JP6363409B2 - 情報処理装置の試験方法および情報処理装置 - Google Patents

Description

本発明は、情報処理装置の試験方法と情報処理装置に関し、特に情報処理装置の試験の際に電力測定を行う試験方法と情報処理装置に関する。

情報処理装置の試験方法には、現実に即した負荷を印加することによって情報処理装置の性能を試験する方法がある。負荷を印加する際、乱数データを入力として試験命令群を生成する乱数試験プログラムを用いる場合がある。さらに、情報処理装置の性能を試験する場合、情報処理装置で消費される電力についても、性能として評価される場合がある。

情報処理装置の性能の試験について、以下のような様々な技術が開示されている。

特許文献１には、情報処理装置の試験方法の一例が開示されている。図９に示すように、この情報処理装置試験方法は、ランダム試験プログラム１０３を生成するランダム試験タスク１０２が、抑止命令指定手段１１１と、ランダム試験プログラム生成手段１１２と、試験命令実行手段１１３と、実行結果判定手段１１４とから構成されている。

このような構成を有する情報処理装置試験方法はつぎのように動作する。

すなわち、抑止命令指定手段１１１で試験対象命令から除外する命令を指定し、ランダム試験プログラム生成手段１１２は、除外された命令以外の命令でランダム試験手順を生成する。試験命令実行手段１１３で、ランダム試験手順により指定された命令を実行し、実行結果判定手段１１４で実行結果を判定する。

また、特許文献２には、リクエスト発行プログラムを用いることによって、評価対象システム１に対して、複数種類のリクエストシーケンスＲ１〜Ｒｎを指定された発行比率Ｘ１：Ｘ２：・・・：Ｘｎで発行することが可能となる。これにより、現実に即した負荷を印加して、当該評価対象システムの性能試験を実施することを可能とする技術が開示されている。

特開昭６２−１００８４６号公報 国際公開番号ＷＯ２００９／１３０９６７

特許文献１に記載の技術では、たとえば情報処理装置に負荷をかけるために消費電力を高めるような試験手順を生成する場合、試験プログラムの実行と消費電力測定のための操作が別作業となっていることから、電力測定の適切なタイミングの見極めが難しいという課題があった。

特許文献２に記載の技術では、現実に即した負荷をサーバシステムに印加することによって、サーバシステムの性能試験を実施しているが、その場合の電力を測定してはいないという課題があった。

本発明の目的は、上述した課題を解決し、情報処理装置の試験を行う際の電力測定効率を向上させることにある。

本発明は、上記課題を解決するために、試験命令群を情報処理装置に実行させて情報処理装置を試験する方法において、試験命令群を作成して情報処理装置に実行させるステップと、試験命令群を作成して実行させるプログラムを第１の記憶手段に記憶するステップと、情報処理装置が試験命令群を実行する際の消費電力を測定するステップと、試験命令群と前記消費電力の測定結果とを関連付けて第２の記憶手段に記憶するステップとを有することを特徴としている。

また、本発明は、試験命令群を実行して自身を試験する情報処理装置であって、試験命令群を作成して実行させるプログラムを記憶する第１の記憶手段と、情報処理装置が試験命令群を実行する際の消費電力を測定する電力測定手段と、試験命令群と消費電力の測定結果とを関連付けて記憶する第２の記憶手段とを有することを特徴としている。

本発明によれば、情報処理装置の試験を行う際の電力測定効率を向上させることが可能である。

本発明の第１の実施形態における情報処理装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第１の実施形態における個別命令格納テーブルを示す図である。 本発明の第１の実施形態におけるパラメータ保存テーブルを示す図である。 本発明の第１の実施形態における試験命令テーブルを示す図である。 本発明の第１の実施形態におけるランダム試験手順を示す図である。 本発明の第１の実施形態における動作を示すフローチャートである。 本発明の第１の実施形態における動作を示すフローチャートである。 本発明の第２の実施形態における情報処理装置の構成を示すブロック図である。 関連技術の情報処理装置の構成を示すブロック図である。

以下、本発明の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。

（第１の実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態における情報処理装置の検査システムの構成を示すブロック図である。図１を用いて、第１の実施形態における情報処理装置のシステム構成を説明する。

図１において、１は主記憶装置（第１の記憶手段）、２は外部記憶装置(第２の記憶手段)、３は診断装置で、４は情報処理装置である。主記憶装置１は、情報処理装置４の内部に備えられている。主記憶装置１には、試験命令テーブル生成手段２１、試験命令選択手段２２、ランダム試験プログラム生成手段２４、試験命令実行手段２５、実行結果判定手段２６を有するランダム試験タスク２０が格納されている。主記憶装置１には、このランダム試験タスク２０が生成するランダム試験手順およびランダム試験データとから成るランダム試験プログラム３０と、オペレーティングシステム１０とが格納されている。

さらに、情報処理装置４は、電力測定手段６０を備えており、情報処理装置４の保守診断等の機能を備えた診断装置３が接続されている。また、診断装置３は、情報処理装置４に備えられた電力測定手段６０から電力測定結果の読み取りなどの制御を実施する電力測定タスク５０を備えている。電力測定手段６０は、情報処理装置４の全体の電力を測定可能であるが、部分的に電力を測定する構成としてもよい。

また、外部記憶装置２には、図２に構成例を示した個別命令格納テーブル４０と、図３に構成例を示したパラメータ保存テーブル４１が格納されている。

次に図１〜図７を用いて、各構成要素、手段についての動作概要を説明する。

図２は、外部記憶装置２に格納されている個別命令格納テーブル４０に格納されているテーブルである。個別の命令に対応したグループ番号と重みづけが記載されている。

図３は、外部記憶装置２に格納されているパラメータ保存テーブル４１に格納されているテーブルである。グループ毎の重みと乱数情報とのパラメータに対する電力値が保存されている。

図４は、試験命令テーブルの構成例を示すテーブルである。これは、試験命令テーブル生成手段２１により生成される。個別命令格納テーブル４０の重み情報を、試験命令テーブルを生成する際にテーブル中に設定する命令の個数として扱い、重みの分だけ命令を繰り返すこととしている。

図５は、ランダム試験手順の内容を示すテーブルである。ランダム試験手順は、ランダム試験プログラム生成手段２４によって、試験命令選択手段２２が選択した命令から生成される。

図６は、ランダム試験タスクおよび電力測定タスクの処理を示すフローチャートである。

図７は、ランダム試験手順の生成を行う処理を示すフローチャートである。

図１において、試験命令テーブル生成手段２１は、外部記憶装置２に格納されている個別命令格納テーブル４０の重み情報を、図４に示す試験命令テーブルを生成する際にテーブル中に設定する命令の個数として扱い、試験命令テーブルを生成する（Ｓ１０１）。試験命令選択手段２２は、試験命令テーブル生成手段２１が生成した試験命令テーブルから乱数を使用して試験命令を選択する。

ランダム試験プログラム生成手段２４は、試験命令選択手段２２が選択した命令から、図５に示すランダム試験手順を生成し（図６のＳ１０２および図７）、次にこのランダム試験手順が使用するランダム試験データを、乱数を使用して生成する（Ｓ１０３)。試験命令実行手段２５は、情報処理装置４でランダム試験手順を実行し（Ｓ１０４）、同時に試験開始終了通知手段２６は、診断装置３に電力測定の開始を通知し、電力測定タスク５０によって情報処理装置４に備えられている電力測定手段６０から電力測定値を読み取る。

ここでは、試験プログラムを作成する場合に、対象命令を選択／制御することで、特に電力値が高くなりそうな命令（たとえば、演算器を使用する命令、メモリアクセス系の命令等）を組み合わせることで、実運用上で最大となる電力値を求められるような試験プログラムを作成しておく。

ランダム試験手順の実行が終了したら試験命令の選択、試験データの生成に使用した乱数をパラメータ保存テーブル４１に保存する（Ｓ１０５）。また、試験開始終了通知手段２６は、診断装置３に電力測定の終了を通知し、電力測定タスク５０は、電力測定値をパラメータ保存テーブル４１に保存する。図６のＳ１０２〜Ｓ１０５の処理は乱数値を変えながら任意回数繰り返して実行することができる。

図６のＳ１０２からＳ１０６の繰り返し実行が終了後、次にパラメータ中のグループ毎の重み情報を変更して、さらに図６のＳ１０２〜Ｓ１０６を任意回数繰り返して実行する。このグループ毎の重みを変更する処理も任意回数繰返して実行する。

グループ毎の重み情報の変更の繰り返し実行が終了した後に、パラメータ保存テーブルに保存されている重み情報、電力値を解析、比較し、電力値がより高くなるパラメータを決定する。

次に、図１〜図７を参照して本発明の第１の実施形態の動作について詳細に説明する。
まず、オペレーティングシステム１０は、ランダム試験タスク２０を図示しない外部記憶装置等から主記憶装置１にロードし、このランダム試験タスク２０を起動する。起動されたランダム試験タスク２０は、外部記憶装置２に格納されている個別命令格納テーブル４０のグループ毎の重み情報をパラメータとして決定し（Ｓ１００）、図４の試験命令テーブルを生成する際にテーブル中に設定する命令の個数として扱い、試験命令テーブルを生成する（Ｓ１０１）。

次に、ランダム試験手順を図７のフローチャートに従って生成する（Ｓ１０２）。

まず、試験命令テーブルの命令数Ｎを求める（Ｓ２００）。そして、Ｎを法とする乱数ｎを発生させる（Ｓ２０１）。ｎ番目の命令を試験命令テーブルから取り出し（Ｓ２０２）、ｎ番目の命令をランダム試験手順に設定して（Ｓ２０３）、命令数が上限に達したら（この場合は１００）（Ｓ２０４のＹＥＳ）、図５のランダム試験手順を作成する（Ｓ２０５）。

図６に戻って、このランダム試験手順が使用するランダム試験データを乱数を使用して生成する（Ｓ１０３）。試験手順および試験データの生成が完了した後に、試験命令実行手段２５は、情報処理装置４でランダム試験プログラムを実行し（Ｓ１０４）、同時に試験開始終了通知手段２６は、診断装置３に電力測定の開始を通知し（Ｓ１１０）、電力測定タスク５０によって情報処理装置４に備えられた電力測定手段６０から電力測定値を読み取る（Ｓ１１１）。

ランダム試験プログラムの実行が終了したら、試験命令の選択、試験データの生成に使用した乱数をパラメータ保存テーブル４１に保存する（Ｓ１０５）。また試験開始終了通知手段２６は、診断装置３に電力測定の終了を通知し、電力測定タスク５０は電力測定値をパラメータ保存テーブル４１に保存する（Ｓ１１２）。図６のＳ１０２〜Ｓ１０５の処理は乱数値を変えながら任意回数繰り返して実行することができる（Ｓ１０６）。

図６のＳ１０２からＳ１０６の繰り返し実行が終了後、次にパラメータ中のグループ毎の重み情報を変更して、さらに図６のＳ１０２〜Ｓ１０６を任意回数繰り返して実行する（Ｓ１０７）。このグループ毎の重みを変更する処理も任意回数繰返して実行することができる。

グループ毎の重み情報の変更の繰り返し実行が終了した後に、パラメータ保存テーブルに保存されている重み情報、電力値を解析、比較し（Ｓ１０８）、たとえば、重み情報の組み合わせの変更などを行い、さらに図６のＳ１００からＳ１０７を繰り返し実行することで、より高い消費電力値となる試験手順の生成を行うことが可能となっている。

このように、ランダム試験プログラムによって情報処理装置の試験を行う際の電力測定効率を向上させることが可能である。

あるいは、電力測定においては、試験プログラムを切り替えた時に電力値が安定するまで電力測定を待つような場合は、パラメータ保存テーブルより電力測定値が徐々に高くなるような順に試験プログラムの順序を設定する。すると、電力測定値が高くなったり低くなったりして電力値が大きく変化する場合に比べて、それぞれの試験プログラムの段階で電力値が安定するまでの時間を短くできるので、試験時間を短縮することも可能である。

（第２の実施形態）
本発明の第２の実施形態の構成について図面を参照して説明する。

図８は、本発明の第２の実施形態の構成を示すブロック図である。図８においては、図１と同じ構成要素については、同じ番号を付して説明を省略する。

図８を参照すると、５は主記憶装置で、６は診断装置である。主記憶装置５には、第１の実施形態と同様に、オペレーティングシステム１０とランダム試験タスク２０とランダム試験プログラム３０が格納されている。さらに、電力測定タスク５０が、診断装置６ではなく主記憶装置５のタスクとして存在している。

第２の実施形態では、電力測定タスク５０が主記憶装置５のタスクとして存在するため、ランダム試験タスク２０との同期処理がより高速に実現することできるため、電力測定のタイミングを厳密に設定することが可能となり、実行中の命令列と電力値の変化とをきめ細かく測定できる。

以上、述べてきたように、本実施形態によれば、ランダム試験プログラムによって情報処理装置の試験を行う際の電力測定効率を向上させることが可能である。

その理由は、試験実行中にランダム試験タスクと同期した電力測定を可能とする電力測定タスクと、電力測定結果と試験手順の生成用パラメータを関連させて記憶する手段を備え、これをランダム試験タスクと電力測定タスクが共に参照することで、電力評価に適した試験プログラムの生成を可能としたことである。

尚、本願発明は、上述の実施の形態に限定されるものではなく、本願発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変更、変形して実施することが出来る。

本発明は、情報処理装置の試験用に作成するランダム試験プログラムの作成方法およびランダム試験プログラムを使った情報処理装置の試験方法に利用可能である。

１ 主記憶装置（第１の記憶手段）
２ 外部記憶装置（第２の記憶手段）
３ 診断装置
４ 情報処理装置
５ 主記憶装置
６ 診断装置
１０ オペレーティングシステム
２０ ランダム試験タスク
２１ 試験命令テーブル生成手段
２２ 試験命令選択手段
２４ ランダム試験プログラム生成手段
２５ 試験命令実行手段
２６ 実行結果判定手段
３０ ランダム試験プログラム
４０ 個別命令格納テーブル
４１ パラメータ保存テーブル
５０ 電力測定タスク
６０ 電力測定手段
１００ 主記憶装置
１０１ オペレーティングシステム
１０２ ランダム試験タスク
１０３ ランダム試験プログラム
１０５ 被試験情報処理装置
１１１ 抑止命令指定手段
１１２ ランダム試験プログラム生成手段
１１３ 試験命令実行手段
１１４ 実行結果判定手段

Claims (8)

1. 試験命令群を情報処理装置に実行させて前記情報処理装置を試験する方法において、
   前記試験命令群を作成して前記情報処理装置に実行させるステップと、
   前記試験命令群を作成して実行させるプログラムを第１の記憶手段に記憶するステップと、
   前記情報処理装置が前記試験命令群を実行する際の消費電力を測定するステップと、
   前記試験命令群と前記消費電力の測定結果とを関連付けて第２の記憶手段に記憶するステップと、
   を有することを特徴とする情報処理装置の試験方法。
2. 前記第２の記憶手段に記憶した情報を基に、前記情報処理装置がより電力を多く消費する試験を行うステップを有することを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置の試験方法。
3. 前記情報処理装置が前記試験命令群を実行する際の消費電力を測定するステップは、
   前記試験命令群を作成して前記情報処理装置に実行させるステップと同期して行われることを特徴とする請求項１または２に記載の情報処理装置の試験方法。
4. 前記試験命令群は、前記第１の記憶手段に記憶されたオペレーティングシステムによって第２の記憶手段から第１の記憶手段に呼び出され、実行されることを特徴とする請求項１から３のうち１つに記載の情報処理装置の試験方法。
5. 前記試験命令群は、試験命令をランダムに組み合わせたランダム試験タスクに従って、実行されることを特徴とする請求項１から４のうち１つに記載の情報処理装置の試験方法。
6. 前記消費電力を測定するステップは、前記情報処理装置の診断を行う診断部に格納された電力測定タスクによって実行されることを特徴とする請求項１から５のうち１つに記載の情報処理装置の試験方法。
7. 前記消費電力を測定するステップは、前記第１の記憶手段に格納された前記電力測定タスクによって実行されることを特徴とする請求項６に記載の情報処理装置の試験方法。
   
8. 試験命令群を実行して自身を試験する情報処理装置であって、
   前記試験命令群を作成して実行させるプログラムを記憶する第１の記憶手段と、
   前記情報処理装置が前記試験命令群を実行する際の消費電力を測定する電力測定手段と、
   前記試験命令群と前記消費電力の測定結果とを関連付けて記憶する第２の記憶手段と、
   を有することを特徴とする情報処理装置。

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