JP5545240B2 - 仮組み用ワイヤ残留検出装置および仮組み用ワイヤ残留検出方法 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 38
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 50
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 26
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 24
- 238000005219 brazing Methods 0.000 claims description 16
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 22
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 5
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 3
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 3
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 2
- 238000002845 discoloration Methods 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
熱交換器(1)のチューブ(2)を照明する照明手段(12)と、
チューブ(2)を撮影する撮影手段(13)と、
撮影手段(13)が撮影した画像を処理する画像処理手段(14)とを備え、
照明手段(12)は、その光軸が熱交換器(1)のコア面に対して斜めに配置され、これにより、熱交換器(1)に仮組み用ワイヤ(6)が残留している場合、チューブ(2)に仮組み用ワイヤ(6)の影(S)が映るようになっており、
撮影手段(13)は、その光軸が熱交換器(1)のコア面に対して斜めになるように配置され、これにより、熱交換器(1)に仮組み用ワイヤ(6)が残留している場合、チューブ(2)に映った仮組み用ワイヤ(6)の影(S)と仮組み用ワイヤ(6)の両方を撮影できるようになっており、
画像処理手段(14)は、仮組み用ワイヤ(6)の影(S)によってチューブ(2)が分断されているか否かを判定し、
さらに、画像処理手段(14)は、複数本のチューブ(2)を連結する画像処理を行うことで、チューブ(2)に付着したフラックス(F)と仮組み用ワイヤ(6)の影(S)とを区別することを特徴とする。
さらに、請求項1に記載の発明によれば、画像処理手段(14)は、複数本のチューブ(2)を連結する画像処理を行うことで、チューブ(2)に付着したフラックス(F)と仮組み用ワイヤ(6)の影(S)とを区別しているから、チューブ(2)に付着したフラックス(F)を仮組み用ワイヤ(6)と誤検出することを抑制することができ、仮組み用ワイヤ残留の検出精度を一層高めることができる。
照明手段(12)によってチューブ(2)を照明し、
撮影手段(13)によってチューブ(2)を撮影し、
画像処理手段(14)は、仮組み用ワイヤ(6)の影(S)によってチューブ(2)が分断されているか否かを判定し、
さらに、画像処理手段(14)によって、複数本のチューブ(2)を連結する画像処理を行うことで、チューブ(2)に付着したフラックス(F)と仮組み用ワイヤ(6)の影(S)とを区別することを特徴とする。
第1実施形態について図1〜図6に基づいて説明する。まず、本実施形態における仮組み用ワイヤ残留検出装置の検出対象である熱交換器1について説明する。図1では、熱交換器1の例として、車両用空調装置の加熱用熱交換器であるヒータコアを示している。
上記第1実施形態では、画像中のチューブ2が分断されているか否かを検査することによってワイヤ残留の有無を判定するが、本第2実施形態ではさらに、フラックス付着とワイヤ残留との区別化処理を追加することによって、ワイヤ残留の判定精度を一層向上させている。
上記各実施形態は、画像処理装置14が行う画像処理のアルゴリズムの具体例を示したものであり、これに限定されることなく、画像処理装置14が行う画像処理のアルゴリズムの細部を種々変更可能である。
2 チューブ
6 仮組み用ワイヤ
12 照明装置(照明手段)
13 カメラ(撮影手段)
14 画像処理装置(画像処理手段)
S 仮組み用ワイヤの影
Claims (3)
- ろう付けにより製造された熱交換器(1)に仮組み用ワイヤ(6)が残留しているか否か検出する仮組み用ワイヤ残留検出装置であって、
前記熱交換器(1)のチューブ(2)を照明する照明手段(12)と、
前記チューブ(2)を撮影する撮影手段(13)と、
前記撮影手段(13)が撮影した画像を処理する画像処理手段(14)とを備え、
前記照明手段(12)は、その光軸が前記熱交換器(1)のコア面に対して斜めに配置され、これにより、前記熱交換器(1)に前記仮組み用ワイヤ(6)が残留している場合、前記チューブ(2)に前記仮組み用ワイヤ(6)の影(S)が映るようになっており、
前記撮影手段(13)は、その光軸が前記熱交換器(1)のコア面に対して斜めになるように配置され、これにより、前記熱交換器(1)に前記仮組み用ワイヤ(6)が残留している場合、前記チューブ(2)に映った前記仮組み用ワイヤ(6)の影(S)と前記仮組み用ワイヤ(6)の両方を撮影できるようになっており、
前記画像処理手段(14)は、前記仮組み用ワイヤ(6)の影(S)によって前記チューブ(2)が分断されているか否かを判定し、
さらに、前記画像処理手段(14)は、複数本の前記チューブ(2)を連結する画像処理を行うことで、前記チューブ(2)に付着したフラックス(F)と前記仮組み用ワイヤ(6)の影(S)とを区別することを特徴とする仮組み用ワイヤ残留検出装置。 - 前記画像処理手段(14)は、前記チューブ(2)の分断箇所を強調する画像処理を行うことを特徴とする請求項1に記載の仮組み用ワイヤ残留検出装置。
- 請求項1または2に記載の仮組み用ワイヤ残留検出装置を用いて、前記熱交換器(1)に前記仮組み用ワイヤ(6)が残留しているか否か検出する仮組み用ワイヤ残留検出方法であって、
前記照明手段(12)によって前記チューブ(2)を照明し、
前記撮影手段(13)によって前記チューブ(2)を撮影し、
前記画像処理手段(14)は、前記仮組み用ワイヤ(6)の影(S)によって前記チューブ(2)が分断されているか否かを判定し、
さらに、前記画像処理手段(14)によって、複数本の前記チューブ(2)を連結する画像処理を行うことで、前記チューブ(2)に付着したフラックス(F)と前記仮組み用ワイヤ(6)の影(S)とを区別することを特徴とする仮組み用ワイヤ残留検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011035985A JP5545240B2 (ja) | 2011-02-22 | 2011-02-22 | 仮組み用ワイヤ残留検出装置および仮組み用ワイヤ残留検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011035985A JP5545240B2 (ja) | 2011-02-22 | 2011-02-22 | 仮組み用ワイヤ残留検出装置および仮組み用ワイヤ残留検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012173159A JP2012173159A (ja) | 2012-09-10 |
JP5545240B2 true JP5545240B2 (ja) | 2014-07-09 |
Family
ID=46976195
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011035985A Active JP5545240B2 (ja) | 2011-02-22 | 2011-02-22 | 仮組み用ワイヤ残留検出装置および仮組み用ワイヤ残留検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5545240B2 (ja) |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0299807A (ja) * | 1988-10-07 | 1990-04-11 | Hitachi Metals Ltd | 粗面の欠陥検出方法 |
JPH0814855A (ja) * | 1994-07-05 | 1996-01-19 | Sony Corp | 部品装着状態の検査方法 |
JP4491922B2 (ja) * | 2000-06-21 | 2010-06-30 | トヨタ自動車株式会社 | 表面欠陥検査方法 |
JP4518835B2 (ja) * | 2004-05-13 | 2010-08-04 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 欠陥検出装置、配線領域抽出装置、欠陥検出方法および配線領域抽出方法 |
JP2007078663A (ja) * | 2005-09-16 | 2007-03-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 |
JP5167731B2 (ja) * | 2007-09-06 | 2013-03-21 | 大日本印刷株式会社 | 検査装置および方法 |
JP5118472B2 (ja) * | 2007-12-21 | 2013-01-16 | パナソニック株式会社 | 静電霧化装置の検査方法およびその装置 |
US8406501B2 (en) * | 2008-08-01 | 2013-03-26 | Denso Corporation | Method and system for inspection of tube width of heat exchanger |
JP4697328B2 (ja) * | 2008-08-21 | 2011-06-08 | 株式会社デンソー | 熱交換器のコアの検査方法 |
-
2011
- 2011-02-22 JP JP2011035985A patent/JP5545240B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012173159A (ja) | 2012-09-10 |
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