。発生された電気信号は、信号処理部５７に供給される。信号処理部５７は、検出器５３からの電気信号に信号増幅処理やＡ／Ｄ変換処理等の信号処理を施し、デジタルデータを出力する。デジタルデータは、測定値計算部４により繰り返し供給される。

デジタルデータが供給されると測定値計算部４は、デジタルデータに基づいて吸光度や濁度等の測光による測定値を計算する。上述のように測光は、複数の時点において繰り返し行われる。測定値は、測光高さ毎に各測光時点において計算される。測定値は、時間経過に伴う化学反応の進行度合いに応じて変化する。時間経過に伴う測定値の変化曲線は、反応曲線と呼ばれている。反応曲線は、測光高さ毎に計算される。反応曲線のデータ、すなわち、測定値のデータは、判定部５に供給される。また、測定値は、測定項目の解析結果として表示部８により所定のレイアウトで表示される。

次に、判定部５による判定処理について説明する。判定部５は、複数の測光高さに関する測定値を比較し、測定値間にばらつきがあるか否かを判定する。判定部５は、特定時点の測定値同士を比較しても良いし、反応曲線同士を比較しても良い。また、判定部５は、反応曲線を構成する複数の測定値の統計値同士を比較しても良い。以下、説明を具体的に行うため比較対象を単に測定値と呼ぶことにする。

具体的には、判定部５は、異なる測光高さの測定値間の差分が既定の閾値範囲内にあるか否かを判定する。閾値範囲は予め設定される。判定部５は、差分が既定の閾値範囲内にある場合、ばらつきが無いと判定し、差分が既定の閾値範囲外にある場合、ばらつきがあると判定する。例えば、反応液の液面に泡が発生している場合を考える。この場合、光路に泡が存在する光線と光路に泡が存在しない光線とが検出器５３により検出され、光路に泡が存在する光線に由来する測定値と光路に泡が存在しない光線に由来する測定値とが測定値計算部３により検出される。光路に泡が存在する光線に由来する測定値と光路に泡が存在しない光線に由来する測定値とは、異なる値を有する。この場合、これら測定値間の差分は、閾値範囲外にあると判定され、ばらつきがあると判定される。すなわち、複数の高さの測定値間にばらつきが生じている場合、測光に関して異常が発生していると推定できる。このために判定部５は、複数の測光高さの測定値間のばらつきの有無を判定する。判定部５による判定結果は、表示部８に表示される。例えば、ばらつきがあると判定された場合、表示部８は、「反応に異常が検出されました」等のメッセージを表示する。

なお、濃度むらや泡立ちは、測定項目に応じて発生頻度が異なる。従って設定部６は、分析条件の設定時において、測光高さを測定項目に応じて設定することができる。

図８は、分析条件の設定時において表示部８により表示される分析条件設定画面の一例を示す図である。図８に示すように、分析条件の項目としては、例えば、測定項目名、サンプル量、試薬量、波長、及び測光高さが挙げられる。測定項目名の表示欄には、測定項目を設定する。サンプル量には、サンプル量を設定する。試薬量は、第１試薬の量を設定し、第２試薬の量を設定する。波長は、主波長（第１の波長）と副波長（第２の波長）とを設定する。測光高さは、測光する高さを設定する。例えば、図８に示すように、測光高さＡを示すマークＭＡ、測光高さＢを示すマークＭＢ、及び測光高さＣを示すマークＭＣが選択可能である。測光高さは、予め指定されている。測光高さは、ユーザにより操作部７を介して任意に設定可能である。

分析条件は、表示部８により表示される。

次に、本実施形態に係る測光部２５の具体的な構成を説明する。光伝送系統５９を利用した測光部２５の構成は大きく分けて２種類に大別される。以下、各構成について説明する。

図９は、光伝送系統５９を利用した第１の測光部２５―１の構造を模式的に示す図である。図９において測光高さは３つであるとする。なお、測光高さは、２以上であれば幾つでも良い。また、図９において信号処理部５７は省略されている。図９に示すように、第１の測光部２５―１において、第１の光伝送系統５９−１は複数の第１の光ファイバー６１−１を有し、第２の光伝送系統５９−２は複数の第２の光ファイバー６１−２を有している。また、第１の測光部２５―１は、複数の分光器５５、及び複数の検出器５３を有している。第１の光ファイバー６１―１、第２の光ファイバー６１―２、分光器５５、及び検出器５３は、測光高さ毎に設けられている。第１の光ファイバー６１―１、第２の光ファイバー６１―２、分光器５５、及び検出器５３の一つのセットは、一つの測光系をなす。第１の光ファイバー６１―１、第２の光ファイバー６１―２、分光器５５、及び検出器５３は、測光系間で光が互いに干渉しないように配置される。第１の光ファイバー６１―１と第２の光ファイバー６１―２とは測光高さ毎に一本ずつ設けられても、複数本ずつ設けられてもどちらでもよい。光源の数は一つであっても複数であっても良い。

図９に示すように、第１の光ファイバー６１―１と第２の光ファイバー６１―２とは、光源５１からの光が何れか一つの測光点ＰＰを通り分光器５５まで到達するように配置される。より詳細には、第１の光ファイバー６１―１は、光源５１からの光が測光点ＰＰを通るように配置される。第２の光ファイバー６１―２は、測光点ＰＰを通過した光が入射し、分光器５５に到達するように配置される。各分光器５５は、一つの測光点ＰＰを通過した光線を分光する。各検出器５３は、各分光器５５により分光された光の光路上に設けられる。検出器５３は、一列に配列された複数の受光素子からなる。受光素子としては、例えば、フォトダイオード等の光電変換可能な素子が用いられる。検出器５３は、分光器５５からの光の分散方向に複数の受光素子が配列されるように配置される。このような配置により、第１の測光部２５−１は、複数の測光高さに関する複数の光線を同時に個別に検出することができる。

図１０は、光伝送系統５９を利用した第２の測光部２５―２の模式的な構造を示す図である。なお、図１０において測光高さは３つであるとする。図１０に示すように、第２の測光部２５―２において、第１の光伝送系統５９−１は複数の第１の光ファイバー６０−１を有し、第２の光伝送路５９―２は複数の第２の光ファイバー６０−２を有している。また、第２の測光部２５―２は、単一の分光器５５、単一の検出器５３を有している。光源５１の数は一つであっても複数であっても良い。第１の光ファイバー６１―１と第２の光ファイバー６１―２とは、測光高さ毎に設けられている。

図１０に示すように、第１の光ファイバー６１―１と第２の光ファイバー６１―２とは、第１の測光部２５―１と同様に、光源５１からの光が何れか一つの測光点ＰＰを通るように配置される。複数の第２の光ファイバー６１―２の分光器５５側の端部ＥＰは、これら複数の第２の光ファイバー６１―２からの光線が分光器５５に照射されるように一箇所に束ねられる。複数の第２の光ファイバー６１―２の端部ＥＰと分光器５５との間には、鏡６３が設けられている。鏡６３は、複数の第２の光ファイバー６１―２のうちの何れか一つの第２の光ファイバー６１―２からの光線を分光器５５に導くために設けられる。鏡６３は、分析機構制御部３により作動される図示しない支持機構により、鏡６３の反射面の向きを変更に支持されている。鏡６３は、所定のタイミング毎に、複数の第２の光ファイバー６１―２のうちの何れか一つの第２の光ファイバー６１―２からの光線のみが分光器５５に到達するように反射面の向きが変更される。例えば、複数の第２の光ファイバー６１―２からの光線が測光時点毎に順番に分光器５５に到達するように、鏡６３の向きが測光時点毎に順番に変更される。鏡６３による光線の選択により、第２の光ファイバー６１―２からの複数の光線の干渉を防止することができる。分光器５５は、鏡６３からの光線を分光する。検出器５３は、分光器５５からの光の光路上に配置される。検出器５３は、第１の測光部２５―１と同様に、検出器５３は、一列に配列された複数の受光素子からなる。検出器５３は、分光器５５からの光の分散方向に複数の受光素子が配列されるように配置される。このような配置により、第２の測光部２５−２は、複数の測光高さに関する複数の光線を、時点をずらして順番に個別に検出することができる。

かくして、本実施形態によれば、測定結果の信頼性を向上可能な自動分析装置を提供することが可能となる。

以下、本実施形態に係る測光部の構成についての種々の変形例について説明する。なお以下の説明において、本実施形態と略同一の機能を有する構成要素については、同一符号を付し、必要な場合にのみ重複説明する。

［変形例１］
変形例１に係る測光部２５―３は、複数の測光点ＰＰをカバー可能な幅を有する光線を発生可能な光源を利用する。図１１は、変形例１に係る測光部２５―３の構成を模式的に示す図である。図１１に示すように、光源５１´は、複数の測光点ＰＰをカバー可能な幅を有する光線を発生する。光線は、光軸に沿って平行に分光器５５´に照射される。なお、光源５１´からの光を複数の測光点に集光させるために、光源５１´測光位置との間にスリットや集光レンズ等を設けても良い。分光器５５´は、光源５１´からの光線を分光する。分光器５５´は、光線が高さ方向に散乱されないような構造を有しているとよい。検出器５３´は、分光器５５´からの光を検出する。検出器５３´は、２次元状に配列された複数の受光素子からなる。例えば、検出器５３´として、２次元状に配列されたフォトダイオードからなるフォトダイオードアレイ（ＰＤＡ）が用いられると良い。検出器５３´は、分光器５５´からの光線の光路上に設置される。検出器５３´からの電気信号は、信号処理部に供給される。

上記の説明の通り、変形例１に係る検出器５３´は、高さ方向に沿って配列された複数の受光素子を有している。光線同士の高さ方向に関する相対的な位置関係は、検出器５３´の受光面においても保たれる。高さ方向の異なる受光素子からの電気信号は、異なる測光高さからの光線に由来する。変形例１に係る判定部５は、高さ方向の異なる受光素子に由来する測定値同士を比較することにより、高さ方向の異なる測定値間のばらつきの有無を判定することができる。

かくして、変形例１によれば、測定結果の信頼性を向上可能な自動分析装置を提供することが可能となる。

［変形例２］
変形例２に係る測光部２５―４は、複数の測光高さにそれぞれ対応する複数の測光部（以下、サブ測光部と呼ぶ）を有している。以下、図１２を参照しながら変形例２に係る測光部２５―４の構成について説明する。なお、図１２において測光高さは３つであるとする。

図１２は、変形例２に係る測光部２５―４、すなわち、サブ測光部２５１、２５２、及び２５３を模式的に示す図である。なお、図１２においては、測光位置から検出器までの光学系素子の配置は従来と同様なので、分光器と検出器とについては省略している。図１２に示すように、変形例２に係る測光部２５―４は、３つの測光高さにそれぞれ対応するサブ測光部２５１、２５２、及び２５３を搭載している。例えば、サブ測光部２５１は測光高さＡに対応し、サブ測光部２５２は測光高さＢに対応し、サブ測光部２５３は測光高さＣに対応する。サブ測光部２５１、２５２、及び２５３は、反応ディスク１１の近傍の異なる位置に設けられている。各測光高さＡ、Ｂ、Ｃを通過した光は、従来と同様に、分光器５３により分光され、検出器５３により検出される。

かくして、変形例２によれば、測定結果の信頼性を向上可能な自動分析装置を提供することが可能となる。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１…自動分析装置、２…分析機構、３…分析機構制御部、４…判定部、５…設定部、６…表示部、７…操作部、８…記憶部、９…システム制御部、１１…反応ディスク、１３…サンプルディスク、１５…第１試薬庫、１７…第２試薬庫、１９―１…サンプルアーム、１９―２…第１試薬アーム、１９―３…第２試薬アーム、２１―１…サンプルプローブ、２１―２…第１試薬プローブ、２１―３…第２試薬プローブ、２３…撹拌部、２５…測光部、２７…洗浄部、３１…検査容器、５１…光源、５３…検出器、５５…分光器、５７…信号処理部、５９…光伝送系統、５９―１…第１の光伝送系統、５９―２…第２の光伝送系統、ＰＰ…測光点、Ｐ１…測光位置

Claims

サンプル及び試薬が吐出される複数の反応管を保持し、所定量のサンプル及び試薬が吐出された複数の反応管各々を測光位置に位置させる反応ディスクと、
前記反応管各々に吐出するサンプル及び試薬の各々の量、解析結果として用いる測定値を得る測光高さを測定項目毎に設定するための画面を表示する表示部と、
前記測光位置に位置する各反応管における異なる複数の高さ各々に光を集光し、前記反応管を通過した光の強度に応じた電気信号を生成する測光部と、
前記電気信号に基づいて前記解析結果として用いる測定値を前記測定項目毎に計算する計算部と、
を具備する自動分析装置。
前記複数の高さにそれぞれ対応する複数の測光値のばらつきの有無を判定する判定部、をさらに備える請求項１記載の自動分析装置。
前記測光部は、
光を発生する光源と
前記光源から発生された光が前記測光位置において前記複数の高さを通過するように設けられた光伝送系統と、
前記光源から発生され前記光伝送系統を伝播した光を検出する検出部と、を備える、
請求項１記載の自動分析装置。
前記光伝送系統は、前記光源からの光を前記測光位置において前記複数の高さに導くように前記光源と前記測光位置との間に設けられた複数の第１の光ファイバーを有する、請求項３記載の自動分析装置。
前記光伝送系統は、前記測光位置における前記複数の高さからの複数の光線を前記検出部まで導くように前記測光位置と前記検出部との間に設けられた複数の第２の光ファイバーを有する、請求項３又は４記載の自動分析装置。
前記検出部は、前記複数の第２の光ファイバーを伝播した複数の光線をそれぞれ検出するための複数の検出器を有する、請求項５記載の自動分析装置。
前記検出部は、前記複数の第２の光ファイバーを伝播した複数の光線を検出するための単一の検出器を有し、
前記複数の第２の光ファイバーは、前記複数の光線を前記単一の検出器まで導くように配置される、
請求項５記載の自動分析装置。
前記測光部は、
前記測光位置における前記複数の高さを通過可能な幅を有する光を発生する光源と、
前記光源から発生された光を検出する検出器と、を備える、
請求項１記載の自動分析装置。
前記測光部は、前記複数の高さにそれぞれ対応する複数の測光部を有し、
前記複数の測光部の各々は、光を発生する光源と、前記光源から発生された光に対して前記複数の高さのうちの特定の高さに集光させるための光学系素子と、前記測光位置を通過した光を検出する検出器と、を有し、
前記特定の高さは、前記測光部毎に異なるように設定される、
請求項１記載の自動分析装置。
判定部を更に備え、
前記計算部は、前記測光部からの出力に基づいて前記測定項目毎に前記複数の高さに関する複数の測定値を計算し、
前記判定部は、前記測定項目毎に前記複数の高さに関する前記複数の測定値のばらつきの有無を判定し、
前記表示部は、前記判定部による判定結果と前記解析結果として用いる測定値とを表示する、
請求項１記載の自動分析装置。