JP2011257189A

JP2011257189A - 試験手順決定装置

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Publication number: JP2011257189A
Application number: JP2010130333A
Authority: JP
Inventors: Koichi Munakata; 浩一宗像; Katsuhiro Yoshioka; 克浩吉岡
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 2010-06-07
Filing date: 2010-06-07
Publication date: 2011-12-22
Anticipated expiration: 2030-06-07
Also published as: JP5595127B2

Abstract

【課題】試験を短時間で実施できる試験手順を得られる試験手順決定装置を得ること。
【解決手段】パラメータ値一覧記憶部１に記憶された複数のパラメータのパラメータ値の変更に要する時間を表す情報を記憶するパラメータ変更条件記憶部３と、複数のパラメータの各々について、取り得るパラメータ値を一巡させる最小所要時間を算出し、算出結果に基づいて、パラメータ値の変更に要する時間の総和が最小となるように、各パラメータのパラメータ値の変更順序を決定するパラメータ値変更順序決定部１２と、パラメータ値変更順序決定部１２が決定した変更順序に従って各パラメータのパラメータ値を直交表２に割り付けるパラメータ割付部１３とを有する。
【選択図】図１

Description

本発明は、試験手順決定装置に関する。

従来、試験対象が正しいか否かを、直交表を用いて少ない試験回数で判断する方法が知られている（例えば特許文献１）。

特開２００９−１５６６４４号公報（第４頁第３行〜第５頁第５行）

このような直交表を用いた試験での手順を決定するにあたっては、直交表の各行に対応した任意の試験条件から次の試験条件に遷移するための時間を短縮することは考慮されていなかった。そのため、試験に要する時間が長くなってしまうという問題があった。

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、試験を短時間で実施できる試験手順を得られる試験手順決定装置を得ることを目的とする。

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、試験条件を複数のパラメータのパラメータ値の組み合わせによって表し、複数の試験条件の各々に対応する複数のパラメータ値の組み合わせを直交表に割り付けて試験の実行順序を決定する試験手順決定装置であって、各々のパラメータについて、取り得るパラメータ値を一巡させる最小所要時間を算出する所要時間算出手段と、所要時間算出手段の算出結果に基づいて、パラメータ値の変更に要する時間の総和が最小となるように、各パラメータのパラメータ値の変更順序を決定するパラメータ値変更順序決定手段と、パラメータ値変更順序決定手段が決定した変更順序に従って各パラメータのパラメータ値を直交表に割り付けるパラメータ値割付手段とを有することを特徴とする。

本発明によれば、試験条件の遷移時間の総和が小さくなるように直交表にパラメータを割り付けることができるため、試験時間の短縮を図れるという効果を奏する。

図１は、実施の形態に係る試験手順決定装置の構成を示す図である。図２は、各パラメータが取り得るパラメータ値の一例を示す図である。図３は、各パラメータの変更に要する時間を示す図である。図４は、試験手順決定動作の流れを示すフローチャートである。図５は、従来の方法によってパラメータ値を割り付けた直交表の一例を示す図である。図６は、実施の形態に係る試験手順決定装置がパラメータ値を割り付けた直交表の一例を示す図である。

以下に、本発明にかかる試験手順決定装置の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。

実施の形態．
図１は、本発明の実施の形態に係る試験手順決定装置の構成を示す図である。試験手順決定装置は、直交表２、パラメータ値一覧記憶部１、パラメータ変更条件記憶部３、パラメータ値変更時間取得部１１、パラメータ値変更順序決定部１２、及びパラメータ割付部１３を有する。

直交表２の各行が一項目の試験に対応し、各パラメータが取るパラメータ値一つずつの組み合わせが一項目の試験条件として指定される。

図２は、各パラメータが取り得るパラメータ値の一例を示す図である。図示する例では３種類のパラメータＡ、Ｂ、Ｃを組み合わせて試験するものとする。図３は、各パラメータの変更に要する時間を示す図である。各パラメータ値は、図３に示す「前」の値から「後」の値へ変更する場合に、同じ行に示す変更時間を要して切り替えられるとする。なお、図３に示されていない順序（ａ２→ａ１など）でのパラメータの変更は行うことはできず、このような順序でパラメータを変更する必要がある場合には図示されている順序での変更を連続して行う（ａ２→ａ３→ａ１など）ことによって実現するものとする。

試験手順決定装置の動作について説明する。図４は、試験手順決定動作の流れを示すフローチャートである。ここでは、任意の２パラメータ間でパラメータ値の組み合わせが全て同じ回数出現するように、図３に示す特性を持つパラメータ値を直交表２に割り付けることを考える。ここではＬ_９の直交表２にパラメータ値を割り付けるものとする。図２に示したように、パラメータＡ、Ｂ、Ｃはそれぞれ、３水準であるため、Ｌ_９の直交表に割り付けられるパラメータの組み合わせは全組み合わせよりも少数となる。

まず、パラメータ値変更時間取得部１１は、パラメータ値一覧記憶部１から各パラメータが取り得る値を、パラメータ変更条件記憶部３からパラメータ値を変更するのに必要な時間（図３に示す情報）をそれぞれ取得する（ステップＳ１）。

次に、パラメータ値変更順序決定部１２は、第１パラメータから第ｎパラメータまでのｎ個のパラメータの序列を決定する。また、パラメータ値変更順序決定部１２は、第１〜第ｎパラメータの各々について、試験すべき全てのパラメータ値に順次変更する際に、パラメータ値を変更させる順序を決定する（ステップＳ２）。ここで、ｎはパラメータの総数を示す。この際、パラメータ値変更順序決定部１２は、パラメータ値を一巡させる最小の変更時間をパラメータごとに求める。パラメータ値変更順序決定部１２は、パラメータ値を一巡させる最小の変更時間が最大となるパラメータを、第１パラメータとする。

例えば、パラメータＣについては、ｃ２→ｃ３→ｃ１の順に変更することで、パラメータ値を一巡させる変更時間は最小となり、その値は２０分となる。パラメータ値を一巡させる最小の変更時間を求めるにあたっては、ステップＳ１で取得した図３に示した表を参照し、変更時間が最大となるｃ１→ｃ２の変更を回避し、それ以外の変更を経て全てのパラメータを変更する順序での変更時間の中から最小となる変更時間を求めればよい。

同様に、パラメータ値を一巡させる最小の変更時間は、パラメータＡでは３分、パラメータＢでは７分となる。この結果、パラメータ値を一巡させる最小の変更時間が最も大きいパラメータはパラメータＣであるため、パラメータ値変更順序決定部１２はパラメータＣを第１パラメータとして決定する。また、第１パラメータの値変更順序を、ｃ２→ｃ３→ｃ１と決定する。

次にパラメータ値変更順序決定部１２は、第１パラメータを除いた各パラメータについて、全てのパラメータ値を一巡して元に戻る際の最小変更時間を求める。パラメータ値変更順序決定部１２は、このようにして求めた最小変更時間が最大となるパラメータを第２パラメータとする。そして、パラメータ値変更順序決定部１２は、第２パラメータの全てのパラメータ値を一巡して元のパラメータ値に戻る時間が最小となる変更順序において、変更時間が最大となる変更後のパラメータ値から開始し、全てのパラメータ値を一巡する順序を一つ選び、それを第２パラメータの値変更順序とする。例えば、第１パラメータとして決定したパラメータＣを除いたパラメータＡ、パラメータＢに関して、全てのパラメータ値を一巡して元のパラメータ値に戻る際の最小の変更時間は、パラメータＡは５分、パラメータＢは１４分である。そこで、パラメータ値変更順序決定部１２は、全てのパラメータ値を一巡して元のパラメータ値に戻る際の最小の変更時間が最大のパラメータＢを第２パラメータとする。このとき、パラメータＢの全てのパラメータ値を一巡して元のパラメータ値に戻る時間が最小となる変更順序において、最大変更時間についての変更後のパラメータ値ｂ２から開始し、全てのパラメータ値を一巡する順序として、パラメータ値変更順序決定部１２は、ｂ２→ｂ３→ｂ１と決定する。

同様にして、第３パラメータから第ｎパラメータまで、各々の変更順序を求める。ここでは、パラメータ値変更順序決定部１２は、第１パラメータとして決定したパラメータＣ、第２パラメータとして決定したパラメータＢを除いたパラメータＡを第３パラメータとする。このとき、パラメータＡの全てのパラメータ値を一巡して元のパラメータ値に戻る時間が最小となる変更順序において、変更時間が最大の２分となる変更後のパラメータ値ａ２又はａ３から開始し、全てのパラメータ値を一巡する順序として、ａ２→ａ３→ａ１及びａ３→ａ１→ａ２が得られる。パラメータ値変更順序決定部１２は、ａ２→ａ３→ａ１を第３パラメータの値変更順序と決定する。

その後、パラメータ割付部１３は直交表２にパラメータ値を割り付ける（ステップＳ３）。ここでは９行の（Ｌ_９の）直交表２にパラメータ値を割り付けることを想定しているため、パラメータ割付部１３は、まず左端の列に第１パラメータの値を３個ずつ割り付ける。この際、第１パラメータの値変更順序に従って割り付ける。すなわち、第１パラメータはパラメータ値が一巡して元の値に戻ることがないようにＮｏ．１〜Ｎｏ．３はｃ２、Ｎｏ．４〜Ｎｏ．６はｃ３、Ｎｏ．７〜Ｎｏ．９はｃ１を割り付ける。

次に、パラメータ割付部１３は、第２パラメータの値を、第１パラメータの右隣の列に値変更順序ｂ２→ｂ３→ｂ１に従って割り付ける。ここで、第１パラメータと第２パラメータとの直交性を保つために、第２パラメータのパラメータ値は一つずつ割り付ける。この際、二巡目では、一巡目の最後のパラメータ値であるｂ１から割り付けを開始することによって、第２パラメータの値が変化することによって試験時間が増加するのを抑制する。ただし、第２パラメータ以降のパラメータを割り付ける際には、二巡目以降については既に割り付けたパラメータとの組み合わせが重複しない（直交性が損なわれない）ように、必要に応じて各巡目での割り付けの開始パラメータを変更する。すなわち、二巡目として、Ｎｏ．４〜Ｎｏ．６にはｂ１、ｂ２、ｂ３を割り付ける。三巡目も同様に、二巡目の最後のパラメータ値（ｂ３）から割り付けを開始する。ここではパラメータの組み合わせに重複は生じないため、各巡目で割り付け開始パラメータの変更は行っていない。

次に、パラメータ割付部１３は、第３パラメータの値を、第２パラメータの右隣の列に値変更順序ａ２→ａ３→ａ１に従って１個ずつ割り付ける。この際、第２パラメータと同様に、二巡目以降では、前の巡目の最後のパラメータ値から割り付けを開始することによって、第３パラメータの値が変化することによって試験時間の増加の抑制を試みる。しかし、ここでは二巡目でＮｏ．４〜Ｎｏ６にａ１、ａ２、ａ３を割り付けると、一巡目での第２パラメータと第３パラメータとの組み合わせと重複して直交性が損なわれてしまうため、第３パラメータはａ２から割り付けを開始し、ａ２、ａ３、ａ１をＮｏ．４〜Ｎｏ．６に割り付けることによって、パラメータの組み合わせの重複を回避する。同様の理由により、三巡目ではａ２、ａ３、ａ１をＮｏ．７〜Ｎｏ．９に割り付ける。

図５は、従来の方法によってパラメータ値を割り付けた直交表の一例を示す図である。パラメータＣのパラメータ値が一巡するごとにパラメータＢのパラメータ値を変化させ、パラメータＢのパラメータ値が一巡するごとにパラメータＡのパラメータ値を変化させるようにパラメータ値が割り付けられている。この直交表に従う場合、Ｎｏ．１の試験条件（すなわちＡの値がａ１、Ｂの値がｂ１、Ｃの値がｃ１）で試験を実施し、その試験の完了後にＮｏ．２の状態（すなわちＡの値がａ１、Ｂの値がｂ２、Ｃの値がｃ２）に遷移させる。このためにはＢの値をｂ１からｂ２に、Ｃの値をｃ１からｃ２にそれぞれ変更する必要があり、この遷移には、図３に示したようにそれぞれ７分、４０分を要する。このため、図５のＮｏ．２の行の「前のＮｏ．からの遷移時間」の列の値は７＋４０となっている、これは、Ｎｏ．１からＮｏ．２への遷移には４７分を要することを表している。なお、図５においては、試験条件を遷移させるために変更したパラメータに下線を付して明示している。例えば、Ｎｏ．１→Ｎｏ．２の試験条件の遷移の際には、パラメータＢがｂ１→ｂ２に、パラメータＣがｃ１→ｃ２にそれぞれ変化するため、Ｎｏ．２のｂ２及びｃ２に下線が付されている。Ｎｏ．１からＮｏ．９の全試験を完了するまでに必要となる遷移時間の合計を求めると１６４分となる。

図６は、本実施の形態に係る試験手順決定装置がパラメータ値を割り付けた直交表２の一例を示す図である。なお、図６においても、試験条件を遷移させるために変更したパラメータに下線を付して明示している。直交表２に従って試験を行う場合、遷移時間の合計は６１分となる。従って、図５に示した手順よりも試験に要する時間を１０３分短縮できる。

このように、本実施の形態に係る試験手順決定装置は、パラメータ値変更順序決定部でパラメータを取り得る全てのパラメータ値に順次変更する際に、各パラメータ値を変更する時間の合計が最小となるパラメータの変更順序を決定し、パラメータ割付部において、試験条件の遷移時間の総和が小さくなるように各パラメータを直交表に割り付けるため、試験の実施に要する時間が短くなるように直交表を作成できる。すなわち、パラメータ値を一巡させる最小の変更時間が大きいパラメータほど、パラメータ値が一巡する回数を少なくすることによって、試験の実施に要する時間が短くなるように直交表を作成できる。

以上のように、本発明に係る試験手順決定装置は、試験条件の遷移に要する時間を短縮できる点で有用であり、特に、変更に要する時間の差が大きいパラメータ値を含むパラメータを直交表に割り付けるのに適している。

１パラメータ値一覧記憶部
２直交表
３パラメータ変更条件記憶部
１１パラメータ値変更時間取得部
１２パラメータ値変更順序決定部
１３パラメータ割付部

Claims

試験条件を複数のパラメータのパラメータ値の組み合わせによって表し、複数の試験条件の各々に対応する複数のパラメータ値の組み合わせを直交表に割り付けて試験の実行順序を決定する試験手順決定装置であって、
各々のパラメータについて、取り得るパラメータ値を一巡させる最小所要時間を算出する所要時間算出手段と、
前記所要時間算出手段の算出結果に基づいて、前記パラメータ値の変更に要する時間の総和が最小となるように、前記各パラメータのパラメータ値の変更順序を決定するパラメータ値変更順序決定手段と、
前記パラメータ値変更順序決定手段が決定した変更順序に従って前記各パラメータのパラメータ値を前記直交表に割り付けるパラメータ値割付手段とを有することを特徴とする試験手順決定装置。
前記パラメータ値割付手段は、取り得るパラメータ値を一巡させる最小所要時間が長いパラメータほどパラメータ値の変更回数が少なくなるように、前記パラメータ値を前記直交表に割り付けることを特徴とする請求項１記載の試験手順決定装置。
前記パラメータ値割付手段は、取り得るパラメータ値を一巡したパラメータを、直前のパラメータ値から開始して前記変更順序に従った順序で変更するようにパラメータ値を前記直交表に割り付けることを特徴とする請求項１又は２記載の試験手順決定装置。
前記パラメータ値割付手段は、割付済みのパラメータのパラメータ値との直交性を損なわないようにパラメータ値を前記直交表に割り付けることを特徴とする請求項３記載の試験手順決定装置。