JP5591914B2 - サプライレギュレートされたフェイズロックループ(pll)及び用いる方法 - Google Patents
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Description
ωD =gVCO/CD (1)
ここで、gVCO はノード145でのVCO150の実効トランスコンダクタンス(effective transconductance)を表し、CD はノード145でのプログラマブルデカップリングキャパシタアレイ160のキャパシタンスを表す。また、図1について示されたPLL100構成により、VCO150は以下のようにして表された形の発振周波数を有して構成され、
ωVCO =gVCO/CEFF (2)
ここで、CEFF はVCO150の実効キャパシタンス(effective capacitance)を表す。種々のVCO150構成が、式(2)について説明されるような発振周波数特性を示すように存在する。発明の範囲は、電圧制御発振器の任意の特定のタイプに限定されることを意図していない。
CD =N*CUNIT (3)
となるように設定され、ここで、CUNITは、デカップリングキャパシタアレイ160のキャパシタを製造するために選ばれたICプロセス技術に対して特徴付けられたユニットキャパシタンスを表す。この可変キャパシタンスCD は、プログラマブルキャパシタアレイ160内の複数のキャパシタの種々のもの(various ones)を選択及び接続するコーディング−デコーディング及びマルチプレックス回路のような制御ロジック回路(図示せず)によって、自動的に調整することができる。PLL100が、異なった乗算ファクタNで動作するようにリセットされたとき、それが典型的には異なったVCO150出力周波数信号ωVCO にリードする(lead)とき、制御ロジック回路は、N分周回路170の調整された乗算ファクタNにしたがって式(3)の可変キャパシタンスCD をリセットするであろう。一例として、リファレンス信号fREF の周波数が10MHz(ωREF =2πfREF )で、VCO150出力周波数信号fVCO の周波数が900MHz(ωVCO =2πfVCO )、すなわちN=90である、初期PLL100セットアップ(initial PLL 100 setup)において、CD は、90かけるCUNIT(90 times CUNIT)に設定される。PLL100が、同一のリファレンス信号、すなわちN=100、に応答して、1.0GHzのVCO150出力周波数信号fVCO を発生するようにリセットされたとき、CD は、100かけるCUNIT(100 times CUNIT)となるようにリセットされる。PLL100上のCD 及びNのリセットは、コモン制御ロジック回路によって同時に行われることができる。PLL100上のCD 及びNのリセットは、別々の制御ロジック回路によって順次に行われるかもしれない。
=gVCO/(ωVCO*CUNIT)=CREF/CUNIT (4)
PLL100の効果的な特徴は、少なくとも以下のように、式(4)から容易に認識される。第1に、リファレンス信号ωREF の周波数に対する高次ポール周波数ωD の比率が、N分周回路170の乗算ファクタから独立している。言い換えると、その周波数ロッキングレンジ内で、PLL100のループダイナミクス(loop dynamics)(例えば、ポール周波数)は、PLL100が異なった周波数帯間で動作するとき、リファレンス信号ωREF の周波数を常にトラックする(track)。その結果、PLL100の動作安定性は、極めて改善される。第2に、式(4)は、PLL内におけるリファレンス信号ωREF の周波数に対する高次ポール周波数ωD の比率が、ユニットキャパシタンスCUNITに対するVCO150実効キャパシタンスCEFF の比率に等しいことを示し、両者とも、他の回路/デバイスパラメータと比較したときに、PVT変動に極めて敏感ではない。結果として、PLL100の動作安定性は、進展したPLL構成に望まれるように、実質的にPVT変動の影響を受けない。
以下に、本願出願時の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
[1]電圧制御発振器(VCO)へのレギュレートされた制御電圧を発生するように構成されたサプライレギュレータであって、VCOが前記レギュレートされた制御電圧に応答してVCO出力周波数を発生するサプライレギュレータと、
前記VCO出力周波数の分周された部分を位相検出器にフィードバックするように構成され、Nの乗算ファクタ(multiplication factor of N)を有するN分周回路(divide-by-N circuit)と、
前記レギュレートされた制御電圧に結合され、キャパシタンスがNかけるCUNIT(N times CUNIT)に等しいデカップリングキャパシタであって、CUNITが前記デカップリングキャパシタンスを製造するために選ばれたプロセス技術に対して特徴付けられたユニットキャパシタンスを表すデカップリングキャパシタと、
を備えたフェイズロックループ(PLL)回路。
[2]前記VCOは、電流制御発振器を備え、前記VCO出力周波数は、前記電流制御発振器の実効キャパシタンスに対する前記電流制御発振器のトランスコンダクタンスの比率に等しい
[1]のPLL回路。
[3]前記VCOは、電圧−電流(V2I)回路を備え、前記V2I回路は、前記レギュレートされた制御電圧を前記電流制御発振器へのサプライ電流に変換する
[1]のPLL回路。
[4]前記電流制御発振器は、リングオシレータである
[3]のPLL回路。
[5]前記N分周回路の乗算ファクタNは、整数及びフラクショナル数(fractional number)からなるグループから選択される
[1]のPLL回路。
[6]前記デカップリングキャパシタは、プログラマブルキャパシタアレイを備え、前記プログラマブルキャパシタアレイのキャパシタンスは、前記プログラマブルキャパシタアレイの複数のキャパシタの少なくとも1つを選択的に接続することによって設定される
[1]のPLL回路。
[7]前記サプライレギュレータは、演算増幅器(op−amp)及びPMOSFETを備え、前記op−ampは、ループフィルタからの制御電圧信号に結合された第1の入力と、前記PMOSFETのゲートに結合された出力と、前記PMOSFETのドレインに結合された第2の入力とを有し、前記レギュレートされた制御電圧は、前記PMOSFETのドレインに与えられる
[1]のPLL回路。
[8]第1のノードでレギュレートされたサプライ電圧を発生するように構成されたサプライレギュレートされたループと、
前記レギュレートされたサプライ電圧に応答して、第2のノードで制御電流を発生するように構成された電圧−電流ユニットと、
前記制御電流に応答して、出力周波数信号を発生するように構成された電流制御発振器と、
前記出力周波数信号の分周された部分を位相検出器にフィードバックするように構成され、Nの乗算ファクタ(multiplication factor of N)を有するN分周回路(divide-by-N circuit)と、
前記第2のノードとグラウンドとの間に結合され、キャパシタンスがNかけるCUNIT(N times CUNIT)に等しいデカップリングキャパシタであって、CUNITが前記デカップリングキャパシタンスを製造するために選ばれたプロセス技術に対して特徴付けられたユニットキャパシタンスを表すデカップリングキャパシタと、
を備えたサプライレギュレートされたフェイズロックループ(PLL)回路。
[9]前記出力周波数信号の周波数は、前記電流制御発振器の実効キャパシタンスに対する前記電流制御発振器のトランスコンダクタンスの比率に等しい
[8]のPLL回路。
[10]前記電流制御発振器は、リングオシレータである
[9]のPLL回路。
[11]前記N分周回路の乗算ファクタNは、整数及びフラクショナル数(fractional number)からなるグループから選択される
[8]のPLL回路。
[12]前記デカップリングキャパシタは、プログラマブルキャパシタアレイを備え、前記プログラマブルキャパシタアレイのキャパシタンスは、前記プログラマブルキャパシタアレイの複数のキャパシタの少なくとも1つを選択的に接続することによって設定される
[8]のPLL回路。
[13]前記プログラマブルキャパシタアレイの複数のキャパシタの少なくとも1つを選択的に接続することは、前記複数のキャパシタの前記少なくとも1つに接続されるスイッチを閉じることによって少なくとも行われる
[12]のPLL回路。
[14]前記サプライレギュレートされたループは、PMOSFETのゲートに結合された出力を有する演算増幅器(op−amp)を備え、前記op−ampの第1の入力は、ループフィルタからの電圧制御信号に結合され、前記op−ampの第2の入力及び前記PMOSFETのドレインは、前記第1のノードに結合されている
[8]のPLL回路。
[15]PLL内のN分周回路に対する第1の乗算ファクタN1を選択することと、
電圧制御発振器(VCO)に対するデカップリングキャパシタのキャパシタンスを、N1かけるCUNIT(N1 times CUNIT)に等しくなるように設定することと、
前記PLL内のN分周回路に対する第2の乗算ファクタN2を選択することと、
前記VCOに対する前記デカップリングキャパシタのキャパシタンスを、N2かけるCUNIT(N2 times CUNIT)に等しくなるように調整することと、
を備え、
CUNITは、前記デカップリングキャパシタンスを製造するために選ばれたプロセス技術に対して特徴付けられたユニットキャパシタンスを表す
フェイズロックループ(PLL)回路を用いる方法。
[16]前記デカップリングキャパシタは、プログラマブルキャパシタアレイを備え、前記プログラマブルキャパシタアレイは、レギュレートされた制御電圧ノードとグラウンドとの間に結合された複数のスイッチトキャパシタを備える
[15]の方法。
[17]前記設定すること及び調整することは、それぞれ、前記プログラマブルキャパシタアレイ内の第1の複数のスイッチトキャパシタ及び第2の複数のスイッチトキャパシタを選択的に閉じることを備える
[15]の方法。
[18]前記第1の乗算ファクタN1及び前記第2の乗算ファクタN2は、それぞれ、整数及びフラクショナル数(fractional number)からなるグループから選択される
[15]の方法。
[19]前記VCOは、リングオシレータを備える
[15]の方法。
[20]前記第1の乗算ファクタN1を選択すること及び前記設定することは、PLL初期化プロセスで行われ、前記第2の乗算ファクタN2を選択すること及び前記調整することは、PLLリセットプロセスで行われる
[15]の方法。
[21]PLL内のN分周回路に対する第1の乗算ファクタN1を選択する手段と、
電圧制御発振器(VCO)に対するデカップリングキャパシタのキャパシタンスを、N1かけるCUNIT(N1 times CUNIT)に等しくなるように設定する手段と、
前記PLL内のN分周回路に対する第2の乗算ファクタN2を選択する手段と、
前記VCOに対する前記デカップリングキャパシタのキャパシタンスを、N2かけるCUNIT(N2 times CUNIT)に等しくなるように調整する手段と、
を備え、
CUNITは、前記デカップリングキャパシタンスを製造するために選ばれたプロセス技術に対して特徴付けられたユニットキャパシタンスを表す
サプライレギュレートされたフェイズロックループ(PLL)回路。
[22]前記第1の乗算ファクタN1を選択する手段及び前記第2の乗算ファクタN2を選択する手段は、デジタル制御ロジックを備え、前記デジタル制御ロジックは、入力するデジタル制御信号にしたがって予め決められた乗算ファクタ値を設定する
[21]のPLL回路。
[23]前記第1の乗算ファクタN1及び前記第2の乗算ファクタN2は、それぞれ、整数及びフラクショナル数(fractional number)からなるグループから選択される
[22]のPLL回路。
[24]前記デカップリングキャパシタは、プログラマブルキャパシタアレイを備え、前記プログラマブルキャパシタアレイは、レギュレートされた制御電圧ノードとグラウンドとの間に結合された複数のスイッチトキャパシタを備える
[21]のPLL回路。
[25]前記設定及び調整する手段は、デジタルロジックを備え、前記デジタルロジックは、それぞれ、予め決められたスキーム(scheme)にしたがって、前記プログラマブルキャパシタアレイ内の第1の複数のスイッチトキャパシタ及び第2の複数のスイッチトキャパシタを選択的に閉じるように構成されている
[24]のPLL回路。
[26]サプライレギュレートされたフェイズロックループ(PLL)回路によって動作するように構成された無線デバイスであって、前記無線デバイスは、
プロセッサと、
前記プロセッサとの電子的通信をとるメモリと、
前記メモリに記憶されたインストラクションと、
を備え、
前記インストラクションは、前記プロセッサによって、
前記サプライレギュレートされたPLL内の第1の周波数帯を選択することと、
前記PLL内のN分周回路に対する第1の乗算ファクタN1を選択することと、
電圧制御発振器(VCO)に対するデカップリングキャパシタのキャパシタンスを、N1かけるCUNIT(N1 times CUNIT)に等しくなるように設定することと、
を実行され、
CUNITは、前記デカップリングキャパシタンスを製造するために選ばれたプロセス技術に対して特徴付けられたユニットキャパシタンスを表す
無線デバイス。
[27]前記インストラクションは、
前記サプライレギュレートされたPLL内の第2の周波数帯を選択することと、
前記PLL内のN分周回路に対する第2の乗算ファクタN2を選択することと、
前記VCOに対する前記デカップリングキャパシタのキャパシタンスを、N2かけるCUNIT(N2 times CUNIT)に等しくなるように調整することと、
をさらに実行可能である
[26]の無線デバイス。
[28]前記サプライレギュレートされたPLL回路は、周波数シンセサイザの一部であるように構成されている
[26]の無線デバイス。
Claims (28)
- 電圧制御発振器(VCO)へのレギュレートされた制御電圧を発生するように構成されたサプライレギュレータであって、VCOが前記レギュレートされた制御電圧に応答してVCO出力周波数を発生するサプライレギュレータと、
前記VCO出力周波数の分周された部分を位相検出器にフィードバックするように構成され、Nの乗算ファクタ(multiplication factor of N)を有するN分周回路(divide-by-N circuit)と、
前記レギュレートされた制御電圧に結合され、キャパシタンスがNかけるCUNIT(N times CUNIT)に等しいデカップリングキャパシタであって、CUNITが前記デカップリングキャパシタンスを製造するために選ばれたプロセス技術に対して特徴付けられたユニットキャパシタンスを表すデカップリングキャパシタと、
を備えたフェイズロックループ(PLL)回路。 - 前記VCOは、電流制御発振器を備え、前記VCO出力周波数は、前記電流制御発振器の実効キャパシタンスに対する前記電流制御発振器のトランスコンダクタンスの比率に等しい
請求項1のPLL回路。 - 前記VCOは、電圧−電流(V2I)回路を備え、前記V2I回路は、前記レギュレートされた制御電圧を前記電流制御発振器へのサプライ電流に変換する
請求項1のPLL回路。 - 前記電流制御発振器は、リングオシレータである
請求項3のPLL回路。 - 前記N分周回路の乗算ファクタNは、整数及びフラクショナル数(fractional number)からなるグループから選択される
請求項1のPLL回路。 - 前記デカップリングキャパシタは、プログラマブルキャパシタアレイを備え、前記プログラマブルキャパシタアレイのキャパシタンスは、前記プログラマブルキャパシタアレイの複数のキャパシタの少なくとも1つを選択的に接続することによって設定される
請求項1のPLL回路。 - 前記サプライレギュレータは、演算増幅器(op−amp)及びPMOSFETを備え、前記op−ampは、ループフィルタからの制御電圧信号に結合された第1の入力と、前記PMOSFETのゲートに結合された出力と、前記PMOSFETのドレインに結合された第2の入力とを有し、前記レギュレートされた制御電圧は、前記PMOSFETのドレインに与えられる
請求項1のPLL回路。 - 第1のノードでレギュレートされたサプライ電圧を発生するように構成されたサプライレギュレートされたループと、
前記レギュレートされたサプライ電圧に応答して、第2のノードで制御電流を発生するように構成された電圧−電流ユニットと、
前記制御電流に応答して、出力周波数信号を発生するように構成された電流制御発振器と、
前記出力周波数信号の分周された部分を位相検出器にフィードバックするように構成され、Nの乗算ファクタ(multiplication factor of N)を有するN分周回路(divide-by-N circuit)と、
前記第2のノードとグラウンドとの間に結合され、キャパシタンスがNかけるCUNIT(N times CUNIT)に等しいデカップリングキャパシタであって、CUNITが前記デカップリングキャパシタンスを製造するために選ばれたプロセス技術に対して特徴付けられたユニットキャパシタンスを表すデカップリングキャパシタと、
を備えたサプライレギュレートされたフェイズロックループ(PLL)回路。 - 前記出力周波数信号の周波数は、前記電流制御発振器の実効キャパシタンスに対する前記電流制御発振器のトランスコンダクタンスの比率に等しい
請求項8のPLL回路。 - 前記電流制御発振器は、リングオシレータである
請求項9のPLL回路。 - 前記N分周回路の乗算ファクタNは、整数及びフラクショナル数(fractional number)からなるグループから選択される
請求項8のPLL回路。 - 前記デカップリングキャパシタは、プログラマブルキャパシタアレイを備え、前記プログラマブルキャパシタアレイのキャパシタンスは、前記プログラマブルキャパシタアレイの複数のキャパシタの少なくとも1つを選択的に接続することによって設定される
請求項8のPLL回路。 - 前記プログラマブルキャパシタアレイの複数のキャパシタの少なくとも1つを選択的に接続することは、前記複数のキャパシタの前記少なくとも1つに接続されるスイッチを閉じることによって少なくとも行われる
請求項12のPLL回路。 - 前記サプライレギュレートされたループは、PMOSFETのゲートに結合された出力を有する演算増幅器(op−amp)を備え、前記op−ampの第1の入力は、ループフィルタからの電圧制御信号に結合され、前記op−ampの第2の入力及び前記PMOSFETのドレインは、前記第1のノードに結合されている
請求項8のPLL回路。 - PLL内のN分周回路に対する第1の乗算ファクタN1を選択することと、
前記PLL内の電圧制御発振器(VCO)に対するデカップリングキャパシタのキャパシタンスを、N1かけるCUNIT(N1 times CUNIT)に等しくなるように設定することと、
前記PLL内のN分周回路に対する第2の乗算ファクタN2を選択することと、
前記VCOに対する前記デカップリングキャパシタのキャパシタンスを、N2かけるCUNIT(N2 times CUNIT)に等しくなるように調整することと、
を備え、
前記VCOはサプライレギュレータからレギュレートされた制御電圧が供給され、
前記デカップリングキャパシタは前記レギュレートされた制御電圧ノードとグラウンドとの間に結合され、
CUNITは、前記デカップリングキャパシタンスを製造するために選ばれたプロセス技術に対して特徴付けられたユニットキャパシタンスを表す
フェイズロックループ(PLL)回路を用いる方法。 - 前記デカップリングキャパシタは、プログラマブルキャパシタアレイを備え、前記プログラマブルキャパシタアレイは、前記レギュレートされた制御電圧ノードとグラウンドとの間に結合された複数のスイッチトキャパシタを備える
請求項15の方法。 - 前記設定すること及び調整することは、それぞれ、前記プログラマブルキャパシタアレイ内の第1の複数のスイッチトキャパシタ及び第2の複数のスイッチトキャパシタを選択的に閉じることを備える
請求項15の方法。 - 前記第1の乗算ファクタN1及び前記第2の乗算ファクタN2は、それぞれ、整数及びフラクショナル数(fractional number)からなるグループから選択される
請求項15の方法。 - 前記VCOは、リングオシレータを備える
請求項15の方法。 - 前記第1の乗算ファクタN1を選択すること及び前記設定することは、PLL初期化プロセスで行われ、前記第2の乗算ファクタN2を選択すること及び前記調整することは、PLLリセットプロセスで行われる
請求項15の方法。 - PLL内のN分周回路に対する第1の乗算ファクタN1を選択する手段と、
前記PLL内の電圧制御発振器(VCO)に対するデカップリングキャパシタのキャパシタンスを、N1かけるCUNIT(N1 times CUNIT)に等しくなるように設定する手段と、
前記PLL内のN分周回路に対する第2の乗算ファクタN2を選択する手段と、
前記VCOに対する前記デカップリングキャパシタのキャパシタンスを、N2かけるCUNIT(N2 times CUNIT)に等しくなるように調整する手段と、
を備え、
前記VCOはサプライレギュレータからレギュレートされた制御電圧が供給され、
前記デカップリングキャパシタはレギュレートされた前記制御電圧ノードとグラウンドとの間に結合され、
CUNITは、前記デカップリングキャパシタンスを製造するために選ばれたプロセス技術に対して特徴付けられたユニットキャパシタンスを表す
サプライレギュレートされたフェイズロックループ(PLL)回路。 - 前記第1の乗算ファクタN1を選択する手段及び前記第2の乗算ファクタN2を選択する手段は、デジタル制御ロジックを備え、前記デジタル制御ロジックは、入力するデジタル制御信号にしたがって予め決められた乗算ファクタ値を設定する
請求項21のPLL回路。 - 前記第1の乗算ファクタN1及び前記第2の乗算ファクタN2は、それぞれ、整数及びフラクショナル数(fractional number)からなるグループから選択される
請求項22のPLL回路。 - 前記デカップリングキャパシタは、プログラマブルキャパシタアレイを備え、前記プログラマブルキャパシタアレイは、前記レギュレートされた制御電圧ノードとグラウンドとの間に結合された複数のスイッチトキャパシタを備える
請求項21のPLL回路。 - 前記設定及び調整する手段は、デジタルロジックを備え、前記デジタルロジックは、それぞれ、予め決められたスキーム(scheme)にしたがって、前記プログラマブルキャパシタアレイ内の第1の複数のスイッチトキャパシタ及び第2の複数のスイッチトキャパシタを選択的に閉じるように構成されている
請求項24のPLL回路。 - サプライレギュレートされたフェイズロックループ(PLL)回路によって動作するように構成された無線デバイスであって、前記無線デバイスは、
プロセッサと、
前記プロセッサとの電子的通信をとるメモリと、
前記メモリに記憶されたインストラクションと、
を備え、
前記インストラクションは、前記プロセッサによって、
前記サプライレギュレートされたPLL内の第1の周波数帯を選択することと、
前記PLL内のN分周回路に対する第1の乗算ファクタN1を選択することと、
前記PLL内の電圧制御発振器(VCO)に対するデカップリングキャパシタのキャパシタンスを、N1かけるCUNIT(N1 times CUNIT)に等しくなるように設定することと、
を実行され、
前記VCOはサプライレギュレータからレギュレートされた制御電圧が供給され、
前記デカップリングキャパシタは前記レギュレートされた制御電圧ノードとグラウンドとの間に結合され、
CUNITは、前記デカップリングキャパシタンスを製造するために選ばれたプロセス技術に対して特徴付けられたユニットキャパシタンスを表す
無線デバイス。 - 前記インストラクションは、
前記サプライレギュレートされたPLL内の第2の周波数帯を選択することと、
前記PLL内のN分周回路に対する第2の乗算ファクタN2を選択することと、
前記VCOに対する前記デカップリングキャパシタのキャパシタンスを、N2かけるCUNIT(N2 times CUNIT)に等しくなるように調整することと、
をさらに実行可能である
請求項26の無線デバイス。 - 前記サプライレギュレートされたPLL回路は、周波数シンセサイザの一部であるように構成されている
請求項26の無線デバイス。
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