JP5705091B2 - クラック検査装置 - Google Patents
クラック検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5705091B2 JP5705091B2 JP2011250963A JP2011250963A JP5705091B2 JP 5705091 B2 JP5705091 B2 JP 5705091B2 JP 2011250963 A JP2011250963 A JP 2011250963A JP 2011250963 A JP2011250963 A JP 2011250963A JP 5705091 B2 JP5705091 B2 JP 5705091B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement object
- diaphragm
- inspection apparatus
- crack inspection
- crack
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
実施の形態1.
図1は、実施の形態1に係るクラック検査装置100の概略構成例である。図2は、図1に示すクラック検査装置100の振動板15A、15Bの振動モードの説明図である。図3は、図1に示すクラック検査装置100の支持部片30の近傍の構成例である。図4は、図1に示すクラック検査装置100の音場60の波長状態の概念図である。図5は、図1に示すクラック検査装置100の振動板15A、15Bの振動モード及び音場60における疎密波の状態の説明図である。図1〜図5を参照して、クラック検査装置100の構成について説明する。
本実施の形態1に係るクラック検査装置100は、たとえば半導体基板などの薄板である測定対象物20を振動させることで音波を測定対象物20から放射させる構成、及び当該音波の解析方法に改良が加えられ、これにより測定対象物20のクラックを高精度に検出する機能を有する。
(クラック検査装置100)
クラック検査装置100は、図1に示すように、PZT(チタン酸ジルコン酸鉛)などの圧電素子10aが設けられた超音波振動子10A及び圧電素子10bが設けられた超音波振動子10Bと、超音波振動子10Aによって振動させられる振動板15A及び超音波振動子10Bによって振動させられる振動板15Bと、超音波振動子10Aと振動板15Aとの間に設けられるホーン11A及び超音波振動子10Bと振動板15Bとの間に設けられるホーン11Bとを有している。
また、クラック検査装置100は、測定対象物20を支持する弾性支持部35と、弾性支持部35が固定される支持部片30とを有している。
さらに、クラック検査装置100は、振動による測定対象物20の変位を測定する変位信号検出手段200と、音波(音響信号)を検出する音響計測手段205と、圧電素子10a及び圧電素子10bにパルス電圧を供給する入力制御手段50と、変位信号検出手段200及び音響計測手段205の検出結果を解析する解析部51とを有している。
そして、このクラック検査装置100は、設置された測定対象物20に超音波を放射して、変位及び音響信号を検出することで、測定対象物20に発生したクラックを検出可能となっている。
超音波振動子10Aは、振動板15Aを振動させるものである。実施の形態1では、超音波振動子10Aがランジュバン構造である場合を例に説明する。超音波振動子10Aの一端面にはホーン11Aが、溶接や接着剤などで固定されている。なお、この固定方法については、特に限定されるものではないが、たとえば溶接や接着剤などで固定するとよい。また、超音波振動子10Aはたとえば28kHzで振動する圧電素子10aを有している。なお、圧電素子10aは、PZT(チタン酸ジルコン酸鉛)素子であるものとして説明するが、それに限定されるものではない。
超音波振動子10Bは、超音波振動子10Aと異なる周波数で振動する。すなわち、この超音波振動子10Bは、たとえば56kHzで振動する圧電素子10bを有している。 また、超音波振動子10Bの一端面にはホーン11Bが溶接や接着剤などで固定される。これら以外の点では、超音波振動子10Bは、超音波振動子10Aと同様の構成を有するものである。
振動板15Aは、たとえば金属板で構成され、測定対象物20を間接的に振動させるものである。すなわち、振動板15Aは、超音波振動子10Aの振動が伝達されることで振動し、振動板15Aと測定対象物20との間に形成される空間を介して、自身の振動による音波(疎密波、音響流、進行波)を測定対象物20に伝達させるものである。
振動板15Aはホーン11Aのうち超音波振動子10Aが接続された側の反対側の端面に固定されている。なお、この固定方法については、特に限定されるものではないが、たとえば溶接や接着剤などで固定するとよい。
振動板15Aと測定対象物20とは、図4に示すように、振動板15Aの振動モードの1/4波長である3.035(mm)空けて設けられている。このとき、この測定対象物20が設けられる位置は、振動板15Aから放射される疎密波の「疎」に対応する部分である。
振動板15Bは、超音波振動子10Bの振動が伝達されることで振動するものであり、たとえば56kHzで振動する圧電素子10bを有しているものである。また、振動板15Bには、ホーン11Bのうち超音波振動子10Bが接続された側の反対側の端面に固定されている。
振動板15Bは、超音波振動子10Bと組み合わせられた状態で、56kHzの振動を加えられると、図5に示すような、振動モードで振動するように構成されたものである。なお、振動板15Bの振動モードの一波長は6.07mmとなっている。
振動板15Bと測定対象物20とは振動板15Bの振動モードの1/4波長である1.52(mm)空けて設けられている。このとき、この測定対象物20が設けられる位置は、振動板15Aから放射される疎密波の「疎」に対応する部分である。
これら以外の点では、振動板15Bは、振動板15Aと同様の構成を有するものである。
振動板15A、15Bは、その音圧レベルが、Peak−To−Peakで140(dB)以上となる疎密波を、超音波振動子10A、10Bに振動させられることで放射するものである。
これにより、振動板15A、15Bの間に形成される空間には、140(dB)以上の音圧レベルの音場60が形成され、振動板15A、15Bの振動周波数に起因する疎密波が発生する。なお、振動板15A、15Bが疎密波を放射する対象は、クラック検査装置100の設置される任意の空間であり、この疎密波が放射される任意の空間を音場60と称する。そして、音場60は、任意の空間を有しており、一定間隔で「疎(図1及び図4の空白部分)」、「密(図1及び図4の点線部分)」の波長空間が存在する。
なお、仮に、振動板15A、15Bの周波数が同じであると、振動板15Aから放射される疎密波と、振動板15Bから放射される疎密波とが、測定対象物20を振動させる部分が一致してしまいやすく、測定対象物20に振動しない部分が発生する場合がある。
また、仮に、振動板15A、15Bの振動数が異なっても、振動板15Aの振動モードの「節」と、振動板15Bの振動モードの「腹」とが重なるように振動させないと、やはり、振動させることができない部分を補い合う効果を充分に得られない可能性がある。
なお、振動モードの「節」は、その部分では、振動板15A、15B自体の「振動はない」が、音圧的には「密」となっている部分である。また、振動モードの「腹」は、その部分では、振動板15A、15B自体に「振動はある」が、音圧的には「疎(空白部分)」となっている部分である。
ホーン11Aは、超音波振動子10Aから発生する振動の振幅を増幅する機能を有するものである。このホーン11Aは一端側が超音波振動子10Aに固定され、他端側が振動板15Aに固定されている。
また、ホーン11Aは、超音波振動子10A及び振動板15Aが固定される両端側が連通するように開口形成され、内部に音響通路(超音波振動子10Aの振動を増幅する通路)が形成されているものである。
さらに、ホーン11Aは、図1に示すように、たとえば縦断面が台形形状となるよう構成し、超音波振動子10A側から振動板15A側に向かうにしたがって縮径されているとよい。
ホーン11Bは、一端側が超音波振動子10Bに固定され、他端側が振動板15Bに固定されている。これら以外の点では、ホーン11Bは、ホーン11Aと同様の構成を有するものである。
弾性支持部35は、測定対象物20を支持するものである。弾性支持部35は、図1に示すように、測定対象物20が固定された状態において、測定対象物20の両端部側にそれぞれ設けられ、その底面が支持部片30に固定されている。このように、弾性支持部35がたとえば測定対象物20の中央部などに設けられていないのは、弾性支持部35によって測定対象物20が音場60に曝されることが妨げられてしまい、振動板15A、15Bと測定対象物20との間に放射される音波が遮られてしまうことを抑制するためである。
このように、「点設置」とすることで、弾性支持部35と測定対象物20との接触部から異音が発生することが抑制され、音響計測手段205に雑音が乗ってしまうことを抑制できる。また、「点設置」である分、測定対象物20の振動の減衰が抑制されるため、確実に測定対象物20から音響計測手段205に音響信号が放射される。
また、測定対象物20が振動しているときには、変位する「腹」の部分と、変位しない「疎」の部分とを有しているが、頂部37は「疎」の部分に設置するものとする。これにより、測定対象物20の振動の減衰が抑制され、確実に測定対象物20から音響計測手段205に音響信号が放射される。
このように、弾性支持部35は、測定対象物20の振動の減衰を抑制するため、測定対象物20の支持位置を変化させるなどの作業が必要ない分、ランニングコストの増加を抑制することができる。
支持部片30は、図1及び図3に示すように、測定対象物20を支持する弾性支持部35を固定するものである。支持部片30は、図1に示すように、測定対象物20の両端部側に少なくとも1つずつ、合計2つ設けられるものである。なお、支持部片30の数はそれに限定されるものではなく、たとえば測定対象物20の両端部側に2つずつ以上、合計4つ以上設けられていてもよい。
変位信号検出手段200は、振動による測定対象物20の変位を測定するものである。この変位信号検出手段200の設置位置は、測定対象物20の端部側の上部などに設けられる。これにより、変位信号検出手段200によって測定対象物20が音場60に曝されることが妨げられてしまい、振動板15A、15Bと測定対象物20との間に放射される音波が遮られてしまうことを抑制できる。
この変位信号検出手段200は、たとえばレーザドップラー計測などによって、測定対象物20の変位を非接触で計測することができるものであり、所定の周波数における振動板の速度、加速度を得ることができる。
音響計測手段205は、たとえば計測用の無指向性マイクロホンで構成され、音波(音響信号)を検出するものである。
この音響計測手段205は、たとえば測定対象物20の端部側の表裏に、それぞれ1つずつ、合計2つ設けられている。これにより、音響計測手段205によって測定対象物20が音場60に曝されることが妨げられてしまい、振動板15A、15Bと測定対象物20との間に放射される音波が遮られてしまうことを抑制できる。
ここで、音響計測手段205を1つだけ設ける場合には、音波の検出精度が低下する可能性もある。そこで、この場合には、測定対象物20の面上にマイクロホンが来るように設置するのではなく、限りなく側面に近づけて配置するとよい(図示せず)。これにより、測定対象物20の表裏から発生する音を確実に検出しながら、振動板15A、15Bと測定対象物20との間に放射される音波が遮られてしまうことを抑制できる。
また、音響計測手段205は、測定帯域に対応できるマイクロホンであれば特に限定されるものではない。
解析部51は、変位信号検出手段200及び音響計測手段205の検出結果を解析するものである。この解析部51は、変位信号検出手段200及び音響計測手段205の検出結果に対してFFT(Fast Fourier Transform)解析を実施し、その解析結果に基づいて寄与率性の計算を実施し、さらに、測定対象物20から放射される音響信号のうち、クラック成分の分離するものである。なお、FFT解析、寄与率性の計算、及びクラック成分の分離については、後述の図6及び図7の説明で詳細に説明する。
測定対象物20は、振動板15A、l5Bより放射された音波により、振動させられるものである。すなわち、測定対象物20は、振動板15A、15Bから放射される強力な音圧レベルの音波にさらされて、測定対象物20の表裏が非接触で加振されている。
この測定対象物20は、クラックの有無の検出時において頂部37上に保持されるものであるが、加振された状態でこの頂部37上で適度に浮揚可能に保持されている。これにより、測定対象物20の振動が減衰されることが抑制されるとともに、測定対象物20が均一に振動(全面振動)する。
また、測定対象物20は、振動板15Aと振動板15Bの間の空間の疎密波の「疎」となる部分に設置される。これにより、振動板15A、15Bから放射される音波が、測定対象物20の表裏に放射され、測定対象物20が均一に振動する。
そして、測定対象物20は振動させられることにより、その表面や内部空間などに存在するクラック部分が摺動し、それに伴う摺動音が発生する。クラック検査装置100は、音響計測手段205の検出結果のうち、この摺動音に対応する音波を分離し、クラックの検出精度を向上させるものである。
図6は、図1に示すクラック検査装置100の計測及び解析手順の説明図である。図7は、図1に示すクラック検査装置100の計測及び解析結果の分析方法を説明する図である。図6及び図7に基づいて、クラック検査装置100の計測及び解析の方法について説明する。
まず、クラック検査装置100は、図6に示すように、「計測手段」により振動板15A、15Bの変位検出及び音場60の音響信号の検出をする。すなわち、クラック検査装置100は、変位信号検出手段200で、測定対象物20の表面の振動速度を検出し、音響計測手段205で、振動している測定対象物20から放射される音響信号を検出するということである。
次に、クラック検査装置100は、「解析手段」により、「計測手段」の検出結果に対してFFT解析である「相互相間計測」を実施する。すなわち、クラック検査装置100は、解析部51で、変位信号検出手段200の検出結果に対してFFT解析を実施してその解析結果を出力する(図7(a))とともに、音響計測手段205の検出結果に対してFFT解析を実施してその解析結果を出力する(図7(b))ということである。
なお、図7(a)及び図7(b)に示すように、変位信号検出手段200の検出結果及び音響計測手段205の検出結果には、測定対象物20の振動に寄与する振動、及び音響特性だけに寄与する振動に分類することができる。
詳細には、f1が超音波振動子10A、10Bの基本振動周波数に対応するピークであり、f2が超音波振動子10A、10Bの次数振動周波数に対応するピークである。また、f3は定期的に発生する固有振動周波数に対応するピークである。さらに、f4は測定対象物20から放射される音放射成分である。
その後、クラック検査装置100は、「解析手段」のFFT解析の結果に対して「寄与率計測」を実施する。すなわち、クラック検査装置100は、変位信号検出手段200の検出結果に対するFFT解析結果(図7(a))と、音響計測手段205の検出結果に対するFFT解析結果(図7(b))との寄与率性(コヒーレンス性)についての計算を実施し、当該計算結果を出力する(図7(c))。
一方、図7(b)では、f4に示すピークの周波数帯において、測定対象物20からの音放射成分が出力されている。一方、図7(a)では、f4に示すピークの周波数帯においてピークを有していない。これにより、f4で示すピークの周波数帯においては、寄与率性の値が小さくなる。
そして、クラック検査装置100は、音響計測手段205の検出結果に対するFFT解析結果(図7(b))と、寄与率性の計算結果(図7(c))とに基づいて、測定対象物20から放射された音成分を抽出する。すなわち、寄与率の高い周波数成分を差分させて、寄与率の低い周波数成分だけを抽出すれば、測定対象物20のクラックに起因する摺動で発生した周波数特性を、不要な振動成分と分離する事ができるので、高精度にクラックの有無の検出をすることができる。
本実施の形態1に係るクラック検査装置100は、測定対象物20の両面側から音響波を放射して全面振動させるので、測定対象物を均一に振動させることが可能となり、クラックの検出精度を向上させることができる。
図8は、実施の形態2に係るクラック検査装置101の概略構成例である。図9は、実施の形態2に係るクラック検査装置101の図8とは異なる概略構成例である。なお、本実施の形態2では、実施の形態1と同一部分には同一符号とし、実施の形態1との相違点を中心に説明するものとする。
実施の形態1では、超音波振動子10A、10Bの合計2つの超音波振動子を設けた場合の例を示したが、本実施の形態2の図8及び図9に示すように超音波振動子を1つとしてもよい。実施の形態2は、測定対象物20が、たとえば弾性に富むなどにより、良く振動するようなものである場合に有効である。
ここで、音響計測手段205Bには無指向性マイクロホンを採用することで、測定対象物20で発生しているクラックに起因する音成分を、どの方向に対しても一様に検出することが可能となる。したがって、測定対象物20を挟んで、超音波振動子10A、10B及び振動板15A、15Bとは反対側に設けられるのであれば、特に音響計測手段205Bの位置は限定されるものではない。
なお、測定対象物20のクラックの大きさが小さいほどに、音響計測手段205Bは、微少な音圧レベル(音響レベル)の変化の検出を要する。そこで、音響計測手段205Bは、測定対象物20にぶつからない程度になるべく近傍に配置することで、微小な音圧レベルの変化を検出することが可能となる。
本実施の形態2に係るクラック検査装置101A、101Bにおいても、実施の形態1に係るクラック検査装置100と同様の効果を得ることができる。すなわち、本実施の形態2に係るクラック検査装置101A、101Bは、測定対象物20に接触しないように、測定対象物20の全体に音響波を放射するので、測定対象物20を均一に振動させることが可能となり、クラックの検出精度を向上させることができる。
Claims (8)
- 第1超音波振動子と、
前記第1超音波振動子に振動させられて超音波帯域の音響波を放射し、測定対象物を振動させる第1振動板と、
前記第1超音波振動子とは異なる振動数で振動する第2超音波振動子と、
前記第1振動板に所定の間隔を空けて対向配置され、前記第2超音波振動子に振動させられて超音波帯域の音響波を放射し、前記測定対象物を振動させる第2振動板と、
を備え、
前記第1振動板と前記第2振動板から放射される音響波によって、測定対象物を両面から全面振動させて、前記測定対象物に発生しているクラックの有無を判定する
ことを特徴とするクラック検査装置。 - 前記第1振動板及び前記第2振動板は、
格子モードで振動する
ことを特徴とする請求項1に記載のクラック検査装置。 - 前記第1振動板と前記第2振動板とは、
前記第1振動板の格子モードの腹の位置が、前記第2振動板の格子モードの節の位置に対応するように対向配置されている
ことを特徴とする請求項2に記載のクラック検査装置。 - 前記測定対象物の振動を検出する変位信号検出手段と、
前記測定対象物から放射される音響信号を検出する音響信号検出手段と、
前記変位信号検出手段及び前記音響信号検出手段の検出結果を解析する解析部と、
を備え、
前記解析部は、
前記変位信号検出手段の検出結果の周波数特性、及び前記音響信号検出手段の検出結果の周波数特性を算出し、当該算出されたこれらの周波数特性の相関関係に基いて、設置される前記測定対象物のクラックの有無を判定する
ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載のクラック検査装置。 - 前記解析部は、
前記音響信号検出手段の前記周波数特性の成分のうち、前記変位信号検出手段の前記周波数特性の成分と対応するものを、前記測定対象物のクラックに起因しない成分であると判定する
ことを特徴とする請求項4に記載のクラック検査装置。 - 前記解析部は、
前記音響信号検出手段の前記周波数特性の成分のうち、前記変位信号検出手段の前記周波数特性の成分と対応しないものを、前記測定対象物から放射されたクラックに起因する成分であると判定する
ことを特徴とする請求項5に記載のクラック検査装置。 - 前記測定対象物と接触する頂部を有し、前記測定対象物を当該頂部の上に浮揚可能に保持する支持部を備えた
ことを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載のクラック検査装置。 - 前記支持部は、
加硫材が80%以上となるように、ゴム原料材と前記加硫材とを混錬して構成した
ことを特徴とする請求項7に記載のクラック検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011250963A JP5705091B2 (ja) | 2011-11-16 | 2011-11-16 | クラック検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011250963A JP5705091B2 (ja) | 2011-11-16 | 2011-11-16 | クラック検査装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014246153A Division JP5893119B2 (ja) | 2014-12-04 | 2014-12-04 | クラック検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013104849A JP2013104849A (ja) | 2013-05-30 |
JP5705091B2 true JP5705091B2 (ja) | 2015-04-22 |
Family
ID=48624466
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011250963A Expired - Fee Related JP5705091B2 (ja) | 2011-11-16 | 2011-11-16 | クラック検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5705091B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5865328B2 (ja) * | 2013-10-17 | 2016-02-17 | 三菱電機株式会社 | 薄板加振装置 |
JP6376283B2 (ja) * | 2016-02-01 | 2018-08-22 | 三菱ケミカル株式会社 | 分離膜診断方法、水処理方法、分離膜診断装置、水処理装置及び分離膜診断プログラム |
CN115265945A (zh) * | 2022-07-28 | 2022-11-01 | 西安交通大学 | 一种基于异音信息的调门消音器裂纹在线检测方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10277508A (ja) * | 1997-04-08 | 1998-10-20 | Toppan Printing Co Ltd | 超音波洗浄装置 |
JPH11295200A (ja) * | 1998-04-07 | 1999-10-29 | Ge Plastics Japan Ltd | 板状成形品の頑強性評価治具および評価方法 |
EP1206326A1 (en) * | 1999-06-29 | 2002-05-22 | L-Tech Corporation | Chemical film cleaning and drying |
JP2003014708A (ja) * | 2001-07-05 | 2003-01-15 | Mitsubishi Electric Corp | 板の非破壊検査装置 |
US6998616B2 (en) * | 2002-08-28 | 2006-02-14 | Wayne State University | System and method for acoustic chaos and sonic infrared imaging |
JP2005091171A (ja) * | 2003-09-17 | 2005-04-07 | National Maritime Research Institute | 摺り強度試験方法及び装置、試験片 |
JP2010063961A (ja) * | 2008-09-09 | 2010-03-25 | Mitsubishi Electric Corp | 超音波発生装置及びそれを備えた設備機器 |
JP4901926B2 (ja) * | 2009-09-08 | 2012-03-21 | 三菱電機株式会社 | クラック検知支援装置 |
-
2011
- 2011-11-16 JP JP2011250963A patent/JP5705091B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013104849A (ja) | 2013-05-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5643191B2 (ja) | 超音波探触子及び超音波撮像装置 | |
JP6362533B2 (ja) | 残留応力評価方法及び残留応力評価装置 | |
JP5893119B2 (ja) | クラック検査装置 | |
JP5705091B2 (ja) | クラック検査装置 | |
JP4906897B2 (ja) | クラック検知支援装置、及び、クラック検知支援方法 | |
JP5618223B2 (ja) | 超音波探傷方法、及び超音波アレイ探触子 | |
JP2012107918A (ja) | クラック検知装置及びクラック検知方法 | |
EP2819434B1 (en) | Ultrasonic wave-generating device | |
JP5456010B2 (ja) | 薄板検査装置 | |
JP2017053709A (ja) | 音響管並びに音響管を用いた音響特性測定のための装置、方法、プログラム、及びプログラムを記録した記録媒体 | |
JP5865328B2 (ja) | 薄板加振装置 | |
JP5197717B2 (ja) | 薄板検査装置 | |
JPH11223623A (ja) | 材料物性測定装置 | |
JP2007315849A (ja) | 弾性率測定装置、複合センサー、及び、弾性率測定方法 | |
JP2007309901A (ja) | 水位検出装置並びに設備機器 | |
WO2009096347A1 (ja) | 超音波発生装置及びそれを備えた設備機器 | |
KR101558922B1 (ko) | 빔크기 조절이 가능한 분할형 초음파 센서 | |
JP4795092B2 (ja) | 音響導波路装置 | |
WO2017141402A1 (ja) | 超音波送受信装置、壁部材、および、壁部材への超音波センサの取付方法 | |
JP5264820B2 (ja) | クラック検知装置及びクラック検知方法 | |
JP2004340622A (ja) | 管状もしくは溝状の流路を移動する流体の流量の測定方法 | |
JP5335121B2 (ja) | クラック検知装置及びクラック検知方法 | |
KR101960019B1 (ko) | 공진 구조물에 의해 출력이 향상된 자기 변형 트랜스듀서 및 트랜스듀서의 출력 향상 방법 | |
Sugimoto et al. | Estimation of effective diameter on classical vibration theory model in a non-contact nondestructive internal defect detection | |
JP6171667B2 (ja) | 超音波センサ装置及び電子機器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130911 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130917 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131030 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140401 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140530 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20141007 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141204 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20141212 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150217 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150224 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5705091 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |