JP6897050B2 - 測定制御装置、電子機器、ホスト装置、情報処理システム、方法およびプログラム - Google Patents
測定制御装置、電子機器、ホスト装置、情報処理システム、方法およびプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6897050B2 JP6897050B2 JP2016197690A JP2016197690A JP6897050B2 JP 6897050 B2 JP6897050 B2 JP 6897050B2 JP 2016197690 A JP2016197690 A JP 2016197690A JP 2016197690 A JP2016197690 A JP 2016197690A JP 6897050 B2 JP6897050 B2 JP 6897050B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- task
- electronic device
- current sensor
- current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
本発明の第1の実施の形態としての電子機器1を図1に示す。図1において、電子機器1は、電流センサ11と、測定制御装置12と、開始信号発行部13とを含む。また、測定制御装置12は、電流センサ制御部121と、制御情報取得部122と、測定制御部123とを有する。
次に、測定制御装置12の測定制御部123は、開始信号が受信されたか否かを判断する(ステップS31)。
次に、本発明の第2の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。なお、本実施の形態の説明において参照する各図面において、本発明の第1の実施の形態と同一の構成および同様に動作するステップには同一の符号を付して本実施の形態における詳細な説明を省略する。
ここでは、ホスト装置3として、情報処理装置が適用される。また、電子機器2として、HBA(Host Bus Adapter)が適用される。以降、この具体例において、電子機器2を、HBA2とも記載する。また、測定の対象となる測定対象部品として、HBA2の演算器4001が適用される例について説明する。また、測定の対象となるタスクとしては、情報処理装置が実行するプログラムにおいてHBA2に実行させる任意のタスクが想定されるものとする。
ここでは、ホスト装置3として、情報処理装置が適用される。また、電子機器2として、外部記憶装置であるストレージが適用される。ストレージは、ライトやリードを繰り返している場合には、消費電力がほぼ一定と考えられる。一方、ランダムアクセスが繰り返される場合や、RAID(Redundant Arrays of Independent Disks)を組んだ場合には、消費電力が変化する可能性が高い。以降、この具体例において、電子機器2を、ストレージ2とも記載する。また、測定の対象となる部品として、ストレージ2の記憶装置5005が適用される例について説明する。
20 情報処理システム
3 ホスト装置
11 電流センサ
12 測定制御装置
13、23 開始信号発行部
31 通知信号送信部
121 電流センサ制御部
122 制御情報取得部
123 測定制御部
100、400、500 コンピュータ装置
200 監視プロセッサ
1001、3001 CPU
2001 プロセッサ
4001 演算器
5001 コントローラ
1002、2002、3002、4002、5002 メモリ
1003、3003、5003 電源回路
4003 二次給電回路
3004、4004、5004 接続インタフェース
5005 記憶装置
Claims (7)
- 電子機器と、
ホスト装置と、
を備え、
前記電子機器は、
測定制御装置と、
前記電子機器において測定の対象となる部品への給電回路に設けられた電流センサと、
前記電子機器において測定の対象となるタスクの開始を検出して当該タスクが開始したことを表す開始信号を前記測定制御装置に対して発行する開始信号発行部と、
を備え、
前記測定制御装置は、
前記電流センサを制御する電流センサ制御部と、
測定のタイミングの制御に関する制御情報を取得する制御情報取得部と、
前記開始信号を受信すると、前記制御情報に基づくタイミングで前記電流センサ制御部を制御して電流を測定する測定制御部と、
を備え、
前記ホスト装置は、
前記タスクの開始を検出すると、前記電子機器に対して、前記タスクの開始を通知する通知信号を送信し、前記タスクの開始から前記電流センサによる電流の測定の開始までのレイテンシに基づく期間待機した後に、前記タスクの呼び出しを行う、通知信号送信部、
を備え、
前記開始信号発行部は、前記通知信号を前記ホスト装置から受信すると、前記開始信号を前記測定制御装置に対して発行する、
情報処理システム。 - 前記制御情報取得部は、自装置のモードを設定するモード設定情報をさらに取得し、
前記測定制御部は、前記モード設定情報が測定モードを表す場合に、前記開始信号の受信に応じて機能することを特徴とする請求項1に記載の情報処理システム。 - 前記制御情報は、測定間隔を表すオフセット値および測定回数を表す情報を含み、
前記オフセット値は、前記電流センサの内部処理時間よりも長い時間である、
請求項1または2に記載の情報処理システム。 - ホスト装置が、
電子機器において測定の対象となるタスクの開始を検出すると、前記電子機器に対して、前記タスクの開始を通知する通知信号を送信し、前記タスクの開始から、前記電子機器において測定の対象となる部品への給電回路に設けられた電流センサによる電流の測定の開始までのレイテンシに基づく期間待機した後に、前記タスクの呼び出しを行い、
前記電子機器に設けられた開始信号発行部が、
前記通知信号を前記ホスト装置から受信すると、前記タスクが開始したことを表す開始信号を、前記電子機器に設けられた測定制御装置に対して発行し、
前記測定制御装置が、
前記部品へ供給される電流を測定するタイミングに関する制御情報を取得し、
前記開始信号を受信すると、前記制御情報に基づくタイミングで、前記電流センサを制御して電流を測定する、
方法。 - 前記制御情報は、測定間隔を表すオフセット値および測定回数を表す情報を含み、
前記オフセット値は、前記電流センサの内部処理時間よりも長い時間である、
請求項4に記載の方法。 - 電子機器において測定の対象となるタスクの開始を検出すると、前記電子機器に対して、前記タスクの開始を通知する通知信号を送信し、前記タスクの開始から、前記電子機器において測定の対象となる部品への給電回路に設けられた電流センサによる電流の測定の開始までのレイテンシに基づく期間待機した後に、前記タスクの呼び出しを行うステップ
をホスト装置に実行させ、
前記通知信号を前記ホスト装置から受信すると、前記タスクが開始したことを表す開始信号を、前記電子機器に設けられた測定制御装置に対して発行するステップ
を前記電子機器に設けられた開始信号発行部に実行させ、
前記部品へ供給される電流を測定するタイミングに関する制御情報を取得するステップと、
前記開始信号を受信すると、前記制御情報に基づくタイミングで、前記電流センサを制御して電流を測定する測定ステップと、
を前記測定制御装置に実行させるプログラム。 - 前記制御情報は、測定間隔を表すオフセット値および測定回数を表す情報を含み、
前記オフセット値は、前記電流センサの内部処理時間よりも長い時間である、
請求項6に記載のプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016197690A JP6897050B2 (ja) | 2016-10-06 | 2016-10-06 | 測定制御装置、電子機器、ホスト装置、情報処理システム、方法およびプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016197690A JP6897050B2 (ja) | 2016-10-06 | 2016-10-06 | 測定制御装置、電子機器、ホスト装置、情報処理システム、方法およびプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018060382A JP2018060382A (ja) | 2018-04-12 |
JP6897050B2 true JP6897050B2 (ja) | 2021-06-30 |
Family
ID=61908525
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016197690A Active JP6897050B2 (ja) | 2016-10-06 | 2016-10-06 | 測定制御装置、電子機器、ホスト装置、情報処理システム、方法およびプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6897050B2 (ja) |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4275282B2 (ja) * | 2000-02-07 | 2009-06-10 | 三菱電機株式会社 | 論理設計装置及び消費電力測定方法 |
US20070198864A1 (en) * | 2006-02-21 | 2007-08-23 | Toshiba America Electronic Components | Systems and methods for determining and using power profiles for software programs executing on data processors |
JP6363409B2 (ja) * | 2014-06-25 | 2018-07-25 | Necプラットフォームズ株式会社 | 情報処理装置の試験方法および情報処理装置 |
CN105467202B (zh) * | 2014-08-22 | 2020-07-10 | 深圳市中兴微电子技术有限公司 | 一种电量检测方法及装置、终端 |
-
2016
- 2016-10-06 JP JP2016197690A patent/JP6897050B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018060382A (ja) | 2018-04-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5944840A (en) | Continuous monitor for interrupt latency in real time systems | |
US9146823B2 (en) | Techniques for testing enclosure management controller using backplane initiator | |
EP3167371B1 (en) | A method for diagnosing power supply failure in a wireless communication device | |
JP2012038305A (ja) | 周辺装置の設定情報のエラー検出を有するデータ処理システム | |
US10120702B2 (en) | Platform simulation for management controller development projects | |
US20080126655A1 (en) | Single pci card implementation of development system controller, lab instrument controller, and jtag debugger | |
US10140235B2 (en) | Server | |
JP6897050B2 (ja) | 測定制御装置、電子機器、ホスト装置、情報処理システム、方法およびプログラム | |
CN210863959U (zh) | 一种基于fpga电气信号检测的主板自检装置 | |
US20170082687A1 (en) | De-bugging environment with smart card | |
CN117074828A (zh) | 主板电力参数的检测装置 | |
TW201510716A (zh) | 電腦偵錯模組和方法 | |
CN111008098A (zh) | 监测系统与方法 | |
JPH10254738A (ja) | エミュレータ装置及びエミュレーション方法 | |
CN112732498A (zh) | 模拟设备单点上下电的测试方法、装置、设备及存储介质 | |
CN203643521U (zh) | I2c总线测试治具 | |
JP2015130023A (ja) | 情報記録装置、情報処理装置、情報記録方法、及び情報記録プログラム | |
TW202018507A (zh) | 主機開機檢測方法及其系統 | |
JP4892406B2 (ja) | 情報処理装置のトランザクション管理方法及び情報処理装置 | |
CN113741672B (zh) | 一种主板电源漏电检测方法、系统及相关组件 | |
US11842226B2 (en) | System for generating power profile in low power processor | |
CN112787305B (zh) | Vlsi和soc的电压降管理 | |
TW201116993A (en) | Pressure testing method for a server | |
JP6697102B1 (ja) | 情報処理装置、情報処理装置の制御方法、及び、情報処理装置の制御プログラム | |
CN117330814A (zh) | 板卡漏电检测方法、测试治具、设备及介质 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190913 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200722 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20201020 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201218 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210209 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210408 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210511 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210524 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6897050 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |