JP5557596B2 - コネクタ及びそれを有する半導体試験装置 - Google Patents
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Description
Claims (8)
- 回路基板に取り付けられ、前記回路基板の表面に沿った方向に同軸ケーブルを前側から挿入できるコネクタにおいて、
前記コネクタは、中心線が前記同軸ケーブルの挿入方向に沿うように配置される筒状本体を有するグランド端子と、
前記筒状本体の内側に配置される信号端子本体と、前記信号端子本体の後端から前記回路基板に向かって後方に伸びている、前記回路基板に接続させるための信号接続部と、を有する信号端子と、を備え、
前記グランド端子は、
前記グランド端子の筒状本体の後側の縁から前記回路基板に向かって後方に伸び、板状に形成され前記信号接続部の上側を覆っている、前記回路基板に接続させるための少なくとも1つの第1グランド接続部と、
前記グランド端子の前記筒状本体の後側の縁から前記回路基板に向かって後方に伸び、左右方向において互いに離れて配置され、前記第1グランド接続部と向き合う板状に形成され、前記コネクタの側面視において前記信号接続部よりも低い位置に配置されている2つの第2グランド接続部と、を有している、
ことを特徴とするコネクタ。 - 請求項1に記載のコネクタにおいて、
前記グランド端子は、2つの第1グランド接続部と、2つの第2グランド接続部とを有し、
前記信号接続部は、前記2つの第1グランド接続部と、前記2つの第2グランド接続部との間に配置されている、
ことを特徴とするコネクタ。 - 請求項2に記載のコネクタにおいて、
前記2つの第1グランド接続部は、前記2つの第2グランド接続部よりも前記回路基板の表面から離れた位置から伸び、前記信号接続部を覆っている、
ことを特徴とするコネクタ。 - 請求項3に記載のコネクタにおいて、
前記2つの第1グランド接続部は、それぞれ前記信号接続部の左右に位置し前記信号接続部に沿って伸びる側部を有している、
ことを特徴とするコネクタ。 - 請求項2に記載のコネクタにおいて、
前記2つの第2グランド接続部は、前記2つの第1グランド接続部よりも前記回路基板の表面に近い位置から伸びており、
前記2つの第2グランド接続部の左右の縁は、前記2つの第1グランド接続部の左右の縁よりも外側に位置している、
ことを特徴とするコネクタ。 - 請求項5に記載のコネクタにおいて、
前記2つの第2グランド接続部の先端の間隔は、前記2つの第1グランド接続部の先端の間隔より大きい、
ことを特徴とするコネクタ。 - 請求項2に記載のコネクタにおいて、
前記筒状本体は、筒状本体の半径方向で互いに組み合わされて筒状をなす第1筒半部と第2筒半部とを含み、
前記第1グランド接続部は前記第1筒半部に形成され、
前記第2グランド接続部は前記第2筒半部に形成されている、
ことを特徴とするコネクタ。 - 請求項1に記載のコネクタにおいて、
前記グランド端子の前記筒状本体は、当該筒状本体の開口の少なくとも一部を閉塞する壁部を有している、
ことを特徴とするコネクタ。
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