JP5595127B2 - 試験手順決定装置 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の実施の形態に係る試験手順決定装置の構成を示す図である。試験手順決定装置は、直交表2、パラメータ値一覧記憶部1、パラメータ変更条件記憶部3、パラメータ値変更時間取得部11、パラメータ値変更順序決定部12、及びパラメータ割付部13を有する。
2 直交表
3 パラメータ変更条件記憶部
11 パラメータ値変更時間取得部
12 パラメータ値変更順序決定部
13 パラメータ割付部
Claims (3)
- 試験条件を複数のパラメータのパラメータ値の組み合わせによって表し、複数の試験条件の各々に対応する複数のパラメータ値の組み合わせを直交表に割り付けて試験の実行順序を決定する試験手順決定装置であって、
各パラメータのパラメータ値を変更するのに要する時間の情報を記憶するパラメータ変更条件記憶手段と、
前記パラメータ変更条件記憶手段に記憶されている情報に基づいて、各々のパラメータについて、取り得るパラメータ値を一巡させる最小所要時間を算出する所要時間算出手段と、
前記所要時間算出手段の算出結果に基づいて、前記パラメータ値の変更に要する時間の総和が最小となるように、前記各パラメータのパラメータ値の変更順序を決定するパラメータ値変更順序決定手段と、
前記パラメータ値変更順序決定手段が決定した変更順序に従って前記各パラメータのパラメータ値を、取り得るパラメータ値を一巡させる最小所要時間が長いパラメータほどパラメータ値の変更回数が少なくなるように前記直交表に割り付けるパラメータ値割付手段とを有することを特徴とする試験手順決定装置。 - 前記パラメータ値割付手段は、取り得るパラメータ値を一巡したパラメータを、直前のパラメータ値から開始して前記変更順序に従った順序で変更するようにパラメータ値を前記直交表に割り付けることを特徴とする請求項1に記載の試験手順決定装置。
- 前記パラメータ値割付手段は、割付済みのパラメータのパラメータ値との直交性を損なわないようにパラメータ値を前記直交表に割り付けることを特徴とする請求項2に記載の試験手順決定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2010130333A JP5595127B2 (ja) | 2010-06-07 | 2010-06-07 | 試験手順決定装置 |
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JP (1) | JP5595127B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP7117253B2 (ja) * | 2019-02-18 | 2022-08-12 | 株式会社日立製作所 | パラメータ設定支援装置、パラメータ設定支援方法及びプログラム |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07260888A (ja) * | 1994-03-25 | 1995-10-13 | Hitachi Ltd | 製品の試験順序決定方法および装置 |
JP2007285906A (ja) * | 2006-04-18 | 2007-11-01 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子線システム、および測定パラメータ設定方法 |
JP2009053768A (ja) * | 2007-08-23 | 2009-03-12 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | インターロック試験手順作成システム |
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