JPH07260888A - 製品の試験順序決定方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＩＣのテスト時間の短縮を可能とする集積回
路の試験順序決定方法および装置を提供する。 【構成】 テスト条件表作成部１０５はテスト条件表１
１４およびリレーションデータ１１５を参照して対象と
なるテスト項目毎にテスト条件表を作成する。テスト項
目間距離計算部１０６は実行順序を求める対象となるテ
スト項目のうち、あるテスト項目に続いて次のテスト項
目を実行する場合に、次のテスト項目のテスト準備にか
かる時間を表す尺度であるテスト項目間の距離を、すべ
てのテスト項目を一度ずつ順次に実行する時の実行順序
のすべての組み合わせのそれぞれについて、上記のテス
ト条件表と実行時間データベース１１３およびリレーシ
ョンデータ１１５とを参照して計算する。最短経路探索
部１０７はこの距離の累積値に基づき最小の試験時間を
示す距離の累積値が得られる実行順序を求める。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えば、集積回路のよ
うな多くのテスト項目がある製品の試験順序決定方法お
よび装置に係り、特に、複数のテスト項目を実行する試
験順序の決定方法と複数のテスト項目の試験順序を決定
する装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】集積回路（以下、「ＩＣ」とも記す）の
試験工程では、テストコスト削減のため、集積回路のテ
スト時間の短縮が重要であり、そのためのＩＣ試験装置
や試験方法に関連する多くの提案が従来よりなされてい
る（例えば特開平２−２２６０７８号公報；発明の名称
「ＬＳＩテスタ」）。

【０００３】この従来のＩＣ試験装置によれば，一定個
数被テストＩＣのテストを行い、テストプログラムを構
成する全てのテスト項目についてＩＣの不良発生率を算
出し、さらにテスト項目別に実行時間を計測して、それ
らの計算・計測結果に基づいてテスト項目の実行順序に
重み付けを行い、実行時間が短く不良発生率の高いテス
ト項目から順にテストを実行するというものである。

【０００４】この従来装置によれば、不良発生率の高い
テスト項目から順にテストを実行するため、ＩＣの初期
開発段階等の不良ＩＣの発生率が高い場合に、テストの
初期段階で不良ＩＣを発見して以降のテスト項目を省略
することができ、このためテスト時間の短縮を期待する
ことができる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の従来の
ＩＣ試験装置では、ＩＣの量産段階等、歩留りが向上し
ＩＣの不良発生率が低下してくる段階では、全テスト項
目をパスするＩＣが増加するため、この従来装置による
テスト時間短縮の効果は減少する。また、一度に複数個
のＩＣのテストを行う多数個取りテストの場合、被テス
トＩＣ中に１個でも良品が存在すれば、全テスト項目が
実行される。このため、上記の従来装置では、多数個取
りの個数が増えるほど良品ＩＣが含まれる確率が高くな
り、やはりテスト時間短縮効果は減少する。

【０００６】以上は、ＩＣのテストの場合について述べ
たが、生産工程において試験する必要のある製品におい
ては、同様の問題がある。

【０００７】本発明は、上記の点に鑑みなされたもの
で、その目的は、全テスト項目が実行されるような製品
のテストにおいて、テスト時間の短縮を可能とする製品
の試験順序決定方法および装置を提供することにある。

【０００８】また、本発明の他の目的は、不良品の発生
率や多数個取りテストであるか否か、また全テスト項目
が実行されるか否かに関係なく、常にテスト時間の短縮
を可能とする製品の試験順序決定方法および装置を提供
することである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明方法では、あるテスト項目に続いて次のテス
ト項目を実行する場合に、次のテスト項目のテスト準備
にかかる時間を表す尺度であるテスト項目間の距離を、
すべてのテスト項目を一度ずつ順次に実行する時の実行
順序のすべての組み合わせのそれぞれについて累積計算
し、累積計算結果に基づき最小の試験時間を示す距離の
累積値が得られる実行順序を求めるようにしたものであ
る。

【００１０】また、本発明装置では、複数のテスト項目
の各テスト条件をそれぞれ示すテスト条件表と、各テス
ト条件の設定命令の実行時間を示す実行時間データベー
スと、各テスト条件とテスト条件の設定命令との関係を
示すリレーションデータとをそれぞれ予め格納している
記憶装置と、記憶装置内のテスト条件表およびリレーシ
ョンデータを参照して対象となるテスト項目毎にテスト
条件を示すテスト条件表を作成するテスト条件表作成手
段と、実行順序を求める対象となるテスト項目のうち、
あるテスト項目に続いて次のテスト項目を実行する場合
に、次のテスト項目のテスト準備にかかる時間を表す尺
度であるテスト項目間の距離を、すべてのテスト項目を
一度ずつ順次に実行する時の実行順序のすべての組み合
わせのそれぞれについて、テスト条件表作成手段により
作成されたテスト条件表と、実行時間データベースおよ
びリレーションデータとを参照して計算するテスト項目
間距離計算手段と、テスト項目間距離計算手段により計
算して得られた距離の累積値に基づき最小の試験時間を
示す距離の累積値が得られる実行順序を求める最短経路
探索手段とを備えるよう構成したものである。

【００１１】また、上記の他の目的を達成するため、本
発明方法ではあるテスト項目に続いて次のテスト項目を
実行する場合に、次のテスト項目のテスト準備にかかる
時間を表す尺度であるテスト項目間の距離をそれぞれ計
算し、距離の計算結果とテスト項目毎のテスト実行時間
および被テスト製品の不良発生率とからテスト項目の実
行順序のすべての組み合わせのそれぞれについて被テス
ト製品１個当たりの平均テスト時間を算出し、算出した
平均テスト時間が最小となる実行順序を求めるととも
に、その実行順序でテスト項目を実行するときに省略す
ることが可能な前記テスト条件の設定命令を求めるよう
にしたものである。

【００１２】また、上記の他の目的を達成するため、本
発明装置では前記のテスト項目間距離計算手段により計
算して得られた距離とテスト項目毎のテスト実行時間と
被テスト製品の不良発生率とから、テスト項目の実行順
序のすべての組み合わせのそれぞれについて被テスト製
品１個当たりの平均テスト時間を算出する平均テスト時
間計算手段と、算出した平均テスト時間が最小となる実
行順序を求めるとともに、その実行順序でテスト項目を
実行するときに省略することが可能な前記テスト条件の
設定命令を求める手段とを備える構成としたものであ
る。

【００１３】さらに、本発明では、前回のテスト項目に
続いて今回のテスト項目を実行する場合に、前回のテス
ト項目のテスト条件を前々回のテスト項目のテスト条件
に上書きしたテスト条件と同じテスト条件の設定命令を
該今回のテスト項目のテスト条件から削除したテスト条
件に基づき、今回のテスト項目のテスト準備にかかる時
間を表す尺度であるテスト項目間の距離を算出し、すべ
てのテスト項目を一度ずつ順次に実行する時の実行順序
のすべての組み合わせのそれぞれについて距離を累積計
算し、累積計算結果に基づき最小の試験時間を示す距離
の累積値が得られる実行順序を求めるとともに、その実
行順序でテスト項目を実行するときに省略することが可
能な前記テスト条件の設定命令を求めるものである。

【００１４】

【作用】本発明方法および装置では、あるテスト項目に
続いて次のテスト項目を実行する場合に、次のテスト項
目のテスト準備にかかる時間を表す尺度であるテスト項
目間距離を、あるテスト項目に続いて次のテスト項目を
実行する場合に、次のテスト項目から先に実行するテス
ト項目中のテスト条件と同じテスト条件の設定命令を削
除したときに次のテスト項目中でのテスト条件の設定を
行うのに要する時間、あるいは、あるテスト項目に続い
て次のテスト項目を実行する場合に、次のテスト項目か
ら先に実行するテスト項目中のテスト条件と同じテスト
条件の設定命令を削除したときに、次のテスト項目中で
のテスト条件の設定を行うときの削除により短縮された
時間より求める。これにより、このテスト項目間距離に
基づいて、テスト時間が最小となるようなテスト項目の
実行順序を求めることができる。

【００１５】また、本発明および装置では、上記のテス
ト項目間距離に加えて、テスト項目毎のテスト実行時間
および被テスト製品の不良発生率とが分かっている場合
に、これらからテスト項目の実行順序のすべての組み合
わせのそれぞれについて被テスト製品１個当たりの平均
テスト時間を算出するようにしているため、算出した平
均テスト時間が最小となる実行順序を求めることができ
る。

【００１６】さらに、本発明および装置では、先に実行
されたテスト項目のテスト条件は、次に実行されるテス
ト項目のテスト条件と同じテスト条件と異なるテスト条
件とからなり、これらは、次に実行されるテスト項目の
命令により書き換えられるか、または、クリアされるま
では、テスト条件として有効であるため、次に実行され
るテスト項目のテスト条件で上書きしたテスト条件と同
じテスト条件の設定命令を次回実行されるテスト項目の
テスト条件から削除したテスト条件に基づき、今回のテ
スト項目のテスト準備にかかる時間を表す尺度であるテ
スト項目間の距離を算出することができ、これにより、
テスト時間が最小となるようなテスト項目の実行順序を
求めることができる。

【００１７】このように、本発明によれば、多数のテス
ト項目がある製品を最短時間で試験できるので、集積回
路等の試験に最適である。

【００１８】

【実施例】以下、本発明の各実施例について説明する。

【００１９】まず、本発明の第１実施例を図１から図１
１により説明する。本発明によるＩＣ試験装置の第１実
施例の構成について、図１を用いて説明する。本実施例
装置１１０は、中央処理装置（ＣＰＵ）１００を備え、
入力装置としてキーボード１０１とポインティングデバ
イス１０２を、出力装置としてディスプレイ１０３を備
え、さらに、アプリケーションプログラム等の記憶用と
して主記憶装置１０４を、各種データの記憶用として補
助記憶装置１１２を備えている。

【００２０】なお、入出力装置については、上記のもの
以外に、フロッピーディスク装置やプリンタ等の装置等
の追加や代替が可能である。また、本実施例で、記憶装
置を主記憶装置１０４と補助記憶装置１１２の２つに分
けた理由は、説明の都合上、本実施例装置１１０の機能
を実現したアプリケーションプログラムの記憶場所と、
データの記憶場所を区別するためである。

【００２１】また、本実施例装置１１０は、テスト条件
表作成部１０５、テスト項目間距離計算部１０６、最短
経路探索部１０７、平均テスト時間計算部１０８の４つ
の処理部を持つ。これらの処理部は、いずれもアプリケ
ーションプログラムとして主記憶装置１０４に格納され
ており、必要に応じてＣＰＵ１００から呼び出されて処
理を行うものとする。これらの処理部の処理内容と、本
実施例装置１１０全体の動作内容については後述する。
また、補助記憶装置１１２には、後述する実行時間デー
タベース１１３、テスト条件表１１４およびリレーショ
ンデータ１１５が格納されている。

【００２２】本実施例装置１１０は、ネットワーク１１
６を介してテスタ１４０と接続されており、互いにデー
タのやり取りが可能であるとする。これはネットワーク
の代わりに、人手やフロッピーディスクを介したデータ
交換でも良い。

【００２３】次に、本実施例装置１１０とネットワーク
を介して接続されているテスタの構成および動作につい
て、図１を用いて説明する。

【００２４】このテスタ１４０は、テストプログラムの
コンパイル作業やネットワーク等を介して接続された他
コンピュータとのデータ交換等の作業を行うテスタ制御
装置１２５と、テストプログラムに従って、被テストＩ
Ｃへの信号印加や被テストＩＣから出力された信号の評
価といった処理を行うテスタ本体１３５とから構成され
ている。

【００２５】通常、テスタは、このように２つのモジュ
ールから構成される。これは、テスタ本体の稼働率を上
げるため、テスタ本体の機能を直接必要としない処理
を、テスタ制御装置１２５側でオフライン処理可能とす
るためである。また、このオフライン処理用のテスタ制
御装置１２５は、特殊なものではなく、市販されている
ワークステーションを利用している場合が多い。ここで
は、本実施例装置１１０と接続されているテスタ１４０
も、テスタ本体１３５とテスタ制御装置１２５から構成
されているものとするが、両者が中央処理装置を共有し
ている場合でも、本装置の処理内容は同じである。

【００２６】まず、テスタ制御装置１２５について説明
する。本実施例装置１１０と接続されているテスタ制御
装置１２５は、中央処理装置（ＣＰＵ）１２０を備え、
入力装置としてキーボード１２１、ポインティングデバ
イス１２２を、出力装置としてディスプレイ１２３を備
え、さらに、記憶装置１２４を備えている。この構成
は、先に説明した本実施例装置１１０の構成と基本的に
同じであり、記憶装置１２４の容量等、テスタ制御装置
１２５の各種制約が許す場合には、本実施例装置１１０
の処理部１０５〜１０８と同等の機能を実現したアプリ
ケーションプログラムと、補助記憶装置１１２に格納さ
れているデータを、直接、このテスタ制御装置１２５の
記憶装置１２４に格納しても良い。その場合、本実施例
装置１１０を実現するために、特別なハードウェアを用
意する必要はない。ここでは、説明の都合上、両者を別
物として以後の説明を行う。

【００２７】次に、テスタ本体１３５について説明す
る。テスタ本体１３５は、ＣＰＵ１３０、メモリ１３１
およびテスタレジスタ１３２〜１３４などからなる。Ｃ
ＰＵ１３０は、テスタ制御装置１２５内のＣＰＵ１２０
にバスを介して接続され、また、メモリ１３１およびテ
スタレジスタ１３２〜１３４にバスを介して接続されて
いる。また、端子を介して被テストＩＣ１５０の各ピン
に接続されている。

【００２８】次に、上記構成のテスタ制御装置１２５お
よびテスタ本体１３５からなるテスタ１４０の通常のテ
ストにおける処理の流れついて説明する。

【００２９】まず、ユーザが、キーボード１２１やポイ
ンティングデバイス１２２等の入力装置や、フロッピー
ディスク等の媒体を介してテストプログラムをテスタ１
４０に入力する。入力されたテストプログラムは、テス
タ制御装置１２５の記憶装置１２４に格納される。

【００３０】次に、ユーザが、テストプログラムのコン
パイル開始の指示をＣＰＵ１２０に与える。すると、Ｃ
ＰＵ１２０は、このテストプログラムを機械語に翻訳し
て、機械語プログラムとして記憶装置１２４に再度格納
する。ここまでがテスタ制御装置１２５側の処理であ
る。

【００３１】次に、ユーザは、ＣＰＵ１２０にテストの
実行指示を与える。指示を受けたＣＰＵ１２０は、ネッ
トワークやその他のデータ伝達手段を介して、機械語プ
ログラムをテスタ本体１３５のメモリ１３１上に展開す
る。以後、テスタ本体のＣＰＵ１３０は、この機械語命
令に従って、テスタレジスタ１３２〜１３４へのデータ
転送や、被テストＩＣ１５０への信号の印加や、被テス
トＩＣ１５０からの出力信号の評価といった処理を行
い、被テストＩＣ１５０の良否を判定し、その判定結果
をメモリ１３１上に書き込み、処理を終了する。最後
に、ＣＰＵ１２０は、メモリ１３１上の良否判定結果を
テスタ制御装置１２５のディスプレイ１２３上に表示し
て、処理を終了する。以上が、テストにおけるテスタ上
の処理の流れである。

【００３２】次に、テスタ１４０の入力データであるテ
ストプログラムについて説明する。テストプログラム
は、１つ以上のテスト項目から構成されており、各テス
ト項目は、テスト条件の設定を行う命令と、そのテスト
条件下でのテストの実行を指示する命令から構成されて
いる。以後、前者の命令をテスト条件設定命令、後者の
命令をテスト実行命令と呼ぶ。

【００３３】テスト時には、これらのテスト項目が次々
に実行され、各テスト項目の実行後、被テストＩＣがそ
のテスト項目をパスしたかフェイルしたかの判定が行わ
れる。そして、被テストＩＣが全てのテスト項目をパス
した場合に良品と判定し、途中でフェイルした場合に
は、その時点で、以後のテスト項目の実行を中止して、
不良品と判定する。この処理の流れの例を図２に示す。

【００３４】図２において、テスト開始後、テスタは、
まず、最初のテスト項目であるＴｅｓｔ＃１のテスト条
件を設定した後（ステップ２０１）、そのテスト条件下
でのテストを実行し（ステップ２０２）、被テストＩＣ
がこのテスト項目をパスするか判定する（ステップ２０
３）。この判定がフェイルである場合、以後のテスト項
目の実行を中止し、被テストＩＣは不良品と判定する
（ステップ２１１）。ステップ２０３の判定により最初
のテスト項目をパスした場合、次のテスト項目Ｔｅｓｔ
＃２について、条件設定（ステップ２０４）、テスト実
行（ステップ２０５）およびパスかフェイルか判定（ス
テップ２０６）を順次に行う。

【００３５】以後、同じ処理を繰り返し（ステップ２０
７〜２０９）、全テスト項目をパスした場合に、良品と
判定する（ステップ２１０）。このように、テストプロ
グラムは複数のテスト項目から構成されている。テスト
時間は、これらの各テスト項目の実行時間の合計と、各
テスト項目の結果から次に実行するテスト項目を判断す
る時間の和となる。後者は、前者に比べて無視して良い
ほど小さく、実質的に、テスト時間は、各テスト項目の
テスト時間の和で表される。

【００３６】次に、具体的なテスタの命令について説明
する。これらの命令は、一旦、機械語にコンパイルされ
てから実行されるため、ＩＣのテスト時間は、これらの
機械語の実行時間に等しい。そこで、以後、あるテスタ
命令に相当する機械語の実行時間をその命令の実行時間
と呼び、コンパイルに要する時間は含めないものとす
る。但し、テスタ命令をインタプリティブに解釈して実
行するタイプのテスタの場合はこの限りではなく、命令
の解釈時間も実行時間に含めるものとする。

【００３７】このテスタ命令の実行時間については、実
行時間がテスト前に計算可能なものと、実際にテストを
実行して時間測定を行うまで不明なものがある。前者の
命令としては、各種のテスト条件の設定を行うテスト条
件設定命令が、後者の命令としては、設定されたテスト
条件下でのテストの開始を指示するテスト実行命令が挙
げられる。これは、テスト条件設定命令の実行時間がテ
スタのハード構成やコンパイラの機能によってほぼ決定
されるのに対して、テスト実行命令は、テストの開始を
指示する命令であり、その実行時間がテスト内容に依存
して変化するためである。

【００３８】このうち、実行時間が計算可能なテスト条
件設定命令について、記述フォーマットと実行時間の一
覧を図３の表３０１に示す。表３０１に示すテスト条件
設定命令は、テストにおける各種のテスト条件の設定を
行う命令であり、命令毎に設定できるテスト条件が決ま
っている。これらの命令によって設定されるテスト条件
の一覧を、図３の３０９に示す。また、図３中の破線で
示される矢印は、各テスト条件がどの命令によって設定
されるのかという関係を表している。

【００３９】ここで、図３の表３０１を実行時間データ
ベース、図３の表３０９をテスト条件設定表、図３中で
破線の矢印で表される関係をリレーションデータと呼
ぶ。本実施例装置１１０は、これらの表３０１、３０９
およびリレーションデータを、図１に示した補助記憶装
置１１２内に、それぞれ実行時間データベース１１３、
テスト条件表１１４、リレーションデータ１１５として
持っているものとする。

【００４０】これらのデータの内容および構成は、テス
タ機種が異なれば当然異なるが、本実施例装置１１０で
は、必要に応じてユーザがこれらのデータの追加や編集
が可能であるとする。これらのデータは、後で説明する
ように、テスト項目の実行順序を求める過程で、本実施
例装置１１０によって参照される。ここでは、実行時間
データベース３０１（１１３）による各テスト条件設定
命令と、テスト条件表３０９（１１４）中の各テスト条
件との関係について説明する。

【００４１】まず、実行時間データベース３０１の第１
欄に記載の命令３０２は、テスト周期を定めるＲＡＴＥ
命令であり、”ＲＡＴＥ＝”に続けてテスト周期を記述
する。この命令によって指定されたテスト周期は、テス
ト条件表３０９中の、”テスト周期”の欄３１０に対応
して記載されている。また、実行時間データベース３０
１の命令３０２より、このテスト周期設定命令の実行時
間は５ｍｓであることが分かる。なお、テスト条件表３
０９中の”行番号”に対応する欄の情報については、後
で説明する。

【００４２】次に、実行時間データベース３０１の第２
欄に記載の命令３０３は、被測定デバイスへの印加信号
のハイ側とロー側の電圧値を規定するユニットへの、電
圧値の設定命令であり、”ＶＩｎ＝”に続けてハイ側電
圧値とロー側電圧値を”、”で区切って記述する形式で
ある。なお、”ＶＩｎ”の”ｎ”は、２つあるユニット
中のどちらかを指定するためのユニット番号を表す。こ
の命令によって指定されたデータは、テスト条件表３０
９中の、”ハイ側印加電圧”と”ロー側印加電圧”の表
３１１に対応している。また、”ＶＩ番号”が表３１１
の１と２のどちらの行に対応するかは、指定されたユニ
ット番号に従う。この命令の実行時間は、１２ｍｓであ
る。

【００４３】次に、実行時間データベース３０１の第３
欄に記載の命令３０４は、被測定デバイスへの印可信号
の電圧レベルをハイからローへ、または、ローからハイ
へと切り換えるタイミングを規定するユニットへの、タ
イミングデータの設定命令であり、”ＴＧｎ＝”に続け
て切り換えるタイミングを記述する形式である。但し、
切り換えタイミングを２つ指定する場合には、それらの
タイミングデータを”，”で区切って記述する。な
お、”ＴＧｎ”の”ｎ”は、２つあるユニット中のどち
らかを指定するためのユニット番号を表す。この命令に
よって指定されたデータは、テスト条件表３０９中
の、”入力タイミング１”、”入力タイミング２”の各
欄を有する表３１２に対応している。この表３１２の”
ＴＧ番号”が１と２のどちらの行に対応するかは、指定
されたユニット番号に従う。この命令の実行時間は、１
５ｍｓである。

【００４４】次に、実行時間データベース３０１の第４
欄に記載の命令３０５は、被測定デバイスの”ｎ”ピン
に印加する信号の動作タイミングを規定するユニットを
指定する命令であり、”ＰＩＮｎ＝ＤＲＶ（ＴＧｍ）”
で記述する。”ｍ”は、入力タイミングを規定するユニ
ットのユニット番号を表す。この命令によって指定され
たユニット番号は、テスト条件表３０９中の表３１３
の”ＴＧ番号”の欄に対応している。また、表３１３
の”ピン番号”１、２のどちらの行に対応するかは、指
定されたピン番号”ｎ”に従う。この命令の実行時間
は、１０ｍｓである。

【００４５】次に、実行時間データベース３０１の第５
欄に記載の命令３０６は、被測定デバイスの”ｎ”ピン
に印加する信号波形を指定する命令であり、”ＰＩＮｎ
＝ＤＲＶ（）”で指定する形式である。”（）”中に波
形モードと呼ばれる信号波形を表すキーワードを記述す
るものとする。この命令によって指定された波形モード
は、テスト条件表３０９の、表３１４の”波形モード”
の欄に対応している。また、表３１４の”ピン番号”
１、２のどちらの行に対応するかは、指定されたピン番
号”ｎ”に従う。この命令の実行時間は、７ｍｓであ
る。

【００４６】次に、実行時間データベース３０１の第６
欄に記載の命令３０７は、被測定デバイスの”ｎ”ピン
に印加する信号のハイ側電圧とロー側電圧を規定するユ
ニットを指定する命令であり、”ＰＩＮｎ＝ＬＳＣ（Ｖ
Ｉｍ）”で記述する形式である。”ｍ”は、電圧を規定
するユニットのユニット番号を表す。この命令によって
指定されたユニット番号は、テスト条件表３０９中の表
３１５の、”ＶＩ番号”の欄に対応している。また、表
３１５の”ピン番号”１、２のどちらの行に対応するか
は、指定されたピン番号”ｎ”に従う。この命令の実行
時間は、１４ｍｓである。

【００４７】次に、実行時間データベース３０１の第５
欄に記載の命令３０８は、テストに使用するテストパタ
ーンを指定する命令であり、”ＰＡＴ＝”に続けて、テ
ストパターンファイル名を記述する形式とする。この命
令によって指定されたテストパターン名は、テスト条件
表３０９中の表３１６中の、”テストパターン名”の欄
に対応している。この命令の実行時間は、２０ｍｓであ
る。

【００４８】なお、図３に示した例では、各命令の実行
時間は常に一定であるとしたが、データのロード命令
や、データ長等によって実行時間が異なる命令がある場
合には、その実行時間の求め方が実行時間データベース
３０１の、”実行時間”の欄に記述されているものとす
る。

【００４９】以上が、図３の実行時間データベース３０
１に示したテスト条件設定命令の記述フォーマットと、
それらの命令によって設定されるテスト条件の一覧であ
るテスト条件表３０９と、両者の関係の説明である。

【００５０】次に、図３で説明した命令によって記述さ
れたテスト項目の例を示し、これらのテスト項目から冗
長な命令を見つけ、これらの冗長命令を削除することに
よって最短時間でテストが可能なテスト項目の実行順序
を求める方法について説明する。

【００５１】図４（ａ）〜（ｃ）に、図３で説明した命
令によって記述された３つのテスト項目ＴＥＳＴ＃Ａ、
ＴＥＳＴ＃Ｂ、ＴＥＳＴ＃Ｃを示す。これらのテスト項
目は、どんな順番でテストを行っても良いものとする。
また、各テスト項目中の最後に記述されている命令”Ｍ
ＥＡＳ”は、テスト実行命令である。これらの各テスト
項目に対して構文解析等の手段を用いることによって、
テスト項目中のテスト条件設定命令からテスト条件を抽
出して、図３で説明したテスト条件表３０９中の対応す
る欄に、これらのテスト条件を書き込むことが可能であ
る。

【００５２】また、テスト条件がテスト項目中のどの命
令によって設定されたものかを、後で検索可能とするた
めに、各テスト項目中におけるそれらの命令の行番号
を、図３のテスト条件表３０９の各表の、”行番号”の
欄に書き込むものとする。但し、これは、テスト条件と
そのテスト条件の設定を行った命令との対応がとれるな
らば、行番号の代わりにポインタデータでも何でも良
い。こうして得られるＴＥＳＴ＃Ａ、ＴＥＳＴ＃Ｂ、Ｔ
ＥＳＴ＃Ｃの各テスト項目に対応したテスト条件表の例
を、それぞれ図５（ａ）〜（ｃ）に示す。

【００５３】今、これらのテスト項目を、ＴＥＳＴ＃Ａ
−ＴＥＳＴ＃Ｂ−ＴＥＳＴ＃Ｃの順に実行する場合につ
いて考える。この場合、まず、ＴＥＳＴ＃Ａのテスト条
件設定命令によって、図５（ａ）に示したテスト条件が
設定され、この条件下でテスト実行命令によってテスト
が実行される。

【００５４】次に、ＴＥＳＴ＃Ａをパスした被テストＩ
Ｃに対してＴＥＳＴ＃Ｂが実行される。このとき、ＴＥ
ＳＴ＃Ｂのテスト条件設定命令によって設定されるテス
ト条件は図５（ｂ）で表される。ここで、図５（ａ）と
（ｂ）を互いに比較した場合、図５（ｂ）中で網掛け表
示されていないテスト条件は、ＴＥＳＴ＃Ａにおけるテ
スト条件と同じであり、ＴＥＳＴ＃Ｂの実行に当たって
は、これらのテスト条件の設定命令については省略が可
能である。この例の場合、図５（ｂ）中で網掛け表示さ
れていないテスト条件に対応した”行番号”欄の情報か
ら、図４（ｂ）のＴＥＳＴ＃Ｂの２行目、３行目、５行
目、６行目、７行目の命令を省略可能であり、テスト時
には、これら以外の命令だけ実行すれば良い。

【００５５】次に、ＴＥＳＴ＃Ｂに引き続いてＴＥＳＴ
＃Ｃが実行される場合も同様に、図５（ｃ）中で網掛け
表示されていないテスト条件は、ＴＥＳＴ＃Ｂにおける
テスト条件と同じであり、ＴＥＳＴ＃Ｃの実行に当たっ
ては、これらのテスト条件の設定命令については、省略
が可能であり、図４（ｃ）のＴＥＳＴ＃Ｃの１行目、２
行目、４行目、５行目、６行目の命令を省略可能であ
る。

【００５６】このように、本実施例によれば、冗長なテ
スト条件設定命令の削除の結果、ＴＥＳＴ＃Ａ−ＴＥＳ
Ｔ＃Ｂ−ＴＥＳＴ＃Ｃの順にテストを実行する場合、図
６のフローチャートに示すように、まず、６００で示す
ように、図４（ａ）に示したテスト項目ＴＥＳＴ＃Ａと
同一のテスト条件の下でテスト項目＃Ａのテストを実行
した後、被テストＩＣがテスト項目をパスしたかどうか
判定する（ステップ６０２）。パスしたときは、図４
（ｂ）に示す、次のテスト項目ＴＥＳＴ＃Ｂのうち、図
６に６０２で示す如く、ＴＥＳＴ＃Ａと異なるテスト条
件のみが実行される。

【００５７】そして、このテスト項目ＴＥＳＴ＃Ｂを被
テストＩＣがパスしたかどうか判定し（ステップ６０
３）、パスしたときは、次のテスト項目ＴＥＳＴ＃Ｃの
うち６０４で示すように、ＴＥＳＴ＃Ｂのテスト条件と
同じテスト条件を除いたテスト条件のみが実行され、被
テストＩＣがパスしたかどうか判定される（ステップ６
０５）。被テストＩＣが最後のテスト項目もパスしたと
きは、良品と判断され（ステップ６０６）、どれか一つ
のテスト項目でパスしなかったときは、不良品と判断さ
れる（ステップ６０７）。このようにして、本実施例に
よれば、各テスト項目を簡単化することが可能であり、
その結果テスト時間も短縮される。

【００５８】この例のように、テスト条件レベルでテス
ト項目同士を比較して、冗長なテスト条件設定命令を省
略することによって、後から実行されるテスト項目のテ
スト条件設定に要する時間を短縮することが可能であ
る。このように、任意の２つのテスト項目を続けて実行
する場合に、後から実行されるテスト項目中から冗長命
令を省略した後の、このテスト項目中のテスト条件設定
命令の実行時間の合計を、今後、これら２つのテスト項
目間の”距離”として定義する。但し、この”距離”
は、どちらのテスト項目を先に（後に）実行するかによ
って異なる場合もある。

【００５９】今、ｋ個のテスト項目から構成されるテス
トプログラムを考え、ｎ番目に実行されるテスト項目を
ＴＥＳＴ＃ｎで表し、このＴＥＳＴ＃ｎ中のテスト実行
命令”ＭＥＡＳ”によるテスト実行時間をＴＥｎ、ＴＥ
ＳＴ＃（ｎ−１）とＴＥＳＴ＃ｎ間の距離をＴＤ(n-1)
→nとすると、テストを開始してからＴＥＳＴ＃ｎの実
行が終了するまでの各テスト項目のテスト時間の累計Ｔ
ｎは、次の式によって計算される。

【００６０】

【数１】

【００６１】ただし、（１）式中、ＴＤ0→1は、最初に
実行されるテスト項目（ＴＥＳＴ＃１）中の、全てのテ
スト条件設定命令の実行時間の合計である。

【００６２】ここで、ｎ＝ｋの時にＴｎが最小となるよ
うなテスト項目の実行順序が、全テスト項目を実行した
場合にテスト時間が最小となるような実行順序である。
ここで、（１）式の右辺第２項は、各テスト項目のテス
ト実行命令”ＭＥＡＳ”によるテスト時間の合計であ
り、ｎ＝ｋの時、テスト項目の実行順序に依らず一定で
ある。従って、ｋ個のテスト項目全てを実行した場合
に、そのテスト時間が最短となるようなテスト項目の実
行順序を求める場合、（１）式の右辺第１項についてだ
け計算して互いに比較し、最小となる実行順序を選べば
充分である。

【００６３】次に、本実施例装置１１０の動作につい
て、図１の構成図および図７のフローチャートを併せ参
照して説明する。本実施例装置１１０の起動後、ＣＰＵ
１００は、まず、ネットワーク１１６を介して、テスタ
１４０の記憶装置１２４に、あらかじめユーザによって
格納されたテスト項目ファイル群を、自身の補助記憶装
置１１２にコピーした後、ディスプレイ１０３上に、ユ
ーザに対してこれらのテスト項目について、テスト時間
が最短となるような実行順序を求めるかどうか質問する
メッセージを表示する（図７のステップ７０１）。これ
は、ＩＣのテストでは、テスト項目の実行順序自体に意
味があるものや、テスト項目の一部について実行順序が
決められているものがあるため、ユーザに対して実行順
序を求めるか確認する必要があるためである。

【００６４】ユーザが実行順序を求める指示をした場
合、ＣＰＵ１００は、実行順序変更の対象となるテスト
項目を指示するよう促すメッセージを、ディスプレイ１
０３上に表示する（図７のステップ７０２）。ここで、
ユーザは、処理の対象となるテスト項目を指示するが、
以降の処理は、ここで指示されたテスト項目に対して行
われる。

【００６５】次に、ユーザによる処理対象となるテスト
項目の指示に基づき、ＣＰＵ１００は、テスト条件表作
成部１０５を起動して、テスト条件表を以下のようにし
て作成する（図７のステップ７０３）。

【００６６】起動されたテスト条件表作成部１０５は、
まず、接続されているテスタ機種を判断して、補助記憶
装置１１２に格納されたデータから、テスタ機種に対応
したデータを選択する。以降の処理では、このデータを
使用する。次に、ＣＰＵ１００は、補助記憶装置１１２
に格納されているテスト条件表１１４を参照して、対象
となるテスト項目数だけテスト条件表に相当するデータ
構造を、メモリ１１７上に作成する。次に、図４（ａ）
〜（ｃ）に示したテスト項目の実行順序を求める場合
は、図４（ａ）〜（ｃ）の各テスト項目について構文解
析等の処理を行い、テスト条件設定命令によって設定さ
れるテスト条件を抽出する。この構文解析の手法に関し
ては、コンパイラＩ、ＩＩ（平成２年、サイエンス社
社、Ａ．Ｖ．エイホ他著）、第１８９頁から第３４０頁
に詳しい。

【００６７】そして、抽出したテスト条件を、補助記憶
装置１１２に格納されたリレーションデータ１１５を参
照して、テスト項目毎に、先にメモリ１１７上に確保し
たテスト条件表（に相当するデータ構造）上の対応する
欄に格納する。図５（ａ）〜（ｃ）は、各テスト項目に
対応したテスト条件表を表している。テスト条件表の作
成後、テスト条件表作成部１０５は、テスト項目間距離
計算部１０６を起動した後、処理を終了する。以上のテ
スト条件表作成部１０５の処理は、図７中のステップ７
０３の処理に相当する。

【００６８】次に、起動されたテスト項目間距離計算部
１０６は、テスト条件表作成部１０５が先に作成したメ
モリ１１７上のテスト条件表と、補助記憶装置１１２上
の実行時間データベース１１３とリレーションデータ１
１５を参照して、実行順序を求める対象となるテスト項
目から、２つのテスト項目を取り出して実行する場合の
全組合せに対して、その２つのテスト項目間の距離を計
算する（図７のステップ７０４）。

【００６９】例として、図４（ａ）に続けて同図（ｂ）
のテスト項目を実行する場合の、テスト項目間距離の計
算方法を説明する。テスト項目間距離計算部１０６は、
両テスト項目に対応したテスト条件表である図５
（ａ）、（ｂ）中のテスト条件を比較して、図５（ｂ）
中で図５（ａ）中のテスト条件と異なる設定がされてい
るテスト条件を探す。図中で網掛け表示されているテス
ト条件が、これに相当する。次に、これらのテスト条件
の設定を行った命令を行番号欄の情報から特定し、補助
記憶装置１１２に格納された実行時間データベース１１
３を参照して、これらの命令の実行時間の合計を計算す
る。この例では、図４（ｂ）のテスト項目の１行目、４
行目、８行目、９行目、１０行目、１１行目の命令が該
当しており、これらの命令の実行時間は、図３の実行時
間データベース３０１から、それぞれ５ｍｓ、１５ｍ
ｓ、１０ｍｓ、７ｍｓ、１４ｍｓ、２０ｍｓであり、合
計は７１ｍｓである。従って、図４（ａ）に続けて図４
（ｂ）のテスト項目を実行する場合のこれらのテスト項
目間距離は、７１ｍｓである。テスト項目間距離計算部
１０６は、以上の処理を全組合せについて繰り返す。

【００７０】図８は、図４（ａ）〜（ｃ）のテスト項目
について求めたテスト項目間距離を表している。以後こ
の図を、テスト項目間距離マップと呼ぶものとする。図
中８０１〜８０３で示す円は、それぞれテスト項目ＴＥ
ＳＴ＃Ａ、ＴＥＳＴ＃Ｂ、ＴＥＳＴ＃Ｃを表しており、
円から出ている矢印とその矢印上にかかれた時間は、そ
れぞれテスト項目の実行順序とその場合のテスト項目間
距離を表している。ただし、ここでは矢の根にあるテス
ト項目を先に実行するものとする。

【００７１】また、”初期状態”と書かれている円８０
０は、テスト開始前の状態を表しており、常にこの初期
状態からテストは開始される。従って、この初期状態か
ら出ている矢印は、８０１〜８０３の各テスト項目へと
向かうものだけであり、その距離は、矢先にあるテスト
項目中のテスト条件設定命令の実行時間の合計である。
テスト項目間距離計算部１０６は、図８に示したテスト
項目間距離マップに相当するデータ構造を、本装置上の
メモリ１１７上に格納した後、最短経路探索部１０７を
起動して処理を終了する。

【００７２】起動された最短経路探索部１０７は、先に
テスト項目間距離計算部１０６によってメモリ１１７上
に格納された、図８に示したテスト項目間距離マップ
（に相当するデータ構造）を参照して、テスト条件設定
に必要な時間が最小になるようなテスト項目の実行順序
を求める（図７のステップ７０５）。これは、図８のテ
スト項目間距離マップ上で、初期状態からスタートして
全てのテスト項目を１度だけ通過するような経路の中
で、その通過距離が最小になるような経路を求める処理
と等価である。この最短経路の探索手法は、従来より文
献により広く知られている（例えば、Ｖｉｎｏｄ Ｃｈ
ａｃｈｒａ他著、「コンピュータによるグラフ理論の応
用」、昭和５６年、共立出版株式会社、第９５頁から第
９６頁、第２１０頁から第２１５頁）。

【００７３】ここでは、説明簡単化のため、考えられる
全てのテスト項目の実行経路について、（１）式の右辺
第１項のみを計算して、その値が最小となるような経路
を求める方式で最短経路を求める。（１）式の右辺第２
項の計算が不要な理由は、先に説明した通りである。図
９に、この計算結果を示す。同図において、見出し９０
０には実行経路が、見出し９０１には計算した距離がそ
れぞれ書かれている。この計算結果より、符号９０２に
示したＴＥＳＴ＃Ｃ−ＴＥＳＴ＃Ｂ−ＴＥＳＴ＃Ａの順
に実行した場合の通過距離が、１７４ｍｓで最小となる
ことが分かる。最短経路探索部１０７は、図９に相当す
るデータ構造をメモリ１１７上に書き込んで、処理を終
了する。

【００７４】次に、最短経路探索部１０７の処理の終了
後、ＣＰＵ１００はテスト時間が最小となるようなテス
ト項目の実行順序と、その場合に各テスト項目中で省略
可能な命令に関するレポートを、メモリ１１７上に書き
込まれた図８に示した実行経路毎の距離情報と、図５
（ａ）〜（ｃ）に示したテスト条件表を参照して作成
し、作成したレポートをディスプレイ１０３上に表示
し、メモリ１１７上のデータを消去して、全ての処理を
終了する（図７のステップ７０６）。

【００７５】このレポートは、例えば、図１０に示すよ
うに、テスト実行順序がＴＥＳＴ＃Ｃ−ＴＥＳＴ＃Ｂ−
ＴＥＳＴ＃Ａであるとき最小テスト時間であり、また、
その場合のテスト項目ＴＥＳＴ＃ＢとＴＥＳＴ＃Ａの省
略可能な命令が記載された行を示す。ユーザは、このレ
ポートに従ってテスト項目の実行順序を決定し、冗長命
令を削除して、テストを行う。図４（ａ）〜（ｃ）のテ
スト項目について、このレポートに従ってテストを行う
場合のテストの実行フローを、図１１に示す。

【００７６】以上は、全てのテスト項目を実行する場合
に、そのテスト時間が最小となるようなテスト項目の実
行順序の求め方についての説明であった。この処理の応
用として、テスト項目の実行順序があらかじめ決まって
いる場合に、テスト項目中の冗長な命令を探すことが可
能である。この場合、まず、ユーザにテスト項目の実行
順序が決まっているか質問し（図７のステップ７０
７）、決まっている場合には、そのテスト項目の実行順
序をユーザに入力してもらう（図７のステップ７０
８）。

【００７７】次に、全テスト項目についてテスト条件表
を作成して、ユーザが指示した実行順序でテストを行っ
た場合に冗長なテスト条件の設定を行う命令を探す（図
７のステップ７０９）。最後に、これらの冗長命令を知
らせるレポートを出力して（図７のステップ７１０）、
処理を終了する。

【００７８】以上の説明では、２つのテスト項目を続け
て実行する場合に、後から実行されるテスト項目中から
冗長命令を省略した後の、このテスト項目中のテスト条
件設定命令の実行時間の合計を、これら２つのテスト項
目間の”距離”として定義した。しかし、この定義の代
わりに、２つのテスト項目を続けて実行する場合に、後
から実行されるテスト項目中から冗長命令を省略するこ
とによって短縮される時間を、これら２つのテスト項目
間の”距離”としても良い。

【００７９】ただし、その場合には、最短経路探索部１
０７は、テスト項目間距離マップ上で、初期状態からス
タートして全てのテスト項目を１度だけ通過するような
経路の中で、その通過距離が最小になるような経路の代
わりに、通過距離が最大となるような経路を求めること
になる。その経路に従ったテスト項目の実行順序が、全
てのテスト項目を実行した場合のテスト時間が最小とな
るような実行順序である。

【００８０】次に、本発明の第２実施例について説明す
る。本実施例装置の構成は、図１の実施例装置１１４と
同じである。前記第１実施例では、全てのテスト項目を
実行する場合に、そのテスト時間が最小となるようなテ
スト項目の実行順序の求め方について説明した。これに
対し、本実施例は、Ｎ個の被テストＩＣのテストを行っ
た場合に、その１個当たりのテスト時間の平均が最小と
なるようなテスト項目の実行順序を求めるものである。

【００８１】前記第１実施例で、ｋ個のテスト項目から
構成されるテストプログラム中で、ｎ番目に実行される
テスト項目をＴＥＳＴ＃ｎで表し、このＴＥＳＴ＃ｎ中
のテスト実行命令”ＭＥＡＳ”によるテスト実行時間を
ＴＥｎ、ＴＥＳＴ＃（ｎ−１）とＴＥＳＴ＃ｎ間の距離
をＴＤ(n-1)→nとした場合に、テストを開始してからＴ
ＥＳＴ＃ｎの実行が終了するまでの各テスト項目のテス
ト時間の累計Ｔｎが、（１）式によって計算されること
を説明した。

【００８２】ここで、テスト対象となる被テストＩＣの
個数をＮ、ＴＥＳＴ＃ｎでの不良発生率をＰＦｎとした
場合、ＴＥＳＴ＃ｎを良品としてパスするＩＣの個数Ｉ
Ｃｎは、次の漸化式によって計算される。

【００８３】

【数２】

【００８４】また、ＴＥＳＴ＃ｎの実行の結果、不良品
と判定されるＩＣの個数ＩＣＦｎは、ＩＣｎを用いて次
の式によって計算される。

【００８５】

【数３】

【００８６】従って、Ｎ個の被テストＩＣに対してｋ個
のテスト項目から構成されるテストを行った場合、ＩＣ
１個当たりのテストに要する平均テスト時間Ｔａは、次
の式で計算される。

【００８７】

【数４】

【００８８】従って、ｋ個のテスト項目から構成される
テストプログラムを考えた場合に、各テスト項目毎のＭ
ＥＡＳ命令によるテスト実行時間と不良発生率が与えら
れると、（１）式〜（５）式によってＩＣ１個当たりの
テストに要する平均テスト時間Ｔａを計算し、Ｔａが最
小となるようなテスト項目の実行順序を求めることで、
被テストＩＣ１個当たりの平均テスト時間が最小となる
ようなテスト項目の実行順序を求めることが可能であ
る。

【００８９】次に、本実施例の動作について、図１を用
いて説明する。また、前記第１実施例の説明で使用し
た、図４（ａ）〜（ｃ）のテスト項目について、以下の
説明を行う。本装置の起動後、ＣＰＵ１００は、まず、
ネットワーク１１６を介して、テスタ１４０の記憶装置
１２４にあらかじめ格納されているテスト項目ファイル
群を、自身の補助記憶装置１１２にコピーする。これら
のテスト項目を図４（ａ）〜（ｃ）に示す。

【００９０】次に、ＣＰＵ１００は、ディスプレイ１０
３上に、図１２に示すような、これらの各テスト項目毎
のテスト実行時間と不良発生率の入力画面を表示し、こ
れらのデータを入力するようユーザを促す。ユーザがこ
れらのデータを入力すると、ＣＰＵ１００は、入力され
たデータに相当するデータ構造をメモリ１１７上に確保
して、テスト条件表作成部１０５を起動する。この時入
力されたデータの例を、図１３に示す。

【００９１】以後、テスト項目間距離計算部１０６が、
図８に示したテスト項目間距離マップに相当するデータ
構造を本装置上のメモリ１１７上に格納するまでの動作
は、前記実施例で説明した場合と同じである。データ格
納後、テスト項目間距離計算部１０６は平均テスト時間
計算部１０８を起動して、処理を終了する。

【００９２】起動された平均テスト時間計算部１０８
は、メモリ１１７上に格納されている、図８に示したテ
スト項目間距離マップと、先にユーザが入力した図１３
に示すテスト項目毎のテスト実行時間および不良発生率
とを参照して、全てのテスト項目実行順序について、
（１）式〜（５）式の計算式を用いてＩＣ１個当たりの
平均テスト時間を計算する。

【００９３】図１４は、このＩＣ１個当たりの平均テス
ト時間の計算結果を示す。同図において、見出し１４０
０にはテスト項目の実行順序が、見出し１４０１にはそ
の場合の平均テスト時間が、それぞれ書かれている。こ
の例の場合、１４０２の欄に示すＴＥＳＴ＃Ｃ−ＴＥＳ
Ｔ＃Ｂ−ＴＥＳＴ＃Ａの順に実行した場合に、ＩＣ１個
当たりの平均テスト時間が３０９．５ｍｓで最小とな
る。平均テスト時間計算部１０８は、図１４に相当する
データ構造をメモリ１１７上に書き込んで、処理を終了
する。

【００９４】平均テスト時間計算部１０８の処理の終了
後、ＣＰＵ１００は、ＩＣ１個当たりの平均テスト時間
が最小となるようなテスト項目の実行順序と、その場合
に、各テスト項目中で省略可能となるテスト条件設定命
令に関するレポートを、メモリ１１７上に書き込まれた
図１４に相当するデータと、図５（ａ）〜（ｃ）に示し
たテスト条件表とを参照して作成する。このレポートの
構成は、先に図１０に示したものに、平均テスト時間に
ついての情報を追加したものとなる。ＣＰＵ１００は、
作成したレポートをディスプレイ１０３上に表示し、メ
モリ１１７上のデータを消去して、全ての処理を終了す
る。

【００９５】ユーザは、このレポートに従ってテスト項
目の実行順序を決定し、冗長命令を削除してテストを実
行する。この例の場合のテスト項目の実行フローチャー
トは、図１１に示す通りである。

【００９６】以上の説明では、テスト項目毎のテスト時
間と不良発生率は、ユーザから与えられるものとして説
明したが、最初にテスト項目を適当な順番に並べて一定
個数のＩＣのテストを行い、そのテスト結果をモニター
してテスト項目毎のテスト時間と不良発生率を計算し、
ＩＣ１個当たりの平均テスト時間が最小となるテスト項
目の実行順序を求めて、テスト項目の実行順序を変更し
ても良い。

【００９７】さらに、以上の処理を一定個数のＩＣのテ
ストが終了する毎に行うことで、各テスト項目の不良発
生率が途中で変化する場合にも、常にＩＣ１個当たりの
平均テスト時間が最小となるようなテストを行うことも
可能である。

【００９８】次に、本発明の第３実施例について説明す
る。本実施例装置の構成は、図１に１１０で示した実施
例装置と同様である。ここで、図１５（ａ）〜（ｃ）に
示すテスト項目ＴＥＳＴ＃Ａ〜ＴＥＳＴ＃Ｃについて、
全てのテスト項目を実行した場合に、そのテスト時間が
最小となるようなテスト項目の実行順序を求めるものと
する。

【００９９】これらのテスト項目中で設定されるテスト
条件は、図１６の（ａ）〜（ｃ）に示す各テスト条件表
で表される。第１実施例では、これらのテスト条件表に
ついて、互いのテスト項目間距離を求めた。本実施例で
は、一旦、設定されたテスト条件は、後から他の命令に
よって書換えられるかクリアされるまでテスト条件とし
て有効である点に着目したものである。

【０１００】今、ＴＥＳＴ＃Ａ−ＴＥＳＴ＃Ｂ−ＴＥＳ
Ｔ＃Ｃの順にテストを行う場合を考える。ここで、ＴＥ
ＳＴ＃Ｂの実行が終了した時点でのテスト条件の設定状
況は、テスト項目ＴＥＳＴ＃Ａ中で設定されたままＴＥ
ＳＴ＃Ｂ中で書き換えられも、クリアされもしなかった
テスト条件と書き換え後のテスト条件とをそれぞれ挙げ
ると、図１７に示すテスト条件表で表される。

【０１０１】そこで、次にＴＥＳＴ＃Ｂ→ＴＥＳＴ＃Ｃ
の距離を求める場合に、図１６の（ｂ）、（ｃ）に示す
テスト条件表ではなく、図１７と図１６（ｃ）のテスト
条件表を使用してテスト項目間距離を計算することによ
って、ＴＥＳＴ＃Ｂだけでなく、ＴＥＳＴ＃Ａで設定さ
れたテスト条件をも考慮して、冗長な命令を探し出すこ
とが可能となる。

【０１０２】次に、本実施例装置の動作について説明す
る。図１と同様の構成の本実施例装置が起動されると、
第１実施例と同様にしてテスト条件表作成部１０５がテ
スト条件表を作成し、続いて、ＣＰＵ１００が図１８の
処理フローチャートに従った動作を行う。

【０１０３】すなわち、まず、各テスト項目に対応した
テスト条件表を作成した後（ステップ１８０１）、新規
にテスト条件表を作成し、これをＴＥＳＴ＃０のテスト
条件表とする（ステップ１８０２）。次に、変数ｍに初
期値”１”、各テスト項目のテスト時間の累計の初期値
Ｔ₀に”０”を代入する（ステップ１８０３）。

【０１０４】ここで、ｋ個のテスト項目から構成される
テストプログラムを考え、ｍ番目に実行されるテスト項
目をＴＥＳＴ＃ｍで表し、このＴＥＳＴ＃ｍ中のテスト
実行命令”ＭＥＡＳ”によるテスト実行時間をＴＥｍ、
ＴＥＳＴ＃（ｍ−１）とＴＥＳＴ＃ｍ間の距離をＴＤ(m
-1)→mとすると、テストを開始してからＴＥＳＴ＃ｍの
実行が終了するまでの各テスト項目のテスト時間の累計
Ｔ_mを求めるために、距離をＴＤ(m-1)→mを求めた後
（ステップ１８０４）、次式によりテストを開始してか
らＴＥＳＴ＃ｍの実行が終了するまでの各テスト項目の
テスト時間の累計Ｔ_mを求める（ステップ１８０５）。

【０１０５】

【数５】

【０１０６】ここで、（６）式中の右辺第３項は各テス
ト項目毎のテスト実行命令”ＭＥＡＳ”によるテスト時
間であり、ｍ＝ｋの時、全てのテスト項目の実行順序に
対して同じ値が加算される。従って、ｋ個のテスト項目
全てを実行した場合にそのテスト時間が最短となるよう
なテスト項目の実行順序を求めるためには、実際には
（６）式の右辺第１項と第２項についてだけ計算すれば
充分である。

【０１０７】次に、変数ｍが総テスト項目数ｋに等しい
か否か判定し（ステップ１８０６）、等しくないときに
は、ＴＥＳＴ＃ｍのテスト条件を、ＴＥＳＴ＃（ｍ−
１）のテスト条件表に上書きして、以後これをＴＥＳＴ
＃ｍのテスト条件表とする（ステップ１８０７）。すな
わち、図１６および図１７と共に説明したように、本実
施例では後から他の命令によって書換えられるかクリア
されるまでテスト条件は有効であることに鑑み、上記の
上書きをする。

【０１０８】そして、変数ｍの値を１加算して（ステッ
プ１８０８）、次の順番のテスト項目について上記のス
テップ１８０４〜１８０７の処理を行う。このようにし
て、ステップ１８０４での距離計算、ステップ１８０５
でのテスト時間の累計の算出、ステップ１８０７でのテ
スト条件表の上書き処理およびステップ１８０８での変
数値更新処理を変数ｍが総テスト項目数ｋに一致するま
で繰り返す。

【０１０９】このようにして、対象となるテスト項目に
ついて考えられる全てのテスト項目実行順序についてテ
スト時間Ｔ_mを計算し、ｍ＝ｋの時にＴ_mが最小となるよ
うなテスト項目の実行順序が、全テスト項目を実行した
場合にテスト時間が最小となるような実行順序である。

【０１１０】その後、テスト時間が最小となる実行順序
と、その場合に各テスト項目中で省略可能となるテスト
条件設定命令に関するレポートを出力して、処理を終了
する。このレポートの構成は、図１０に示したものと同
じである。

【０１１１】なお、本発明は、以上の実施例に限定され
るものではなく、例えば、第１実施例で説明した、テス
ト項目の実行順序があらかじめ決まっている場合に各テ
スト項目中の冗長命令を探す際に、図１８の処理フロー
チャートに従った処理過程で得られるテスト項目間距離
とテスト条件表を利用することもできる。

【０１１２】また、第２実施例で説明した、ＩＣ１個当
たりの平均テスト時間が最小になるようなテスト項目の
実行順序を求める場合に、図１８の処理フローチャート
に従った処理過程で得られるテスト項目間距離とテスト
条件表を利用することもできる。

【０１１３】上記各実施例は、集積回路の試験を行うも
のであるが、本発明は、これに限定されない。他の製品
の試験にも適用できる。

【０１１４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明方法および
装置によれば、各々テスト条件の設定命令とテスト実行
命令とからなるテスト項目を複数順次に実行して集積回
路の試験を行う際に、テスト項目間距離に基づいて、テ
スト時間が最小となるようなテスト項目の実行順序を求
めるようにしたため、全テスト項目が実行されるような
集積回路のテストにおいて、従来に比しテスト時間を短
縮することができる。

【０１１５】また、本発明方法および装置によれば、被
テスト集積回路１個当たりの平均テスト時間を算出し
て、この平均テスト時間が最小となる実行順序を求める
ようにしたため、集積回路の不良発生率の変化や多数個
取りテストであっても、従来に比しテスト時間を短縮す
ることができ、テストコスト削減の効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明試験装置の実施例の構成をテスタと共に
示す図である。

【図２】ＩＣのテストの実行フローチャートである。

【図３】テスタの命令とその命令によって設定されるテ
スト条件との関係を表す図である。

【図４】テスト項目の記述例を示す図である。

【図５】図４のテスト項目によって設定されるテスト条
件表である。

【図６】冗長命令省略後のテストの実行フローチャート
である。

【図７】本発明の第１実施例の処理フローチャートであ
る。

【図８】テスト項目間の距離を視覚的に表した図であ
る。

【図９】テスト項目の実行順序毎の距離の一例を表す図
である。

【図１０】本発明装置が出力するレポートの一例を示す
図である。

【図１１】求めた最短経路に従った場合のテストの実行
フローチャートである。

【図１２】テスト実行時間と不良発生率の入力画面の一
例を示す図である。

【図１３】入力されたテスト実行時間と不良発生率の一
例である。

【図１４】テスト項目の実行順序毎のＩＣの平均テスト
時間の一例を示す図である。

【図１５】テスト項目の記述例を示す図である。

【図１６】図１５のテスト項目によって設定されるテス
ト条件表である。

【図１７】テスト条件の設定状況を表す図である。

【図１８】本発明の第３実施例のテスト時間の累計を求
める処理フローチャートである。

【符号の説明】

１００、１２０、１３０…中央処理装置（ＣＰＵ）、１
０１、１２１…キーボード、１０２、１２２…ポインテ
ィングデバイス、１０３、１２３…ディスプレイ、１０
４…主記憶装置、１０５…テスト条件表作成部、１０６
…テスト項目距離計算部、１０７…最短経路探索部、１
０８…平均テスト時間計算部、１１０…本実施例装置、
１１３…実行時間データベース、１１４…テスト条件
表、１１５…リレーションデータ、１１２…補助記憶装
置、１１７、１３７…メモリ、１２５…テスタ制御装
置、１３５…テスタ本体、１４０…テスタ、１５０…被
テストＩＣ。

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 各々テスト条件の設定命令とテスト実行
   命令とからなるテスト項目を、複数、順次に実行して製
   品の試験を行う際に、該テスト項目の実行順序を試験時
   間が最小となるように決定する試験順序決定方法であっ
   て、 あるテスト項目に続いて次のテスト項目を実行する場合
   に、該次のテスト項目のテスト準備にかかる時間を表す
   尺度であるテスト項目間の距離を、すべてのテスト項目
   を一度ずつ順次に実行する時の実行順序のすべての組み
   合わせのそれぞれについて累積計算し、該累積計算結果
   に基づき最小の試験時間を示す該距離の累積値が得られ
   る実行順序を求めることを特徴とする製品の試験順序決
   定方法。
2. 【請求項２】 前記距離の累積計算は、前記複数のテス
   ト項目の実行順序が外部より指定されたときは、指定さ
   れた該実行順序についてのみ行うことを特徴とする請求
   項１記載の製品の試験順序決定方法。
3. 【請求項３】 前記距離は、あるテスト項目に続いて次
   のテスト項目を実行する場合に、該次のテスト項目から
   先に実行するテスト項目中のテスト条件と同じテスト条
   件の設定命令を削除したときに、該次のテスト項目中で
   のテスト条件の設定を行うのに要する時間であり、前記
   最小の試験時間を示す距離の累積値は、該距離の最小合
   計値であることを特徴とする請求項１または２記載の製
   品の試験順序決定方法。
4. 【請求項４】 前記距離は、あるテスト項目に続いて次
   のテスト項目を実行する場合に、該次のテスト項目から
   先に実行するテスト項目中のテスト条件と同じテスト条
   件の設定命令を削除したときに、次のテスト項目中での
   テスト条件の設定を行うときの該削除により短縮された
   時間であり、前記最小の試験時間を示す距離の累積値
   は、該距離の最大合計値であることを特徴とする請求項
   １または２記載の製品の試験順序決定方法。
5. 【請求項５】 各々テスト条件の設定命令とテスト実行
   命令とからなるテスト項目を複数順次に実行して製品の
   試験を行う際に、該テスト項目の実行順序を試験時間が
   最小となるように決定する試験順序決定方法であって、 あるテスト項目に続いて次のテスト項目を実行する場合
   に、該次のテスト項目のテスト準備にかかる時間を表す
   尺度であるテスト項目間の距離をそれぞれ計算し、該距
   離の計算結果とテスト項目毎のテスト実行時間および被
   テスト製品の不良発生率とから、テスト項目の実行順序
   のすべての組み合わせのそれぞれについて、被テスト製
   品１個当たりの平均テスト時間を算出し、該算出した平
   均テスト時間が最小となる実行順序を求めるとともに、
   その実行順序でテスト項目を実行するときに省略するこ
   とが可能な前記テスト条件の設定命令を求めることを特
   徴とする製品の試験順序決定方法。
6. 【請求項６】 前記テスト項目毎のテスト実行時間およ
   び被テスト製品の不良発生率とは、任意の個数の製品に
   対して前記複数のテスト項目を任意の順序で実行して試
   験した時の試験結果に基づいて求めることを特徴とする
   請求項５記載の製品の試験順序決定方法。
7. 【請求項７】 各々テスト条件の設定命令とテスト実行
   命令とからなるテスト項目を複数順次に実行して製品の
   試験を行う際に、該テスト項目の実行順序を試験時間が
   最小となるように決定する試験順序決定方法であって、 前回のテスト項目に続いて今回のテスト項目を実行する
   場合に、該前回のテスト項目のテスト条件を前々回のテ
   スト項目のテスト条件に上書きしたテスト条件と同じテ
   スト条件の設定命令を該今回のテスト項目のテスト条件
   から削除したテスト条件に基づき、該今回のテスト項目
   のテスト準備にかかる時間を表す尺度であるテスト項目
   間の距離を算出し、すべてのテスト項目を一度ずつ順次
   に実行する時の実行順序のすべての組み合わせのそれぞ
   れについて該距離を累積計算し、該累積計算結果に基づ
   き最小の試験時間を示す該距離の累積値が得られる実行
   順序を求めるとともに、その実行順序でテスト項目を実
   行するときに省略することが可能な前記テスト条件の設
   定命令を求めることを特徴とする製品の試験順序決定方
   法。
8. 【請求項８】 各々テスト条件の設定命令とテスト実行
   命令とからなるテスト項目を、複数、順次に実行して製
   品の試験を行う際に、該テスト項目の実行順序を試験時
   間が最小となるように決定する試験順序決定装置であっ
   て、 前記複数のテスト項目の各テスト条件をそれぞれ示すテ
   スト条件表と、各テスト条件の設定命令の実行時間を示
   す実行時間データベースと、各テスト条件とテスト条件
   の設定命令との関係を示すリレーションデータとをそれ
   ぞれ予め格納している記憶装置と、 該記憶装置内のテスト条件表およびリレーションデータ
   を参照して対象となるテスト項目毎にテスト条件を示す
   テスト条件表を作成するテスト条件表作成手段と、 実行順序を求める対象となるテスト項目のうち、あるテ
   スト項目に続いて次のテスト項目を実行する場合に、該
   次のテスト項目のテスト準備にかかる時間を表す尺度で
   あるテスト項目間の距離を、すべてのテスト項目を一度
   ずつ順次に実行する時の実行順序のすべての組み合わせ
   のそれぞれについて、該テスト条件表作成手段により作
   成されたテスト条件表と、前記実行時間データベースお
   よびリレーションデータとを参照して計算するテスト項
   目間距離計算手段と、 該テスト項目間距離計算手段により計算して得られた距
   離の累積値に基づき最小の試験時間を示す該距離の累積
   値が得られる実行順序を求める最短経路探索手段とを備
   えることを特徴とする製品の試験順序決定装置。
9. 【請求項９】 前記最短経路探索手段により求められた
   実行順序と、その場合の各テスト項目中で省略可能な命
   令を示すレポートを出力する手段をさらに有することを
   特徴とする請求項８記載の製品の試験順序決定装置。
10. 【請求項１０】 各々テスト条件の設定命令とテスト実
    行命令とからなるテスト項目を、複数、順次に実行して
    製品の試験を行う際に、該テスト項目の実行順序を試験
    時間が最小となるように決定する試験順序決定装置であ
    って、 前記複数のテスト項目の各テスト条件をそれぞれ示すテ
    スト条件表と、各テスト条件の設定命令の実行時間を示
    す実行時間データベースと、各テスト条件とテスト条件
    の設定命令との関係を示すリレーションデータとをそれ
    ぞれ予め格納している記憶装置と、 該記憶装置内のテスト条件表およびリレーションデータ
    を参照して対象となるテスト項目毎にテスト条件を示す
    テスト条件表を作成するテスト条件表作成手段と、 実行順序を求める対象となるテスト項目のうち、あるテ
    スト項目に続いて次のテスト項目を実行する場合に、該
    次のテスト項目のテスト準備にかかる時間を表す尺度で
    あるテスト項目間の距離を、すべてのテスト項目を一度
    ずつ順次に実行する時の実行順序のすべての組み合わせ
    のそれぞれについて、該テスト条件表作成手段により作
    成されたテスト条件表と、前記実行時間データベースお
    よびリレーションデータとを参照して計算するテスト項
    目間距離計算手段と、 該テスト項目間距離計算手段により計算して得られた距
    離とテスト項目毎のテスト実行時間と被テスト製品の不
    良発生率とから、テスト項目の実行順序のすべての組み
    合わせのそれぞれについて、被テスト製品１個当たりの
    平均テスト時間を算出する平均テスト時間計算手段と、 該算出した平均テスト時間が最小となる実行順序を求め
    るとともに、その実行順序でテスト項目を実行するとき
    に省略することが可能な前記テスト条件の設定命令を求
    める手段とを備えることを特徴とする製品の試験順序決
    定装置。
11. 【請求項１１】 前記テスト項目毎のテスト実行時間お
    よび被テスト製品の不良発生率とは、任意の個数の製品
    に対して前記複数のテスト項目を任意の順序で実行して
    試験した時の試験結果に基づいて求めることを特徴とす
    る請求項１０記載の製品の試験順序決定装置。
12. 【請求項１２】 各々テスト条件の設定命令とテスト実
    行命令とからなるテスト項目を、複数、順次に実行して
    製品の試験を行う際に、該テスト項目の実行順序を試験
    時間が最小となるように決定する試験順序決定装置であ
    って、 前記複数のテスト項目の各テスト条件をそれぞれ示すテ
    スト条件表と、各テスト条件の設定命令の実行時間を示
    す実行時間データベースと、各テスト条件とテスト条件
    の設定命令との関係を示すリレーションデータとをそれ
    ぞれ予め格納している記憶装置と、 該記憶装置内のテスト条件表およびリレーションデータ
    を参照して対象となるテスト項目毎にテスト条件を示す
    テスト条件表を作成するテスト条件表作成手段と、 実行順序を求める対象となるテスト項目のうち、前回の
    テスト項目に続いて今回のテスト項目を実行する場合
    に、該前回のテスト項目のテスト条件を前々回のテスト
    項目のテスト条件に上書きしたテスト条件と同じテスト
    条件の設定命令を該今回のテスト項目のテスト条件から
    削除したテスト条件に基づき、該今回のテスト項目のテ
    スト準備にかかる時間を表す尺度であるテスト項目間の
    距離を、すべてのテスト項目を一度ずつ順次に実行する
    時の実行順序のすべての組み合わせのそれぞれについ
    て、該テスト条件表作成手段により作成されたテスト条
    件表と、前記実行時間データベースおよびリレーション
    データとを参照して計算するテスト項目間距離計算手段
    と、 該テスト項目間距離計算手段により計算して得られた距
    離の計算結果に基づき最小の試験時間を示す該距離の累
    積値が得られる実行順序を求めるとともに、その実行順
    序でテスト項目を実行するときに省略することが可能な
    前記テスト条件の設定命令を求める手段とを備えること
    を特徴とする製品の試験順序決定装置。