JP5697370B2 - X線撮像装置 - Google Patents
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Description
実施形態1では、X線の位相変化から像を得るX線撮像装置の構成例について説明する。
また、被検知物104からの散乱X線による像の不明瞭化を軽減するために、蛍光体アレイ105と検出器106との間にレントゲン撮影に用いられるグリッドを配置しても良い。
実施形態2では、X線の位相変化から位相像を得るX線撮像装置及び方法について説明する。本実施形態では、X線を分割する素子を設ける点において実施形態1とは異なる。
X線発生手段としてのX線源301から発生されたX線は、分割素子303により空間的に分割される。すなわち、分割素子303を透過したX線はX線の束となる。この分割素子303はラインアンドスペースを有したスリットアレイ形状であっても、2次元的に配列された穴を有しているものであっても良い。また、分割素子303に設けられたスリットはX線を透過する形態であれば、光学素子の基板を貫通しなくとも良い。分割素子303の材料としてはX線の吸収率が高いPt、Au、Pb、Ta、Wなどから選択される。あるいは、これらの材料の合金であってもよい。
なお、単色化手段302、被検知物304、蛍光体アレイ305、検出器306、グリッド等に関しては、実施形態1と同様のものを用いることができる。
なお、S105のステップにおいては、この様に算出された微分位相像および位相像は表示手段308によって表示することができる。
また、位相変化の検出にX線の屈折効果を利用するため干渉性の高いX線を必ずしも用いる必要がない。
実施形態3では、実施形態2の蛍光体アレイとは異なる蛍光体アレイを用いたX線撮像装置について説明する。本実施形態のX線撮像装置において、装置の基本構成は実施形態2で説明した図1と同じである。
J=k・I0(1−exp(−μenl0)) 式(3)
I0は分割素子203によって空間的に分割されたX線の強度、μenは蛍光体604の材料の実効的な線エネルギー吸収係数、l0は基準X線601の蛍光体4604内の光路長、kは係数である。すなわち、上記式(3)は、蛍光体604に入射したX線のうち、蛍光体604自体に透過されたX線以外のX線が蛍光に変換されることを示している。
J´=k・I0(1−exp(−μenl)) 式(4)
lはX線602の蛍光体604内の光路長を示している。式(3)、式(4)と蛍光体604の頂角(α)から蛍光体アレイ305上での位置変化量(ΔX)は式(5)で表すことができる。
実施形態4では、コンピューテッドトモグラフィ(CT)の原理を用いて、3次元的な位相分布を得る装置の構成例について説明する。
実施形態5では、X線の吸収が大きい被検知物に対しても、より正確な微分位相像及び位相像を得ることのできる装置及び方法について説明する。本実施形態のX線撮像装置において、装置の基本構成は実施形態2で説明した図3と同じである。
ここで、第2の蛍光体は、Xの入射位置により蛍光の発光量が一定である蛍光体である。ここで、蛍光の発光量が一定であるとは、入射位置により発光量が実質的に変化せず、被検知物の吸収情報を取得できることをいい、厳密に一定である必要はない。
蛍光体アレイから発光した蛍光の強度を検出することにより吸収像、微分位相像、位相像を得ることができる。以下、具体的に説明する。
上記の構成によれば、この蛍光体904及び905を用いることにより、X線の吸収の効果及び屈折の効果を独立した情報として得ることができる。
実施形態6では、実施形態5と同様にX線の吸収が大きい被検知物であっても、より正確な微分位相像および位相像を得ることのできる装置および方法について説明する。本実施形態のX線撮像装置において、装置の基本構成は実施形態2で説明した図3と同じである。
△X1=−△X2 式(6)
また、J’1及びJ’2は、式(4)に被検知物304による透過率Aを加味した式(7)で記述することが出来る。
J’=k・I0A(1−exp(−μenl)) 式(7)更に、位置変化量△Xは、式(7)を用いて式(8)で表すことが出来る。
このような手法によれば、2つの蛍光体から透過率を算出した後に、位置変化量を得るため、被検知物がX線に対して十分吸収するような被検知物に対しても高精度の微分位相像または位相像を得ることができる。
実施例1においては、本発明を適用したX線撮像装置の構成例について説明する。本実施例は上記実施形態2に対応するものである。
以下に、本発明の実施例2におけるX線撮像装置の構成例について説明する。本実施例は上記実施形態1に対応するものである。
実施例3においては、本発明を適用したX線撮像装置の構成例について説明する。本実施例は上記実施形態5に対応するものである。
実施例4においては、本発明を適用したX線撮像装置の構成例について説明する。本実施例は、実施形態6に対応するものである。
302 単色化手段
303 分割素子
304 被検知物
305 蛍光体アレイ
306 検出器
307 演算手段
308 表示手段
309 移動手段
310 移動手段
311 移動手段
Claims (9)
- 被検知物によるX線の位相変化情報を取得するX線撮像装置において、
X線発生手段から発生したX線を空間的に分割する分割素子と、
前記分割素子により分割されたX線が入射する第1の蛍光体が複数配列された蛍光体アレイと、
前記蛍光体アレイから発光した蛍光の強度を検出するための検出手段と、
前記検出手段により検出された蛍光の強度情報から、前記被検知物の微分位相像または位相像を演算する演算手段と、を有し、
前記第1の蛍光体の厚みは、入射するX線に対して垂直な方向において、連続的または階段状に増加又は減少していることを特徴とするX線撮像装置。 - 前記第1の蛍光体の厚みは、複数の方向において、連続的または階段状に増加又は減少していることを特徴とする請求項1に記載のX線撮像装置。
- 被検知物によるX線の位相変化情報を取得するX線撮像装置において、
X線発生手段から発生したX線を空間的に分割する分割素子と、
前記分割素子により分割されたX線が入射する第1の蛍光体が複数配列された蛍光体アレイと、
前記蛍光体アレイから発光した蛍光の強度を検出するための検出手段と、を有し、
前記第1の蛍光体の、発光材料の密度とドーパントの密度との少なくともいずれかは、入射するX線に対して垂直な方向において、連続的または階段状に増加又は減少していることを特徴とするX線撮像装置。 - 被検知物によるX線の位相変化情報を取得するX線撮像装置において、
X線発生手段から発生したX線を空間的に分割する分割素子と、
前記分割素子により分割されたX線が入射する、第1の蛍光体と第2の蛍光体とが、同一面内に配列された蛍光体アレイと、
前記蛍光体アレイから発光した蛍光の強度を検出するための検出手段と、を有し、
前記第1の蛍光体は、前記X線の入射位置に対して蛍光の発光量が変化するように構成されており、前記第2の蛍光体は、前記X線の入射位置に対して蛍光の発光量が一定であり、
前記発光量の変化は、入射するX線に対して垂直な方向において、連続的または階段状に、厚みと発光材料の密度とドーパントの密度との少なくともいずれかが増加又は減少することで生じることを特徴とするX線撮像装置。 - 前記第2の蛍光体は、入射するX線に対して垂直な方向において、厚さと単位体積当りの発光量とが一定であることを特徴する請求項4に記載のX線撮像装置。
- 被検知物によるX線の位相変化情報を取得するX線撮像装置において、
X線発生手段から発生したX線を空間的に分割する分割素子と、
前記分割素子により分割されたX線が入射する、第1の蛍光体アレイと第3の蛍光体アレイとが、同一面内に配列された蛍光体アレイと、
前記蛍光体アレイから発光した蛍光の強度を検出するための検出手段と、を有し、
前記第1の蛍光体は及び前記第3の蛍光体のそれぞれは、
前記X線の入射位置に応じてX線による蛍光の発光量が変化するように構成されており、前記発光量の変化は、入射するX線に対して垂直な方向において、連続的または階段状に、厚みと発光材料の密度とドーパントの密度との少なくともいずれかが増加又は減少することで生じ、
前記第1の蛍光体と前記第3の蛍光体は入射するX線の移動方向に対する発光量の増減量または増減傾向が異なることを特徴とするX線撮像装置。 - 前記検出手段により検出された蛍光の強度情報から、前記被検知物の微分位相像または位相像を演算する演算手段を備えることを特徴とする3から6のいずれか1項に記載のX線撮像装置。
- 前記X線発生手段と、前記蛍光体アレイと、前記検出手段と、を同期させて移動させる移動手段を有することを特徴とする請求項1から7のいずれかに記載のX線撮像装置。
- 前記検出手段は、同一面内に複数の画素が配列されて構成されることを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記載のX線撮像装置。
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