JP2013031784A5 - Ｘ線撮像装置 - Google Patents

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本発明はＸ線を用いた撮像装置に関する。
そこで、本発明は、特許文献１の方法よりも装置を小型化し、特許文献２の方法よりも高精度の分析を可能とすると共に、被検知物によるＸ線の吸収効果を考慮した微分位相像または位相像を得るＸ線撮像装置を提供することを目的とする。
本発明に係るＸ線撮像装置は、Ｘ線発生手段から発生したＸ線を空間的に分割する分割素子と、前記分割素子により分割され、被検知物を透過したＸ線が入射する第１の減衰素子と、前記分割素子により分割され、被検知物を透過したＸ線が入射し、前記第１の減衰素子と隣接して配置されている第２の減衰素子と、前記第１の減衰素子と前記第２の減衰素子を透過したＸ線の強度を検出する検出手段と、を有し、前記第１の減衰素子と前記第２の減衰素子は、前記Ｘ線の入射位置に応じてＸ線の透過量が連続的に変化するように構成され、前記第１の減衰素子と前記第２の減衰素子は、前記Ｘ線の移動方向に対する透過量の増減量または増減傾向が異なることを特徴とする。
本発明によれば、特許文献１よりも装置を小型化し、特許文献２よりも高精度の分析を
可能とすると共に、被検知物によるＸ線の吸収効果を考慮した微分位相像または位相像を
得ることが可能なＸ線撮像装置を提供することができる。

Claims (7)

  1. Ｘ線発生手段から発生したＸ線を空間的に分割する分割素子と、
    前記分割素子により分割され、被検知物を透過したＸ線が入射する第１の減衰素子と、
    前記分割素子により分割され、前記被検知物が透過したＸ線が入射し、前記第１の減衰素子と隣接して配置されている第２の減衰素子と、
    前記第１の減衰素子と前記第２の減衰素子を透過したＸ線の強度を検出する検出手段と、
    を有し、
    前記第１の減衰素子と前記第２の減衰素子は、前記Ｘ線の入射位置に応じてＸ線の透過量が連続的に変化するように構成され、
    前記第１の減衰素子と前記第２の減衰素子は、前記被検知物での屈折による前記Ｘ線の移動方向に関して、透過量の増減量または増減傾向が異なることを特徴とするＸ線撮像装置。
  2. 前記検出手段により得られたＸ線の強度から前記被検知物による前記第１の減衰素子又は前記第２の減衰素子上でのＸ線の位置変化量を得る演算手段を有することを特徴とする請求項１に記載のＸ線撮像装置。
  3. 前記演算手段は、前記検出手段により得られたＸ線の強度と前記位置変化量の対応関係を示すデータテーブルを参照して前記位置変化量を得ることを特徴とする請求項２に記載のＸ線撮像装置。
  4. 前記検出手段により得られたＸ線の強度から前記被検知物の微分位相像又は位相像を演算する演算手段を有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載のＸ線撮像装置。
  5. 前記第１の減衰素子又は前記第２の減衰素子は、入射するＸ線に対して垂直方向に厚みが連続的に変化していることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載のＸ線撮像装置。
  6. 前記第１の減衰素子又は前記第２の減衰素子は、三角柱の構造体であることを特徴とする請求項５に記載のＸ線撮像装置。
  7. 前記第１の減衰素子又は前記第２の減衰素子は、入射するＸ線に対して垂直方向に密度が連続的に変化していることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載のＸ線撮像装置。
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