JP7117253B2 - パラメータ設定支援装置、パラメータ設定支援方法及びプログラム - Google Patents

Description

本発明は、パラメータ設定支援装置、パラメータ設定支援方法及びプログラムに関する。

一般に、受注生産品の設計において、設計者は、要求仕様を必須条件として守る上で、多数の製品パラメータの値を決めなければならない。近年、多数の製品パラメータ間のトレードオフに着目し、最適化の結果からパレート解のうち一つを選択する手法が用いられている。パレート解とは「優劣が付けられない解」の集合のことであり、ある目的関数を改善しようとした場合に、他の目的関数の値が悪化してしまう関係にある解である。

特許文献１には、設計支援装置は、顧客要求仕様を受信する顧客要求仕様入力部と、製品に関する複数の解析結果を生成するシミュレーション部と、顧客要求仕様を満足する解析結果を抽出し設計案候補を生成する設計案候補生成部と、顧客の満足度を入力する顧客満足度入力部と、顧客満足度から製品パラメータの重要度を推定する製品パラメータ重要度推定部と、最適な設計案を探索する最適設計案探索部と、複数のパレート解から最適な設計案を決定する最適設計案決定部とを有する設計支援装置が開示されている。

特開２０１７－１４６８８８号公報

しかし、制御ソフトウェアの開発においては、設計時に設定したパラメータでは要求仕様を満たせなくなる場合がある。制御ソフトウェアの開発においては、シミュレータを用いた試験、装置の一部の部品を組み合わせた試験、装置全体を用いた試験、など複数の試験フェーズを実施することが多い。

試験のフェーズが進むごとに組み合わせる部品や装置の計画値とのズレが生じることがあるため、試験フェーズが進むことでパラメータ調整を行う必要が生じることがある。

特許文献１に開示された技術を含む一般的な制御ソフトウェアの開発においては、試験フェーズが進むことによるパラメータの調整を考慮することが少ないため、例えば試験が最終フェーズまで進んだときに、要求仕様を満たすために前試験フェーズのパラメータとは異なる設定値を設定することが生じうる。このため、ソフトウェアが問題なく動作することを確認するために、前試験フェーズから試験をやり直す手戻りが発生する可能性がある。

本発明は上記の課題に鑑みてなされたもので、試験の手戻りを極力なくすことが可能なパラメータ設定支援装置、パラメータ設定支援方法及びプログラムを提供することにある。

上記課題を解決すべく、本発明の一つの観点に従うパラメータ設定支援装置は、複数のパラメータからなるパラメータセットと、パラメータセットの設定値における要求仕様とが格納されたパラメータ格納部と、制御ソフトウェアの要求仕様の入力を受け入れる要求仕様入力部と、入力を受け入れた要求仕様に基づいて、パラメータ格納部に格納されたパラメータを解析するパラメータ解析部と、試験した結果により設定値が変更される可能性があるパラメータとこのパラメータの設定値の変更によって影響を受けた要求仕様との組からなる環境変化影響度が格納された環境変化影響度格納部と、パラメータ解析部が解析したパラメータと、環境変化影響度格納部に格納された環境変化影響度とに基づいて、試験で用いる複数のパラメータセットを生成するパラメータ生成部と、複数のパラメータセットに対する変更値の入力を受け入れる環境入力部と、入力を受け入れた変更値と環境変化影響度とに基づいて、変更により影響を受ける要求仕様を抽出する要求仕様抽出部と、要求仕様抽出部が抽出した要求仕様に基づいて、パラメータ格納部から調整すべき複数のパラメータセットを抽出するパラメータセット抽出部と、パラメータセット抽出部が抽出したパラメータセットを用いて試験した試験結果の入力を受け入れる試験結果入力部と、入力を受け入れた試験結果と、要求仕様入力部により受け入れられた要求仕様とに基づいて、最適なパラメータセットを選択する最適パラメータセット選択部とを有する。

本発明によれば、試験の手戻りを極力なくすことが可能なパラメータ設定支援装置、パラメータ設定支援方法及びプログラムを実現することができる。

実施例に係るパラメータ設定支援装置を示す概略構成図である。 実施例に係るパラメータ設定支援方法のフローチャートである。 実施例に係る要求仕様格納部を示す構成図である。 実施例に係るパラメータ解析部を示す概略構成図である。 実施例に係るパラメータ格納部を示す図である。 実施例に係る解析結果格納部を示す図である。 実施例に係る環境変化影響度格納部を示す図である。 実施例に係るパラメータ生成部を示す概略構成図である。 実施例に係るパラメータ候補格納部を示す図である。 実施例に係る環境格納部を示す図である。 実施例に係るパラメータセット抽出部を示す概略構成図である。 実施例に係る最適パラメータセット選択部を示す概略構成図である。

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、以下に説明する実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている諸要素及びその組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。

本発明の実施形態であるパラメータ設定支援装置は、鉄道インバータソフトウェアのパラメータの設定を支援する装置に適用したものである。当然、本発明のパラメータ設定支援装置の適用範囲はこの実施形態及び後述する実施例に限定されない。

図１は、実施例に係るパラメータ設定支援装置２０を示す構成図である。

パラメータ設定支援装置２０は、記憶部２１、処理部２２及び入出力部２３を有する。パラメータ設定支援装置２０は各種情報処理が可能な装置から構成されることが好ましい。一例として、パラメータ設定支援装置２０はコンピュータ等の情報処理装置から構成される。

記憶部２１は、データやプログラムを格納する。記憶部２１は、例えばＨＤＤ（Hard Disk Drive）などの磁気記憶媒体、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＳＳＤ（Solid State Drive）などの半導体記憶媒体から構成される。また、ＤＶＤ（Digital Versatile Disk）等の光ディスク及び光ディスクドライブの組み合わせも記憶部２１として用いられる。その他、磁気テープメディアなどの公知の記憶媒体も記憶部２１として用いられる。

記憶部２１は、環境変化影響度格納部Ｄ２０１、解析結果格納部Ｄ２０２、環境格納部Ｄ２０３、パラメータ候補格納部Ｄ２０４、パラメータ格納部Ｄ２０５、要求仕様格納部Ｄ２０６を有する。

処理部２２は、記憶部２１に格納されたプログラムを実行する。処理部２２は、例えば、各種情報処理が可能なＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）等の演算素子から構成される。例えば、処理部２２は、入出力部２３から取得したデータを記憶部２１に格納する、記憶部２１に格納されたデータを処理して結果を記憶部２１に格納する、記憶部２１に格納されたデータを入出力部２３に出力するなどの処理を実行する。

記憶部２１にはファームウェア等の図略のプログラムが格納されている。パラメータ設定支援装置２０の電源が投入されると、処理部２２は記憶部２１に格納されているファームウェア等を読み込んで実行し、パラメータ設定支援装置２０全体の動作制御を行うとともに、後述する各機能部に示す機能を実行する。

処理部２２は、パラメータ解析部２０１、パラメータ生成部２０２、要求仕様抽出部２０３、パラメータセット抽出部２０４、パラメータセット選択部２０５、最適パラメータセット選択部２０６を備える。入出力部２３は、環境入力部２０７、要求仕様選択部２０８、パラメータ出力部２０９、試験結果入力部２１０、要求仕様入力部２１１を有する。

入出力部２３は、パラメータ設定支援装置２０のユーザからの入出力を受け付ける。入出力部２３は、例えばキーボード、マウス等の入力機器及び液晶ディスプレイ等の表示画面を有する出力機器の組み合わせから構成される。あるいは、いわゆるスマートフォン、タブレット機器のような一台で入出力が可能な装置から構成される。

例えば、入出力部２３は、記憶部２１に記録されているデータの作成や変更に必要な情報の入力を受け付け、作成や変更の完了及び対策推薦結果を表示画面に出力する。入出力部２３で実施される入出力処理は、別の装置に設置された入出力部から処理を実行してもよい。

入出力部２３は、環境入力部２０７、要求仕様選択部２０８、パラメータ出力部２０９、試験結果入力部２１０、要求仕様入力部２１１を有する。

これら記憶部２１、処理部２２及び入出力部２３が有する各機能実現部の詳細な構成及び動作については後に詳述する。

次に、本実施例のパラメータ設定支援装置２０により実行される一連の処理手順について、図２を参照しながら説明する。

図２は、本実施例に係るパラメータ設定支援装置２０により実行されるパラメータ設定支援方法のフローチャートである。

まず、入出力部２３は、要求仕様入力部２１１により、制御ソフトウェアに対する要求仕様を入力し、要求仕様を要求仕様格納部Ｄ２０６に格納する（ステップ１０２）。

要求仕様入力部２１１は、制御ソフトウェアの要求仕様の入力を受け付ける。

図３は、本実施例に係る要求仕様格納部Ｄ２０６を示す構成図である。図３に示すように、要求仕様は２つの要素を有する。すなわち、要求仕様の名称と、要求仕様の範囲である。例えば、車両の加速度を３．０[km/h/s]以下にしたいという要求仕様がある場合、要求仕様の名称は“加速度”であり、要求仕様の範囲は“３．０以下”である。要求仕様入力部２１１は、入力された要求仕様を、要求仕様格納部Ｄ２０６に格納する。

なお、図３に示す要求仕様の範囲は上限または下限のいずれか一方のみであるが、上限及び下限の組み合わせからなる範囲であってもよい。

図２に戻って、パラメータ解析部２０１は、パラメータ格納部Ｄ２０５からパラメータセットとこのパラメータセットの設定値における要求仕様とを読み出し、制御ソフトウェアの試験が進む中で変更可能性のある要求仕様を解析し、この要求仕様を満たすために調整が効果的なパラメータを解析する。そして、パラメータ解析部２０１は、得られた解析結果を、解析結果格納部Ｄ２０２に格納する（ステップ１０３）。

図４は、本実施例に係るパラメータ解析部２０１を示す概略構成図である。

パラメータ解析部２０１は、環境変化影響度解析部４０１と多変量解析実行部４０２とを有する。

環境変化影響度解析部４０１は、パラメータ格納部Ｄ２０５に格納されている過去のパラメータセットとこのパラメータセットの設定値における要求仕様とを読み出す。そして、環境変化影響度解析部４０１は、読み出したパラメータセットと要求仕様とから、試験フェーズの間で変更可能性のあるパラメータと、それらのパラメータの設定値を変更することによって影響を受けた要求仕様のセットを全て選択し、これらを環境変化影響度として環境変化影響度格納部Ｄ２０１に格納する。

多変量解析実行部４０２は、パラメータ格納部Ｄ２０５に格納されている過去の各案件のパラメータセットとこのパラメータセットの設定値における要求仕様とを読み出す。次いで、多変量解析実行部４０２は、読み出したパラメータセットと要求仕様とに関して重回帰分析を行い、各要求仕様に関する標準回帰係数を導出し、各要求仕様に関して最も関係性の高いパラメータを解析する。さらに、多変量解析実行部４０２は解析結果４０３を生成し、この解析結果４０３を解析結果格納部Ｄ２０２に格納する。

図５は、本実施例に係るパラメータ格納部Ｄ２０５を示す図である。

パラメータ格納部Ｄ２０５は、過去に設定された案件ごとのパラメータセット、各パラメータセットの設定値における要求仕様（例えば、加速度、乗り心地等）、及び試験フェーズ番号が含まれている。

図６は、本実施例に係る解析結果格納部Ｄ２０２を示す図である。解析結果格納部Ｄ２０２は解析結果を有し、各解析結果は、要求仕様（例えば、加速度、乗り心地等）、要求仕様に対して調整が有効なパラメータを有する。

図７は、実施例に係る環境変化影響度格納部Ｄ２０１を示す図である。

環境変化影響度格納部Ｄ２０１は、環境変化影響度として、各試験フェーズで変更可能性のあるパラメータ（例えば、車体重量）と、パラメータの変更範囲（例えば、車体重量が４０～４０．５[t]）と、変更により影響がある要求仕様の名称(例えば、乗り心地、空転検知遅れ時間等)とを有する。

各試験フェーズで変更可能性があるパラメータとしては、制御対象のハードウェアに関するパラメータの変更、使用する部品の仕様変更に関するパラメータの変更、要求仕様の変更に伴うパラメータ変更等が含まれるが、以下、ハードウェアパラメータに関する変更を例として説明する。

このように、本実施例のパラメータ設定支援装置２０のパラメータ解析部２０１は、試験フェーズの間で変更可能性のあるパラメータと、そのパラメータによって影響を受ける要求仕様を解析するので、試験フェーズで変更があった際は、パラメータ調整によって向上させるべき要求仕様を選択することが可能となる。また、パラメータ解析部２０１は、要求仕様に対して調整が有効であるパラメータを解析するので、環境変化が起きた際は、要求仕様を満たすよう各要求仕様に対して最も有効なパラメータでの調整が可能となる。

なお、実施例のパラメータ格納部Ｄ２０５では、制御対象となる鉄道インバータのソフトウェア内で扱うパラメータを格納しているが、車両内の他装置のパラメータを含めて格納し、考慮することにより、１つの制御ソフトウェア内のパラメータ設定だけで要求仕様を満たせない場合にも、要求仕様を満たしたパラメータ設定が可能である。

図２に戻って、パラメータ生成部２０２は、パラメータ格納部Ｄ２０５から過去のパラメータセットのパラメータの設定値を読み出し、このパラメータの設定値からパラメータ設定値の候補を生成する。次いで、パラメータ生成部２０２は、環境変化影響度格納部Ｄ２０１に格納された環境変化影響度と解析結果格納部Ｄ２０２に格納された解析結果とから、環境変化により調整を行うパラメータを調整要素として直交表を生成する（ステップ１０４）。

次いで、パラメータ生成部２０２は、ステップ１０４で生成した直交表をパラメータ候補格納部Ｄ２０４に格納する（ステップ１０５）。

図８は、本実施例に係るパラメータ生成部２０２を示す概略構成図である。パラメータ生成部２０２は、パラメータ値候補生成部７０１と、環境変化影響度抽出部７０２と、直交表生成部７０３とを有する。

パラメータ値候補生成部７０１は、パラメータ格納部Ｄ２０５に格納されている過去のパラメータセットのパラメータの設定値から各パラメータのヒストグラムを生成し、頻度が高い順にパラメータの設定値の候補にする。ヒストグラムの範囲の決め方は、例えばスタージェスの公式などの多くの公知・周知の方法があり、それぞれの教科書等を参照されたい。

環境変化影響度抽出部７０２は、環境変化影響度格納部Ｄ２０１に格納されている環境変化影響度である、変更可能性のあるハードウェアパラメータと影響を受ける要求仕様とを読み出す。

直交表生成部７０３は、環境変化影響度抽出部７０２で読み出した影響を受ける要求仕様と、解析結果格納部Ｄ２０２から読み出した解析結果とから、試験フェーズごとに調整を行うパラメータを抽出し、直交表を生成する。すなわち、直交表生成部７０３は、最終試験フェーズで調整を行うパラメータの組み合わせから順に直交表を生成し、前試験フェーズで調整を行うパラメータの組み合わせで生成した直交表に後試験フェーズで調整を行う直交表を１列の各行に追加する処理を行う。従って、直交表生成部７０３は、Ｎ（試験のフェーズ数）次元の直交表を生成結果７０４として生成し、直交表の各パラメータセットを全試験フェーズ分コピーしてパラメータ候補格納部Ｄ２０４に格納する。

なお、直交表生成部７０３により直交表を生成せずに、全てのパラメータセットをパラメータ候補格納部Ｄ２０４に格納して後のパラメータセット選択動作を行うことも可能であるが、直交表生成部７０３により直交表を生成して現実的なパラメータセットの数に削減することで、パラメータセットの選択動作を合理的な規模に抑えることができる。

図９は、本実施例に係るパラメータ候補格納部Ｄ２０４を示す図である。

パラメータ候補格納部Ｄ２０４は、各試験フェーズのパラメータセットの設定値の候補と、パラメータセットの設定値の候補の試験結果である要求仕様（パラメータ候補生成時点では値無し）とを有する。

このように、本実施例のパラメータ設定支援装置２０のパラメータ生成部２０２は、パラメータを各試験フェーズで調整できるような複数のパラメータセットを生成するので、後試験フェーズで調整が必要になるパラメータを前試験フェーズで試験し、環境が変化しパラメータ調整が必要になった場合には、パラメータを前試験フェーズで試験した中から選択することで、前試験フェーズへの手戻りを無くすことが可能となる。

図２に戻って、環境入力部２０７は、複数のパラメータセットに対する変更値の入力を受け入れる（ステップ１０６）。より詳細には、環境入力部２０７は、各試験フェーズのハードウェア環境の入力を受け入れ、受け入れたハードウェア環境を環境格納部Ｄ２０３に格納する。

図１０は、本実施例に係る環境格納部Ｄ２０３を示す図である。環境格納部Ｄ２０３は、ハードウェア要素の名称（例えば、車体重量）と、ハードウェア要素の計画値（例えば、車体重量が４０[t]）と、変更値（例えば、車体重量が４０．３[t]に変更）とを有する。

図２に戻って、要求仕様抽出部２０３は、環境格納部Ｄ２０３及び環境変化影響度格納部Ｄ２０１に格納されているパラメータ等から、ハードウェア環境の変化により影響を受ける要求仕様を抽出する（ステップ１０７）。要求仕様の抽出は、環境格納部Ｄ２０３に格納されているハードウェア要素の中で変更値が存在するハードウェア要素を用いて、環境変化影響度格納部Ｄ２０１に格納されている変更可能性のあるパラメータを検索し、その変更に対する影響を受ける要求仕様を抽出する。

次に、要求仕様選択部２０８は、ステップ１０７で要求仕様抽出部２０３が抽出した要求仕様を出力し、調整対象とする要求仕様の選択入力を受け入れる（ステップ１０８）。なお、選択する要求仕様は複数でも良いが、最も重要視する要求仕様をはじめに入力する。

次に、パラメータセット抽出部２０４は、後試験フェーズで調整するパラメータ及び現試験フェーズで調整するパラメータのみを調整要素として、パラメータセットの候補を取り出す（ステップ１０９）。

図１１は、本実施例に係るパラメータセット抽出部２０４を示す概略構成図である。パラメータセット抽出部２０４は、有効パラメータ抽出部１１０１、パラメータセット候補抽出部１１０２と、を備える。

有効パラメータ抽出部１１０１は、要求仕様選択部２０８で選択された要求仕様に基づいて、解析結果格納部Ｄ２０２の対応するパラメータを抽出する。

パラメータセット候補抽出部１１０２は、パラメータ候補格納部Ｄ２０４から、有効パラメータ抽出部１１０１で抽出されたパラメータと、後試験フェーズで調整するパラメータとを抽出して、パラメータセットの候補であるパラメータ候補１１０３を生成する。

図２に戻って、パラメータセット選択部２０５は、ステップ１０９においてパラメータセット抽出部２０４が抽出したパラメータセットの個別選択入力を受け入れる（ステップ１１０）。なお、図２に示すように、パラメータセット抽出部２０４で抽出されたパラメータセットの試験結果を全て入力するまで、パラメータセット選択部２０５はパラメータセットの選択入力を受け入れる（ステップ１１０～ステップ１１４）。

次いで、パラメータ出力部２０９は、ステップ１１０においてパラメータセット選択部２０５が選択入力を受け入れたパラメータセットをソフトウェアに出力する（ステップ１１１）。

次いで、試験結果入力部２１０は、ステップ１１１で出力されたパラメータセットの設定値で試験した試験結果の入力を受け入れ、パラメータ候補格納部Ｄ２０４の要求仕様に入力を受け入れた設定値を格納する（ステップ１１２）。

次いで、パラメータセット選択部２０５は、ステップ１１０で選択したパラメータセットが最後のパラメータセットであるか否かを判定し（ステップ１１３）、最後のパラメータセットでないと判定したら（ステップ１１３においてＮＯ）、ステップ１１４に進む。一方、最後のパラメータセットであると判定したら（ステップ１１３においてＹＥＳ）、ステップ１１５に進む。

ステップ１１４では、パラメータセット選択部２０５が次のパラメータセットの選択入力を受け入れ、ステップ１１０に戻る。

ステップ１１５では、最適パラメータセット選択部２０６が、パラメータ候補格納部Ｄ２０４のうち試験したパラメータセットをパラメータ格納部Ｄ２０５に格納し、さらに最適なパラメータセットを選択し、制御ソフトウェアのパラメータとしてパラメータ出力部２０９に出力し、記憶部２１に格納する。

図１２は、実施例に係る最適パラメータセット選択部２０６を示す概略構成図である。最適パラメータセット選択部２０６は、パラメータ蓄積部１２０１と、パレート解抽出部１２０２と、最終パラメータ選択部１２０３とを有する。

パラメータ蓄積部１２０１は、パラメータ候補格納部Ｄ２０４から、要求仕様が入力されている（つまり試験がされている）パラメータセットと要求仕様とを取り出し、パラメータ格納部Ｄ２０５に案件番号をつけて格納する。

パレート解抽出部１２０２は、パラメータ蓄積部１２０１で取り出したパラメータセットの要求仕様から、パレート解となるパラメータセットを抽出する。一般に、トレードオフ関係にある目的関数を複数もつ最適化問題はパレート解を形成する。本実施例においても、１つのパラメータセットを解として複数の要求仕様を目的関数とした場合に、目的関数はトレードオフの関係となり（例えば、加速度と乗り心地はトレードオフ）、従って、パラメータセットはパレート解を形成すると考えられるため、パレート解を取り出す。パレート解の取り出し方は、例えば非優越ソートなどの多くの公知・周知の方法があり、それぞれの教科書等を参照されたい。

最終パラメータ選択部１２０３は、パレート解抽出部１２０２で抽出したパラメータセットと、要求仕様格納部Ｄ２０６に格納された要求仕様とから、制御ソフトウェアの最終パラメータとするパラメータセットを一つ選択する。最終パラメータ選択部１２０３が行う、パレート解からの解の選択は、要求仕様格納部Ｄ２０６の要求仕様を満たすパレート解のうち、要求仕様選択部２０８で選択された最も重要視する要求仕様が最良のものを選択することにより行う。

なお、実施例の最終パラメータ選択部１２０３では、要求仕様格納部Ｄ２０６の要求仕様を満たすパレート解を選択しているが、要求を満たした数でパラメータセットをソートすることにより、要求仕様を満たせなかった場合には、設計再考慮のための最大限要求仕様を満たしたパラメータセットを選択することも可能である。

図２に戻って、最適パラメータセット選択部２０６は、試験のフェーズが進むのを待って、現在、最終の試験フェーズであるか否かを判定し（ステップ１１６）、最終の試験フェーズでないと判定したら（ステップ１１６においてＮＯ）、後試験フェーズの環境を入力するためにステップ１１７に進み、最終の試験フェーズであると判定したら（ステップ１１６においてＹＥＳ）、図２のフローチャートに示す動作を終了する。

ステップ１１７では、最適パラメータセット選択部２０６が試験フェーズを進め、後試験フェーズの環境を入力するように、ステップ１０６に戻る。

このように構成される本実施例によれば、パラメータ解析部２０１が、試験フェーズの間で変更可能性のあるパラメータと、そのパラメータによって影響を受ける要求仕様を解析するので、試験フェーズで変更があった際は、パラメータ調整によって向上させるべき要求仕様を選択することが可能となる。

また、パラメータ解析部２０１が、要求仕様に対して調整が有効であるパラメータを解析するので、環境変化が起きた際は、要求仕様を満たすよう各要求仕様に対して最も有効なパラメータでの調整が可能となる。

さらに、パラメータ生成部２０２が、パラメータを各試験フェーズで調整できるような複数のパラメータセットを生成するので、後試験フェーズで調整が必要になるパラメータを前試験フェーズで試験し、環境が変化しパラメータ調整が必要になった場合には、パラメータを前試験フェーズで試験した中から選択することで、前試験フェーズへの手戻りを無くすことが可能となる。

従って、本実施例によれば、要求仕様に対する調整が有効なパラメータと試験のフェーズに応じて調整されるパラメータを解析し、試験の手戻りが発生しないように、それらを試験のフェーズごとに調整するパラメータとしてパラメータセットを生成することができる。

この結果、試験の手戻りを極力なくすことが可能なパラメータ設定支援装置、パラメータ設定支援方法及びプログラムを実現することができる。

なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。

また、上記の各構成、機能、処理部、処理手段等は、それらの一部または全部を、例えば集積回路で設計する等によりハードウェアで実現してもよい。また、上記の各構成、機能等は、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリや、ハードディスク、ＳＳＤ等の記録装置、または、ＩＣカード、ＳＤカード、ＤＶＤ等の記録媒体に置くことができる。

また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。

２０１…パラメータ解析部、２０２…パラメータ生成部、２０３…要求仕様抽出部、２０４…パラメータセット抽出部、２０５…パラメータセット選択部、２０６…最適パラメータセット選択部、２０７…環境入力部、２０８…要求仕様選択部、２０９…パラメータ出力部、２１０…試験結果入力部、２１１…要求仕様入力部、Ｄ２０１…環境変化影響度格納部、Ｄ２０２…解析結果格納部、Ｄ２０３…環境格納部、Ｄ２０４…パラメータ候補格納部、Ｄ２０５…パラメータ格納部、Ｄ２０６…要求仕様格納部

Claims (9)

1. 複数のパラメータからなるパラメータセットと、前記パラメータセットの設定値における要求仕様とが格納されたパラメータ格納部と、
   制御ソフトウェアの前記要求仕様の入力を受け入れる要求仕様入力部と、
   入力を受け入れた前記要求仕様に基づいて、前記パラメータ格納部に格納された前記パラメータを解析するパラメータ解析部と、
   試験した結果により設定値が変更される可能性がある前記パラメータとこのパラメータの設定値の変更によって影響を受けた前記要求仕様との組からなる環境変化影響度が格納された環境変化影響度格納部と、
   前記パラメータ解析部が解析した前記パラメータと、前記環境変化影響度格納部に格納された前記環境変化影響度とに基づいて、試験で用いる複数の前記パラメータセットを生成するパラメータ生成部と、
   複数の前記パラメータセットに対する変更値の入力を受け入れる環境入力部と、
   入力を受け入れた前記変更値と前記環境変化影響度とに基づいて、変更により影響を受ける前記要求仕様を抽出する要求仕様抽出部と、
   前記要求仕様抽出部が抽出した前記要求仕様に基づいて、前記パラメータ格納部から調整すべき複数の前記パラメータセットを抽出するパラメータセット抽出部と、
   前記パラメータセット抽出部が抽出した前記パラメータセットを用いて試験した試験結果の入力を受け入れる試験結果入力部と、
   入力を受け入れた前記試験結果と、前記要求仕様入力部により受け入れられた前記要求仕様とに基づいて、最適な前記パラメータセットを選択する最適パラメータセット選択部と
   を有することを特徴とするパラメータ設定支援装置。
2. 前記パラメータ解析部は、多変量解析により前記要求仕様に対する標準偏回帰係数を導出することを特徴とする請求項１に記載のパラメータ設定支援装置。
3. 前記パラメータ生成部は、調整すべき前記パラメータと、調整すべき前記パラメータ以外の前記パラメータとで直交表を生成し、調整を行う前記パラメータ以外の組み合わせの直交表の一列の各行に、調整を行う前記パラメータの組み合わせの直交表を追加した直交表を生成し、生成した前記直交表の前記パラメータセットを試験で用いる複数の前記パラメータセットとすることを特徴とする請求項１に記載のパラメータ設定支援装置。
4. 前記最適パラメータセット選択部は、前記パラメータ生成部が生成した前記パラメータセットの前記要求仕様からパレート解となる複数の前記パラメータセットを抽出し、パレート解となる複数の前記パラメータセットから最適な前記パラメータセットを選択することを特徴とする請求項３に記載のパラメータ設定支援装置。
5. 前記パラメータ格納部には、既に設定された前記パラメータの設定値と、既に設定された前記パラメータの前記設定値に対する要求仕様とが格納されていることを特徴とする請求項１に記載のパラメータ設定支援装置。
6. 前記パラメータ解析部は、前記パラメータ格納部に格納された、既に設定された前記パラメータの設定値と既に設定された前記パラメータの前記設定値に対する前記要求仕様とに基づいて前記環境変化影響度を算出し、前記環境変化影響度格納部に格納することを特徴とする請求項１に記載のパラメータ設定支援装置。
7. 前記パラメータ生成部は、前記パラメータ格納部に格納されている前記パラメータセットの設定値に基づいて前記パラメータのヒストグラムを生成し、このヒストグラムに基づいて前記パラメータセットの設定値の候補にすることを特徴とする請求項１に記載のパラメータ設定支援装置。
8. 複数のパラメータからなるパラメータセットと、前記パラメータセットの設定値における要求仕様とが格納されたパラメータ格納部と、
   試験した結果により値が変更される可能性がある前記パラメータとこのパラメータの値の変更によって影響を受けた前記要求仕様との組からなる環境変化影響度が格納された環境変化影響度格納部と
   を有するパラメータ設定支援装置により実行されるパラメータ設定支援方法であって、
   制御ソフトウェアの要求仕様の入力を受け入れる要求仕様入力工程と、
   入力を受け入れた前記要求仕様に基づいて、前記パラメータ格納部に格納された前記パラメータを解析するパラメータ解析工程と、
   前記パラメータ解析工程において解析した前記パラメータと、前記環境変化影響度格納部に格納された前記環境変化影響度とに基づいて、試験で用いる複数のパラメータセットを生成するパラメータ生成工程と、
   複数の前記パラメータセットに対する変更値の入力を受け入れる環境入力工程と、
   入力を受け入れた前記変更値と前記環境変化影響度とに基づいて、変更により影響を受ける前記要求仕様を抽出する要求仕様抽出工程と、
   前記要求仕様抽出工程において抽出した前記要求仕様に対して、前記パラメータ格納部から調整すべき複数の前記パラメータセットを抽出するパラメータセット抽出工程と、
   前記パラメータセット抽出工程において抽出した前記パラメータセットを用いて試験した試験結果の入力を受け入れる試験結果入力工程と、
   入力を受け入れた前記試験結果と、前記要求仕様入力工程において受け入れた前記要求仕様とに基づいて、最適な前記パラメータセットを選択する最適パラメータセット選択工程と
   を有することを特徴とするパラメータ設定支援方法。
9. 複数のパラメータからなるパラメータセットと、前記パラメータセットの設定値における要求仕様とが格納されたパラメータ格納部と、
   試験した結果により値が変更される可能性がある前記パラメータとこのパラメータの値の変更によって影響を受けた前記要求仕様との組からなる環境変化影響度が格納された環境変化影響度格納部と
   を有するコンピュータにより実行されるコンピュータプログラムであって、
   制御ソフトウェアの要求仕様の入力を受け入れる要求仕様入力機能と、
   入力を受け入れた前記要求仕様に基づいて、前記パラメータ格納部に格納された前記パラメータを解析するパラメータ解析機能と、
   前記パラメータ解析機能により解析した前記パラメータと、前記環境変化影響度格納部に格納された前記環境変化影響度とに基づいて、試験で用いる複数のパラメータセットを生成するパラメータ生成機能と、
   複数の前記パラメータセットに対する変更値の入力を受け入れる環境入力機能と、
   入力を受け入れた前記変更値と前記環境変化影響度とに基づいて、変更により影響を受ける前記要求仕様を抽出する要求仕様抽出機能と、
   前記要求仕様抽出機能により抽出した前記要求仕様に対して、前記パラメータ格納部から調整すべき複数の前記パラメータセットを抽出するパラメータセット抽出機能と、
   前記パラメータセット抽出機能により抽出した前記パラメータセットを用いて試験した試験結果の入力を受け入れる試験結果入力機能と、
   入力を受け入れた前記試験結果と、前記要求仕様入力機能により受け入れた前記要求仕様とに基づいて、最適な前記パラメータセットを選択する最適パラメータセット選択機能と
   を実現させるコンピュータプログラム。

Images