JP5665834B2 - X線撮像装置 - Google Patents
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Description
可能とすると共に、被検知物によるX線の吸収効果を考慮した微分位相像または位相像を
得ることが可能なX線撮像装置を提供することができる。
実施形態1ではX線の吸収変化つまり透過率変化から透過率像、位相変化から微分位相像や位相像を得る装置について説明する。
実施形態2では実施形態1の減衰手段の代わりに図4に示す減衰手段を用いた場合の装置について説明する。装置構成は実施形態1と同じである。分割素子103により空間的に分割されたX線は被検知物104に照射され、透過X線は減衰手段105に入射する。減衰手段105の一部分の模式図を図4に示す。
実施形態3ではコンピューテッドトモグラフィー(CT)の原理を用いて、3次元的な吸収分布、位相分布を得る装置について説明する。
上記実施形態では、一方向に吸収能勾配(透過能勾配)を有する減衰素子について説明したが、この吸収能勾配(透過能勾配)の方向は一方向以上であっても構わない。例えば、同一の減衰素子において、X方向とY方向に吸収能勾配を有するように構成すれば、2次元方向の位相勾配を計測することも可能である。このような形状としては、例えばピラミッド型や円錐型などがある。
102 単色化手段
103 分割素子
104 被検知物
105 減衰手段
106 検出器
107 演算手段
108 表示手段
109 移動手段
110 移動手段
111 移動手段
201 基準X線
202 X線
203 減衰手段
204 減衰素子
205 基準X線
206 X線
207 減衰素子
Claims (7)
- X線発生手段から発生したX線を空間的に分割する分割素子と、
前記分割素子により分割され、被検知物を透過したX線が入射する第1の減衰素子と、
前記分割素子により分割され、前記被検知物が透過したX線が入射し、前記第1の減衰素子と隣接して配置されている第2の減衰素子と、
前記第1の減衰素子と前記第2の減衰素子を透過したX線の強度を検出する検出手段と、
前記検出手段により得られたX線の強度から前記被検知物の微分位相像又は位相像を演算する演算手段と、を有し、
前記第1の減衰素子と前記第2の減衰素子は、前記X線の入射位置に応じてX線の透過量が連続的または段階的に変化するように構成され、
前記第1の減衰素子と前記第2の減衰素子は、前記被検知物での屈折による前記X線の移動方向に関して、透過量の増減量または増減傾向が異なり、
前記検出手段は、前記第1の減衰素子のうち、前記X線の透過量が変化する領域を透過したX線の強度を検出する第1の画素と、前記第2の減衰素子のうち、前記X線の透過量が変化する領域を透過したX線の強度を検出し、前記第1の画素と隣接して配置されている第2の画素と、を有することを特徴とするX線撮像装置。 - 前記検出手段により得られたX線の強度から前記被検知物による前記第1の減衰素子又は前記第2の減衰素子上でのX線の位置変化量を得る演算手段を有することを特徴とする請求項1に記載のX線撮像装置。
- 前記第1の減衰素子又は前記第2の減衰素子は、入射するX線に対して垂直方向に厚みが連続的に変化していることを特徴とする請求項1又は2に記載のX線撮像装置。
- 前記第1の減衰素子又は前記第2の減衰素子は、三角柱の構造体であることを特徴とする請求項3に記載のX線撮像装置。
- 前記第1の減衰素子又は前記第2の減衰素子は、入射するX線に対して垂直方向に密度が連続的に変化していることを特徴とする請求項1又は2に記載のX線撮像装置。
- X線発生手段から発生したX線を空間的に分割する分割素子と、
前記分割素子により分割され、被検知物を透過したX線が入射する第1の減衰素子と、
前記分割素子により分割され、前記被検知物が透過したX線が入射し、前記第1の減衰素子と隣接して配置されている第2の減衰素子と、
前記第1の減衰素子と前記第2の減衰素子を透過したX線の強度を検出する検出手段と、
前記検出手段により得られたX線の強度から前記被検知物の微分位相像又は位相像を演算する演算手段と、を有し、
前記第1の減衰素子と前記第2の減衰素子は、前記X線の入射位置に応じてX線の透過量が連続的または段階的に変化するように構成され、
前記第1の減衰素子と前記第2の減衰素子は、前記被検知物での屈折による前記X線の移動方向に関して、透過量の増減量または増減傾向が異なり、
前記演算手段は、前記被検知物による前記第1の減衰素子又は前記第2の減衰素子上でのX線の位置変化量と前記検出手段により得られたX線の強度との対応関係を示すデータテーブルを参照して前記位置変化量を得ることを特徴とするX線撮像装置。 - X線発生手段から発生したX線を空間的に分割する分割素子と、
前記分割素子により分割され、被検知物を透過したX線が入射する第1の減衰素子と、
前記分割素子により分割され、前記被検知物が透過したX線が入射し、前記第1の減衰素子と隣接して配置されている第2の減衰素子と、
前記第1の減衰素子と前記第2の減衰素子を透過したX線の強度を検出する検出手段と、
前記検出手段により得られたX線の強度から算出したX線透過率を用いて前記被検知物の微分位相像又は位相像を演算する演算手段と、を有し、
前記第1の減衰素子と前記第2の減衰素子は、前記X線の入射位置に応じてX線の透過量が段階的に変化するように構成され、
前記第1の減衰素子と前記第2の減衰素子は、前記被検知物での屈折による前記X線の移動方向に関して、透過量の増減量または増減傾向が異なることを特徴とするX線撮像装置。
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