JP5641715B2 - エネルギー可変型の光イオン化装置および質量分析方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 16
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 title description 5
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 57
- 230000005405 multipole Effects 0.000 claims description 23
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 15
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 15
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 7
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 7
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- 210000002381 plasma Anatomy 0.000 description 68
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 54
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 29
- RJKFOVLPORLFTN-LEKSSAKUSA-N Progesterone Chemical compound C1CC2=CC(=O)CC[C@]2(C)[C@@H]2[C@@H]1[C@@H]1CC[C@H](C(=O)C)[C@@]1(C)CC2 RJKFOVLPORLFTN-LEKSSAKUSA-N 0.000 description 18
- 238000013467 fragmentation Methods 0.000 description 16
- 238000006062 fragmentation reaction Methods 0.000 description 16
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 13
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 11
- 150000001793 charged compounds Chemical class 0.000 description 11
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 11
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 10
- 229960003387 progesterone Drugs 0.000 description 9
- 239000000186 progesterone Substances 0.000 description 9
- 150000003431 steroids Chemical class 0.000 description 8
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 7
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 6
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 6
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 description 6
- 230000007017 scission Effects 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 5
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 5
- DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N krypton atom Chemical compound [Kr] DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 4
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000004451 qualitative analysis Methods 0.000 description 4
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- 150000002835 noble gases Chemical class 0.000 description 3
- 238000004885 tandem mass spectrometry Methods 0.000 description 3
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 3
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 150000002605 large molecules Chemical class 0.000 description 2
- 229920002521 macromolecule Polymers 0.000 description 2
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 2
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 102000004169 proteins and genes Human genes 0.000 description 2
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 239000010437 gem Substances 0.000 description 1
- 229910001751 gemstone Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
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- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
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- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
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- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
- H01J49/161—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission using photoionisation, e.g. by laser
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Plasma & Fusion (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
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Description
以下に記載される例は、イオン化された分子すなわち分子イオンを少ない断片化を伴ってあるいは断片化を全く伴うことなく生成するための本発明に係るエネルギー可変型光イオン化装置の有効性を示している。この例では、既知のステロイドである314amuの分子量を有するプロゲステロンが4つの異なるイオン化状態に晒される。第1のイオン化状態は、電子衝撃イオン化源によって与えられる。残りの3つのイオン化状態は、それぞれが異なるエネルギーを有する光子を生成する3つの異なるプラズマ形成ガスを使用する本発明の一実施形態に係る光イオン化源によって与えられる。ステロイドの識別は、本発明の実施形態に係る光イオン化装置の使用によって利益を得ると期待される。これは、ステロイドが一般に高い電子衝撃エネルギ(例えば70eV)に晒されるときに広範囲に及ぶ断片化を受けるからである。そのような断片化は、同様の質量を有する化合物の一意的識別を困難にする可能性がある。したがって、ソフトイオン化源、すなわち、断片化を伴うことなく多量の分子イオンを生成できる装置は、分子量の正確な測定を行なうことができ、したがって、同様の質量の分子間を区別するのに役立つことができる。この例は、少ない断片化を伴うあるいは断片化を全く伴わない異なる分子のイオン化において最適化された様々なエネルギーを与えるイオン化装置によって与えられる利点を示している。
Claims (15)
- イオン化チャンバ(10)であって、サンプル分子がその内部に供給されるイオン化チャンバと、
前記イオン化チャンバ内に配置され、前記イオン化チャンバ内に選択可能な波長範囲のイオン化光子(38)を発生させて前記サンプル分子をイオン化するための、窓なしタイプでエネルギー可変型の光イオン化装置(12)であって、前記イオン化光子は、プラズマ形成ガス(34)が電気エネルギーによって変換されたプラズマ(36)から放出され、前記プラズマ形成ガスの組成は、前記電気エネルギーに応じて、前記サンプル分子をイオン化する波長のイオン化光子を発生させるように選択される光イオン化装置と、
前記イオン化チャンバに隣接し、且つ前記イオン化チャンバと流体連通するように配置され、前記イオン化チャンバからサンプル分子がイオン化されたイオンを受ける第1の多重極型の質量分析器(56)と、
前記第1の多重極型の質量分析器と流体連通し、前記第1の多重極型の質量分析器から前記イオンを受けるイオン検出器(58)と
を備える質量分析計(54)。 - 前記窓なしタイプのエネルギー可変型の光イオン化装置(12)が、
放電ギャップ(26)を形成する分割リング共鳴器(24)と、
前記放電ギャップに面する入口開口(20)と、出口開口(22)とを有するプラズマチャンバ(18)を形成する窓なしタイプのプラズマ格納構造体(16)と、
前記放電ギャップ内へ延びる入口通気孔(32)と
を備える請求項1に記載の質量分析計(54)。 - 前記入口通気孔(32)が、前記プラズマ形成ガス(34)を前記格納構造体へと導くように構成され、これにより、前記電気エネルギーとして前記分割リング共鳴器(24)に対して供給されるマイクロ波エネルギーが、前記プラズマチャンバ(18)内で前記プラズマ形成ガスを前記光子放出プラズマ(36)へと変換し、前記光子放出プラズマが、前記イオン化光子(38)を前記イオン化チャンバ内へ放出する請求項2に記載の質量分析計(54)。
- 前記マイクロ波エネルギーに応じて、前記プラズマ形成ガス(34)が、サンプル分子を分断することなくサンプル分子をイオン化する波長の光子(38)を発生させる請求項3に記載の質量分析計(54)。
- 前記イオン化チャンバ(10)と流体連通し、サンプル分子(50)を、イオン化のために前記イオン化チャンバ(10)へと供給する第1の分離装置(60)を更に備える請求項1または2に記載の質量分析計。
- 前記第1の多重極型の質量分析器(56)と前記イオン検出器(58)との間に配置されるとともに、これらと流体連通しており、前記第1の多重極型の質量分析器から前記イオン検出器へとイオン(52’)を導く飛行時間分析器(68)を更に備える請求項1、2または5に記載の質量分析計(54)。
- 前記飛行時間分析器(68)と前記検出器(58)との間に配置されるとともに、これらと流体連通しており、前記飛行時間分析器から前記イオン検出器へとイオン(52’)を導くリフレクトロン(72)を更に備える請求項6に記載の質量分析計(70)。
- 前記第1の多重極型の質量分析器(56)と前記飛行時間分析器(68)との間に配置されるとともに、これらと流体連通する衝突セル(76)を更に備える請求項6に記載の質量分析計(75)。
- 前記第1の多重極型の質量分析器(56)と前記飛行時間分析器との間に配置されるとともに、これらと流体連通する開裂セル(76)を更に備え、この開裂セルは、第2のイオン化チャンバ(10)内に位置される第2のエネルギー可変型の光イオン化装置(12)を備え、この第2のエネルギー可変型の光イオン化装置は、選択可能な第2の波長範囲で第2のイオン化光子を放出するものであり、この第2のイオン化光子は、第2のプラズマ形成ガス(34)が電気エネルギーによって変換された第2のプラズマ(36)から放出され、前記第2のプラズマ形成ガスの組成は、前記電気エネルギーに応じて、前記サンプル分子がイオン化されたイオンを開裂させるように選択される請求項6に記載の質量分析計(74)。
- 前記第2のエネルギー可変型の光イオン化装置(12)が、
放電ギャップ(26)を形成する第2の分割リング共鳴器(24)と、
前記第2の放電ギャップに面する第2の入口開口(20)と、第2の出口開口(22)とを有する第2のプラズマチャンバ(18)を形成する第2の窓なしタイプのプラズマ格納構造体(16)と、
前記放電ギャップ内へ延びる第2の入口通気孔(34)と
を備える請求項9に記載の質量分析計(74)。 - 前記第2の入口通気孔(34)が、第2のプラズマ形成ガスを前記第2のプラズマ格納構造体(16)へと導くように構成され、これにより、前記電気エネルギーとして前記第2の分割リング共鳴器(24)に対して供給されるマイクロ波エネルギーが、前記第2のプラズマチャンバ(18)内で前記第2のプラズマ形成ガス(34)を第2の光子放出プラズマ(36)へと変換し、前記第2の光子放出プラズマが、前記第2のイオン化光子(38)を前記第2のイオン化チャンバ内へ放出する請求項10に記載の質量分析計(74)。
- イオン化チャンバ内に、サンプル分子を供給するステップと、
前記サンプル分子をイオン化する選択可能な第1の波長範囲内の波長を有するイオン化光子を、電気エネルギーに応じて発生させる第1のプラズマ形成ガスを、前記イオン化チャンバ内に配置された窓なしタイプでエネルギー可変型の光イオン化装置に供給するステップ(88)と、
前記光イオン化装置内で前記第1のプラズマ形成ガスを第1の光子放出プラズマへ変換するために、電気エネルギーを供給するステップであって、前記第1の光子放出プラズマが、前記選択可能な第1の波長範囲内の波長を有する第1のイオン化光子を前記イオン化チャンバ内に放出するステップ(90)と、
前記第1のイオン化光子を使用して、前記サンプル分子をそれぞれのイオンへとイオン化するステップであって、前記イオンがそれぞれの質量対電荷比を有するステップ(92)と、
前記イオンをそれらの質量対電荷比にしたがって分離するステップと、
前記分離後に前記イオンを検出するステップ(94)と
を含む質量分析方法。 - 前記第1のイオン化光子が前記サンプル分子を分断することなくイオン化するように前記第1の波長範囲を選択するステップを更に含む、請求項12に記載の方法。
- 選択可能な第2の波長範囲内の波長を有するイオン化光子を、電気エネルギーに応じて発生させる第2のプラズマ形成ガスを、エネルギー可変型の第2の光イオン化装置に供給するステップ(98)と、
前記第2のプラズマ形成ガスを第2のプラズマへ変換するために電気エネルギーを供給するステップであって、前記第2のプラズマが、前記選択可能な第2の波長範囲内の波長を有する第2のイオン化光子を放出するステップ(100)と、
前記第1のイオン化光子によってイオン化された前記サンプル分子を前記第2のイオン化光子に晒すステップ(102)と
を更に含む、請求項12または13に記載の方法。 - 前記第1のイオン化光子によってイオン化された前記サンプル分子を前記第2のイオン化光子が開裂するように、前記第2の波長範囲を選択するステップを更に含む請求項14に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12/189,348 | 2008-08-11 | ||
US12/189,348 US20100032559A1 (en) | 2008-08-11 | 2008-08-11 | Variable energy photoionization device and method for mass spectrometry |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010045023A JP2010045023A (ja) | 2010-02-25 |
JP5641715B2 true JP5641715B2 (ja) | 2014-12-17 |
Family
ID=40940784
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009161604A Expired - Fee Related JP5641715B2 (ja) | 2008-08-11 | 2009-07-08 | エネルギー可変型の光イオン化装置および質量分析方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20100032559A1 (ja) |
JP (1) | JP5641715B2 (ja) |
DE (1) | DE102009027516A1 (ja) |
GB (1) | GB2462506B (ja) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8900188B2 (en) * | 2007-12-31 | 2014-12-02 | Deka Products Limited Partnership | Split ring resonator antenna adapted for use in wirelessly controlled medical device |
JP2011513909A (ja) * | 2008-02-25 | 2011-04-28 | イェヒ−オル ライト クリエーション リミテッド | 高効率ガス充填ランプ |
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CN102221576B (zh) * | 2010-04-15 | 2015-09-16 | 岛津分析技术研发(上海)有限公司 | 一种产生、分析离子的方法与装置 |
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DE202013005959U1 (de) * | 2013-07-03 | 2014-10-06 | Manfred Gohl | Bestimmungsvorrichtung für Kohlenwasserstoff-Emissionen von Motoren |
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GB201815676D0 (en) | 2018-09-26 | 2018-11-07 | Micromass Ltd | MALDI nozzle |
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CN113466321B (zh) * | 2021-08-12 | 2022-10-14 | 河北省食品检验研究院 | 一种产志贺毒素大肠埃希氏菌的分型方法 |
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JPH02199744A (ja) * | 1989-01-27 | 1990-08-08 | Mitsubishi Electric Corp | イオン源 |
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JP2000164169A (ja) * | 1998-11-26 | 2000-06-16 | Hitachi Ltd | 質量分析計 |
JP2000227417A (ja) * | 1999-02-04 | 2000-08-15 | Hitachi Ltd | 質量分析方法及び装置 |
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JP4416259B2 (ja) * | 2000-03-24 | 2010-02-17 | キヤノンアネルバ株式会社 | 質量分析装置 |
US6627883B2 (en) * | 2001-03-02 | 2003-09-30 | Bruker Daltonics Inc. | Apparatus and method for analyzing samples in a dual ion trap mass spectrometer |
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JP4256208B2 (ja) * | 2003-06-09 | 2009-04-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | プラズマイオン源質量分析装置を用いた同位体比分析 |
JP4056984B2 (ja) * | 2004-03-25 | 2008-03-05 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 高沸点物質の光イオン化質量分析装置 |
JP4659395B2 (ja) * | 2004-06-08 | 2011-03-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置及び質量分析方法 |
US7728253B2 (en) * | 2005-06-29 | 2010-06-01 | Northeastern University | Nano-particle trap using a microplasma |
US7638762B2 (en) * | 2006-09-29 | 2009-12-29 | Agilent Technologies, Inc. | Systems and methods for decreasing settling times in MS/MS |
-
2008
- 2008-08-11 US US12/189,348 patent/US20100032559A1/en not_active Abandoned
-
2009
- 2009-06-15 GB GB0910221.1A patent/GB2462506B/en active Active
- 2009-07-08 JP JP2009161604A patent/JP5641715B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-07-08 DE DE102009027516A patent/DE102009027516A1/de not_active Ceased
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2462506A (en) | 2010-02-17 |
US20100032559A1 (en) | 2010-02-11 |
JP2010045023A (ja) | 2010-02-25 |
DE102009027516A1 (de) | 2010-02-18 |
GB0910221D0 (en) | 2009-07-29 |
GB2462506B (en) | 2013-03-20 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131030 |
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|
A601 | Written request for extension of time |
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|
A602 | Written permission of extension of time |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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