JP5656247B2 - 半導体発光装置及び半導体発光装置の組み込み構造 - Google Patents

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Description

本発明は半導体発光装置及びその組み込み構造に関し、特に半田実装における半田短絡を防止する電極形状の改良に関する。
近年、発光ダイオード(以後LEDと略記する)は半導発光体素子であるため、長寿命で優れた駆動特性を有し、さらに小型で発光効率が良く、鮮やかな発光色を有することから、カラー表示装置のバックライトや照明等に広く利用されるようになってきた。本実施形態においても半導体発光装置としてLED発光装置を事例として説明する。
特に近年、携帯電話等の携帯機器に搭載する部品の小型化が要求されており、上記携帯機器に組み込まれるLED発光装置の実装構造にも小型化の要望が強い。しかしLED発光装置の実装構造を小型化するには発熱の問題があり、この対策も要望されており、この対策としてLEDを実装する回路基板の裏面側に設ける半田実装用電極の形状を大きくして放熱効果を高める提案がなされている(例えば引用文献1参照)。
以下引用文献1に記載された従来のLED発光装置に付いて説明する。
図12は引用文献1に記載されたLED発光装置100を示すもので、(a)はLED発光装置100の断面図、(b)は上面図、(c)は裏面図を示す。
図12(a)においてLED発光装置100は回路基板2の上面にはダイボンド用電極3aと、ワイヤボンド用電極3bが形成され、ダイボンド用電極3aにはLED4が実装され、ワイヤー5によってワイヤボンド用電極3bに接続されている。また回路基板2の裏面側には、それぞれ前記ダイボンド用電極3aと、ワイヤボンド用電極3bとに対向して1対の半田実装用電極106,107とが形成され、この半田実装用電極106,107は回路基板2を貫通するスルーホール3cによって、それぞれダイボンド用電極3aと、ワイヤボンド用電極3bとに接続されている。また、LED4を実装した回路基板2の上面は透明樹脂または蛍光樹脂等の保護樹脂8によって封止されている。
図12(b)はLED発光装置100の上面図であり、それぞれダイボンド用電極3a、ワイヤボンド用電極3bと、実装されたLED4及び接続用のワイヤー5の位置関係を示している。
図12(c)は回路基板2の裏面に形成された1対の半田実装用電極106,107の形状を示しており、LED4による発熱を効率良く放熱するためにできるだけ面積の大きい電極形状としている。特にLED4の実装部に対応する部分の半田実装用電極106の電極面積は広くなっている。このため、小型化要望によって制限された回路基板2の範囲では、半田実装用電極106,107の形状を大きくすることによって、半田実装用電極106,と107間の幅Hが狭い隙間となっている。
特開2005−363802号公報
次に引用文献1に示すLED発光装置100の問題点を説明する。
まずLED発光装置100のマザーボードに対する半田実装について説明する。図13はLED発光装置100をマザーボード200に半田実装した状態を示す断面図、図14はLED発光装置100の半田実装された回路基板2の裏面を示す裏面図である。図13においてマザーボード200のマザーボード半田電極206,207に半田層9を介してLED発光装置100の半田実装用電極106,107を接着して状態を示しており、流出した半田層9aが幅Hと狭い半田実装用電極106,と107間の隙間に流れ出し、短絡トラブルが発生している。この現象は図14に示す如く、回路基板2の裏面に形成された半田実装用電極106,107(点線で示す)の外部に流れ出した半田層9aが接触して短絡トラブルが発生しているものである。
次に、図15により半田実装における半田の変化状態を説明する。図15はLED発光装置100の回路基板2の裏面に形成された半田実装用電極106,107おける、半田実装時の半田の変化をしめす変化状態図である。図15(a)は半田実装用電極106,107に半田層9を印刷した状態を示し、半田実装用電極106,107の面積より小さい範囲に厚く印刷されている。
(b)は加熱によって半田層9が溶融し、LED発光装置100の重量によって加圧されると共に、半田実装用電極106,107に形成された金属層(例えば金)と半田層9とが合金層を形成しながら、濡れ性の良い半田実装用電極106,107の表面に沿って広がっていく。(c)は半田層9が濡れ性の良い半田実装用電極106,107の表面全体に広がった状態である。
この後、さらに溶融した半田層9がLED発光装置100の重量によって加圧が継続されることにより、半田実装用電極106,107の表面から溢れて回路基板2の基板上を流れるが、やがて基板との温度差によって半田層9は冷却されて固まる。しかし、半田実装用電極106,107間の間隙Hが小さいと、この流出した半田層9aが固まる前に接触して短絡トラブルが発生することになる。要するに半田実装用電極106,107間の間隙Hを大きくしておけば、流出した半田層9aが接触する前に固まるので、短絡トラブルが発生することはないが、LED4の放熱を考慮して半田実装用電極106,107間の間隙Hを小さくすることによる問題である。
本発明の目的は上記問題点を解決しようとするものであり、LED発光装置の小型化の要望に沿って、小型化された回路基板の裏面に放熱効果が得られる大きい面積の一対の半田実装用電極を形成し、かつ一対の半田実装用電極間の間隙Hを小さくしながら、短絡トラブルの発生を防止できるLED発光装置及びその組み込み構造を提供することである。
上記目的を達成するため本発明においては、基板上に形成したダイボンド用電極と、ワイヤボンド用電極と、それぞれ前記ダイボンド用電極と、ワイヤボンド用電極とに対向して前記基板裏面に形成された1対の半田実装用電極とを有する回路基板に、半導体発光素子を実装した半導体発光装置において、前記基板裏面に形成された1対の半田実装用電極の形状は、1対の半田実装用電極同士の対向する面は平行且つ基板幅に形成され、他の部分は基板端面に対して凹凸形状に形成されていることを特徴とする。
上記構成によれば、半田実装用電極の形状を大きくして、放熱効果を高めると共に、基板端面に対して形成され凹凸形状によって、半田層の流れを規制し、1対の半田実装用電極同士の対向する面方向への半田層の流出を減少させることで、短絡トラブルの発生を防止することができる。
半田実装用電極に形成された凹凸形状は、少なくとも1組の直交する電極端面を有すると良い。
基板裏面に形成された半田実装用電極の凹凸形状における凹部は、半田実装時おける半田溜まり部となっていると良い。
基板裏面に形成された半田実装用電極における、半導体発光素子実装部に対応する部分の電極面積は広くなっていると良い。
半導体発光装置の組み込み構造は、半導体発光装置をマザーボードに設けられたザーボード半田電極に半田実装した半導体発光装置の組み込み構造において、前記マザーボードに設けられたザーボード半田電極の幅が、半導体発光装置に生成された半田実装用電極の幅より細い電極形状であると良い。

上記の如く本発明によれば、半田実装用電極の形状を大きくして、放熱効果を高めると共に、1対の半田実装用電極同士の対向する面方向への半田層の流出を減少させることで、短絡トラブルの発生を防止することが可能な半導体発光装置を提供することができる。
本発明の第1実施形態におけるLED発光装置の構成を示し、(a)は断面図、(b)は上面図、(c)は裏面図である。 図1に示すLED発光装置をマザーボードに実装した状態を示す断面図である。 図1に示すLED発光装置における回路基板の裏面図である。 図1に示すLED発光装置における回路基板の裏面図である。 図2に示す回路基板の部分拡大斜視図である。 図1に示すLED発光装置の実装工程における半田層の流れる状態を示す回路基板の裏面図である。 本発明の第2実施形態におけるLED発光装置の構成を示し、(a)は断面図、(b)は上面図、(c)は裏面図である。 図7に示すLED発光装置をマザーボードに実装した状態を示す断面図である。 図8に示すLED発光装置における回路基板の裏面図である。。 本発明の第3実施形態におけるLED発光装置をマザーボードに実装した状態を示す断面図である。 本発明の第3実施形態におけるLED発光装置の半田実装工程を示す工程図である。 従来のLED発光装置の構成を示し、(a)は断面図、(b)は上面図、(c)は裏面図である。 図12に示すLED発光装置をマザーボードに実装した状態を示す断面図である。 図12に示すLED発光装置における回路基板の裏面図である。 図12に示すLED発光装置の実装工程における半田層の流れる状態を示す回路基板の裏面図である。
(第1実施形態の説明)
以下図面により、本発明の実施の形態を説明する。図1〜図6は本発明の第1実施形態を示し、図1は本発明のLED発光装置10の断面図、図2はLED発光装置10をマザーボード200に半田実装した状態を示す断面図、図3はLED発光装置10の半田実装された回路基板2の裏面を示す裏面図である。上記図1から図3は、従来例である図12から図14と基本的な構成が同じなので、同一要素には同一番号を付し、重複する説明を省略する。
図1の(a)から(c)のLED発光装置10の構成は、従来例である図12の(a)から(c)のLED発光装置100の構成と基本的に同じであり、同一要素における構成の説明は省略するが、LED発光装置10においてLED発光装置100と異なるところは、回路基板2の裏面に形成された半田実装用電極の形状であり、図1(c)に示す半田実装用電極6,7の形状を、図12(c)に示す半田実装用電極106,107の形状と対比して説明する。
すなわちLED発光装置100における半田実装用電極106,107の形状は、いずれも矩形形状であり、しかも放熱効果を高めるために半田実装用電極106,107の形状をできるだけ大きくし、結果として半田実装用電極106,107間の間隙幅Hを小さくしている。これに対しLED発光装置10の半田実装用電極6,7は放熱効果を高めるために半田実装用電極6,7の形状をできるだけ大きくし、結果として半田実装用電極6,7間の間隙幅Hを小さくしている点は同じであるが、その電極形状が異なっている。
すなわち、半田実装用電極6,7の形状は図1の(c)に示す如く、1対の半田実装用電極6,7の対向面6a,7aは平行且つ回路基板2の幅に形成され、他の部分は凸形状部6b,7b、凹形状部6c,7cを設けることによって回路基板2の端面に対して凹凸形状に形成されている。
図2は従来技術における図13に対応したLED発光装置10をマザーボード200に半田実装した状態を示す断面図、図3は図14に対応したLED発光装置10の半田実装された回路基板2の裏面を示す裏面図である。
図2においてマザーボード200のザーボード半田電極206,207に半田層9を介してLED発光装置10の半田実装用電極6,7を接着した状態を示しており、半田実装用電極6、7間の幅Hと狭い隙間に流れ出した流出半田層9aは、わずかな量であり短絡トラブルが発生していない。この現象は図3に示す如く、回路基板2の裏面に形成された半田実装用電極6,7(点線で示す)の外部に流れ出した流出半田層9aのほとんどが回路基板2の端面に対して凹凸形状に形成されている凹形状部6c,7cに流れ出し、半田実装用電極6,7の対向面6a,7a方向へはわずかな量の流出半田層9aが流れだしただけで、短絡トラブルが発生していない。
次に、本発明における半田層9の流出動作について図4、図5により説明する。
図4は図1(c)と同じ回路基板2の裏面に形成された半田実装用電極6,7を示す裏面図である。すなわち半田実装用電極6,7は回路基板2の端面に対して凹凸形状に形成されているため、一点鎖線の円形部Kで示すように複数の直交形状部(電極の端面が直交している部分)が存在している。
図5は図4に示す、一点鎖線の円形部Kで示す直交形状部の1つを拡大した拡大斜視図であり、半田層9の流れを示している。すなわち、半田層9が溶融して濡れ性の良い半田実装用電極6上を流れてきて、電極の端面A,Bが直交している部分にいたり、さらにLED発光装置10の重量の影響を受けて半田実装用電極6の外側に流出しようとするが、この時流出しようとする流出半田層9aは、まず半田実装用電極6の側面である直交しているA面とB面とに流れ広がる結果となり、A面とB面とが90度に対向しているためA面とB面間には半田の表面張力によって引っ張り合う力が働き、A面とB面間により半田が流れやすくなり、対向面6a側には半田が行きにくくなる。よって、半田層9における外部への流出半田層9aの流れが阻害され、冷却効果と相まって遠方へは流れずに、凹部が半田溜まり部となり、流出半田層9aの流れが止まる。
次に図6により本発明の半田実装における半田の変化状態を説明する。図6(a)から(d)は、従来例の図15(a)から(d)に対応しており、LED発光装置10の回路基板2の裏面に形成された半田実装用電極6,7おける、半田実装時の半田の変化をしめす変化状態図である。図6(a)は半田実装用電極6,7に半田層9を印刷した状態を示し、半田実装用電極6,7の面積より小さい範囲に厚く印刷されている。
(b)は加熱によって半田層9が溶融し、LED発光装置10の重量によって加圧されると共に、半田実装用電極6,7に形成された金属層(例えば金)と半田層9とが合金層を形成しながら、濡れ性の良い半田実装用電極6,7の表面に沿って広がっていく。(c)は半田層9が濡れ性の良い半田実装用電極6,7の表面全体に広がった状態である。
この後、さらに溶融した半田層9がLED発光装置10の重量によって加圧が継続されることにより、半田実装用電極6,7の表面から溢れて回路基板2の基板上を流れるが、やがて基板との温度差によって半田層9は冷却されて固まる。
この時の流出半田層9aの動作は、図5で説明したように複数のA面とB面を有する直交形状部の存在により、流出半田層9aのほとんどは半田実装用電極6,7の凹形状部6c,7cに溜まり、半田実装用電極6,7の対向面6a,7aには少量しか流出しない。この結果半田実装用電極6,7間の間隙幅Hを小さくしても短絡トラブルが発生しない。
(第2実施形態の説明)
次に図7から図9により本発明の第2実施形態におけるLED発光装置の構成を説明する。なお、図7から図9のLED発光装置20の構成は、図1から図3に示す第1実施形態のLED発光装置10と基本的構成は同じであり、重複する説明は省略する。
図7は本発明の第2実施形態におけるLED発光装置20の構成を示し、(a)の断面図、(b)の上面図は、図1(a)(b)と同じであり、図7(c)の下面図のみが、図1(c)と異なっている。すなわち、図7(c)の下面図が、図1(c)と異なってところは半田実装用電極の形状であり、LED発光装置10の半田実装用電極6,7の形状は多数の直交形状部Kを設けていたのに対し、LED発光装置20の半田実装用電極60,70は、それぞれ対向面60a,70aの両側にのみ2個の直交形状部Kを設けたことである。
図8及び図9は第1実施形態における図2及び図3に対応しており、図8はLED発光装置20をマザーボード200に半田実装した状態を示す断面図、図9は図3に対応したLED発光装置20の半田実装された回路基板2の裏面を示す裏面図である。すなわち、LED発光装置10とLED発光装置20の異なるところは、図9に示す半田層9aの流れ出し状態の違いであり、LED発光装置20では直交形状部Kを構成する凸形状部60b,70bの数が少ないが、この直交形状部Kの効果により対向面60a,70a方向への流出半田層9aの流れ出しは少なく、対向面60a,70aの反対方向に流出する流出半田層9aの量が多くなるが、こちらへの流出半田層9aの流れ出しは短絡トラブルの発生に関係せず問題がない。
(第3実施形態の説明)
次に本発明の第3実施形態として、LED発光装置のマザーボードに対する組み込み構造を説明する。
図10はLED発光装置20をマザーボード300に半田実装で組み込んだ状態を示す断面図である。
図11(a)は回路基板の下面図で図1の(c)に対応している。図11(b)はマザーボード300の上面図であり、ザーボード半田電極306、307の形状を示している。図11(c)は(a)(b)に示す回路基板2をマザーボード300に半田実装した状態を示す断面図である。
すなわち第3実施形態の特徴は、図11(a)に示すLED発光装置10の半田実装用電極6,7の幅W1に対して、(b)に示すようにマザーボード300のマザーボード半田電極306,307の幅W2を小さくすることによって、マザーボード300のマザーボード半田電極306,307に点線で示す直交形状部Kmと半田層を溜めるスペースが形成されたことである。この結果(c)に示す如く流出半田層9aは直交形状部Kmに吸収されて(a)に示す対向面6a,7a側には流出せず、図10に示すようにLED発光装置10における半田実装用電極6,7間の間隙には、流出半田層9aは存在しなくなった。
上記のごとく本発明においては、 半田実装用電極に交叉形状部によって形成される凹凸形状を設けることにより、半田実装用電極の形状を大きくして、放熱効果を高めると共に、1対の半田実装用電極同士の対向する面方向への半田層の流出を減少させることで、短絡トラブルの発生を防止することが可能な半導体発光装置を提供することができる。また、交叉形状部を設ける個数や場所は限定されるものではないことは当然である。さらにマザーボードに対する組み込み構造においては、マザーボード側のマザーボード半田電極の形状を変化させる(例えば細くする)ことにより、さらに1対の半田実装用電極同士の対向する面方向への半田層の流出を減少させるこができる。
2 回路基板
3a ダイボンド電極
3b ワイヤーボンド電極
3c スルーホール電極
4 LED
5 ワイヤー
6,7、106,107 半田実装用電極
6a、7a、60a、70a 対向面
6b,7b,60b、70b 凸形状部
6c,7c 凹形状部
8 保護樹脂
9 半田層
9a 流出半田層
10,20、100 LED発光装置
200,300 マザーボード
206,207、306,307 マザーボード半田電極

Claims (5)

  1. 基板上に形成したダイボンド用電極と、ワイヤボンド用電極と、それぞれ前記ダイボンド用電極と、ワイヤボンド用電極とに対向して前記基板裏面に形成された1対の半田実装用電極とを有する回路基板に、半導体発光素子を実装した半導体発光装置において、前記基板裏面に形成された1対の半田実装用電極の形状は、1対の半田実装用電極同士の対向する面は平行且つ基板幅に形成され、他の部分は基板端面に対して凹凸形状に形成されていることを特徴とする半導体発光装置。
  2. 前記半田実装用電極に形成された凹凸形状は、少なくとも1組の直交する電極端面を有する請求項1記載の半導体発光装置。
  3. 前記基板裏面に形成された半田実装用電極の凹凸形状における凹部は、半田実装時おける半田溜まり部となっている請求項1又は2に記載の半導体発光装置。
  4. 前記基板裏面に形成された半田実装用電極における、半導体発光素子実装部に対応する部分の電極面積は広くなっている請求項1乃至3のいずれか1項に記載の半導体発光装置。
  5. 請求項1〜請求項4の何れか1項に記載された半導体発光装置をマザーボードに設けられたマザーボード半田電極に半田実装した半導体発光装置の組み込み構造において、前記マザーボードに設けられたマザーボード半田電極の幅が、半導体発光装置に生成された半田実装用電極の幅より細い電極形状である半導体発光装置の組み込み構造。
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