JP5625919B2 - 表層欠陥検出装置 - Google Patents
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Description
まず、図1及び図2を用いて、本発明の第1実施形態に係る表層欠陥検出装置の概略構成を説明する。図1は、本発明の第1実施形態にかかる表層欠陥検出装置の、金属被検体の搬送ラインにおける配置について説明する概略図である。また、図2は、本発明の第1実施形態にかかる表層欠陥検出装置のセンサBoxの構成を説明する概略図である。
次に、本発明の第2実施形態にかかる表層欠陥検出装置1について説明する。第2実施形態にかかる表層欠陥検出装置1は、第1実施形態における計算機13のデジタル信号処理において、さらに低周波用のバンドパスフィルタ15’と高周波用のバンドパスフィルタ15”とを追加したものである。したがって、本実施形態の説明では、第1実施形態と同じ符号を参照することにより表層欠陥検出装置1の全体構成についての説明を省略し、デジタル信号処理部分(図4における計算機13の処理)のみ説明をする。
次に、本発明の第3実施形態にかかる表層欠陥検出装置1について説明する。第3実施形態にかかる表層欠陥検出装置1は、第2実施形態における計算機13のデジタル信号処理において、さらに差分処理手段16’と差分処理手段16”とを追加したものである。したがって、本実施形態の説明においても、同符号を参照することにより表層欠陥検出装置1の全体構成についての説明を省略し、デジタル信号処理部分(図4における計算機13の処理)のみ説明をする。
2 センサBox
3 ロール
4 金属被検体
5 E型センサ
6 信号処理部
7 発振器
8 差動増幅器
9 位相器
10 検波器
12 A/Dコンバータ
13 計算機
14 補正手段
15 バンドパスフィルタ
16 差分処理手段
17 判別手段
18 2次元画像化手段
19 領域重心算出手段
Claims (4)
- 金属被検体の搬送方向に直交する方向に配列された、複数の渦流探傷センサを備える表層欠陥検出装置であって、
前記金属被検体の搬送方向と前記渦流探傷センサの配列方向とを含む2次元平面に各渦流探傷センサの検出信号をマッピングすることによって、該検出信号の2次元マップを作成する2次元画像化手段と、
各渦流探傷センサについて検出信号の領域重心位置を前記2次元マップ上に算出し、算出された領域重心位置を結ぶ折線を2次元パターンとして生成する領域重心算出手段と、
前記2次元マップにおける前記検出信号の前記2次元パターンに基づいて、前記金属被検体の表層にヘゲ欠陥が存在するか否かを判別する判別手段と、
を備えることを特徴とする表層欠陥検出装置。 - 前記判別手段は、前記折線を構成する直線の傾きに基づいて前記金属被検体の表層にヘゲ欠陥が存在するか否かを判別することを特徴とする請求項1に記載の表層欠陥検出装置。
- 前記各渦流探傷センサから出力された検出信号を一方の検出信号と他方の検出信号とに分岐する分岐手段と、
前記一方の検出信号の低周波成分を透過させる低周波用バンドパスフィルタと、
前記他方の検出信号の高周波成分を透過させる高周波用バンドパスフィルタとを備え、
前記判別手段は、前記低周波用バンドパスフィルタを透過した検出信号及び前記高周波バンドパスフィルタを透過した検出信号それぞれについて前記2次元マップを作成することを特徴とする請求項1または2に記載の表層欠陥検出装置。 - 複数の渦流探傷センサ間における検出信号の差分値を算出し、算出された差分値を示す信号を差分信号として出力する差分手段を更に備え、
前記2次元画像化手段は、前記差分信号を前記2次元平面にマッピングすることによって前記2次元マップを作成することを特徴とする請求項1〜3のうち、いずれか1項に記載の表層欠陥検出装置。
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