JP5595296B2 - 信号発生装置および試験装置 - Google Patents
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- 指定されたデューティ比の出力信号を出力する信号発生装置であって、
入力信号と前記出力信号との位相差を検出する位相検出器と、
前記位相差に応じた周波数の発振信号を出力する発振器と、
指定値に応じて前記発振信号のデューティ比を変更して前記出力信号として出力するとともに前記位相検出器に供給するデューティ変更部と、
を備え、
前記デューティ変更部は、
前記出力信号のデューティ比を測定する測定部と、
前記指定値に応じた電圧を出力する電圧発生部と、
前記指定値および前記測定部により測定されたデューティ比に応じた電圧を前記電圧発生部から出力させる制御部と、
を有し、前記電圧に応じて前記発振信号のデューティ比を変更する信号発生装置。 - 前記位相検出器により検出された前記位相差をフィルタリングして、前記発振器に供給するループフィルタを更に備える請求項1に記載の信号発生装置。
- 前記デューティ変更部は、
前記発振信号のエッジを鈍らせる波形成形部と、
前記波形成形部から出力された信号の電圧と前記電圧発生部から出力された電圧とを比較して、比較結果に応じた論理レベルの前記出力信号を出力するコンパレータと、
を有する請求項1または2に記載の信号発生装置。 - 前記波形成形部は、ローパスフィルタである
請求項3に記載の信号発生装置。 - 前記デューティ変更部は、前記出力信号の周波数に応じて、前記ローパスフィルタのカットオフ周波数を変更する特性変更部を更に有する
請求項4に記載の信号発生装置。 - 前記デューティ変更部は、
前記波形成形部から出力された信号のピーク値を検出するピーク検出部と、
前記指定値および前記ピーク検出部により検出されたピーク値に応じた電圧を前記電圧発生部から出力させる制御部と、
を更に有する請求項3から5の何れか一項に記載の信号発生装置。 - 指定されたデューティ比の出力信号を出力する信号発生装置であって、
入力信号と前記出力信号との位相差を検出する位相検出器と、
前記位相差に応じた周波数の発振信号を出力する発振器と、
指定値に応じて前記発振信号のデューティ比を変更して前記出力信号として出力するとともに前記位相検出器に供給するデューティ変更部と、
を備え、
前記デューティ変更部は、
前記発振信号を遅延する第1遅延回路と、
前記発振信号を遅延する第2遅延回路と、
前記第1遅延回路から出力された第1発振信号の反転値と、前記第2遅延回路から出力された第2発振信号の値との論理積を前記出力信号として出力するAND回路と、
前記指定値に応じて、前記第1遅延回路および前記第2遅延回路の遅延量の差を制御する制御部と、
を有する信号発生装置。 - 予め定められた周波数のクロック信号を前記入力信号として発生する基準クロック発生部
を更に備える請求項1から7の何れか一項に記載の信号発生装置。 - 前記出力信号を予め定められた分周比により分周した分周信号を出力する帰還分周器を更に備え、
前記位相検出器は、前記入力信号と前記分周信号との位相差を検出する
請求項1から8の何れか一項に記載の信号発生装置。 - 前記出力信号を予め定められた分周比により分周した分周信号の反転信号を出力する帰還分周器を更に備え、
前記位相検出器は、前記入力信号と前記分周信号の反転信号との位相差を検出する
請求項1から8の何れか一項に記載の信号発生装置。 - 前記発振器から出力された前記発振信号を予め定められた分周比により分周した信号を出力する出力段分周器を更に備え、
前記デューティ変更部は、前記出力段分周器から出力された前記発振信号のデューティ比を指定値に応じて変更して前記出力信号として出力するとともに前記位相検出器に供給する
請求項1から10の何れか一項に記載の信号発生装置。 - 外部から入力データの系列を入力する入力部を更に備え、
前記デューティ変更部は、前記入力部が入力データを入力する毎に、前記入力データに応じて前記発振信号のデューティ比を変更する
請求項1から11の何れか一項に記載の信号発生装置。 - 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
請求項1から12の何れか一項に記載の信号発生装置から出力された信号に応じた試験信号を前記被試験デバイスに印加する信号印加部と、
前記試験信号を印加したことに応じて前記被試験デバイスから出力された応答信号に基づき前記被試験デバイスの良否を判定する判定部と、
を備える試験装置。
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JP2011013250A JP5595296B2 (ja) | 2011-01-25 | 2011-01-25 | 信号発生装置および試験装置 |
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