JP5547475B2 - 脈理が減少した低膨張ガラスおよび素子、並びにその製造方法 - Google Patents

脈理が減少した低膨張ガラスおよび素子、並びにその製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、シリカおよびチタニアを含有するガラスから製造された極紫外線素子に関する。特に、本発明は、脈理の減少した低膨張ガラスおよびそれから製造された素子、並びに極紫外線リソグラフィーに適したそのようなガラスと素子を製造する方法に関する。
シリカおよびチタニアから製造された超低膨張ガラスおよび軟X線または極紫外線(EUV)リソグラフィー素子は、従来、シリカとチタニアの有機金属前駆体の火炎加水分解によって製造されてきた。火炎加水分解法によって製造されたガラスの超低膨張シリカ−チタニア物品は、宇宙開発に用いられる望遠鏡のためのミラーおよび極紫外線または軟X線に基づくリソグラフィーに用いられる素子の製造に使用されている。これらのリソグラフィー素子は、集積回路パターンを形成するために利用されるパターン画像を照明、投射、および縮小するための極紫外線または軟X線照射に用いられる。極紫外線または軟X線照射の使用は、より小さな集積回路の特徴構造を形成できるという点で有益であるが、この波長範囲における照射の方向や操作は難しい。したがって、1nmから70nm範囲などの極紫外線または軟X線範囲の波長は、商業用途に広く用いられてはいない。この分野における制限の1つは、安定かつ高品質の回路パターン画像を維持しながら、そのような照射への曝露に耐えることのできるミラー素子を経済的に製造できないことであった。それゆえ、極軟X線照射に使用するための安定な高品質ガラス製リソグラフィー素子が必要とされている。
先に記載された方法により製造された超低膨張のチタニア−シリカガラスの制限の1つは、そのガラスが脈理を含むことである。脈理は、そのガラスから製造されたレンズや窓素子における光の透過に悪影響を及ぼす組成の不均一性である。脈理は、数ppb/℃の熱膨張係数(CTE)変化に相関する組成変化を測定するマイクロプローブにより測定できる。ある場合には、脈理は、前記ガラスから製造された反射光学素子におけるオングストローム二乗平均平方根rmsレベルで表面仕上げに影響を与えることが分かった。極紫外線リソグラフィー素子には、rmsレベルが非常に低い仕上げが必要とされる。
シリカおよびチタニアを含有する超低膨張ガラスを製造するための改良方法および装置を提供することが都合よいであろう。特に、脈理が減少した極紫外線素子およびそのようなガラス素子を製造できる方法および装置を提供することが望ましいであろう。その上、超低膨張ガラスおよび極紫外線リソグラフィー素子における脈理を測定するための改良方法および装置を提供することが望ましいであろう。
本発明は、本発明におけるシリカ−チタニアガラスであるブールを構成する材料の堆積(laydown)中のブールの動作を制御することによって低膨張ガラスの脈理を減少させることに関する。本発明によれば、短振動周期からなるブールの動作は、長振動周期の動作よりも近接した脈理間隔を生じる。堆積後の加熱処理を施したときに、短振動周期により製造されたブールにおける脈理は「自己アニールし」、それによって、ブール内の脈理が減少する。堆積後の熱処理によって、脈理の数をさらに減少させ、脈理が最小のブールを製造することができる。
本発明はさらに、ガラスのアニール点より約100℃高い温度から、急激な流出に用いられる温度(約1900℃)で、その温度に応じて6+時間から12ヶ月の範囲の期間に亘り、ガラスを熱処理することによって、低膨張ガラスの脈理を減少させる方法に関する。
本発明は、極紫外線リソグラフィーに適した超低膨張ガラスおよびそれから製造された光学素子、並びに1600℃より高い温度で48時間から288時間の範囲の期間に亘るガラスの熱処理によるここに記載した短振動周期を用いてブールを製造することによって超低膨張ガラスの脈理を減少させることにより、そのようなガラスおよび素子を製造する方法にも関する。さらに別の実施の形態において、そのガラスは、ガラスを流動させずにすなわち「移動」させずに熱処理される。
本発明は、超低膨張シリカ−チタニアガラスの脈理を減少させる方法、およびそれにより製造された光学素子に関し、ここで、固結されたシリカ−チタニアガラスブールは、ここに記載した短振動周期を用いて炉内の回転容器内で調製され、このブールを48〜160時間、好ましくは48〜96時間の範囲の期間に亘り1600〜1700℃の範囲の温度で熱処理し、固結されたブールを1600〜1700℃の範囲から毎時25〜75℃の速度、例えば、毎時約50℃で1000℃に冷却し、その後、炉の自然に冷める速度で周囲温度まで冷却し、それによって、脈理の減少したシリカ−チタニアガラスブールを生成する。本発明の実施の形態において、ガラスブールは、ケイ素とチタンのシロキサン、アルコキシドおよび四塩化物からなる群より選択されるシリカとチタニアの前駆体を用いた火炎加水分解によって調製される。好ましい前駆体は、チタンイソプロポキシドおよびオクタメチルシクロテトラシロキサンである。
別の実施の形態において、本発明は、ガラスを流動すなわち「移動」させずに、低膨張ガラスを1600〜1700℃の範囲の温度で48〜160時間の範囲の期間に亘り熱処理することに関する。
さらに別の実施の形態において、本発明は、ガラスを流動すなわち「移動」させずに、ガラスを1600〜1700℃の範囲の温度で48〜160時間の範囲の期間に亘り熱処理し、この熱処理中に、ガラスを垂直軸周りに回転させ、ガラスの水平寸法に亘り熱源を均一に分布させることによって、ガラスの大型ブールまたは大型ブールから得られるガラスの部分の脈理を減少させる方法に関する。
さらにまた別の実施の形態において、本発明は、振動パターンの期間を減少させて、10分以下の期間に亘りそれらのパターンを繰り返すことによって、5〜10質量%のチタニアを含有するシリカ−チタニアガラスの脈理を減少させることに関する。別の実施の形態において、振動パターンの繰返し時間は5分以内に減少させられる。さらに別の実施の形態において、振動パターンの繰返し時間は2.5分以内に減少させられる。
シリカ−チタニア超低膨張ガラスの製造に使用できる従来技術の装置の概略図 中くらいの振動数の表面粗さへの脈理の影響を示す干渉データのチャート 表面における山から谷の変化を示す、脈理に亘る干渉データのチャート 本発明による熱処理前のブールの位置(x軸)に対するy軸上の脈理による複屈折の大きさを示すグラフ 本発明による熱処理後のブールの位置(x軸)に対するy軸上の脈理による複屈折の大きさを示すグラフ 本発明による熱処理前後のブールの頂部に近い脈理の大きさの減少を示すチャート ブールを本発明により熱処理した前後のブールの位置に対するCTE変化を示すチャート 本発明を実施できる幅広い時間と温度を示すグラフ ブールの厚さの異なる地点での脈理を示すチャート ブールの厚さの異なる地点での脈理を示すチャート ブールの厚さの異なる地点での脈理を示すチャート 「標準の」すなわち従来技術の低膨張ガラスブールを示すチャート 低膨張ガラス(ULEガラス)のブールを示すチャート 本発明のシリカ−チタニアガラスを用いた完成した光学素子の山から谷の粗さを示す図 先のシリカ−チタニアガラスを用いた比較のための完成した光学素子の山から谷の粗さを示す図
ある実施の形態において、本発明は、振動パターンが繰り返すのにかかる時間を10分以下の期間に減少させることによって、低膨張ガラスの脈理を減少させる方法に関する。別の実施の形態において、本発明は、振動パターンが繰り返すのにかかる時間を2.5分以内の期間に減少させることによって、低膨張ガラスの脈理を減少させる方法に関する。さらに別の実施の形態において、本発明は、振動パターンが繰り返すのにかかる時間を10分以内の期間に減少させ、ガラスを、そのガラスのアニール点より約100℃高い温度(約1200℃)から、急速流出に用いられる温度(約1900℃)で、その温度に応じて6+時間から12ヶ月の範囲の期間に亘り熱処理することによって、低膨張ガラスの脈理を減少させる方法に関する。図6は、本発明の実施に使用できる極めて最も有用な(中くらいの)時間と温度を示す一般的なグラフである。ほとんどのガラス組成について、実際的な(工業的に望ましい)時間と温度は、1600〜1700℃(中央温度は1650℃)の範囲の温度で72〜288時間である。より低い温度では、必要な時間は長くなるが、その結果は、実際的な時間/温度で得られた結果と同様であると予測される。しかしながら、例えば、振動パターンが繰り返す時間それ自体を減少させることによって、ガラスの調製中に脈理が減少した場合、熱処理時間を、例えば、48〜160時間の範囲の期間に減少させることができる。
米国特許第5970751号明細書には、溶融シリカ−チタニアガラスを調製するための方法および装置が記載されている。この装置は静止カップまたは容器を備えている。米国特許第5696038号明細書には、ここに記載されたような従来技術の回転カップを用いて溶融シリカブールにおける軸外均一性を改善するために振動/回転パターンを使用することが記載されている。米国特許第5696038号明細書に開示されたように、x軸とy軸の振動パターンは、等式:
により定義され、ここで、x(t)およびy(t)は、分で測定された時間の関数(t)として炉の輪状壁の中心から測定したブールの中心の関数を表している。r1とr2の合計(r1およびr2はオフセットの半径である;すなわち、回転は、rだけずれた2つの回転テーブルの上面の別の回転テーブルのように働く)は、輪状壁の半径と収容容器またはカップの半径との間の差未満となり、ブールの形成中にこれらの構造体間の接触を避けなければならない。パラメータr1、r2、ω1、ω2および毎分回転数(rpm)の中心の周りのブールの回転速度を表す第5のパラメータω3は、ブールの全体の動作を定義する。チタニア含有シリカブールの製造に用いられるω1、ω2およびω3の典型的な従来技術の値は、それぞれ、1.71018rpm、3.63418rpmおよび4.162rpmであり、これらのパラメータをここに用いた。
米国特許出願公開第2004/0027555号明細書には、チタニア含有ガラススートを堆積させることによって、低膨張のチタニア含有シリカガラス体を製造する方法が記載されている。米国特許出願公開第2004/0027555号明細書に記載された方法では、米国特許第5970591号明細書に記載された装置および米国特許第5696038号明細書に記載された回転/振動カップが用いられる。シリカ−チタニアスートは、振動テーブル上に取り付けられた容器内に堆積され、このテーブルの振動パターンを変えることによって、特にテーブルの回転速度を増加させることによって、脈理レベルが減少させられる。特に、米国特許出願公開第2004/0027555号明細書には、ω1、ω2およびω3の各々の値を増加させることによって、脈理値が減少することが分かったと述べられている。この明細書には、脈理に影響を与える他の要因および脈理の形成を妨げるために採用できる工程が記載されている。例えば、その明細書には、炉の排気ポートまたは排出口を通る流れが脈理に影響を与え、排出口または排気ポートの数を増加させることによって、脈理を少なくできることが記載されている。
先の改善により脈理は減少するが、脈理をさらに減少させることが大いに望まれている。シリカ−チタニアULEガラスのブール、またはブールから得られたガラスの部分の脈理をさらに減少させると、ULE材料に観察されてきた研磨問題の内のいくつかが軽減するであろう。具体的には、中間空間周波数表面粗さが改善され、これにより、EUV用途および非常に滑らかな表面仕上げが要求される他の用途により適した材料が得られるであろう。ULEガラスの脈理(または組成物の層化)は、ブールの上面と底面に平行な方向に非常に明らかである。脈理は、局部的な平均チタニア(TiO2)レベルと比較して一般に±0.1%より大きいTiO2組成の変化からなる。このレベルは、公称CTE目標に応じて、7.25から8.25質量%の範囲にあることが多い(しかしながら、そのレベルは、これより高くても低くても差し支えなく、典型的に、5〜10質量%のTiO2の範囲にある)。組成の変化(脈理)により、異なるCTEの交互の薄層が形成され、したがって、圧縮と引張の交互の面(層間の)が形成される。そのようなULEガラス材料を研磨しようとする場合、脈理により生じた圧縮と引張の交互の層により、材料の除去が等しくなくなり、表面粗さが許容できなくなってしまう。この影響が鏡業界に観察されており、ここでは、中間空間周波数表面粗さの欠陥は、一般に、「木目調(woodgrain)」と称される。ここに記載されたような方法により、組成変化である脈理を減少させることによって、層間の圧縮と引張のレベルが減少し、その結果、研磨性が改善される。
最初の工程として、シリカ−チタニアガラスブールを、当該技術分野において公知の任意の方法にしたがって、例えば、米国特許出願公開第2004/0027555号明細書に記載された装置を用いた米国特許第5696038号明細書に記載された方法によって調製する。この装置は、図1としてここに説明されている。ここに記載したチタニア含有シリカブールの製造に用いられるω1、ω2およびω3値は、それぞれ、1.71018rpm、3.63418rpmおよび4.162rpmである。本発明によれば、ブールを製造した後、シリカ−チタニアULEガラスブールを1600℃より高い温度(炉の天井の温度により示される)で72〜160時間、好ましくは72〜96時間(約3〜4日間)の範囲の期間に亘り保持することによって、脈理を減少させた。ある実施の形態において、その温度は1600〜1700℃の範囲であった。さらに別の実施の形態において、温度は1650±25℃であった。別の実施の形態において、ガラスの動作によって、本発明による脈理の減少が縮小することは予測されないが、ガラスが混ざったり動いたりしないような様式と温度でガラスを保持した。ガラスの動きの制限は、ガラスがどの方向にも動けないような様式でこの材料を耐火物で包装することによって行った。動きを制限するための包装後、シリカ−チタニアULEブールを製造するのに用いたのと同じ炉内で標準的なCH4−Oxy焼成バーナを用いて、ガラスを加熱した。熱処理中にガラスの表面温度データを記録した。この温度を上述した期間に亘り保持した後、ガラスを毎時25〜75℃の範囲の速度で、例えば、毎時約50℃の速度で1000℃まで強制冷却し、次いで、炉の冷める速度で周囲温度(炉を囲む部屋の温度)まで冷ませた。バーナが、加熱されているガラスサンプルの全半径の範囲を網羅し、バーナへのガス流がここに指定した温度を達成し維持するのに十分なように、これらバーナを配置した。
上述したように熱処理することによって脈理の減少したブールを周囲温度まで冷却した後、ブールは、切断したり、芯を抜いたり、光学素子を製造するのに適した形状に他の様式で加工したりすることができる。そのような加工としては、切断や芯抜きに加え、エッチング、追加の熱処理、研削、研磨、鏡を形成するための選択された金属の塗布、および所望の光学素子を形成するのに必要な追加の加工が挙げられる。
脈理の減少したシリカ−チタニア光学素子を製造するための一般的な方法は、当該技術分野において公知の任意の方法を用いて、炉内でシリカ−チタニアガラスブールを調製し;1600より高い温度、好ましくは1600〜1700℃の範囲の温度で、72〜160時間の範囲の期間に亘り、好ましくは72〜96時間の範囲の期間に亘りブールを熱処理して、ブール内の脈理を減少させ;1600℃より高い温度範囲から1000℃まで毎時25〜75℃の範囲の速度でブールを冷却し、次いで、炉の自然に冷める速度で周囲温度まで冷却し、それによって、脈理の減少したシリカ−チタニアガラスブールを生成し;そのガラスを必要に応じて、脈理の減少した光学素子に加工することである。脈理の減少したシリカ−チタニア光学素子を製造するための特別な実施の形態は、当該技術分野において公知の任意の方法を用いて、炉内の回転容器内でシリカ−チタニア固結ガラスブールを調製し;1600〜1700℃の範囲の速度で、72〜96時間の範囲の期間に亘り、ブール、またはそのように調製したブールから取られたサンプルを熱処理して、そのブール内の脈理を減少させ;1600〜1700℃の範囲の温度から1000℃に毎時50℃の速度でブールを冷却し、次いで、炉の自然に冷める速度で周囲温度まで冷却し、それによって、脈理の減少したシリカ−チタニアガラスブールを生成し;ブールを、選択された光学素子の形状に切断し;その形状を、極紫外線リソグラフィーに適した、脈理の減少した光学素子に切断、研削、研磨することである。そのように製造された光学素子は、極紫外線リソグラフィーに、例えば、反射リソグラフィー法に用いられる鏡に適している。
実施例1
図1に示された装置を参照して、高純度ケイ素含有供給原料または前駆体14および高純度チタン含有供給原料または前駆体26を用いて、チタニア含有シリカガラスブールを製造した。これらの供給原料または前駆体材料は、一般に、チタンまたはケイ素を含有するシロキサン、アルコキシドおよび四塩化物である。ケイ素とチタンのシロキサンおよびアルコキシドが好ましい。特に広く用いられているケイ素含有供給原料の1つは、オクタメチルシクロテトラシロキサンであり、特に広く用いられているチタン含有供給原料の1つはチタンイソプロポキシドであり、その両方をここに用いた。窒素などの不活性バブラーガス20を供給原料14および26に通して泡立てて、供給原料蒸気および搬送ガスを含有する混合物を生成した。窒素などの不活性搬送ガス22を、ケイ素供給原料蒸気とバブラーガスの混合物、およびチタン供給原料蒸気とバブラーガスの混合物と組み合わせて、飽和を防ぎ、供給原料14,26を、分配システム24およびマニホールド28を通して炉16内の転化位置10に供給した。ケイ素供給原料と蒸気およびチタン供給材料と蒸気は、マニホールド28内で混合して、蒸気状のチタン含有シリカガラス前駆体混合物を形成し、これを、導管34に通して、炉16の上部38内に取り付けられたバーナ36に供給した。バーナ36はバーナ火炎37を生成する。転化位置のバーナ火炎37は、水素および/または酸素と混合されたメタンなどの燃料と酸素の混合物により形成され、その混合物は、約1600℃より高い温度で供給原料を燃焼し、酸化させ、スート11に転化する。バーナ火炎37は、スート11をガラスに固結するための熱も提供する。導管の温度および導管内に収容されている供給原料は、火炎37の前に反応の可能性を最小にするために、一般に、制御され、モニタされる。
供給原料を転化位置10に供給し、そこで、それら供給原料はチタニア含有シリカスート粒子11に転化された。スート11は、一般にジルコンから製造された耐火炉内に配置された回転式収集カップ12内および炉16内の高温のチタニア−シリカガラス体18の上側のガラス表面上に堆積した。チタニア含有シリカブールの製造に用いたω1、ω2およびω3の値は、それぞれ、1.71018rpm、3,63418rpmおよび4.162rpmであった。スート粒子11は、チタニア含有高純度シリカガラス体に固結する。
カップ12は、一般に、ガラス体18が、約0.2および2メートルの間の直径Dおよび約2cmおよび20cmの間の高さHを有する円柱体となるように、約0.2メートルおよび2メートルの間の直径の円柱形状を有する。溶融シリカガラス中のチタニアの質量パーセントは、スート11およびガラス18に含まれる、転化位置10に供給されるチタン供給原料またはケイ素含有供給原料いずれかの量を変えることによって調節できる。チタニアおよび/またはシリカの量は、ガラス体が、EUVまたは軟X線反射リソグラフィーまたは鏡素子の動作温度で約ゼロの熱膨張係数を有するように調節される。
粉末がカップ内に収集され、ガラスブールに固結される。一般に、1600℃より高い温度が、その粉末をガラスブールに固結するのに十分であり、例えば、1645〜1655℃の範囲の温度が用いられる。所望のサイズのシリカ−チタニアガラスブールが形成された後、本発明によるさらなる加工のために、このガラスブールを炉から取り出した。ブールを炉から取り出すときに、本発明による加工のためにブール全体を炉に戻しても、ブールの一部を芯抜きしても差し支えない。コアは、ブールの深さ方向に取り、脈理を減少させるために本発明によって熱処理した。さらに別の実施の形態において、ブールの温度を72〜96時間の範囲の期間に亘り1600〜1700℃の範囲に維持することによって、ブールを熱処理する。
この実施例において、ブールのほぼ全厚の25.4cm(10インチ)の直径のシリカ−チタニアコアを多数採取した。本発明による熱処理のために、シリカ−チタニアガラスコアをジルコン(ケイ酸ジルコニウム)製カップまたは容器内に配置し、ガラスの動きを制限するために、コアを、粉砕ジルコンにより縁と底部で取り囲んだ。次いで、コアとカップを回転炉内に配置し、72〜96時間の期間に亘り1600〜1700℃の範囲の温度に加熱した。ガラスサンプルをCH4−Oxyバーナを用いて加熱し、この熱処理中にガラスの表面温度を記録した。ガラスを、指示された時間範囲に亘り所定の温度に保持した後、ガラスを炉内で毎時約50℃の速度で約1000℃の温度まで冷却し、次いで、炉の自然に冷める速度で周囲温度まで冷ませた。最終的な冷却後、サンプルを70から130時間の範囲の期間に亘り1000℃未満の温度でアニール処理し、冷却後のアニール処理後、PEO機器を用いて、0.635cm(1/4インチ)の増分でCTE(熱膨張係数)の測定値を記録した。このデータは、バルクCTE値は、本発明による熱処理の影響は受けず、実際に、本発明による熱処理によって減少したことを示している。
図2Aおよび2Bは干渉走査である。図2Aは、中間空間周波数粗さへの脈理の影響を示す干渉走査である。ブール全体に亘る脈理の波むらのために、ブールの表面と完全に平行な脈理を持つ部分を抽出することは不可能である。その結果、いくつかの脈理は常に表面を「ブレイクする」。図2Bは、脈理に亘る干渉走査であり、表面における山から谷への変化を示している。光学遅延の改善の分析によって、脈理の改善が判定された。
特定の透明材料に光が進入するときに、その材料を異なる速度で伝搬する2つのビーム(より速い光路およびより遅い光路)に分割するように異なる垂直方向の2つの異なる屈折率を有する材料に、光の2成分(「通常」光線noおよび異常光線ne)への分割が見られる。複屈折は、等式Δ=ne−noにより定義され、ここで、noおよびneは、それぞれ、異方性の軸に対して垂直および平行な偏光に関する屈折率である。その結果、ビームがその材料を出るときに、速いビームと遅いビームが出る場合で差がある。この差は、通常はナノメートルの寸法の光学遅延である。光学遅延は、光が通過する材料の厚さにより計られる。材料の第1のサンプルが、同じ材料の第2のサンプルの2倍の厚さである場合、その2倍の厚さのサンプルは、他方のサンプルの2倍の光学遅延を示す。光学遅延は、厚さで計られるので、度々、サンプルの厚さ(センチメートル)で割ることにより正規化される。この正規化された光学遅延は複屈折として知られている。複屈折と遅延との間の差は、複屈折は正規化されていることである。全てのサンプルがたまたま1cm厚である場合、複屈折は、単位が異なるが、遅延と等しいであろう。
図3Aおよび3Bは共に、本発明による熱処理の結果としての脈理の減少による、光学遅延変化を示している。図3Aは、ブールの位置(x軸)に対するy軸上の脈理(「S」)による光学遅延の熱処理前の大きさを示している。図3Bは、ブールの位置(x軸)に対するy軸上の脈理Sの光学遅延の熱処理後の大きさを示している。図3Bにおいて、グラフの両端での上昇した光学遅延レベルは、脈理ではなく、サンプル調製の結果である。図3Aと3Bを比較すると、明らかに、図3Bのサンプルの光学遅延が小さく、これにより、本発明による熱処理を用いた脈理の減少が明らかに示される。
図4は、ULEガラスブールの上面近くの小さな部分における脈理の減少を示す別の図である。このデータ、および図3Aと3Bに示されたデータは、本発明による熱処理で、ブール内の脈理の大きさを500%より大きく減少させられることを示している。本発明を実施した場合、「より高い周波数」の脈理のほとんどがなくなることにも留意されたい。
図5は、本発明による熱処理の前後のブール内の高さに対するCTE(熱膨張係数)変化を示している。このデータは、バルクCTE値が本発明による熱処理の影響を受けないことを示している。
実施例2
ブールの調製中に、シリカ−チタニアブールの製造に用いたω1、ω2およびω3の値が、米国特許出願公開第2004/0027555号明細書により教示されたように各々5rpmより大きく、熱処理中のω1、ω2およびω3の値が、それぞれ、1.71018rpm、3.63418rpmおよび4.162rpmであったことを除いて、ガラスブールを実施例1にしたがって調製した。得られたブールを1600℃より高い温度で、選択された時間に亘り熱処理して、ブール内の脈理を減少させた。このブールを1600〜1700℃の範囲の温度で72〜96時間の範囲の期間に亘り加熱することが好ましい。この方法の追加の実施の形態において、シリカ−チタニアブールの製造に用いたω1、ω2およびω3の値は、脈理を減少させるために本発明によるブールの熱処理中に、各々5rpmより大きかった。
本発明にしたがって脈理の減少を実施するときに、ガラスブール内の脈理を減少させるための費用効果の高い様式は、ブール全体をここに記載された期間に亘りここに記載された温度に保持することである。これは、ブールを炉から取り出す前に、ブール形成プロセスの終わりに行うことができる。本発明の方法を使用すると、ブールの全領域、特に、ブールの上半分において脈理が著しく減少する。次いで、得られた材料を、当該技術分野において公知の方法を用いて研磨して、ULE用途に使用される光学素子のための厳しい要件を満たす光学素子を生成することができる。
本発明の詳細を述べてきたので、本発明の方法を使用することにより、超低膨張ガラスにおいて脈理を減少させられることが明らかに分かる。ガラスは当該技術分野において公知の任意の方法により任意の形状に調製しても差し支えなく、ガラスの調製後、ガラスを1600℃より高い温度で72〜288時間の範囲の期間に亘り炉内で熱処理し、周囲温度まで冷却して、脈理の減少したシリカ−チタニアガラスを生成する。ガラスを調製するための最も一般的な形状は、円形であり、厚さのあるブールであるが、他の形状も可能である。
実施例3
別の態様において、本発明は、脈理が著しく減少した低膨張ガラス製品およびその製品を製造する方法に関する。特に、本発明によって、極めて低レベルの中間空間周波数表面粗さを有する光学素子に製造できる、脈理が著しく減少した低膨張ガラス製品が得られる。このことは、低膨張ガラスを生成するように炉内で特定の態様のブールの動きを制御することによって行われる。以下の議論において、Corning ULE(登録商標)低膨張ガラスを例示のガラスとして使用する。しかしながら、記載された方法は、どのような低膨張ガラスを製造するためにも使用することができる。
ULEなどの低膨張ガラスの上述したような熱処理によって、堆積プロセス中に生じる周期的な組成変化が著しく減少することが示された。その上、脈理の減少の程度は、熱処理の時間と温度に直接関連し、脈理の間隔に反比例することが示された。脈理の間隔は、堆積中のブールの動きの周期、振動および回転を制御することによって調節できる。短周期の振動からなるブールの動きは、長周期の振動の動きよりも、短い脈理の間隔(すなわち、より薄い脈理)を生じる。より短い間隔の脈理は、ここでは、ブールの形成時間中の熱処理中と任意の追加の形成後の熱処理中の両方で、より容易に減少することが示されている。
脈理が減少すると、ULE材料に観察されてきた研磨問題の内のいくつかが軽減する。特に、中間空間周波数表面粗さが改善され、これによって、EUV用途および極めて滑らかな表面仕上げが要求される他の用途により適した材料が生成されるであろう。ULEにおける脈理(または組成の層化)は、ブールの上面と底面に平行な方向において、非常にはっきり分かる。この脈理は、公称のCTE目標に応じて一般に7.25から8.25%の範囲にある、局部的な平均TiO2レベルと比較して一般に±0.1%より大きいTiO2組成の変化からなる。組成の変化(脈理)により、CTEの異なる交互の薄層、したがって、圧縮と引張の交互の平面(層間の)が形成される。「標準的なULE」材料を研磨しようと試みる場合、脈理により生じた交互の圧縮および引張の層によって、材料が不揃いに除去され、表面粗さが許容できなくなり得る。この影響は鏡業界において観察されてきており、そこでは、中間空間周波数表面粗さの欠陥が一般に「木目調」と称される。
ULEブールの製造において、炉の基盤(およびブール)は、米国特許第5970751A号明細書に記載されたように、半径組成およびCTEを均一にするために、振動され、回転させられる。先に与えられたような、ULE低膨張ガラスを製造するために用いられる、回転がrpmで表される動きの等式が以下に示されている:
等式1および2は振動を表し、等式3はブール全体の回転を表している。r1、r2、ω1、ω2、およびω3は、炉の動きと生じる脈理の性質を変えるために動作モデルおよび炉において操作できる変数である。x、yおよびr位置が繰り返すのにかかる時間を最小にするこれらの変数の値を選択することにより、ULE形成プロセス中の脈理の層間の距離と大きさが最小になり、数と厚さの両方で脈理レベルが減少したULEガラス製品が得られると判断された。さらに、脈理間の距離を最小にすると、上述したような「熱処理プロセス」により、比較的短いプロセスまたは処理時間で脈理を容易に減少させることができる。実際に、以下に記載するような振動動作により、ブールが形成されているときに脈理が「自己手当」し、ブールの大半で極めて低レベルの脈理が生成されるほど近い脈理間隔を持つ製品が生成されることが分かった。言い換えれば、ブールを形成するのにかかる時間は、製造運転の最後の1〜2日間に製造されるガラスを除いて、製造された全てのガラスが、6インチ(約15cm)厚のブールについて、図7A〜7Cに示されたような極めて低レベルの脈理を有するほど、組成勾配が「拡散する」のに十分である。図7C→7Aへと、ブールの上面から底面に進むにつれて、脈理レベルが減少する。図7A〜7Cに示されたブールは、ここにクレームした本発明にしたがって製造したが、先に記載した追加の熱処理は行わなかった。ブールが調製される時間により、ブールの底面にある脈理が「自己治癒」することが可能になった。何故ならば、それらの脈理は、炉の温度への曝露を最も長く経験するからである。先に教示されたような追加の熱処理によって、脈理がさらに減少するであろう。
図8は、米国特許第5970751A号明細書にしたがって製造された「標準の」または従来技術の低膨張ガラスブールを示している。このブールは、上述した追加の熱処理を行わずに製造した。脈理の大きさは、任意の高さでのプロットにおける脈理バンドの幅(番号200により示されている)に直接関連付けられるが、任意の一点での図8に示された実際の値には関連付けられない。
図9は、振動動作がそれら自体で繰り返すのにかかる時間が10分未満である、本発明により製造した低膨張ガラス(ULEガラス)のブールを示している。さらなる実施の形態において、振動動作の繰返しの間の時間は5分未満である。さらに別の実施の形態において、振動動作の繰返しの間の時間は、2分半以下(2.5分以下)である。その上、記載したような振動パターンを用いたガラスの調製後、ガラスは、炉内において1600℃より高い温度で48〜288時間の範囲の期間に亘り熱処理され、毎時25〜75℃(例えば、約50℃)の範囲の速度で1000℃まで冷却され、次いで、周囲温度まで冷却して、脈理の減少したシリカ−チタニアガラスを生成する。さらなる実施の形態において、熱処理は、1600〜1700℃の範囲の温度で48〜160時間の範囲の期間に亘り行われ、その後、この段落に記載されたような冷却が続く。さらに別の実施の形態において、熱処理は、1600〜1700℃の範囲の温度で48〜96時間の範囲の期間に亘り行われ、その後、この段落に記載されたような冷却が続く。最後の冷却後、サンプルは、必要に応じて、1000℃未満の温度で70から130時間の範囲の期間に亘りアニール処理して差し支えない。
振動期間が10分未満である方法を用いて、底面から上面にブールの厚さの大半を進むにつれて、チタニア含有量における2地点間の変動が0.1質量%以下である低膨張ガラスを調製することができる。その結果、本発明はさらに、ガラスまたは素子全体に亘りチタニアの変動が0.1質量%以下である低膨張ガラスおよび低膨張光学素子であって、25〜35℃の温度範囲に亘り0±3ppb/℃のCTEを有するガラスおよび素子に関する。このガラスは、5〜10質量%のチタニアおよび90〜95質量%のシリカを含むシリカ−チタニアガラスである。ある実施の形態において、チタニア含有量は7〜8.5質量%の範囲にあり、CTEは、5〜35℃の温度範囲に亘り0±3ppb/℃である。さらなる実施の形態において、本発明は、ガラスまたは素子全体に亘りチタニアの変動が0.1質量%以下であり、5〜35℃の温度範囲に亘り0±3ppb/℃のCTEを有する、低膨張ガラスおよび低膨張光学素子に関する。さらなる実施の形態において、チタニアの変動は、前記ガラスまたは素子全体に亘り0.05質量%以下である。
図10Aおよび10Bは、それぞれ、本発明のシリカ−チタニアガラスおよび比較のための以前のシリカ−チタニアガラスを用いた完成光学素子の、干渉計により測定した、山から谷の粗さを示している。図10Aおよび10Bは、任意の形状の研磨された光学素子の5点で得られた粗さ値を表している。ここに記載したような本発明のシリカ−チタニアガラス材料を用い、当該技術分野において公知の業界で許容される研磨方法(例えば、ここにその教示を引用する、2007年1月29日に出願された、共に所有された米国特許出願第11/699287号に記載されたような決定論的な研磨方法[1.0ml/cm2/分より速いスラリー流を用いた高流量研磨法を記載している])を用いて、図10Aに示すような10nm未満、一般には約5nm以下の山から谷の粗さを有する完成光学素子を得ることができる。図10Aにおける5つの測定点の平均粗さ4.8nmである。図10Bは、図10Aに用いたのと同じ方法を用いて研磨した、20〜30ppb/℃の範囲のCTEを有する以前のシリカ−チタニアガラス(米国特許第7053017号および2006年5月31日に出願された米国特許出願第11/445071号の各明細書)を用いて製造した比較のための光学素子を表している。このガラスは、18〜25nmのおおよその範囲にある、干渉計により測定した山から谷の粗さを有する。[測定系におけるノイズと、表面を原子論的に平らに研磨できないという事実のために、バックグラウンド粗さがあることに留意すべきである。すなわち、「絶対的な」平面度はない。このバックグラウンド粗さは、一般に基準として用いられる研磨された高純度溶融シリカ(HPFS(登録商標)、コーニング社(Corning Incorporated)に測定された約4nmの山から谷の粗さである。]したがって、ここに記載されたシリカ−チタニアガラスを用い、当該技術分野において公知の研磨方法を用いれば、ある実施の形態において、極紫外線リソグラフィーに適した光学素子であって、5〜10質量%の範囲のチタニア含有量、研磨された造形表面、ガラスの垂直厚を通して測定された±0.1質量%未満のチタニア含有量の平均変動、5〜35℃の温度範囲に亘り0±3ppb/℃の熱膨張係数および10nm以下の山から谷の粗さを有するチタニア含有シリカガラスから製造された光学素子を製造することができ、別の実施の形態においては、山から谷の粗さは約5nm以下である。さらに別の実施の形態において、チタニア含有量の平均変動は、ガラスの垂直厚に亘り測定して±0.05質量%未満であり、山から谷の粗さは10nm以下であり、さらに別の実施の形態において、山から谷の粗さは約5nm以下である。
本発明を限られた数の実施の形態に関して説明してきたが、この開示の恩恵を受けた当業者には、ここに開示された本発明の範囲から逸脱しない他の実施の形態も考えられることが認識されよう。例えば、直径と厚さを持つガラスブール、またはブールから取られたガラスコア、厚さを持つ任意の形状のガラスを本発明により熱処理できることが記載されている。例えば、ガラスは、矩形、正方形、八角形、六角形、偏球などであって差し支えない。したがって、本発明の範囲は、添付の特許請求の範囲のみによって制限されるべきである。
10 転化位置
11 スート
12 カップ
14 高純度ケイ素含有供給原料または前駆体
16 炉
18 チタニア−シリカガラス体
20 不活性バブラーガラス
24 分配システム
26 高純度チタン含有供給原料または前駆体
28 マニホールド
34 導管
36 バーナ

Claims (10)

  1. 脈理の減少したシリカ−チタニアガラスの光学ブランクおよび/または素子を製造する方法において、
    調製中に振動パターンおよび回転パターンの両方を利用する方法により、5〜10質量%の範囲のチタニア含有量を有する固結されたシリカ−チタニアガラスのブールを調製し、
    固結後に、前記ガラスを炉内で1600℃より高い温度で48〜288時間の範囲の期間に亘り熱処理し、
    前記ガラスを周囲温度まで冷却して、脈理が減少したシリカ−チタニアガラスを生成し、
    前記ガラスを、極紫外線リソグラフィーに適した、脈理の減少したシリカ−チタニアガラスの光学ブランクおよび/または素子に加工する工程、
    を有してなり、
    前記ブールの前記振動パターン及び前記回転パターンが、等式:
    により定義され、使用されるω1およびω2の値、前記振動パターンが10分以下で繰り返されるようなものであることを特徴とする方法。
  2. 前記熱処理が、1600〜1700℃の温度範囲で前記期間に亘り行われることを特徴とする請求項1記載の方法。
  3. 前記期間が48〜160時間の範囲にあることを特徴とする請求項1または2記載の方法。
  4. 前記期間が72〜288時間の範囲にあることを特徴とする請求項1または2記載の方法。
  5. 前記冷却が、毎時約50℃の速度で1000℃の温度まで冷却し、次いで、前記炉の自然な冷却速度で周囲温度まで冷却する工程を含むことを特徴とする請求項1から4いずれか1項記載の方法。
  6. 前記冷却が、前記ガラスを毎時20〜75℃の範囲の速度で1000℃の温度に冷却し、次いで、前記炉の自然の冷却速度で周囲温度まで冷却する工程を含むことを特徴とする請求項1から4いずれか1項記載の方法。
  7. 前記使用されるω1、ω2およびω3の値が、前記振動パターンが5分以下で繰り返され、前記回転パターンが5分以内で繰り返されるようなものであることを特徴とする請求項1から6いずれか1項記載の方法。
  8. 前記振動パターンが2.5分以内で繰り返されることを特徴とする請求項7記載の方法。
  9. 前記回転パターンが2.5〜5分の範囲の期間で繰り返されることを特徴とする請求項7記載の方法。
  10. 前記シリカ−チタニアガラスのブールが、ケイ素とチタンのシロキサン、アルコキシドおよび四塩化物からなる群より選択されるシリカとチタニアの前駆体を用いて火炎加水分解により調製されることを特徴とする請求項1から9いずれか1項記載の方法。
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100154474A1 (en) * 2005-12-21 2010-06-24 Lorrie Foley Beall Reduced striae low expansion glass and elements, and a method for making same
GB0605461D0 (en) * 2006-03-17 2006-04-26 Saint Gobain Quartz Plc Manufacture of large articles in synthetic vitreous silica
TW200940472A (en) * 2007-12-27 2009-10-01 Asahi Glass Co Ltd TiO2-containing silica glass
JPWO2010131662A1 (ja) * 2009-05-13 2012-11-01 旭硝子株式会社 TiO2−SiO2ガラス体の製造方法及び熱処理方法、TiO2−SiO2ガラス体、EUVL用光学基材
WO2010134449A1 (ja) 2009-05-18 2010-11-25 旭硝子株式会社 TiO2-SiO2ガラス体の製造方法及び熱処理方法、TiO2-SiO2ガラス体、EUVL用光学基材
US8713969B2 (en) * 2009-08-31 2014-05-06 Corning Incorporated Tuning Tzc by the annealing of ultra low expansion glass
DE102009043680A1 (de) * 2009-09-30 2011-03-31 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Rohling aus Titan-dotiertem, hochkieselsäurehaltigem Glas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie und Verfahren für seine Herstellung
DE102013202256B3 (de) * 2013-02-12 2014-07-17 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Herstellung von Titan-dotiertem synthetischen Quarzglas und dessen Verwendung
US9505649B2 (en) 2013-09-13 2016-11-29 Corning Incorporated Ultralow expansion glass
EP2960219B1 (de) * 2014-06-27 2019-01-16 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG Rohling aus Titan-dotiertem Kieselglas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie und Verfahren für seine Herstellung
WO2023192119A1 (en) * 2022-04-01 2023-10-05 Corning Incorporated Methods of forming silica‑titania glass articles with reduced striae dimensions

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3780532B2 (ja) * 1994-04-04 2006-05-31 株式会社ニコン 合成石英ガラス光学体の改質方法 および合成石英ガラス光学体
WO1997010182A1 (en) * 1995-09-12 1997-03-20 Corning Incorporated Furnace, method of use, and optical product made by furnace in producing fused silica glass
EP0850201B1 (en) * 1995-09-12 2003-07-16 Corning Incorporated Containment vessel for producing fused silica glass
EP0850202B1 (en) * 1995-09-12 2005-04-27 Corning Incorporated Boule oscillation patterns for producing fused silica glass
JPH11116255A (ja) * 1997-10-13 1999-04-27 Nikon Corp 石英ガラスの均質化方法及びこれにより得られた石英ガラス
US5970751A (en) * 1998-09-22 1999-10-26 Corning Incorporated Fused SiO2 -TiO2 glass method
US7053017B2 (en) * 2002-03-05 2006-05-30 Corning Incorporated Reduced striae extreme ultraviolet elements
JP2004131373A (ja) * 2002-09-09 2004-04-30 Corning Inc シリカ・チタニア極端紫外線光学素子の製造方法
JP5367204B2 (ja) * 2003-04-03 2013-12-11 旭硝子株式会社 TiO2を含有するシリカガラスおよびEUVリソグラフィ用光学部材
US7155936B2 (en) * 2003-08-08 2007-01-02 Corning Incorporated Doped silica glass articles and methods of forming doped silica glass boules and articles
DE102004015766B4 (de) * 2004-03-23 2016-05-12 Asahi Glass Co., Ltd. Verwendung eines SiO2-TiO2-Glases als strahlungsresistentes Substrat
DE102004024808B4 (de) * 2004-05-17 2006-11-09 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Quarzglasrohling für ein optisches Bauteil zur Übertragung extrem kurzwelliger ultravioletter Strahlung
EP2241538B1 (en) * 2004-07-01 2013-05-29 Asahi Glass Company, Limited Silica glass containing TiO2 and process for its production
JP5035516B2 (ja) * 2005-12-08 2012-09-26 信越化学工業株式会社 フォトマスク用チタニアドープ石英ガラスの製造方法

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