JP5715587B2 - レギュレータ - Google Patents

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    • G05F1/56Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
    • G05F1/575Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices characterised by the feedback circuit

Description

本実施形態は、スイッチング動作を行わずに直流電圧変換を行うレギュレータに関する。
入力電圧VINと出力電圧Voutの電圧差が大きい場合には、インダクタとスイッチングトランジスタを用いて、インダクタに蓄積された磁気エネルギーを直流電圧に変換するスイッチングレギュレータを用いることが多いが、スイッチングレギュレータは、回路構成が複雑であり、ノイズも多いという問題がある。
そこで、入力電圧VINと出力電圧Voutの電圧差が小さい場合には、回路構成が簡易で、ノイズも少ないシリーズレギュレータを用いることが多い。シリーズレギュレータは、磁気エネルギーを用いずに、入力電圧VINから直接、出力電圧Voutに変換するため、熱による損失が多いという問題があるが、入力電圧VINと出力電圧Voutの電圧差とシリーズレギュレータでの導通損失には比例関係があることから、損失を小さくするためには、その電位差が0.1V程度でも動作が可能なシリーズレギュレータの一形式である、低ドロップアウトレギュレータ(LDO:Low Drop Out Regulator)を用いることが多い。
ところで、近年、半導体集積回路の微細化とそれに伴う低電圧化の影響で、CPUなどの半導体部品の許容電源電圧範囲が狭くなっている一方で、CPUなどは動作モードによって負荷電流が大きく変動するため、負荷電流の急変時にも出力電圧の変動量を50mV以下に抑制する性能が要求されることが多くなった。
この要求を満たすには、低ドロップアウトレギュレータの広帯域化が必要となる。ところが、従来の低ドロップアウトレギュレータで広帯域化を実現しようとすると、低ドロップアウトレギュレータの消費電力が増大するという問題があった。
特開2012−16123号公報
本実施形態は、消費電力の増大を抑制するとともに広帯域化を実現可能なレギュレータを提供するものである。
上記の課題を解決するために、本発明の一態様では、基準電圧と出力電圧に相関する電圧との電圧差に応じた比較信号を生成する差動回路と、前記差動回路に電流を供給する第1電流源と、前記比較信号に応じて、入力電圧を用いて前記出力電圧を調整する第1トランジスタと、前記差動回路の一対の差動出力線に接続される第1カレントミラー回路と、前記出力電圧に重畳された高周波信号を増幅して前記一対の差動出力線の一方に供給する第2トランジスタと、前記第2トランジスタに前記高周波信号の増幅のための電流を供給する第2電流源と、前記高周波信号に応じた電荷を蓄積して、該電荷量に応じて前記第2トランジスタを介して前記一対の差動出力線の一方に流れる電流を制御する第1コンデンサと、を備えることを特徴とするレギュレータが提供される。
第1の実施形態に係るLDOレギュレータの内部構成を示す回路図。 図1の差動回路2と、第1カレントミラー回路3と、位相補償回路4と、出力段トランジスタ5と、電圧分圧回路6との内部構成を具体化した一例を示す回路図。 第2の実施形態に係るLDOレギュレータ1の内部構成を示す回路図。 第3の実施形態に係るLDOレギュレータ1の内部構成を示す回路図。 第4の実施形態に係るLDOレギュレータ1の内部構成を示す回路図。 第5の実施形態に係るLDOレギュレータ1の内部構成を示す回路図。 図6の変形例を示す回路図。 第6の実施形態に係るLDOレギュレータ1の内部構成を示す回路図。 図8の変形例を示す回路図。 第7の実施形態に係るLDOレギュレータ1の内部構成を示す回路図。 図10の変形例を示す回路図。 第8の実施形態に係るLDOレギュレータ1の回路図。 図12の変形例を示す回路図。 第9の実施形態に係るLDOレギュレータ1の回路図。 図6の変形例を示す回路図。 図8の変形例を示す回路図。 図15に示すLDOレギュレータ1の広帯域トランジスタ7の導電型を逆にして、入力電圧線VINと接地線Vssの間の回路の接続形態も逆にした回路図。 図16に示すLDOレギュレータ1の広帯域トランジスタ7の導電型を逆にして、入力電圧線VINと接地線Vssの間の回路の接続形態も逆にした回路図。
以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。
(第1の実施形態)
図1は第1の実施形態に係る低ドロップアウトレギュレータ(以下、LDOレギュレータ)の内部構成を示す回路図である。図1のLDOレギュレータ1は、差動回路2と、第1カレントミラー回路3と、位相補償回路4と、出力段トランジスタ(第1トランジスタ)5と、電圧分圧回路6と、広帯域制御トランジスタ(第2トランジスタ)7と、位相補償コンデンサ(第1コンデンサ)Ci1と、第1および第2電流源8,9と、出力コンデンサ(第2コンデンサ)Coutとを備えている。
図2は図1の差動回路2と、第1カレントミラー回路3と、位相補償回路4と、出力段トランジスタ5と、電圧分圧回路6との内部構成を具体化した一例を示す回路図である。図2は一例であり、これら回路の内部構成の具体的な回路は図2に示したものに限定されない。
図2に示すように、電圧分圧回路6は、出力電圧Voutを出力する出力電圧線Voutと接地線Vssとの間に直列接続された複数の抵抗R1,R2を有し、これら抵抗R1,R2の段間から出力電圧Voutを分圧した分圧電圧Vdivを出力する。抵抗R1の両端には、スピードアップコンデンサCsが接続されている。
出力電圧線Voutと接地線Vssとの間には、出力コンデンサCoutが接続されている。従来のLDOレギュレータ1は、位相補償のために、出力コンデンサCoutの具体的種類として、誘電体や電極の損失抵抗成分(ESR:Equivalent Series Resistance)が大きいコンデンサ(例えば、タンタルコンデンサや電解コンデンサ)を用いるか、コンデンサとは別個に、ESRをコンデンサに直列接続することが多かった。ところが、本実施形態では、後述するように、出力コンデンサCoutで位相補償を行う必要がないため、セラミックコンデンサを用いることができる。セラミックコンデンサは、その内部に設けられるESRの抵抗値が小さいことで知られているが、本実施形態によれば、セラミックコンデンサ単体でも広帯域化を実現でき、世楽ミックコンデンサにESRを外付けする必要もない。
タンタルコンデンサや電解コンデンサは、発火のおそれがあることが知られており、発火のおそれのないセラミックコンデンサを使用できることは、LDOレギュレータの信頼性向上につながる。
出力コンデンサCoutには、並列に負荷抵抗Rloadが接続されている。この負荷抵抗Rloadは、負荷の動作に応じて抵抗値が変動することを想定している。例えば、負荷としてCPUを接続すると、CPUの動作モードによって負荷電流が大きく変動するため、それに応じて負荷抵抗Rloadも変化する。本実施形態は、負荷抵抗Rloadが変化しても、広帯域にわたって出力電圧Voutの変動を抑制できることを特徴とする。
差動回路2は、基準電圧Vrefと分圧電圧Vdivとの電圧差に応じた比較信号を生成する。差動回路2は、ソースが共通に接続された一対のNMOSトランジスタM1,M2を有し、NMOSトランジスタM1のゲートには基準電圧Vrefが入力され、NMOSトランジスタM2のゲートには分圧電圧Vdivが入力される。また、NMOSトランジスタM1,M2のドレインには第1カレントミラー回路3が接続されている。本明細書では、一対のNMOSトランジスタのドレインと第1カレントミラー回路3を接続する信号経路を一対の差動出力線10と呼ぶ。NMOSトランジスタM1,M2のソースと接地線Vssとの間には、第1電流源8が接続されている。
NMOSトランジスタM1のゲートは差動回路2の反転入力端子であり、NMOSトランジスタM2のゲートは差動回路2の非反転入力端子である。本実施形態では、差動回路2の反転入力端子に入力された分圧電圧Vdivを、非反転入力端子に入力された基準電圧と比較して、両者の電圧差に応じた比較信号を出力段トランジスタ5のゲートに入力し、出力電圧Voutを帰還制御する。
一対の差動出力線10の一方と接地線Vssとの間には、広帯域制御トランジスタ7と第1電流源8とが直列接続されている。より具体的には、広帯域制御トランジスタ7のドレインは差動出力線の一方に接続され、ソースは第1電流源8の一端に接続されている。また、広帯域制御トランジスタ7のゲートには、分圧電圧Vdivが入力される。これにより、広帯域制御トランジスタ7は、出力電圧Voutに重畳された高周波信号を増幅して、一対の差動出力線10の一方に供給する。第1電流源8は広帯域制御トランジスタ7のソースと接地線の間に接続されており、この第1電流源8に並列に位相補償コンデンサCi1が接続されている。
位相補償コンデンサCi1は、出力電圧Voutに重畳された高周波信号に応じた電荷を蓄積するとともに、蓄積電荷量に応じて広帯域制御トランジスタ7を介して一対の差動出力線10の一方に流れる電流を制御する。
一対の差動出力線10の他方は、出力段トランジスタ5のゲートに接続されている。出力段トランジスタ5のソースには入力電圧VINが供給され、ドレインは出力電圧線Voutに接続されている。また、出力段トランジスタ5のソースとゲートの間には位相補償回路4が接続されている。この位相補償回路4は必須ではなく、省略してもよい。この位相補償回路4は、直列接続されたコンデンサCi2および抵抗R3を有する。
次に、図2のLDOレギュレータ1の動作を説明する。まず、LDOレギュレータ1の直流的な動作を説明する。差動回路2は、基準電圧Vrefと出力電圧Voutの分圧電圧Vdivとの電圧差に応じた比較信号を生成する。この比較信号は、出力段トランジスタ5のゲートに入力される。出力段トランジスタ5のソースには入力電圧VINが供給され、ドレインからは出力電圧Voutが出力されることから、比較信号によって、出力段トランジスタ5のドレイン−ソース間の抵抗を変化させることができ、これにより、入力電圧VINにて出力電圧Voutの電圧レベルを制御することができる。
例えば、出力電圧Voutの分圧電圧Vdivが基準電圧Vrefよりも高くなったとすると、出力段トランジスタ5のゲート電圧が高くなり、PMOSトランジスタである出力段トランジスタ5のソース−ドレイン間抵抗は大きくなって、出力電圧Voutは低くなる。これにより、出力電圧Voutの分圧電圧Vdivも低くなる。
次に、LDOレギュレータ1の交流的な動作を説明する。負荷変動により出力電圧Voutに高周波信号が重畳された場合は、広帯域制御トランジスタ7を介して、位相補償コンデンサCi1に電荷が蓄積される。この電荷蓄積動作は瞬時に行われる。また、電圧分圧回路6内の抵抗R1の両端にスピードアップコンデンサCsを接続していることもあり、出力電圧Voutに重畳された高周波信号は、瞬時に広帯域制御トランジスタ7のゲートに伝達される。
位相補償コンデンサCi1に電荷が蓄積されると、瞬時に広帯域制御トランジスタ7のドレイン電流が増大して、NMOSトランジスタM2のドレイン電流も増大する。NMOSトランジスタM1,M2の各ドレイン(一対の差動出力線)には第1カレントミラー回路3が接続されているため、NMOSトランジスタM2のドレイン電流の増加により、出力段トランジスタ5のゲート電圧が高くなり、出力段トランジスタ5のソース−ドレイン電流が減ることから、出力電圧の変動が抑制されることになる。
このように、図2のLDOレギュレータ1は、出力電圧Voutに高周波信号が重畳された場合は、その高周波信号を抑制するような制御を行う。この制御は、きわめて迅速に行われ、これにより、広帯域化が実現できる。
なお、図2のLDOレギュレータ1では、差動回路2内の一対のトランジスタM1,M2のうち、反転入力側の一方のトランジスタM2側のみに、広帯域制御トランジスタ7、第1電流源8および位相補償コンデンサCi1を接続しており、差動回路2が非対称の回路構成になっている。このため、一対のトランジスタM1,M2を同じサイズにすると、出力電圧Voutに大きなオフセット電圧が発生してしまう。
したがって、オフセット調整のために、トランジスタM1,M2のサイズ比を変更するか、あるいは、第1カレントミラー回路3内の一対のトランジスタM3,M4のサイズ比を変更するのが望ましい。
図2のLDOレギュレータ1では、出力コンデンサCoutと位相補償コンデンサCi1の各一端を接地線Vssに接続しているが、必ずしも接地線Vssに接続する必要はなく、インピーダンスが低い安定した電圧経路に接続すればよい。
このように、第1の実施形態では、LDOレギュレータ1内の差動回路2の反転入力側に、広帯域制御トランジスタ7、位相補償コンデンサCi1および第1電流源8を設けるため、出力電圧Voutに重畳される高周波信号を瞬時に出力段トランジスタ5のゲートに帰還させて抑制することができ、LDOレギュレータ1の広帯域化を実現できる。
また、本実施形態では、広帯域制御トランジスタ7、位相補償コンデンサCi1および第1電流源8の各素子パラメータを調整することで、位相補償回路4を別個に設けなくても発振のおそれがなくなり、位相補償回路4が不要になるとともに、出力コンデンサCoutとしてセラミックコンデンサを用いることができるようになる。セラミックコンデンサは、位相補償に効果のあるESRが小さいという問題があるが、上述したように、本実施形態では出力コンデンサCoutで位相補償を行う必要がなく、また、セラミックコンデンサは、タンタルコンデンサや電解コンデンサのように発火のおそれがなく、リップル成分も少ないため、信頼性および電気的特性が向上する。また、上述したように、位相補償回路4の省略により、回路構成を簡略化でき、部品コストも削減できる。
(第2の実施形態)
以下に説明する第2の実施形態は、広帯域制御トランジスタ7のゲートの接続先が第1の実施形態と異なることを特徴とする。
図3は第2の実施形態に係るLDOレギュレータ1の内部構成を示す回路図である。図3では、図2と共通する構成部分には同一符号を付しており、以下では相違点を中心に説明する。
図3のLDOレギュレータ1内の広帯域制御トランジスタ7のゲートは出力電圧Voutに設定されている。
図2と図3を比べると、図2の方が、第2電流源9と広帯域制御トランジスタ7のソース間の電圧と、第1電流源8と差動回路2との間の電圧との相対精度を上げることができるという効果が得られる。その一方で、図3の方が、出力電圧Voutに重畳された高周波信号を直接的に広帯域制御トランジスタ7のゲートに伝達できるという効果が得られる。このように、図2も図3も、それぞれに一長一短の特徴を有する。
図3のLDOレギュレータ1の場合も、図2と同様に、オフセット調整のために、トランジスタM1,M2のサイズ比を変更するか、あるいは、第1カレントミラー回路3内の一対のトランジスタM3,M4のサイズ比を変更するのが望ましい。
また、図3のLDOレギュレータ1においても、出力コンデンサCoutと位相補償コンデンサCi1の各一端を接地線Vssに接続する代わりに、インピーダンスが低い安定した電圧経路に接続してもよい。さらに、位相補償回路4は省略してもよい。
(第3の実施形態)
以下に説明する第3の実施形態は、差動回路2の反転入力側と非反転入力側を対称構成にすることを特徴とする。
図4は第3の実施形態に係るLDOレギュレータ1の内部構成を示す回路図である。図4では、図2と共通する構成部分には同一符号を付しており、以下では相違点を中心に説明する。
図4のLDOレギュレータ1は、差動回路2内のNMOSトランジスタM1のドレインと接地線Vssとの間に接続される第3電流源11を備えている。
第3電流源11は、対称性を持たせるために、第2電流源9と同じ電気的特性にするのが望ましい。これにより、第3電流源11とNMOSトランジスタM1のドレインとの間の経路の電圧と、第1電流源8と広帯域制御トランジスタ7のソースとの間の経路の電圧と、第2電流源9とNMOSトランジスタM1,M2のソースとの間の経路の電圧とを揃えることができ、第1〜第3電流源8,9,11の相対精度が高くなる。また、差動回路2の対称性が向上したことで、出力電圧Voutのオフセット電圧を低減できる。
また、図4のLDOレギュレータ1においても、出力コンデンサCoutと位相補償コンデンサCi1の各一端を接地線Vssに接続する代わりに、インピーダンスが低い安定した電圧経路に接続してもよい。さらに、位相補償回路4は省略してもよい。
図4では、図2のLDOレギュレータ1に第3電流源11を追加したが、図3のLDOレギュレータ1に第3電流源11を追加して対称構成にしてもよい。
(第4の実施形態)
以下に説明する第4の実施形態は、差動回路2の非反転入力側にも広帯域制御トランジスタ7と同様のトランジスタを設けて、出力電圧Voutのオフセット電圧を低減するものである。
図5は第4の実施形態に係るLDOレギュレータ1の内部構成を示す回路図である。図5のLDOレギュレータ1は、図4の構成に加えて、第3電流源11とNMOSトランジスタM1のドレインとの間に接続されるNMOSトランジスタ12を備えている。このNMOSトランジスタ12のドレインはNMOSトランジスタM1のドレインに接続され、NMOSトランジスタ12のソースは第3電流源11に接続され、NMOSトランジスタ12のゲートは基準電圧Vrefに設定され、NMOSトランジスタM1のゲートにも接続されている。
NMOSトランジスタ12のゲート電圧は基準電圧Vrefであるため、ソース電圧も基準電圧Vrefに応じた電圧になり、第3電流源11とNMOSトランジスタ12との接続経路の電圧を定電圧化することができる。これにより、差動回路2の対称性が向上し、出力電圧Voutのオフセット電圧を低減できる。
図5のLDOレギュレータ1では、第2電流源9と第3電流源11の電気特性を同じにし、かつ広帯域制御トランジスタ7とNMOSトランジスタ12の電気特性も同じにするのが望ましい。
また、図5のLDOレギュレータ1においても、出力コンデンサCoutと位相補償コンデンサCi1の各一端を接地線Vssに接続する代わりに、インピーダンスが低い安定した電圧経路に接続してもよい。さらに、位相補償回路4は省略してもよい。
図5では、図4のLDOレギュレータ1にNMOSトランジスタ12を追加したが、図3のLDOレギュレータ1に第3電流源11とNMOSトランジスタ12を追加して対称構成にしてもよい。
(第5の実施形態)
以下に説明する第5の実施形態は、位相余裕の微調整を行うものである。
図6は第5の実施形態に係るLDOレギュレータ1の内部構成を示す回路図である。図6では、図5と共通する構成部分には同一符号を付しており、以下では相違点を中心に説明する。
図6のLDOレギュレータ1は、図5の構成に加えて、広帯域制御トランジスタ7のゲートとNMOSトランジスタ12のソースとの間に接続される位相補償コンデンサ(第3コンデンサ)Ci3を備えている。このコンデンサCi3の容量は、位相補償コンデンサCi1の容量よりもはるかに小さい値であり、例えば2桁以上小さい容量値に設定される。このコンデンサCi3を設けることで、位相余裕をわずかに微調整することができる。
図7は図6の変形例を示す回路図であり、位相補償コンデンサCi3の一端を、NMOSトランジスタ12のソースではなく、ドレインに接続したものである。図7の場合も、図6と同様に、位相補償コンデンサCi3を設けることで、位相余裕の微調整を行うことができる。
図6および図7のLDOレギュレータ1においても、第2電流源9と第3電流源11の電気特性を同じにし、かつ広帯域制御トランジスタ7とNMOSトランジスタ12の電気特性も同じにするのが望ましい。また、出力コンデンサCoutと位相補償コンデンサCi1の各一端を接地線Vssに接続する代わりに、インピーダンスが低い安定した電圧経路に接続してもよい。さらに、位相補償回路4は省略してもよい。
図6および図7では、図5のLDOレギュレータ1に位相補償コンデンサCi3を追加したが、第3電流源11を有する上述したすべてのLDOレギュレータ1に、位相余裕の微調整用の位相補償コンデンサCi3を追加してもよい。
(第6の実施形態)
以下に説明する第6の実施形態は、差動回路2をフォールデッド・カスコード型の構成にするものである。
上述した図1〜図7のLDOレギュレータ1では、差動回路2を一対のNMOSトランジスタM1,M2で構成する例を示した。ところが、入力電圧VINが1.5V以下の低電圧になると、基準電圧Vrefも低くなり、差動回路2にNMOSトランジスタを用いることはできなくなる。このような場合、差動回路2をフォールデッド・カスコード型の構成にして、一対のPMOSトランジスタM1,M2を設けることが考えられる。
図8は第6の実施形態に係るLDOレギュレータ1の内部構成を示す回路図である。図8では、図7と共通する構成部分には同一符号を付しており、以下では相違点を中心に説明する。
図8のLDOレギュレータ1内の差動回路2は、フォールデッド・カスコード型の構成であり、一対のPMOSトランジスタM1,M2を有する。この差動回路2と、一対のPMOSトランジスタM3,M4からなる第1カレントミラー回路3との間には、一対のNMOSトランジスタM5,M6からなる第2カレントミラー回路21が接続されている。この第2カレントミラー回路21の一対の差動出力線10には、第4および第5電流源22,23が接続されている。
第1および第2カレントミラー回路3,21間の一対の差動出力線10の一方と接地線Vssとの間には、広帯域制御トランジスタ7と第2電流源9が直列接続され、第2電流源9には位相補償コンデンサCi1が並列接続されている。
一対の差動出力線10の他方と接地線Vssとの間には、NMOSトランジスタ12と第3電流源11が直列接続されている。NMOSトランジスタ12のドレインと出力電圧線Voutとの間には、位相余裕の微調整用の位相補償コンデンサCi1が接続されている。
差動回路2内に一対のPMOSトランジスタM1,M2を設けているため、基準電圧Vrefが1.2V程度の定電圧であっても、問題なく比較動作を行うことができ、低電圧の出力電圧Voutを生成できる。
第2〜第5電流源9,11,22,23の各一端、位相補償コンデンサCi1の一端、電圧分圧回路6の一端、出力コンデンサCoutの一端はいずれも接地線Vssに接続されている。また、第1電流源8の一端、第1カレントミラー回路3の一端、位相補償回路4の一端、および出力段トランジスタ5のソースはいずれも入力電圧線VINに接続されている。
図9は図8の変形例を示す回路図である。図9のLDOレギュレータ1は、位相余裕の微調整用の位相補償コンデンサCi1の一端を、NMOSトランジスタ12のドレインではなく、ソースに接続したことを特徴としている。
図9のLDOレギュレータ1も、図8と同様に、フォールデッド・カスコード型の構成であるため、入力電圧VINが低電圧であっても、安定に動作させることができる。
図8および図9のLDOレギュレータ1において、第2電流源9と第3電流源11の電気特性を同じにし、かつ第4電流源22と第5電流源23の電気特性を同じにし、かつ広帯域制御トランジスタ7とNMOSトランジスタ12の電気特性も同じにするのが望ましい。また、出力コンデンサCoutと位相補償コンデンサCi1の各一端を接地線Vssに接続する代わりに、インピーダンスが低い安定した電圧経路に接続してもよい。さらに、位相補償回路4は省略してもよい。
図8および図9のLDOレギュレータ1は、位相余裕の微調整用の位相補償コンデンサCi3を備えているが、これは省略してもよい。
(第7の実施形態)
以下に説明する第7の実施形態は、LDOレギュレータ1内のトランジスタの導電型を第1〜第6の実施形態とは逆にして、回路の接続関係も逆にしたものである。
図10は第7の実施形態に係るLDOレギュレータ1の内部構成を示す回路図である。図10のLDOレギュレータ1内の各トランジスタの導電型は、図6のLDOレギュレータ1内の各トランジスタの導電型とはすべて逆になっており、かつ、入力電圧線VINと接地線Vss間の回路の接続関係も逆になっている。図10では、導電型は異なるが、図6の各トランジスタに対応するトランジスタには、同一符号を付している。
図10のLDOレギュレータ1では、第1〜第3電流源8,9,11の各一端と、位相補償コンデンサCi1の一端と、電圧分圧回路6の一端と、出力コンデンサCoutの一端と、負荷抵抗Rloadの一端とは、いずれも入力電圧線VINに接続されている。また、一対のNMOSトランジスタM1,M2からなるカレントミラー回路3の一端と、位相補償回路4の一端と、出力段トランジスタ5のソースとは、いずれも接地線Vssに接続されている。
この他、図10のLDOレギュレータ1は、一対のPMOSトランジスタM1,M2からなる差動回路2と、PMOSトランジスタからなる広帯域制御トランジスタ7と、広帯域制御トランジスタ7のソースと入力電圧線VINとの間に並列接続される第2電流源9および位相補償コンデンサCi1と、広帯域制御トランジスタ7の対称位置に接続されるPMOSトランジスタ12と、このトランジスタ12のソースと入力電圧線VINとの間に接続される第3電流源11と、位相余裕の微調整のための位相補償コンデンサCi1とを有する。
図11は図10の変形例を示す回路図であり、フォールデッド・カスコード型の差動回路2を有する。図11のLDOレギュレータ1は、図8のLDOレギュレータ1内のトランジスタの導電型を逆にして、回路の接続関係も逆にしたものである。
図11のLDOレギュレータ1では、第1、第3〜第5電流源8,11,22,23の各一端と、電圧分圧回路6の一端と、出力コンデンサCoutの一端とは、入力電圧線VINに接続されている。また、第2電流源9の一端と、一対のNMOSトランジスタM3,M4からなるカレントミラー回路3の一端と、位相補償コンデンサCi1の一端と、位相補償回路4の一端とは接地線Vssに接続されている。
図11のLDOレギュレータ1は、一対のNMOSトランジスタM1,M2からなる差動回路2と、差動回路2と接地線Vssとの間に接続される第1電流源8と、差動回路2の差動出力線10に接続される一対のPMOSトランジスタM5,M6からなる第2カレントミラー回路21と、このカレントミラー回路21に接続される一対のNMOSトランジスタM3,M4からなる第1カレントミラー回路3と、入力電圧線VINとPMOSトランジスタM6のドレインとの間に直列接続される第2電流源9および広帯域制御トランジスタ7と、この広帯域制御トランジスタ7のソースと接地線Vssとの間に接続される位相補償コンデンサCi1と、入力電圧線VINとPMOSトランジスタM5のドレインとの間に直列接続される第3電流源11およびPMOSトランジスタ12とを有する。
図10および図11のLDOレギュレータ1において、第2電流源9と第3電流源11の電気特性を同じにし、かつ広帯域制御トランジスタ7とNMOSトランジスタ12の電気特性も同じにするのが望ましい。また、出力コンデンサCoutと位相補償コンデンサCi1の各一端を接地線Vssに接続する代わりに、インピーダンスが低い安定した電圧経路に接続してもよい。さらに、位相補償回路4は省略してもよい。
図10において、広帯域制御トランジスタ7のゲートは、出力電圧線Voutに接続してもよい。また、図10において、PMOSトランジスタ12を省略してもよい。さらに、図10において、PMOSトランジスタ12と第3電流源11を省略してもよい。また、図10および図11において、位相補償コンデンサCi3を省略してもよい。
(第8の実施形態)
以下に説明する第8の実施形態は、LDOレギュレータ1の低電圧側の基準電圧を負電圧にするものである。
図12は第8の実施形態に係るLDOレギュレータ1の回路図である。図12のLDOレギュレータ1は、図2の回路構成に類似しているが、低電圧側の基準電圧が接地電圧ではなく、負電圧(=−VIN2)である。
図12のLDOレギュレータ1には2種類の入力電圧VIN1,VIN2が入力され、そのうちの一方は高電圧側の入力電圧線VIN1となり、他方は低電圧側の入力電圧線(=−VIN2)となる。
一対のNMOSトランジスタM1,M2からなる差動回路2と負側入力電圧線(=−VIN2)との間には第1電流源8が接続され、NMOSトランジスタM2のドレインと負側入力電圧線(=−VIN2)との間には、広帯域制御トランジスタ7と第2電流源9が直列接続されている。また、出力電圧線Voutと負側入力電圧線(=−VIN2)との間には電圧分圧回路6と負荷抵抗Rloadが並列接続されている。さらに、広帯域制御トランジスタ7のソースとNMOSトランジスタM1のゲートの間には位相補償コンデンサCi1が接続されている。
図13は図12の変形例を示す回路図である。図13のLDOレギュレータ1は、位相補償コンデンサCi1の一端を、広帯域制御トランジスタ6のゲートではなく、正側入力電圧線VIN1に接続するとともに、この正側入力電圧線VIN1を接地電圧レベルにした点で、図12とは異なっている。
図13のLDOレギュレータ1の負側入力電圧線の電圧レベルは、−(VIN1+VIN2)であり、図12よりもさらに低電圧で動作することになる。
図12と図13のLDOレギュレータ1は、負側入力電圧線の電圧レベルを接地電圧よりも低い負電圧にした点を除けば、図2のLDOレギュレータ1と同様に動作し、同様の効果が得られる。
図12と図13のLDOレギュレータ1において、出力コンデンサCoutと位相補償コンデンサCi1の負側電極の電圧は、図12および図13に図示された電圧に設定する代わりに、インピーダンスが低い安定した電圧経路に接続してもよい。さらに、位相補償回路4は省略してもよい。
図12および図13において、広帯域制御トランジスタ7のゲートは出力電圧線Voutに接続してもよい。また、図12および図13において、図4と同様に第3電流源11を追加して対称構成にしてもよい。さらに、より対称化を高めるために、図5と同様にNMOSトランジスタ12を追加してもよい。また、図12および図13において、図6や図7のような位相補償コンデンサCi3を追加してもよい。
(第9の実施形態)
以下に説明する第9の実施形態は、第1の実施形態における広帯域制御トランジスタ7の導電型を逆にしたものである。
図14は第9の実施形態に係るLDOレギュレータ1の回路図である。図14のLDOレギュレータ1は、図2のLDOレギュレータ1と比べて、広帯域制御トランジスタ7、第2電流源9および位相補償コンデンサCi1の接続形態が異なっている。図14の広帯域制御トランジスタ7はPMOSトランジスタであり、そのソースと入力電圧線VINとの間に第2電流源9が接続され、そのソースと接地線Vssとの間に位相補償コンデンサCi1が接続されている。
このように、広帯域制御トランジスタ7をPMOSトランジスタで構成した場合でも、図2と同様に広帯域化を実現できる。
図14のLDOレギュレータ1の場合も、図2と同様に、オフセット調整のために、トランジスタM1,M2のサイズ比を変更するか、あるいは、カレントミラー回路3内の一対のトランジスタM3,M4のサイズ比を変更するのが望ましい。
また、図14のLDOレギュレータ1において、出力コンデンサCoutと位相補償コンデンサCi1の一端を接地線Vssに接続する代わりに、インピーダンスが低い安定した電圧経路に接続してもよい。さらに、位相補償回路4は省略してもよい。
同様にして、上述した各実施形態で説明したNMOSトランジスタからなる広帯域制御トランジスタ6をPMOSトランジスタに置換することも可能である。
図15は図6の変形例を示す回路図である。図15のLDOレギュレータ1は、入力電圧線VINとNMOSトランジスタM2のゲートとの間に直列接続される第2電流源9および広帯域制御トランジスタ7と、入力電圧線VINとNMOSトランジスタM1のゲートとの間に直列接続される第3電流源11およびPMOSトランジスタ12と、NMOSトランジスタM1のドレインとNMOSトランジスタM2のゲートとの間に接続される位相補償コンデンサCi1とを備えている。広帯域制御トランジスタ7のゲートはNMOSトランジスタM2のゲートに接続され、PMOSトランジスタ12のゲートはNMOSトランジスタM1のゲートに接続されている。
図15のLDOレギュレータ1においても、第2電流源9と第3電流源11の電気特性を同じにし、かつ広帯域制御トランジスタ7とPMOSトランジスタ12の電気特性も同じにするのが望ましい。また、出力コンデンサCoutと位相補償コンデンサCi1の各一端を接地線Vssに接続する代わりに、インピーダンスが低い安定した電圧経路に接続してもよい。さらに、位相補償回路4は省略してもよい。
図14および図15において、広帯域制御トランジスタ7のゲートは出力電圧線Voutに接続してもよい。また、図15において、PMOSトランジスタ12を省略してもよい。また、図15において、位相補償コンデンサCi3の接続箇所は図示されたものに限定されないし、図14に位相補償コンデンサCi3を追加してもよい。
図16は図8の変形例を示す回路図である。図16のLDOレギュレータ1は、フォールデッド・カスコード型の構成である。入力電圧線VINとPMOSトランジスタM4のドレインとの間には、第2電流源9と広帯域制御トランジスタ7が直列接続され、入力電圧線VINとPMOSトランジスタM3のドレインとの間には、第3電流源11とPMOSトランジスタ12が直列接続され、広帯域制御トランジスタ7のソースと接地線Vssとの間には位相補償コンデンサCi1が接続され、PMOSトランジスタM3のドレインと広帯域制御トランジスタ7のゲートとの間にはコンデンサCi3が接続されている。
図16のLDOレギュレータ1において、第2電流源9と第3電流源11の電気特性を同じにし、かつ第4電流源22と第5電流源23の電気特性を同じにし、かつ広帯域制御トランジスタ7とNMOSトランジスタ12の電気特性も同じにするのが望ましい。また、出力コンデンサCoutと位相補償コンデンサCi1の各一端を接地線Vssに接続する代わりに、インピーダンスが低い安定した電圧経路に接続してもよい。さらに、位相補償回路4は省略してもよい。
以下に示す図17および図18に示すLDOレギュレータ1は、上述した図15および図16に示すLDOレギュレータ1の広帯域トランジスタ7の導電型を逆にして、入力電圧線VINと接地線Vssの間の回路の接続形態も逆にしたものである。
図17のLDOレギュレータ1は、差動回路2内のPMOSトランジスタM2のドレインと接地線Vssとの間に直列接続される広帯域制御トランジスタ7および第2電流源9と、広帯域制御トランジスタ7のゲートと接地線Vssとの間に接続される位相補償コンデンサCi1と、PMOSトランジスタM1のドレインと接地線Vssとの間に直列接続されるNMOSトランジスタ12および第3電流源11と、NMOSトランジスタ12のドレインと広帯域制御トランジスタ7のゲートとの間に接続されるコンデンサCi3とを備えている。
図17のLDOレギュレータ1においても、第2電流源9と第3電流源11の電気特性を同じにし、かつ広帯域制御トランジスタ7とPMOSトランジスタの電気特性も同じにするのが望ましい。また、出力コンデンサCoutと位相補償コンデンサCi1の各一端を入力電圧線VINまたは接地線Vssに接続する代わりに、インピーダンスが低い安定した電圧経路に接続してもよい。さらに、位相補償回路4は省略してもよい。
図18のLDOレギュレータ1は、第2カレントミラー回路21内のNMOSトランジスタM4のドレインと接地線Vssとの間に直列接続される広帯域制御トランジスタ7および第2電流源9と、この第2電流源9に並列接続される位相補償コンデンサCi1と、NMOSトランジスタM3のドレインと接地線Vssとの間に直列接続されるNMOSトランジスタ12および第3電流源11と、NMOSトランジスタ12のドレインと広帯域制御トランジスタ7のゲートとの間に接続されるコンデンサCi3とを備えている。
図18のLDOレギュレータ1において、第2電流源9と第3電流源11の電気特性を同じにし、かつ第4電流源22と第5電流源23の電気特性を同じにし、かつ広帯域制御トランジスタ7とNMOSトランジスタ12の電気特性も同じにするのが望ましい。また、出力コンデンサCoutと位相補償コンデンサCi1の各一端を入力電圧線VINまたは接地線Vssに接続する代わりに、インピーダンスが低い安定した電圧経路に接続してもよい。さらに、位相補償回路4は省略してもよい。
図17において、PMOSトランジスタ12を省略してもよいし、さらに第3電流源11も省略してもよい。また、図17において、広帯域制御トランジスタ7のゲートは出力電圧線Voutに接続してもよい。さらに、図16〜図18において、位相補償コンデンサCi3は省略してもよいし、位相補償コンデンサCi3の接続箇所は図示されたものに限定されない。
上述した第2〜第9の実施形態においても、第1の実施形態と同様に、広帯域制御トランジスタ7、第2電流源9および位相補償コンデンサCi1を備えているため、出力電圧Voutに重畳された高周波信号を瞬時に増幅することが可能となり、広帯域化を実現でき、出力コンデンサCoutにはセラミックコンデンサを使用可能となる。
上述した各実施形態では、チップ化することを前提として、すべてのトランジスタをMOSトランジスタで構成する例を説明したが、各実施形態とも、バイポーラトランジスタで構成することも可能である。
また、各実施形態に係るLDOレギュレータ1は、スイッチング動作を行うスイッチングレギュレータ(DC−DCコンバータを含む)と組み合わせて使用することができる。すなわち、スイッチングレギュレータで昇圧または降圧の直流電圧変換を行った後に、LDOレギュレータ1で、入出力電圧がわずかな電圧差の出力電圧Voutを生成して、CPU等の負荷電流が大きく変動する負荷に接続してもよい。
上述した各実施形態では、出力電圧Voutを電圧分圧回路6で分圧した分圧電圧Vdivを差動回路2に帰還させているが、電圧分圧回路6は必須の構成ではなく、出力電圧Voutを直接差動回路2に帰還させてもよい。この場合、差動回路2内のトランジスタM2と広帯域制御トランジスタ7の各ゲートには出力電圧Voutが入力されることになる。すなわち、差動回路2内のトランジスタM2と広帯域制御トランジスタ7の各ゲートには、出力電圧Voutに相関する電圧を印加すればよい。
本発明の態様は、上述した個々の実施形態に限定されるものではなく、当業者が想到しうる種々の変形も含むものであり、本発明の効果も上述した内容に限定されない。すなわち、特許請求の範囲に規定された内容およびその均等物から導き出される本発明の概念的な思想と趣旨を逸脱しない範囲で種々の追加、変更および部分的削除が可能である。
1 LDOレギュレータ、2 差動回路、3 第1カレントミラー回路、4 位相補償回路、5 出力段トランジスタ、6 電圧分圧回路、7 広帯域制御トランジスタ、8 第1電流源、9 第2電流源、10 差動出力線、11第3電流源
Ci1 位相補償コンデンサ、Cout 出力コンデンサ

Claims (13)

  1. 基準電圧と出力電圧に相関する電圧との電圧差に応じた比較信号を生成する差動回路と、
    前記差動回路に電流を供給する第1電流源と、
    前記比較信号に応じて、入力電圧を用いて前記出力電圧を調整する第1トランジスタと、
    前記差動回路の一対の差動出力線に接続される第1カレントミラー回路と、
    前記出力電圧の分圧電圧を生成する電圧分圧回路と、
    互いに並列接続される第1コンデンサおよび第2電流源と、
    ゲートに入力される前記出力電圧または前記分圧電圧に基づいて、前記一対の差動出力線の一方から、前記第1コンデンサおよび前記第2電流源に電流を流すか否かを制御する第2トランジスタと、を備えることを特徴とするレギュレータ。
  2. 前記差動回路は、
    ソースが共通に接続された一対のトランジスタを有し、
    前記一対のトランジスタの一方は、前記分圧電圧または前記出力電圧が入力されるゲートと、前記第2トランジスタのドレインに接続されるドレインと、を有することを特徴とする請求項1に記載のレギュレータ。
  3. 前記第2トランジスタは、前記出力電圧に重畳された高周波信号に応じた電流を前記一対の差動出力線の一方に流し
    前記第1カレントミラー回路は、前記一対の差動出力線の一方に流れる電流に比例した電流を、前記一対の差動出力線の他方に流し
    前記第1トランジスタは、前記差動回路の差動出力線の他方の電圧に応じて前記出力電圧を制御することを特徴とする請求項1に記載のレギュレータ。
  4. 前記一対の差動出力線の他方に電流を供給する第3電流源を備えることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のレギュレータ。
  5. 前記一対の差動出力線の他方と前記第3電流源の一端との間に接続され、ゲートまたはベースには基準電圧が入力され前記第3電流源の一端の電圧を定電圧にする第3トランジスタを備えることを特徴とする請求項4に記載のレギュレータ。
  6. 一端が前記第3電流源の一端または前記一対の差動出力線の他方に接続され、他端が前記第2トランジスタのゲートまたはベースに接続される第3コンデンサを備えることを特徴とする請求項5に記載のレギュレータ。
  7. 前記第3コンデンサの容量は、前記第1コンデンサの容量よりも2桁以上小さいことを特徴とする請求項6に記載のレギュレータ。
  8. 前記第1コンデンサの容量は、前記第1トランジスタのゲートまたはベース容量の1/10より大きいことを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載のレギュレータ。
  9. 前記出力電圧を出力する出力電圧線に接続される第2コンデンサを備え、
    前記第2コンデンサは、セラミックコンデンサであることを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記載のレギュレータ。
  10. 前記差動回路と前記第1カレントミラー回路との間の前記一対の差動出力線上に挿入される第2カレントミラー回路を備え、
    前記第2トランジスタおよび前記第2電流源は、前記第1カレントミラー回路と前記第2カレントミラー回路との間の一対の差動出力線の一方と基準電圧線との間に直列接続されることを特徴とする請求項1乃至9のいずれかに記載のレギュレータ。
  11. 前記入力電圧を供給する入力電圧線と前記第1トランジスタのゲートまたはベースとの間に接続される位相補償回路を備えることを特徴とする請求項1乃至10のいずれかに記載のレギュレータ。
  12. 前記第1および第2電流源、および前記出力電圧を出力する出力電圧線に接続される第2コンデンサの各一端は、接地線または負電圧線に接続され、
    前記第1トランジスタおよび前記第1カレントミラー回路の各一端は、前記入力電圧を供給する入力電圧線に接続されることを特徴とする請求項1乃至11のいずれかに記載のレギュレータ。
  13. 前記第1および第2電流源、および前記出力電圧を出力する出力電圧線に接続される第2コンデンサの各一端は、前記入力電圧を供給する入力電圧線に接続され、
    前記第1トランジスタおよび前記第1カレントミラー回路の各一端は接地線に接続されることを特徴とする請求項1乃至11のいずれかに記載のレギュレータ。
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