JP5706955B2 - レーザープラズマスペクトルを用いた試料内の測定対象元素の定量分析方法 - Google Patents
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- 238000001228 spectrum Methods 0.000 title claims description 48
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 31
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 title claims description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 26
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 claims description 22
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 14
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 12
- 238000010813 internal standard method Methods 0.000 claims description 11
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 235000007575 Calluna vulgaris Nutrition 0.000 claims 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 claims 1
- 238000002536 laser-induced breakdown spectroscopy Methods 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 6
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 5
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 3
- 238000004876 x-ray fluorescence Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000000921 elemental analysis Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 230000005283 ground state Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000010561 standard procedure Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/718—Laser microanalysis, i.e. with formation of sample plasma
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/443—Emission spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
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- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
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Description
standard method)でピークを選択する時、従来では検出限界(Limit of
detection)や、相対標準偏差(Relative
standard deviation)などを用いてピークを選択してきた。しかしながら、検出限界の場合、非常に低い濃度を有する物質に対する概念であり、相対標準偏差を用いる場合、非線形検量曲線(濃度の高い元素分析時に非線形検量曲線が表れる)に適用時、最適なピークを選択することができない。
まず、標準元素を含む試料にレーザービームを照射すれば、試料からプラズマが発生する。この際、試料の材質及び化学的組成によって照射されるレーザービームは試料のアブレーションが容易であるように適切に選択されることが好ましい。
Plot)
内部標準法により試料内の測定対象元素の組成比率を確認するためには分光スペクトルで互いに異なる元素の特定ピーク2つを選択しなければならず、前記特定ピークでは他の条件などが変化してもピーク強度の比が変化してはならない。前記特定ピークの選択は、ピーク値の波長でない波長であることもあるが、ピーク値の波長が好ましく、各々のピークは前記合わせ曲線と測定対象ピーク曲線で各々1つずつ提供できる。
plot)を分析することができる。レーザーエネルギーでない他の可変因子を変更させることもできる。前記レーザーエネルギーは特別に限定されるものではないが、好ましくは2〜24mJ/cm2範囲内で変化させることがよい。
of Determination)が大きく表れるピーク値に選択し、好ましくは前記決定係数が1に近い最も大きい値を表すピークを特定ピークに選択する。前記決定係数R2は下記の数3のように計算できる。
また、レーザーエネルギーに従う合わせ直線の傾き変化を計算することができるが、傾き変化が最も小さいピークを特定ピークに選択する。前記傾き変化は下記の数4のように計算できる。
Curve)
前記特定波長を選択するために、更に他の方法として予め知っている物質の元素の比率とピーク強度の比率との関係を表した検量曲線を用いることができる。前記検量曲線で前記数1が示す値が小さく表れるピークを対象元素の組成比率を確認するための特定ピークに選択することができる。
Plot)による最適波長選択
X線蛍光分析を通じてIn及びCuの比率(In/Cu)が各々0.726、0.666、0.534、0.492に調節された試料にレーザーエネルギーを変化させながらレーザーエネルギービームを照射してプラズマを発生させ、前記プラズマから発生する分光スペクトルを得た。
curve)による最適ピーク選択
X線蛍光分析を通じてIn及びCuの比率(In/Cu)が各々0.726、0.666、0.534に調節された試料にレーザーエネルギーを変化させながらレーザーエネルギービームを照射してプラズマを発生させ、前記プラズマから発生する分光スペクトルを得た。
前記相関関係プロットでスポットサイズやステージ位置を調節しながら一貫性があるか否かを確認しようとした。前記スポットサイズやステージ位置を調節することによってエネルギー密度が変わるようになる。
Claims (6)
- 測定対象元素を含む試料にレーザービームを照射してプラズマを発生させ、前記プラズマから発生する分光スペクトルを得るステップと、
前記分光スペクトルで、少なくとも1つの測定対象ピークを除外する領域の合わせ曲線を得るステップと、
前記分光スペクトルで、前記合わせ曲線を除外して前記少なくとも1つの測定対象ピークが含まれる測定対象ピーク曲線を分離して得るステップと、
前記合わせ曲線と前記測定対象ピーク曲線で、各々選択される特定波長のピーク強度を計算するステップと、
前記各々選択される特定波長のピーク強度を用いて、前記測定対象元素の組成比率を得るステップと、
を含み、
前記各々選択される特定波長は、多様な条件で得たピーク強度の相関関係プロットを原点を過ぎる直線で表す場合、決定係数R 2 が大きく表れる波長であることを特徴とする、レーザープラズマスペクトルを用いた試料内の測定対象元素の定量分析方法。 - 前記各々選択される特定波長は、多様な条件で得たピーク強度の相関関係プロットを原点を過ぎる直線で表す場合、傾き変化が小さく表れる波長であることを特徴とする、請求項1に記載のレーザープラズマスペクトルを用いた試料内の測定対象元素の定量分析方法。
- 前記各々選択される特定波長のピーク強度を内部標準法に適用して、前記測定対象元素の組成比率を得ることを特徴とする、請求項1または2に記載のレーザープラズマスペクトルを用いた試料内の測定対象元素の定量分析方法。
- 前記内部標準法は、前記各々選択される特定波長で得たピーク強度の相関関係プロットを原点を過ぎる直線で表す場合、前記直線の傾きを、予め対象元素の濃度比を知っている物質の相関関係プロットの直線の傾きと比較することによって行われることを特徴とする、請求項3に記載のレーザープラズマスペクトルを用いた試料内の測定対象元素の定量分析方法。
- 測定対象元素を含む試料にレーザービームを照射してプラズマを発生させ、前記プラズマから発生する分光スペクトルを得るステップと、
前記分光スペクトルで、少なくとも1つの測定対象ピークを除外する領域の合わせ曲線を得るステップと、
前記分光スペクトルで、前記合わせ曲線を除外して前記少なくとも1つの測定対象ピークが含まれる測定対象ピーク曲線を分離して得るステップと、
前記合わせ曲線と前記測定対象ピーク曲線で、各々選択される特定波長のピーク強度を計算するステップと、
前記各々選択される特定波長のピーク強度を用いて、前記測定対象元素の組成比率を得るステップと、
を含み、
前記各々選択される特定波長を選択するステップは、
各ピークでの強度と各元素の濃度比を用いて検量曲線を得るステップと、
前記検量曲線で
を計算するステップと、
前記
値が小さく表れる波長に選択されるステップと、
を含むことを特徴とする、レーザープラズマスペクトルを用いた試料内の測定対象元素の定量分析方法。 - 前記各々選択される特定波長でのピーク強度の比率を、前記検量曲線の内に代入して、対象元素の組成比率を得ることを特徴とする、請求項5に記載のレーザープラズマスペクトルを用いた試料内の測定対象元素の定量分析方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2012-0145150 | 2012-12-13 | ||
KR1020120145150A KR101423988B1 (ko) | 2012-12-13 | 2012-12-13 | 레이저 플라즈마 스펙트럼을 이용한 시료 내 측정 대상 원소의 정량 분석 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014119457A JP2014119457A (ja) | 2014-06-30 |
JP5706955B2 true JP5706955B2 (ja) | 2015-04-22 |
Family
ID=50930507
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013258001A Expired - Fee Related JP5706955B2 (ja) | 2012-12-13 | 2013-12-13 | レーザープラズマスペクトルを用いた試料内の測定対象元素の定量分析方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9606065B2 (ja) |
JP (1) | JP5706955B2 (ja) |
KR (1) | KR101423988B1 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10001410B2 (en) * | 2013-07-17 | 2018-06-19 | University Of Central Florida Research Foundation, Inc. | Quantitative elemental profiling in optical emission spectroscopy |
CN104865228B (zh) * | 2015-06-02 | 2017-08-15 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 基于融合熵优化求解的定量激光诱导击穿光谱检测方法 |
KR101941193B1 (ko) * | 2017-02-28 | 2019-01-22 | 광주과학기술원 | 레이저 유도 붕괴 분광장치(libs)에 의한 금속을 분류하기 위한 방법 및 이에 관한 컴퓨터-판독가능 저장매체 |
CN107340284B (zh) * | 2017-07-06 | 2018-04-13 | 湖北工程学院 | 一种元素定量分析方法及装置 |
CN107132214B (zh) * | 2017-07-06 | 2018-03-27 | 湖北工程学院 | 一种基于多谱线加权的元素测量方法及装置 |
KR102023913B1 (ko) * | 2017-12-14 | 2019-09-23 | 광주과학기술원 | 레이저 유도 붕괴 분광법을 이용한 성분 표시 장치 |
CN108344729B (zh) * | 2018-05-18 | 2020-11-06 | 温州大学 | 一种基于多谱线内定标校准的激光诱导击穿光谱快速检测方法 |
KR102141601B1 (ko) | 2018-07-25 | 2020-08-05 | 한국기초과학지원연구원 | 일체형 광학 장치 |
KR102089068B1 (ko) * | 2018-08-08 | 2020-03-16 | 광주과학기술원 | 레이저 유도붕괴 분광분석을 이용한 금속 분류 시스템 및 그것의 동작 방법 |
JP7116420B2 (ja) * | 2018-10-23 | 2022-08-10 | 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構 | 組成分析方法及び組成分析装置、硬度算出方法及び硬度算出装置 |
CN112051256B (zh) * | 2020-07-22 | 2023-01-24 | 中国地质大学(武汉) | 基于cnn模型的待测元素含量libs测量方法、系统 |
CN111855630B (zh) * | 2020-07-27 | 2023-07-21 | 四川丹诺迪科技有限公司 | 免疫荧光检测系统、抗原抗体浓度检测方法及装置 |
CN112700822A (zh) * | 2020-12-03 | 2021-04-23 | 西南交通大学 | 一种微量气体杂质在线监测的激光诱导击穿光谱浓度提取方法 |
CN113008874B (zh) * | 2021-03-11 | 2022-07-26 | 合肥工业大学 | 基于基线校正和谱峰识别提升激光诱导击穿光谱技术定性检测能力的方法 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0718795B2 (ja) * | 1986-04-03 | 1995-03-06 | 株式会社日立製作所 | 発光分析装置 |
JP3642602B2 (ja) * | 1994-03-04 | 2005-04-27 | アークレイ株式会社 | 尿中成分の測定装置 |
JP3058030B2 (ja) * | 1994-04-27 | 2000-07-04 | 日本鋼管株式会社 | レーザー発光分光分析方法および装置 |
JP3058043B2 (ja) * | 1995-02-10 | 2000-07-04 | 日本鋼管株式会社 | 溶融金属のレーザー発光分光分析用プローブ及び分析方法 |
JPH0954040A (ja) * | 1995-08-09 | 1997-02-25 | Kdk Corp | 呼気中成分の光学的測定方法 |
JPH09318626A (ja) * | 1996-05-31 | 1997-12-12 | Kdk Corp | 尿中乳酸の測定方法及び装置 |
JPH10142153A (ja) * | 1996-11-08 | 1998-05-29 | Kdk Corp | 呼気中成分の光学的測定方法及び装置 |
US6366353B1 (en) * | 1999-11-05 | 2002-04-02 | Corning Incorporated | Method to determine the identity of a material in an object |
US6753957B1 (en) * | 2001-08-17 | 2004-06-22 | Florida Institute Of Phosphate Research | Mineral detection and content evaluation method |
US6909505B2 (en) * | 2002-06-24 | 2005-06-21 | National Research Council Of Canada | Method and apparatus for molten material analysis by laser induced breakdown spectroscopy |
US20050175507A1 (en) * | 2003-12-23 | 2005-08-11 | Tsukruk Vladimir V. | Compliant, nanoscale free-standing multilayer films |
US7273998B2 (en) * | 2004-09-15 | 2007-09-25 | General Electric Company | System and method for monitoring laser shock processing |
US8417540B2 (en) * | 2005-01-19 | 2013-04-09 | Optopo Inc. | Spectral signature extraction for drug verification and identification |
WO2008059598A1 (fr) * | 2006-11-17 | 2008-05-22 | Imagineering, Inc. | Dispositif d'analyse de réaction, support d'enregistrement et système de mesure |
FR2938066B1 (fr) * | 2008-11-06 | 2010-12-17 | Centre Nat Rech Scient | Systeme et procede d'analyse quantitative de la composition elementaire de la matiere par spectroscopie du plasma induit par laser (libs) |
WO2011006156A2 (en) * | 2009-07-10 | 2011-01-13 | University Of Florida Research Foundation, Inc. | Method and apparatus to laser ablation-laser induced breakdown spectroscopy |
KR101110741B1 (ko) * | 2009-10-21 | 2012-02-24 | 한국표준과학연구원 | 원자로 결함 검출시스템 및 그 방법 |
KR101084766B1 (ko) * | 2009-12-30 | 2011-11-22 | 광주과학기술원 | 중금속 분석방법 |
EP2674396B1 (en) * | 2011-02-10 | 2016-07-20 | National Institute of Advanced Industrial Science And Technology | Method for producing graphene |
-
2012
- 2012-12-13 KR KR1020120145150A patent/KR101423988B1/ko active IP Right Grant
-
2013
- 2013-12-12 US US14/104,888 patent/US9606065B2/en active Active
- 2013-12-13 JP JP2013258001A patent/JP5706955B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9606065B2 (en) | 2017-03-28 |
US20140168645A1 (en) | 2014-06-19 |
KR101423988B1 (ko) | 2014-08-01 |
KR20140076755A (ko) | 2014-06-23 |
JP2014119457A (ja) | 2014-06-30 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20141006 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20141014 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141222 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150203 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150227 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5706955 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |