JP2016509872A - 高エネルギにおけるx線位相コントラストイメージング及びctのための大視野格子干渉計 - Google Patents
高エネルギにおけるx線位相コントラストイメージング及びctのための大視野格子干渉計 Download PDFInfo
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Abstract
Description
本発明は、米国保健福祉省、国立衛生研究所(National Institutes of Health:NIH)による承認番号1R21EB012777−01A号に基づく国庫補助を受けて達成された。米国政府は、本発明について一定の権利を有する。
関連出願
本出願は、Dan Stutman及びMichael Finkenthalによって2013年1月31日に出願された米国特許出願番号第13/493,392号、発明の名称、「Differential Phase Contrast X-ray Imaging System and Components」、及び2014年2月6日に出願された米国特許出願第14/174,830号、発明の名称、「System and Method for Phase-Contrast X-ray Imaging」に関連し、2013年2月12日に出願された米国仮出願第61/763,683号、発明の名称、「High Energy X-Ray Phase Contrast CT Systems Using Tiled Glancing Incidence Gratings」の優先権を主張し、これらの全体は、引用によって本願に援用される。
Claims (5)
- 高エネルギX線システムにおいて入射X線を調整する干渉計デバイスにおいて、
基板と、
前記基板上に扇状にタイリングされた複数のマイクロ周期格子と、を備え、
前記マイクロ周期格子は、入射X線の方向に対して視射角だけ傾斜された吸収バーを含み、前記吸収バーは、それらのビームコリメーション又は口径食幅以下の幅に亘って前記入射X線と平行にされている干渉計デバイス。 - 大視野(FOV)干渉計システムにおいて使用されるように構成されている請求項1記載の干渉計デバイス。
- 前記基板は、単一の基板を含む請求項1記載の干渉計デバイス。
- 前記マイクロ周期格子は、水平方向に扇状にタイリングされ、垂直方向に積層され、水平及び垂直大視野(FOV)微分位相コントラストトモグラフィ(DPC−CT)システムが形成される請求項1記載の干渉計デバイス。
- 前記マイクロ周期格子の吸収バーは、前記入射X線の伝播方向に対して約5°から約30°の角度で傾斜し、約5°から約15°の間の角度に亘って、それらの基板上で扇状に配置され、50乃至150kVpのエネルギのための大視野X線干渉計を形成する請求項1記載の干渉計デバイス。
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