CN117330814A - 板卡漏电检测方法、测试治具、设备及介质 - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种板卡漏电检测方法、测试治具、设备及介质，包括:响应于发送测试指令，触发测试治具的微控制单元接收测试指令，并读取一个或多个排母接收到的测试点上排针的测试电压并记录对应的测试时间直至上电操作结束；接收测试电压和测试时间，测试电压和测试时间为测试治具通过测试治具内的串口通信模块将读取到的一个或多个测试点对应的测试电压和测试时间；根据预设分析规则和上传的一个或多个测试电压和测试时间分析测试点是否发生漏电。利用上传的测试电压和测试时间进行分析，可直接判断测试点是否发生漏电。进一步还可根据上传的测试地址确定实际发生漏电的测试点。
Description
技术领域
本申请涉及服务器领域，特别涉及一种板卡漏电检测方法、测试治具、设备及介质。
背景技术
在服务器领域，供电部分是板卡的重要部分之一，用于将电源供应器输入给板卡的电压转换为各芯片和信号所需的电压，而由于供电部分电压转换和连接关系复杂，经常会发现某些电源在不应该有电的情况下也存在电压，这种现象在板卡测试中称为漏电。根据服务器工作状态的不同，可以将电源分为两类：一类是STBY电(即基础电源)，此类电源在关机条件下仍然有电，只要服务器AC上电STBY电就有电；另一类是CORE电(即核心电源)，CORE电只有在开机条件下才有电。信号同理。对于STBY电来说，漏电是指在上电时序要求的时间点之前就出现一个较低的电压，可以通过波形上的台阶识别出来；对于CORE电，漏电是指在关机条件下电压不为0V，可以通过波形或万用表识别出来。漏电的存在会影响逻辑信号的判断，导致监控芯片报错以及其它电源和信号异常上下电。当漏电的电源作为其它电源或芯片输入时，可能会导致电源和芯片的提前打开或延迟关闭的情况，导致上电先后顺序被打乱，也就是时序紊乱。从而，影响板卡甚至服务器的正常工作和系统稳定性。因此，一旦出现漏电情况，就需要工程师对漏电来源进行排查。
现有方法通过根据设计时电源与电源之间、电源与信号之间的连接关系，推测出可能的漏电来源；然后采用示波器抓取可能的漏电来源与出现漏电的电源的上电波形，然后比对波形是否一致。如果波形一致，则可以确定为漏电来源。如果波形不一致，则需根据与出现漏电的电源的关联性，从大到小继续排查各电源和信号。但现有技术存在以下缺点：测试覆盖范围外可能存在漏电现象，但因测试覆盖范围不够大而无法发现；部分板卡供电电路复杂，排查所有可能的漏电来源需要耗费大量时间；排查操作繁琐；根据设计原理来推测可能的漏电来源包含猜和试的方法，效率较低。
因此亟需一种板卡漏电检测方法以解决上述技术问题。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种板卡漏电检测方法，以解决上述技术问题。
第一方面，本申请提供一种板卡漏电检测方法，所述方法应用于已搭建的建测试环境，所述已搭建测设环境包括测试治具及待测板卡，所述测试治具内一个或多个排母和设置在待测板卡上一个或多个测试点上的排针连接，所述方法包括：
响应于发送测试指令，触发所述测试治具的微控制单元接收所述测试指令，并读取一个或多个所述排母接收到的测试点上排针的测试电压并记录对应的测试时间直至上电操作结束；
接收所述测试电压和所述测试时间，所述测试电压和所述测试时间为测试治具通过所述测试治具内的串口通信模块将读取到的一个或多个测试点对应的测试电压和测试时间；
根据预设分析规则和上传的一个或多个所述测试电压和测试时间分析所述测试点是否发生漏电。
在一些实施例中，所述方法还包括：
一个或多个所述排母将接收到的测试点的测试电压传送至所述微控制单元的引脚；
其中，所述微控制单元的任意一个引脚上仅连接有一个所述排母；
所述接收所述测试电压和所述测试时间之前，所述方法还包括：
发送预先设定的测试地址和测试点的预设关系表至所述测试治具；
触发所述测试治具根据所述微控制单元上引脚对应的测试点，查询所述预设关系表以获取对应的测试地址，并触发所述测试治具将所述测试地址赋予对应的引脚。
在一些实施例中，所述方法包括；
接收所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址；
其中，所述测试电压为所述排母传递至所述测试治具内的微控制单元的引脚上的，以及每一个引脚的所述测试电压和所述测试时间记录在所述微控制单元内。
在一些实施例中，所述方法包括；
接收所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址；
分析所述测试点发生漏电后，根据所述测试点对应的引脚的测试地址，查询所述测试点与所述测试地址的预设关系表，以确定所述测试点的实际位置；
其中，所述测试电压为所述排母传递至所述测试治具内的微控制单元的引脚上的，以及每一个引脚的所述测试电压和所述测试时间记录在所述微控制单元内。
在一些实施例中，所述方法还包括：
预先设置所述测试治具内的串口通信模块传递数据的奇偶校验位以确定采用偶校验或是奇校验；
统计接收的所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址对应的二进制代码中奇数的个数；
若接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址对应的奇偶校验位与所述预设奇偶校验位一致，则通过奇偶校验；
若串口通信模块传递数据采用偶校验，则判断接收的所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址对应的二进制代码中奇数的个数是否为偶数，若为偶数则通过奇偶校验；反之，则未通过奇偶校验，重新接收所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址；
若串口通信模块传递数据采用奇校验，则判断接收的所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址对应的二进制代码中奇数的个数是否为奇数，若为奇数则通过奇偶校验；反之，则未通过奇偶校验，重新接收所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址。
在一些实施例中，所述根据预设分析规则和上传的一个或多个所述测试电压和测试时间分析所述测试点是否发生漏电，包括：
若所述测试板供电的电源为核心电源，则判断是否所述测试点中是否存在测试电压为非零值；
若存在，则判定所述测试点发生漏电；反之则判定所述测试点发生漏电。
第二方面，本申请提供一种测试治具，所述测试治具包括：排母、微控制单元以及串口通信模块，其中，
所述排母，用于连接待测板卡上一个或多个测试点上的排针以接收一个或多个测试点对应的测试电压；
所述微控制单元，用于响应于发出的测试指令，读取一个或多个所述排母接收到的测试点上排针的测试电压并记录对应的测试时间直至上电操作结束；
所述串口通信模块，用于上传读取到的一个或多个测试点对应的所述测试电压和所述测试时间。
在一些实施例中，所述微控制单元还用于读取到的一个或多个所述排母连续接收到的测试点上排针的多个待处理测试电压；
所述微控制单元还用于筛选所述多个待处理测试电压中除最大值和最小值之外的待处理测试电压以作为待定测试电压；
所述微控制单元还用于计算多个所述待定测试电压的算术平均值以作为测试电压。
第三方面，本申请提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
一个或多个处理器；
以及与所述一个或多个处理器关联的存储器，所述存储器用于存储程序指令，所述程序指令在被所述一个或多个处理器读取执行时，执行如下操作：
响应于发送测试指令，触发所述测试治具的微控制单元接收所述测试指令，并读取一个或多个所述排母接收到的测试点上排针的测试电压并记录对应的测试时间直至上电操作结束；
接收所述测试电压和所述测试时间，所述测试电压和所述测试时间为测试治具通过所述测试治具内的串口通信模块将读取到的一个或多个测试点对应的测试电压和测试时间；
根据预设分析规则和上传的一个或多个所述测试电压和测试时间分析所述测试点是否发生漏电。
第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质上存储计算机程序，所述计算机程序使得计算机执行如下操作：
响应于发送测试指令，触发所述测试治具的微控制单元接收所述测试指令，并读取一个或多个所述排母接收到的测试点上排针的测试电压并记录对应的测试时间直至上电操作结束；
接收所述测试电压和所述测试时间，所述测试电压和所述测试时间为测试治具通过所述测试治具内的串口通信模块将读取到的一个或多个测试点对应的测试电压和测试时间；
根据预设分析规则和上传的一个或多个所述测试电压和测试时间分析所述测试点是否发生漏电。
本申请实现的有益效果为：
本申请提供了一种板卡漏电检测方法，应用于已搭建的建测试环境，所述已搭建测设环境包括测试治具及待测板卡，所述测试治具内一个或多个排母和设置在待测板卡上一个或多个测试点上的排针连接，所述方法包括：响应于发送测试指令，触发所述测试治具的微控制单元接收所述测试指令，并读取一个或多个所述排母接收到的测试点上排针的测试电压并记录对应的测试时间直至上电操作结束；接收所述测试电压和所述测试时间，所述测试电压和所述测试时间为测试治具通过所述测试治具内的串口通信模块将读取到的一个或多个测试点对应的测试电压和测试时间；根据预设分析规则和上传的一个或多个所述测试电压和测试时间分析所述测试点是否发生漏电。无需对每个电源和信号依次排查，只需要上电就可以得到结果。无需使用示波器等设备进行波形量测，只需要对治具上电操作，减少了设备需求、简化了操作步骤、扩大了测试覆盖范围。
进一步，在本申请中，测试治具的每一个排母仅与微控制单元的一个引脚连接，确保数据传输的准确性，且便于后续对上传的测试电压进行追踪。
进一步，本申请还提出预先设置测试点与测试地址的对应关系，并将测试地址赋予微控制单元的引脚，在上传数据时，一并将测试地址上传上位机以进一步分析，便于在确定发生漏电后确定发生漏电的测试点的位置。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中：
图1是本申请实施例提供的一种测试系统架构图；
图2是本申请实施例提供的一种测试治具与待测板卡连接示意图；
图3是本申请实施例提供的一种漏电判断流程示意图；
图4是本申请实施例提供的一种测试治具架构图；
图5是本申请实施例提供的又一种测试治具架构图；
图6是本申请实施例提供的一种测试治具功能示意图；
图7是本申请实施例提供的一种上位机功能示意图；
图8是本申请实施例提供的一种板卡测试方法示意图；
图9是本申请实施例提供的电子设备结构图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
应当理解，在本申请的描述中，除非上下文明确要求，否则整个说明书和权利要求书中的“包括”、“包含”等类似词语应当解释为包含的含义而不是排他或穷举的含义；也就是说，是“包括但不限于”的含义。
还应当理解，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
需要注意的是，术语“S1”、“S2”等仅用于步骤的描述目的，并非特别指称次序或顺位的意思，亦非用以限定本申请，其仅仅是为了方便描述本申请的方法，而不能理解为指示步骤的先后顺序。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。
如背景技术所述，目前针对板卡漏电的检测方法是通过示波器抓取可能的漏电来源与出现漏电的电源的上电波形，比对波形是否一致进行确定是否发生漏电。存在测试覆盖范围不足、排查过程耗时长、排查操作繁琐和排查效率低的问题。
因此本申请提出一种板卡漏电检测方法，将测试治具与板卡上所有电源输出和信号连接，来监测所有电源和信号的测试电压及测试时间并上传到上位机上，根据一定规则进行比较，判断是否存在漏电。无需对每个电源和信号依次排查，只需要上电就可以得到结果。无需使用示波器等设备进行波形量测，只需要治具和上位机和上电操作，减少了设备需求、简化了操作步骤、扩大了测试覆盖范围。
可以理解的是，本方法可应用上位机，也可应用于其他任何具有分析能力的电子设备中。
实施例一
本申请实施例提供了一种板卡漏电测试方法，如图1所示，应用于由测试治具、上位机以及待测板卡构成的测试系统；具体的，利用本申请实施例公开的方法实现对板卡是否发生漏电并确定漏电位置及来源，包括以下内容：
S1、所述测试治具响应于上位机发出的测试指令，读取一个或多个所述排母采集到的待测板卡上各测试点的测试电压并记录对应的测试时间直至上电操作结束。
在实现测试治具采集待测板卡上各测试点的测试电压，需要搭建测试环境：通过排母和排针的连接方式，实现测试治具和待测板卡的连接。其中测试板卡为单层测试板卡，在进行漏电检测之间，预先在待测板卡上根据需要检测的电源和信号确定测试点，并在各测试点上打上排针。上述测试板卡可以通过电源板、电源供应器或者直流电源设备进行供电。测试治具可以是一块与待测板卡等大的测试板，根据Gerber文件定制，包括排母、微控制单元以及串口通信模块；其中，Gerber文件是一款计算机软件，是线路板行业软件描述线路板(线路层、阻焊层、字符层等)图像及钻、铣数据的文档格式集合，是线路板行业图像转换的标准格式。测试治具在待测板卡设置排针的对应位置上设置有排母，如图2所示，以通过排母和排针的连接的方式实现待测板卡与测试治具的连接，进一步实现测试治具通过排母采集测试点的测试电压。无需搭载其他任何工具，即可通过排针实现电压测量，并进一步上传至测试治具中，操作简单且成本低。其中，上位机包括任何可依据固定规则进行分析的智能电子设备。
测试治具实现采集待测板卡上各测试点的测试电压具体包括：响应于上位机发出的测试指令，其中测试指令在对测试板卡进行上电操作时发起；测试治具通过测试治具上设置的一个或多个排母，读取与排母对应的排针上测量得到的测试点的测试电压直至上电操作结束，以记录在整个上电过程中的测试电压的变化。通过根据读取到的测试电压是否保持稳定状态超过预设时间段来判断上电操作是否结束。其中，预设时间段优选的设置为5S，其中，5s是结合效率和准确性综合考虑后的结果：芯片上电时间约为10ms，STBY电源数量在20以内；从输入到输出、再到推下一级电源，时间基本不超过20ms；电压在路径上的传输速度极短，可忽略；主要考虑PSU(Power Supply Unit，电源供应器)的上电时间，以长城电源为例最大上电时间为70ms，不同型号规格的PSU略有差别，应留有余量。总体计算时间不超过1s，但为保证准确性和个别特殊情况，将判断时间定为5s。当然，该预设时间段也可以根据实际情况进行更改，本申请不做限定。
然后通过微控制单元的引脚接收排母采集到的测试电压。可以理解的是，一个排母与微控制单元上的一个引脚连接，微控制单元内任意一个引脚上也仅连接有一个排母，因此微控制单元内的引脚也与测试点一一对应。值得注意的是，微控制单元可以使用STM32等型号的芯片，但其引脚的电压范围为0-3.3V，而测试点上的测试电压很有可能超过3.3V，因此为了保障引脚的安全性，需要对传送的测试电压进行分压处理，具体的，可以通过在排母与引脚之间的线路上连接分压电阻，以将传送的测试电压降低到微控制单元引脚要求的电压范围内，再在微控制单元内AD转换后将分压后的测试电压重新叠加以还原原始电压。此外，为了排除测试电压在输入微控制单元时的噪声对检测结果的影响，本申请实施例还提出了在微控制单元内对读取到的进行滤波处理，可以是采用中位值平均滤波法，连续采样N个待处理测试电压，然后筛选待处理测试电压中的最大值和最小值，并将去掉一个最大值和一个最小值后的多个待处理测试电压作为待定测试电压，然后计算剩余的待定测试电压的算数平均值作为最后的测试电压以进行输出。
此外，为了更方便查找实际产生漏电的测试点，本申请还提出了预先为每一个测试点分配一个测试地址，即预先设置有测试点和测试地址的预设关系表。而根据上文可知，微控制单元每一个引脚仅于一个排母连接，进一步可知微控制单元每一个引脚都单独对应有一个测试点；因此本申请实施例提出测试治具可以根据微控制单元上引脚对应的测试点，查询预设关系表以获取与该测试点对应的测试地址，并将测试地址赋予对应的引脚。因此在确定测试点发生漏电后，可以根据测试点对应的引脚的测试地址，查询所述测试点与所述测试地址的预设关系表，以确定所述测试点的实际位置
进一步，测试治具通过微控制单元上的引脚接收对应的排母接收到的测试点的测试电压；测试治通过微控制单元记录每一个引脚接收到的测试电压对应的测试时间；最后，测试治具通过串口通信模块将一个或多个引脚接收到的测试点的测试电压、测试时间以及与对应的引脚的测试地址上传至上位机。
S2、上位机根据预设分析规则和上传的一个或多个测试电压和测试时间分析测试点是否发生漏电。
如图3所示，上位机根据Gerber文件确定电源类型；根据不同电源类型和预设分析规则，进行不同分析处理。如果为测试板卡供电的电源为基础电源，则判断测试点中是否存在测试电压为非正常值，其中非正常值为设计电压值波动范围之外的值，其中波动范围优选为3％，可根据实际情况适当放宽，其中设计电压值为根据Gerber文件定义的有关电压的设计电压值；若存在，则判定对应的测试点发生漏电；反之则判定没有发生漏电。如果为待测板卡供电的电源为核心电源，则判断测试点在为该测试点提供电量的电源上电之前或者下电之后中是否存在测试电压为非零值；若存在，则判定所述测试电压为非零值对应的测试点发生漏电；反之则判定没有发生漏电。
具体的，测板卡上的各测试点对应的电源在上电时存在上电顺序；无论是为待测板卡的电源是基础电源还是核心电源，本申请实施例记录各测试点起电瞬间的起电时间以及为测试点提供电量的电源的上电时间，比较各个测试点其对应的电源的上电时间与该测试点的起电时间，如果测试点的起电时间早于该测试点实际对应的电源的上电时间，此时判断该测试点也存在漏电；例如电源A为第一测试点供电，电源B为第二测试点供电，电源C为第三测试点供电，且上电时序为电源A早于电源B，电源B早于电源C；采集到的第二测试点的起电时间为09：59，但与第二测试点对应的电源B的上电时间为10:00，此时可判断第二测试点发生了漏电。记录各电源的下电时间，并分析与电源对应的测试点的晚于该电源下电时间后的测试时间对应的测试电压中是否存在非零值，如果在晚于该电源下电时间后的测试时间对应的测试电压中是否存在非零值，则判断该测试点发生了漏电。此外，针对基础电源为测试板卡供电时间，本申请还提出分析在测试点对应的电源的上电时间与下电时间之间的这段测试时间的该测试点的测试电压，如果在这段时间内测试点的测试电压为在非正常值且保持时间超过预设阈值，例如测试电压保持在非正常电压1ms以上，则判定该引脚对应的测试点发生了漏电；其中，为根据本申请对预设阈值不做限定，可根据实际情况进行定制。
在确定了发生漏电的测试点后，本申请还提出可以根据记录到的该测试点对应的起电时间去寻找同时起电的电源或者信号，与该测试点同时起电的电源和信号，则为漏电来源。例如，根据记录到的第二测试点的起电时间09；59，分析电源A、电源B与电源C中的上电时间，其中电源C与该起电时间一致为09；59，此时，确定电源C为第二测试点的漏电来源。
进一步，在确定有引脚对应的测试点发生了漏电后，上位机可以根据该引脚对应的测试地址确定实际发生漏电的测试点。
本申请实施例将测试治具与板卡上所有电源输出和信号连接，来监测所有电源和信号(即测试点)的测试电压及测试时间并上传到上位机上，在上位机上根据一定规则进行比较，判断是否存在漏电。无需对每个电源和信号依次排查，只需要上电就可以得到结果。无需使用示波器等设备进行波形量测，只需要治具和上位机和上电操作，减少了设备需求、简化了操作步骤、扩大了测试覆盖范围。
实施例二
对应上述实施例一，本申请还实施例提供了一种测试治具400，可以通过设计文件定制尺寸大小，可以直接与待测板卡相连读取测试电压，并将测试电压传给上位机。如图4所示的架构图，具体包括：排母、微控制单元以及串口通信模块，其中，
所述排母410，用于连接待测板卡上一个或多个测试点上的排针以接收一个或多个测试点对应的测试电压；
所述微控制单元420，用于响应于测试指令，读取一个或多个所述排母接收到的测试点上排针的测试电压并记录对应的测试时间直至上电操作结束；所述串口通信模块430，用于上传读取到的一个或多个测试点对应的所述测试电压和所述测试时间。其中，一个或多个所述排母410将接收到的测试点的测试电压传送至所述微控制单元420的引脚。
在一些实施场景中，由于微控制单元的引脚的电压范围在通常情况下为0-3.3V，而测试点上的测试电压很有可能超过3.3V，因此为了保障引脚的安全性，需要对传送的测试电压进行分压处理，具体的，如图5所示，可以通过在排母410与引脚之间的线路上连接分压电阻R，以将传送的测试电压降低到微控制单元420引脚要求的电压范围内。
在一些实施场景中，所述测试治具400接收所述上位机发送的测试地址和测试点的预设关系表；所述测试治具根据所述微控制单元上引脚对应的测试点，查询所述预设关系表以获取对应的测试地址，并将所述测试地址赋予对应的引脚。
在一些实施场景中，所述测试治具400通过微控制单元410上的引脚接收对应的排母410接收到的测试点的测试电压；所述测试治具通过微控制单元420记录每一个引脚接收到的测试电压对应的测试时间；所述测试治具通过所述串口通信模块430上传一个或多个引脚接收到的测试点的测试电压、测试时间以及与对应的引脚的测试地址。
在一些实施场景中，所述微控制单元410还用于读取到的一个或多个所述排母连续接收到的测试点上排针的多个待处理测试电压；所述微控制单元410还用于筛选所述多个待处理测试电压中除最大值和最小值之外的待处理测试电压以作为待定测试电压；所述微控制单元410还用于计算多个所述待定测试电压的算术平均值以作为测试电压。
综上可知，如图6测试治具功能框图所示，测试治具400在接收上位机发出的测试指令后，利用排母410从待测板卡上采样测试点的测试时间和测试电压，并在微控制单元420内进行ADC转换将接收到的模拟信号转换为数字信号后，记录各测试点的测试电压和测试时间，最后将测试电压和测试时间通过串口通信模块430发送给上位机。
实施例三
对应上述实施一和实施例二，本申请还提供了一种上位机，如图7所示，上位机具体功能包括：
上位机通过数据线和测试治具连接，具体的可以是通过串口RS232进行通信；在开始测试后，上位机向测试治发送测试指令以指示测试治具对测试电压和测试时间进行采样，并从测试治具中接收读取到的测试电压和测试时间，上位机一直接收测试治具发送来的测试数据，包括测试电压、测试时间以及测试地址。为保证，数据传输的准确性，可通过连接上位机和测试治具的串口的校验位进行奇偶校验，在奇偶校验通过后，再对上传的测试电压、测试时间以及测试地址进行进一步分析，在奇偶校验未通过时，重新采集并上传数据直至奇偶校验通过。具体的，可以预先设置测试治具的串口通信模块在传递数据时的奇偶校验位，确定采用奇校验还是偶校验，使传输的数据对应的代码中“1”的个数为奇数或偶数；根据被传输的一组二进制代码的数位中“1”的个数是奇数或偶数来进行校验。若用奇校验，则当接收端收到这组代码时，校验“1”的个数是否为奇数，从而确定传输代码的正确性。若用偶校验，则当接收端收到这组代码时，校验“1”的个数是否为偶数，从而确定传输代码的正确性。具体的，在本申请中统计接收的测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址对应的二进制代码中奇数的个数；若接收到的测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址对应的奇偶校验位与预设奇偶校验位一致，则通过奇偶校验；若串口通信模块传递数据采用偶校验，则判断接收的测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址对应的二进制代码中奇数的个数是否为偶数，若为偶数则通过奇偶校验；反之，则未通过奇偶校验，重新接收测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址；若串口通信模块传递数据采用奇校验，则判断接收的测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址对应的二进制代码中奇数的个数是否为奇数，若为奇数则通过奇偶校验；反之，则未通过奇偶校验，重新接收测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址。
在接收到测试治具发送来的测试数据后，上位机根据预设分析规则，分析是否存在测试点发生了漏电，具体的，上位机根据Gerber文件确定电源类型；根据不同电源类型和预设分析规则，进行不同分析处理。若为测试板卡供电的电源为基础电源，则判断测试点中是否存在测试电压为非正常值且保持时间超过预设阈值；若存在，则判定对应的测试点发生漏电；反之则判定没有发生漏电。若为测试板供电的电源为核心电源，则判断是否测试点中是否存在测试电压为非零值；若存在，则判定所述测试点发生漏电；反之则判定没有发生漏电。
实施例四
对应上述所有实施例，如图8所示，本申请实施例还提供一种板卡漏电检测方法，所述方法应用于已搭建的建测试环境，所述已搭建测设环境包括测试治具及待测板卡，所述测试治具内一个或多个排母和设置在待测板卡上一个或多个测试点上的排针连接，所述方法包括：
8100、响应于发送测试指令，触发所述测试治具的微控制单元接收所述测试指令，并读取一个或多个所述排母接收到的测试点上排针的测试电压并记录对应的测试时间直至上电操作结束；
优选的，一个或多个所述排母将接收到的测试点的测试电压传送至所述微控制单元的引脚；其中，所述微控制单元的任意一个引脚上仅连接有一个所述排母。
优选的，所述接收所述测试电压和所述测试时间之前，所述方法还包括：
8110、发送预先设定的测试地址和测试点的预设关系表至所述测试治具；
8120、触发所述测试治具根据所述微控制单元上引脚对应的测试点，查询所述预设关系表以获取对应的测试地址，并触发所述测试治具将所述测试地址赋予对应的引脚。
8200、接收所述测试电压和所述测试时间，所述测试电压和所述测试时间为测试治具通过所述测试治具内的串口通信模块将读取到的一个或多个测试点对应的测试电压和测试时间；
优选的，所述接收所述测试电压和所述测试时间之前，所述方法还包括：
8210、发送预先设定的测试地址和测试点的预设关系表至所述测试治具；
8220、触发所述测试治具根据所述微控制单元上引脚对应的测试点，查询所述预设关系表以获取对应的测试地址，并触发所述测试治具将所述测试地址赋予对应的引脚。
优选的，所述方法包括：
8230、接收所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址；
8240、分析所述测试点发生漏电后，根据所述测试点对应的引脚的测试地址，查询所述测试点与所述测试地址的预设关系表，以确定所述测试点的实际位置；
其中，所述测试电压为所述排母传递至所述测试治具内的微控制单元的引脚上的，以及每一个引脚的所述测试电压和所述测试时间记录在所述微控制单元内。
优选的，所述方法还包括：
8250、预先设置所述测试治具内的串口通信模块传递数据的奇偶校验位以确定采用偶校验或是奇校验；
8260、统计接收的所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址对应的二进制代码中奇数的个数；
8270、若接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址对应的奇偶校验位与所述预设奇偶校验位一致，则通过奇偶校验；
8280、若串口通信模块传递数据采用偶校验，则判断接收的所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址对应的二进制代码中奇数的个数是否为偶数，若为偶数则通过奇偶校验；反之，则未通过奇偶校验，重新接收所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址；
8290、若串口通信模块传递数据采用奇校验，则判断接收的所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址对应的二进制代码中奇数的个数是否为奇数，若为奇数则通过奇偶校验；反之，则未通过奇偶校验，重新接收所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址。
8300、根据预设分析规则和上传的一个或多个所述测试电压和测试时间分析所述测试点是否发生漏电。
优选的，所述根据预设分析规则和上传的一个或多个所述测试电压和测试时间分析所述测试点是否发生漏电，包括：
8310、若所述测试板卡供电的电源为基础电源，则判断所述测试点中是否存在测试电压为非正常值且保持时间超过预设阈值；
8320、若存在，则判定所述测试点发生漏电；反之则判定所述测试点发生漏电。
优选的，所述根据预设分析规则和上传的一个或多个所述测试电压和测试时间分析所述测试点是否发生漏电，包括：
8330、若所述测试板供电的电源为核心电源，则判断是否所述测试点中是否存在测试电压为非零值；
8340、若存在，则判定所述测试点发生漏电；反之则判定所述测试点发生漏电。
实施例五
对应上述所有实施例，本申请实施例提供一种电子设备，包括：
一个或多个处理器；以及与所述一个或多个处理器关联的存储器，所述存储器用于存储程序指令，所述程序指令在被所述一个或多个处理器读取执行时，执行如下操作：
响应于发送测试指令，触发所述测试治具的微控制单元接收所述测试指令，并读取一个或多个所述排母接收到的测试点上排针的测试电压并记录对应的测试时间直至上电操作结束；
接收所述测试电压和所述测试时间，所述测试电压和所述测试时间为测试治具通过所述测试治具内的串口通信模块将读取到的一个或多个测试点对应的测试电压和测试时间；
根据预设分析规则和上传的一个或多个所述测试电压和测试时间分析所述测试点是否发生漏电。
其中，图9示例性的展示出了电子设备的架构，具体可以包括处理器910，视频显示适配器911，磁盘驱动器912，输入/输出接口913，网络接口914，以及存储器920。上述处理器910、视频显示适配器911、磁盘驱动器912、输入/输出接口913、网络接口914，与存储器920之间可以通过总线930进行通信连接。
其中，处理器910可以采用通用的CPU(Central Processing Unit，中央处理器)、微处理器、应用专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、或者一个或多个集成电路等方式实现，用于执行相关程序，以实现本申请所提供的技术方案。
存储器920可以采用ROM(Read Only Memory，可编写存储器)、RAM(Random AccessMemory，随机存取存储器)、静态存储设备，动态存储设备等形式实现。存储器920可以存储用于控制电子设备900执行的操作系统921，用于控制电子设备900的低级别操作的基本输入输出系统(BIOS)922。另外，还可以存储网页浏览器923，数据存储管理系统924，以及图标字体处理系统925等等。上述图标字体处理系统925就可以是本申请实施例中具体实现前述各步骤操作的应用程序。总之，在通过软件或者固件来实现本申请所提供的技术方案时，相关的程序代码保存在存储器920中，并由处理器910来调用执行。
输入/输出接口913用于连接输入/输出模块，以实现信息输入及输出。输入输出/模块可以作为组件配置在设备中(图中未示出)，也可以外接于设备以提供相应功能。其中输入设备可以包括键盘、鼠标、触摸屏、麦克风、各类传感器等，输出设备可以包括显示器、扬声器、振动器、指示灯等。
网络接口914用于连接通信模块(图中未示出)，以实现本设备与其他设备的通信交互。其中通信模块可以通过有线方式(例如USB、网线等)实现通信，也可以通过无线方式(例如移动网络、WIFI、蓝牙等)实现通信。
总线930包括一通路，在设备的各个组件(例如处理器910、视频显示适配器911、磁盘驱动器912、输入/输出接口913、网络接口914，与存储器920)之间传输信息。
另外，该电子设备900还可以从虚拟资源对象领取条件信息数据库中获得具体领取条件的信息，以用于进行条件判断，等等。
需要说明的是，尽管上述设备仅示出了处理器910、视频显示适配器911、磁盘驱动器912、输入/输出接口913、网络接口914，存储器920，总线930等，但是在具体实施过程中，该设备还可以包括实现正常执行所必需的其他组件。此外，本领域的技术人员可以理解的是，上述设备中也可以仅包含实现本申请方案所必需的组件，而不必包含图中所示的全部组件。
通过以上的实施方式的描述可知，本领域的技术人员可以清楚地了解到本申请可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，云服务端，或者网络设备等)执行本申请各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
实施例六
对应上述所有实施例，本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，其特征在于，其存储计算机程序，所述计算机程序使得计算机执行如下操作：
响应于发送测试指令，触发所述测试治具的微控制单元接收所述测试指令，并读取一个或多个所述排母接收到的测试点上排针的测试电压并记录对应的测试时间直至上电操作结束；
接收所述测试电压和所述测试时间，所述测试电压和所述测试时间为测试治具通过所述测试治具内的串口通信模块将读取到的一个或多个测试点对应的测试电压和测试时间；
根据预设分析规则和上传的一个或多个所述测试电压和测试时间分析所述测试点是否发生漏电。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于系统或系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述得比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的系统及系统实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。
以上所述仅为本申请的较佳实施例，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种板卡漏电检测方法，其特征在于，
所述方法应用于已搭建的建测试环境，所述已搭建测设环境包括测试治具及待测板卡，所述测试治具内一个或多个排母和设置在待测板卡上一个或多个测试点上的排针连接，所述方法包括：
响应于发送测试指令，触发所述测试治具的微控制单元接收所述测试指令，并读取一个或多个所述排母接收到的测试点上排针的测试电压并记录对应的测试时间直至上电操作结束；
接收所述测试电压和所述测试时间，所述测试电压和所述测试时间为测试治具通过所述测试治具内的串口通信模块将读取到的一个或多个测试点对应的测试电压和测试时间；
根据预设分析规则和上传的一个或多个所述测试电压和测试时间分析所述测试点是否发生漏电。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
一个或多个所述排母将接收到的测试点的测试电压传送至所述微控制单元的引脚；
其中，所述微控制单元的任意一个引脚上仅连接有一个所述排母；
所述接收所述测试电压和所述测试时间之前，所述方法还包括：
发送预先设定的测试地址和测试点的预设关系表至所述测试治具；
触发所述测试治具根据所述微控制单元上引脚对应的测试点，查询所述预设关系表以获取对应的测试地址，并触发所述测试治具将所述测试地址赋予对应的引脚。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法包括；
接收所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址；
分析所述测试点发生漏电后，根据所述测试点对应的引脚的测试地址，查询所述测试点与所述测试地址的预设关系表，以确定所述测试点的实际位置；
其中，所述测试电压为所述排母传递至所述测试治具内的微控制单元的引脚上的，以及每一个引脚的所述测试电压和所述测试时间记录在所述微控制单元内。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
预先设置所述测试治具内的串口通信模块传递数据的奇偶校验位以确定采用偶校验或是奇校验；
统计接收的所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址对应的二进制代码中奇数的个数；
若接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址对应的奇偶校验位与所述预设奇偶校验位一致，则通过奇偶校验；
若串口通信模块传递数据采用偶校验，则判断接收的所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址对应的二进制代码中奇数的个数是否为偶数，若为偶数则通过奇偶校验；反之，则未通过奇偶校验，重新接收所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址；
若串口通信模块传递数据采用奇校验，则判断接收的所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址对应的二进制代码中奇数的个数是否为奇数，若为奇数则通过奇偶校验；反之，则未通过奇偶校验，重新接收所述测试治具内的串口通信模块发送的一个或多个引脚接收到的所述测试点的测试电压、测试时间以及对应的引脚的测试地址。
5.根据权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，所述根据预设分析规则和上传的一个或多个所述测试电压和测试时间分析所述测试点是否发生漏电，包括：
若所述测试板卡供电的电源为基础电源，则判断所述测试点中是否存在测试电压为非正常值；
若存在，则判定所述测试点发生漏电；反之则判定所述测试点发生漏电。
6.根据权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，所述根据预设分析规则和上传的一个或多个所述测试电压和测试时间分析所述测试点是否发生漏电，包括：
若所述测试板供电的电源为核心电源，则判断是否所述测试点在电源的上电时间与下电时间之间是否存在测试电压为非零值；
若存在，则判定所述测试点发生漏电；反之则判定所述测试点发生漏电。
7.一种测试治具，其特征在于，包括：排母、微控制单元以及串口通信模块，其中，
所述排母，用于连接待测板卡上一个或多个测试点上的排针以接收一个或多个测试点对应的测试电压；
所述微控制单元，用于响应于发出的测试指令，读取一个或多个所述排母接收到的测试点上排针的测试电压并记录对应的测试时间直至上电操作结束；
所述串口通信模块，用于上传读取到的一个或多个测试点对应的所述测试电压和所述测试时间。
8.根据权利要求7所述的测试治具，其特征在于，
所述微控制单元还用于读取到的一个或多个所述排母连续接收到的测试点上排针的多个待处理测试电压；
所述微控制单元还用于筛选所述多个待处理测试电压中除最大值和最小值之外的待处理测试电压以作为待定测试电压；
所述微控制单元还用于计算多个所述待定测试电压的算术平均值以作为测试电压。
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
一个或多个处理器；
以及与所述一个或多个处理器关联的存储器，所述存储器用于存储程序指令，所述程序指令在被所述一个或多个处理器读取执行时，执行权利要求1-7任一所述方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其存储计算机程序，所述计算机程序使得计算机执行权利要求1-7中任一所述方法。
Priority Applications (1)
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Applications Claiming Priority (1)
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