CN110967588A - 卡件测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种卡件测试系统及方法，该系统包括：控制母板、设置于控制母板上的控制卡、测试母板以及上位机；控制卡与上位机相连接；控制母板上设置有多个信号源卡槽，每个信号源卡槽用于放置信号源卡；所述测试母板上设置有多个卡件卡槽，每个所述卡件卡槽用于放置待测卡件；当所述控制卡接收到上位机发送的测试指令时，确定测试指令对应的目标信号源卡与目标卡件；所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机，使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述目标待测卡件的测试结果。有效的提升了卡件的测试准确率。

Description

卡件测试系统及方法

技术领域

本发明涉及电子器件测试领域，特别涉及一种卡件测试系统及方法。

背景技术

为了保障用电设备的运行稳定性，通常需要设计冗余电源，即，在某一电源出现故障时，可以切换至备用电源；或者，在某一电源无法满足用电设备的用电需求时，可以将该电源切换为满足用电设备的用电需求的电源。

在设计冗余电路过程中，往往会应用到卡件对电压或电流进行传输，然而，为了保障冗余电路的安全性，需要搭建测试平台对卡件进行测试，应用现有的测试平台对卡件进行测量，由于其结构的缺陷，往往会导致卡件的测量结果不准确，且测试卡件所耗费的时间长。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种卡件测试系统及方法，能够提升卡件测试的准确率，减少测试卡件所耗费的时间。

一种卡件测试系统，包括：控制母板、设置于所述控制母板上的控制卡、测试母板以及上位机；

所述控制卡与所述上位机相连接；

所述控制母板上设置有多个信号源卡槽，每个所述信号源卡槽用于放置信号源卡，使每一所述信号源卡通过其所处的所述信号源卡槽与所述控制卡相连接；

所述测试母板上设置有多个卡件卡槽，每个所述卡件卡槽用于放置待测卡件，使每个所述待测卡件通过其所处的所述卡件卡槽与所述控制卡相连接；

当所述控制卡接收到所述上位机发送的测试指令时，确定所述测试指令对应的目标信号源卡槽与目标卡件卡槽，并打开所述目标信号源卡槽与所述目标卡件卡槽之间的信号通道，使所述目标信号源卡槽中的目标信号源卡通过所述信号通道与所述目标卡件卡槽中的目标待测卡件相连接；

所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机，使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述目标待测卡件的测试结果。

上述的系统，可选的，所述控制卡包括：控制器、电源切换电路、开关量信号输出电路以及源卡槽位输出电路；

所述控制器依据所述电源切换电路控制所述目标待测卡件与第一外部电源相连和/或第二外部电源相连接；

所述控制器通过所述开关量信号输出电路与各个所述卡件卡槽相连接，以及与各个所述信号源卡槽相连接；

所述控制器接收到所述测试指令时，通过所述槽位输出电路打开所述目标信号源卡槽与所述目标卡件卡槽之间的信号通道。

上述的系统，可选的，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：

所述控制卡依据所述测试指令中包含的测试参数，通过所述目标信号源卡向所述目标待测卡件输出开关量信号，并接收所述目标待测卡件发送的与所述开关量信号对应的测试响应参数。

上述的系统，可选的，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：

所述控制卡依据所述测试指令中包含的测试参数，通过所述目标信号源卡向所述目标待测卡件发送测试信号，并接收所述目标待测卡件反馈的与所述测试信号对应的响应参数，其中，所述测试信号包括电压信号或电流信号。

上述的系统，可选的，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：

所述控制卡依据所述测试指令中包含的测试参数，向所述目标待测卡件发送测试信号，并通过所述目标信号源卡接收所述目标待测卡件反馈的与所述测试信号对应的测试响应参数。

上述的系统，可选的，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件进行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：

所述控制卡依据所述测试指令控制所述目标待测卡件与第一外部电源相连接和/或第二外部电源相连接，并通过所述目标信号源卡采集所述目标待测卡件产生的测试响应参数。

上述的系统，可选的，所述控制母板设置于机柜中。

上述的系统，可选的，所述控制母板通过具有64pin欧插口的连接装置与所述测试母板相连接。

一种卡件测试方法，包括：

当接收到上位机发送的测试指令时，确定所述测试指令对应的目标信号源卡槽与目标卡件卡槽；

依据所述目标信号源卡槽中的信号源卡对目标卡件卡槽中的待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述待测卡件的测试响应参数；

将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机，使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述待测卡件的测试结果。

上述的方法，可选的，所述依据所述目标信号源卡槽中的信号源卡对目标卡件卡槽中的待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述待测卡件的测试响应参数，包括：

依据所述测试指令中包含的测试参数，通过所述目标信号源卡槽中的信号源卡向所述目标卡件卡槽中的待测卡件发送测试信号，其中，所述测试信号包括电压信号或电流信号；

接收所述待测卡件反馈的与所述测试信号对应的响应参数。

与现有技术相比，本发明包括以下优点：

本发明提供了一种卡件测试系统，包括：控制母板、设置于所述控制母板上的控制卡、测试母板以及上位机；所述控制卡与所述上位机相连接；所述控制母板上设置有多个信号源卡槽，每个所述信号源卡槽用于放置信号源卡，使每一所述信号源卡通过其所处的所述信号源卡槽与所述控制卡相连接；所述测试母板上设置有多个卡件卡槽，每个所述卡件卡槽用于放置待测卡件，使每个所述待测卡件通过其所处的所述卡件卡槽与所述控制卡相连接；当所述控制卡接收到所述上位机发送的测试指令时，确定所述测试指令对应的目标信号源卡槽与目标卡件卡槽，并打开所述目标信号源卡槽与所述目标卡件卡槽之间的信号通道，使所述目标信号源卡槽中的目标信号源卡通过所述信号通道与所述目标卡件卡槽中的目标待测卡件相连接；所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机，使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述目标待测卡件的测试结果。能够提升卡件测试的准确率，减少测试卡件所耗费的时间。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明提供的一种卡件测试系统的结构示意图；

图2为本发明提供的一种卡件测试系统的一局部结构示例图；

图3为本发明提供的一种卡件测试系统的又一局部结构示例图；

图4为本发明提供的一种卡件测试系统的又一局部结构示例图；

图5为本发明提供的一种卡件测试系统的又一局部结构示例图；

图6为本发明提供的一种卡件测试系统的又一局部结构示例图；

图7为本发明提供的一种卡件测试方法的方法流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供了一种卡件测试系统，该卡件测试系统的结构示意图如图1所示，具体包括：

控制母板101、设置于所述控制母板101上的控制卡102、测试母板103以及上位机104；

所述控制卡102与所述上位机104相连接；

所述控制母板101上设置有多个信号源卡槽，每个所述信号源卡槽用于放置信号源卡，使每一所述信号源卡通过其所处的所述信号源卡槽与所述控制卡相连接；

所述测试母板上103设置有多个卡件卡槽，每个所述卡件卡槽用于放置待测卡件，使每个所述待测卡件通过其所处的所述卡件卡槽与所述控制卡102相连接；

当所述控制卡102接收到所述上位机104发送的测试指令时，确定所述测试指令对应的目标信号源卡槽与目标卡件卡槽，并打开所述目标信号源卡槽与所述目标卡件卡槽之间的信号通道，使所述目标信号源卡槽中的目标信号源卡通过所述信号通道与所述目标卡件卡槽中的目标待测卡件相连接；

所述控制卡102依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机104，使所述上位机104依据所述测试响应参数得到所述待测卡件的测试结果。

本发明实施例提供的系统中，基于上述的方案，可选的，所述控制母板设置于机柜中，防止灰尘附着在控制母板上。

本发明实施例提供的系统中，基于上述的方案，可选的，所述控制母板通过具有64pin欧插口的连接装置与所述测试母板相连接。

本发明实施例提供的系统中，测试母板103通过第一测试接头与第二测试接头相连接，第二测试接头通过信号线与控制母板101相连接，其中，该信号线为DB37信号线。

需要说明的是，该上位机104可以是计算机、个人计算机、服务器计算机、手持设备或便携式设备、平板型设备、多处理器装置、包括以上任何装置或设备的分布式计算环境等等，该上位机可以与该控制卡有线连接或无线连接，若该上位机与该控制卡通过有线连接，则该上位机可以通过RS232串口与该控制卡相连接，若该上位机与该控制卡通过无线连接，则该上位机可以与控制卡通过蓝牙模块或WIFI模块等相连接。

本发明实施例提供的系统中，测试指令可以包含多个目标待测试卡件，每个目标待测试卡件唯一对应一个目标信号源卡。

具体的，待测试卡件包含多种类型，可以对不同类型的待测试卡件执行不同的测试，待测试卡件可以为输出电压卡件、输出电流卡件、采集电流卡件以及采集电压卡件、切换电路卡件或开关量卡件等，信号源卡也包含多种类型，采集类型的信号源卡采集待测卡件的电压或电流，若采集待测卡件的电压，则通过信号源卡上的电压采集芯片采集待测试卡件的电压，若采集待测试卡件的电流，则通过带电阻的电压采集芯片采集待测试卡件的电流。

其中，若待测试卡件的类型为输出电流卡件，则可以向该卡件分别输出两种大小的电流信号，并获取每种电流信号对应的响应电流信号，例如，可以分别向卡件输出1ma、10ma的电流信号，获取到的1ma大小的电流信号对应的响应电流信号的大小为1.1ma，获取到的10ma大小的电流信号对应的响应电流信号的大小10.2ma，则将1.1ma以及10.2ma确定为该待测试卡件的测试响应参数，依据该响应参数对该待测试卡件的输出进行线性标定，得到该待测试卡件的测试结果。

本发明提供了一种卡件测试系统，包括：控制母板、设置于所述控制母板上的控制卡、测试母板以及上位机；所述控制卡与所述上位机相连接；所述控制母板上设置有多个信号源卡槽，每个所述信号源卡槽用于放置信号源卡，使每一所述信号源卡通过其所处的所述信号源卡槽与所述控制卡相连接；所述测试母板上设置有多个卡件卡槽，每个所述卡件卡槽用于放置待测卡件，使每个所述待测卡件通过其所处的所述卡件卡槽与所述控制卡相连接；当所述控制卡接收到所述上位机发送的测试指令时，确定所述测试指令对应的目标信号源卡槽与目标卡件卡槽，并打开所述目标信号源卡槽与所述目标卡件卡槽之间的信号通道，使所述目标信号源卡槽中的目标信号源卡通过所述信号通道与所述目标卡件卡槽中的目标待测卡件相连接；所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机，使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述目标待测卡件的测试结果。能够提升卡件测试的准确率，减少测试卡件所耗费的时间。

本发明实施例提供的系统中，基于上述的方案，可选的，所述控制卡包括：控制器、电源切换电路、开关量信号输出电路以及源卡槽位输出电路；

所述控制器依据所述电源切换电路控制所述目标待测卡件与第一外部电源相连和/或第二外部电源相连接；

所述控制器通过所述开关量信号输出电路与各个所述卡件卡槽相连接，以及与各个所述信号源卡槽相连接；

所述控制器接收到所述测试指令时，通过所述槽位输出电路打开所述目标信号源卡槽与所述目标卡件卡槽之间的信号通道。

参见图2，控制器通过源卡槽位输出电路与各个信号源卡槽相连接，具体的，该源卡槽位输出电路包含第一锁存器，该第一锁存器可以为74HC573A芯片，该源卡槽位输出电路的电路图如图3所示，控制器可以通过信号切换电路中的74HC573A芯片控制SeatADDR1～SeatADDR8一共8通道信号输出，每一通道对应一个信号源卡槽，可选的，还可以通过控制CBOE引脚电位高低做到8通道一齐输出测试信号，或者是8通道分别控制接收待测卡件的测试响应参数。

参见图4，控制器通过开关量信号输出电路与各个信号源卡槽相连接，开关量输出电路包含第二锁存器以及驱动器，该第二锁存器可以为74HC573A芯片，该驱动器可以ULN2003，具体的，该开关量信号输出电路的电路图如图5所示，控制器可以通过开关输出电路中的74HC573A控制Out1～Out8一共8通道输出开关信号。

参见图6，控制器通过冗余切换电路控制待测卡件与各个外部电源相连接，控制器可以通过冗余切换电路控制被测卡件的供电电源、外配电电源的切换输出。

本发明实施例提供的系统中，基于上述的方案，可选的，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：

所述控制卡依据所述测试指令中包含的测试参数，通过所述目标信号源卡向所述目标待测卡件输出开关量信号，并接收所述目标待测卡件发送的与所述开关量信号对应的测试响应参数。

其中，控制器通过开关量信号输出电路控制目标信号源卡相所述目标待测试卡件输出开关量信号。

需要说明的是，控制卡还可以向目标待测卡件输出开关量信号，并通过目标信号源卡接收该目标待测卡件的测试响应参数，该开关量信号为0或1。

本发明实施例提供的系统中，基于上述的方案，可选的，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：

所述控制卡依据所述测试指令中包含的测试参数，通过所述目标信号源卡向所述目标待测卡件发送测试信号，并接收所述目标待测卡件反馈的与所述测试信号对应的响应参数，其中，所述测试信号包括电压信号或电流信号。

具体的，控制器通过向源卡槽位输出电路发送相应的校验位信号，以控制目标信号源卡向目标待测卡件发送测试信号。

本发明实施例提供的系统中，基于上述的方案，可选的，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：

所述控制卡依据所述测试指令中包含的测试参数，向所述目标待测卡件发送测试信号，并通过所述目标信号源卡采集所述目标待测卡件反馈的与所述测试信号对应的测试响应参数。

本发明实施例提供的系统中，基于上述的方案，可选的，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件进行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：

所述控制卡依据所述测试指令控制所述目标待测卡件与第一外部电源相连接和/或第二外部电源相连接，并通过所述目标信号源卡采集所述目标待测卡件产生的测试响应参数。

本发明实施例提供的系统中，待测卡件包含第一供电电路以及第二供电电路，每一供电电路连接一个外部电源，控制器可以控制待测卡件通过第一供电电路进行供电、也可以控制待测卡件通过第二供电电路进行供电或者控制待测卡件同时通过第一供电电路、第二供电电路同时供电，当控制待测卡件通过不同的供电电路进行供电时，通过信号源卡采集待测卡件的输出电流，若未采集到待测卡件的输出电流，则说明待测卡件的电路切换功能故障。

基于上述本发明实施例提供的卡件测试系统，本发明实施例还提供了一种卡件测试方法，与上述本发明实施例提供的卡件测试系统相对应；所述方法应用于卡件测试系统中的控制卡，所述卡件测试系统包括控制母板、设置于所述控制母板上的控制卡、测试母板以及上位机，该方法的方法流程图如图7所示，具体包括：

S701：当接收到上位机发送的测试指令时，确定所述测试指令对应的目标信号源卡槽与目标卡件卡槽。

本发明实施例提供的方法中，通过对所述测试指令进行解析，基于测试指令中的信号源卡槽标识在预先建立的信号源卡槽集合中确定目标信号源卡槽，基于测试指令中的卡件卡槽标识在预先建立的卡件卡槽集合中确定目标卡件卡槽。

S702：依据所述目标信号源卡槽中的信号源卡对目标卡件卡槽中的待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述待测卡件的测试响应参数。

本发明实施例提供的方法中，该指令对应的测试可以为多种类型，例如，电压输入测试、电流输入测试、电压输出测试、电流输出测试、开关量信号输出测试、开关量信号输入测试以及电源切换测试，其中，测试的类型与目标卡件的卡件类型相关联。

具体的，获取测试指令中的测试参数，可以通过信号源卡向待测卡件发送测试参数对应的测试信号，并获取待测卡件对应的测试响应参数；还可以直接向待测卡件发送测试参数对应的测试信号，并通过信号源卡获取待测卡件对应的测试响应参数。

S703：将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机，使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述待测卡件的测试结果。

本发明实施例提供的方法中，包括：当接收到上位机发送的测试指令时，确定所述测试指令对应的目标信号源卡槽与目标卡件卡槽；依据所述目标信号源卡槽中的信号源卡对目标卡件卡槽中的待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述待测卡件的测试响应参数；将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机，使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述待测卡件的测试结果。能够提升卡件测试的准确率，减少测试卡件所耗费的时间。

本发明实施例提供的方法中，基于上述具体实施过程，具体的，所述依据所述目标信号源卡槽中的信号源卡对目标卡件卡槽中的待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述待测卡件的测试响应参数，包括：

依据所述测试指令中包含的测试参数，通过所述目标信号源卡槽中的信号源卡向所述目标卡件卡槽中的待测卡件发送测试信号，其中，所述测试信号包括电压信号或电流信号；

接收所述待测卡件反馈的与所述测试信号对应的响应参数。

上述各个具体的实现方式，及各个实现方式的衍生过程，均在本发明保护范围内。

需要说明的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。对于装置类实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

为了描述的方便，描述以上装置时以功能分为各种单元分别描述。当然，在实施本发明时可以把各单元的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。

通过以上的实施方式的描述可知，本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。

以上对本发明所提供的一种卡件测试系统及方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种卡件测试系统，其特征在于，包括：控制母板、设置于所述控制母板上的控制卡、测试母板以及上位机；

所述控制卡与所述上位机相连接；

所述控制母板上设置有多个信号源卡槽，每个所述信号源卡槽用于放置信号源卡，使每一所述信号源卡通过其所处的所述信号源卡槽与所述控制卡相连接；

所述测试母板上设置有多个卡件卡槽，每个所述卡件卡槽用于放置待测卡件，使每个所述待测卡件通过其所处的所述卡件卡槽与所述控制卡相连接；

当所述控制卡接收到所述上位机发送的测试指令时，确定所述测试指令对应的目标信号源卡槽与目标卡件卡槽，并打开所述目标信号源卡槽与所述目标卡件卡槽之间的信号通道，使所述目标信号源卡槽中的目标信号源卡通过所述信号通道与所述目标卡件卡槽中的目标待测卡件相连接；

所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机，使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述目标待测卡件的测试结果。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制卡包括：控制器、电源切换电路、开关量信号输出电路以及源卡槽位输出电路；

所述控制器依据所述电源切换电路控制所述目标待测卡件与第一外部电源相连和/或第二外部电源相连接；

所述控制器通过所述开关量信号输出电路与各个所述卡件卡槽相连接，以及与各个所述信号源卡槽相连接；

所述控制器接收到所述测试指令时，通过所述槽位输出电路打开所述目标信号源卡槽与所述目标卡件卡槽之间的信号通道。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：

所述控制卡依据所述测试指令中包含的测试参数，通过所述目标信号源卡向所述目标待测卡件输出开关量信号，并接收所述目标待测卡件发送的与所述开关量信号对应的测试响应参数。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：

所述控制卡依据所述测试指令中包含的测试参数，通过所述目标信号源卡向所述目标待测卡件发送测试信号，并接收所述目标待测卡件反馈的与所述测试信号对应的响应参数，其中，所述测试信号包括电压信号或电流信号。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：

所述控制卡依据所述测试指令中包含的测试参数，向所述目标待测卡件发送测试信号，并通过所述目标信号源卡接收所述目标待测卡件反馈的与所述测试信号对应的测试响应参数。

6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件进行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：

所述控制卡依据所述测试指令控制所述目标待测卡件与第一外部电源相连接和/或第二外部电源相连接，并通过所述目标信号源卡采集所述目标待测卡件产生的测试响应参数。

7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制母板设置于机柜中。

8.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制母板通过具有64pin欧插口的连接装置与所述测试母板相连接。

9.一种卡件测试方法，其特征在于，包括：

当接收到上位机发送的测试指令时，确定所述测试指令对应的目标信号源卡槽与目标卡件卡槽；

依据所述目标信号源卡槽中的信号源卡对目标卡件卡槽中的待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述待测卡件的测试响应参数；

将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机，使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述待测卡件的测试结果。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述依据所述目标信号源卡槽中的信号源卡对目标卡件卡槽中的待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述待测卡件的测试响应参数，包括：

依据所述测试指令中包含的测试参数，通过所述目标信号源卡槽中的信号源卡向所述目标卡件卡槽中的待测卡件发送测试信号，其中，所述测试信号包括电压信号或电流信号；

接收所述待测卡件反馈的与所述测试信号对应的响应参数。

Images