JP5539865B2 - 走査ヘッドの較正装置および方法 - Google Patents
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Description
(i)前記走査ヘッドに取り付けられた表面検出デバイスを前記走査ヘッドの少なくとも1軸のまわりに回転させ、前記基準加工品に対し異なる複数の角度方向に前記表面検出デバイスを移動させる工程と、
(ii)該工程(i)の異なる角度方向のそれぞれで、前記表面検出デバイスにより、前記基準加工品の少なくとも1つの特性を測定する工程と、
(iii)該工程(ii)で測定された前記基準加工品の特性を用いて、前記走査ヘッドの角度方向に対する前記測定スケールの測定値に関連した誤差マップまたは関数を生成する工程と、
を具える。
従来技術のエンコーダ/エンコーダ較正の場合には、その誤差が直接的に較正値に含まれる。しかしながら、環状に配置した球を用いる本発明の方法においては、角度αとα+誤差との間のエンコーダ誤差の変動のみが較正に影響を与えることになる。エンコーダ誤差は概して変化のレートが低い。従って、導入される誤差は非常に小さく、このことが、本発明の方法における位置合わせは正確に設定する必要がないことの説明となる。
A1=A+a1 (1)
ここで、A1は実際の角方向ステップ、Aは公称の角方向ステップ、a1は補正値である。
M1=M+m1 (2)
ここで、M1は実際の測定値、Mは公称測定値、m1は補正値である。
4つの位置(P1〜P4)は、各加工品誤差が各測定誤差に混じった4×4個の測定値を生成する。次の行列はすべての関連を示している。
Claims (21)
- 基準加工品の特性を用いて走査ヘッド内の測定スケールを較正するための方法であって、
(i)前記走査ヘッドに取り付けられた表面検出デバイスを前記走査ヘッドの少なくとも1軸のまわりに回転させ、前記基準加工品に対し異なる複数の角度方向に前記表面検出デバイスを移動させる工程と、
(ii)該工程(i)の異なる角度方向のそれぞれで、前記表面検出デバイスにより、前記基準加工品の少なくとも1つの特性を測定する工程と、
(iii)該工程(ii)で測定された前記基準加工品の特性を用いて、前記走査ヘッドの角度方向に対する前記測定スケールの測定値に関連した誤差マップまたは関数を生成する工程と、
を具えたことを特徴とする方法。 - 前記基準加工品は、少なくとも1つの較正済みの特性を持つ較正用加工品を含み、前記工程(iii)は、前記工程(ii)で測定された前記基準加工品の特性と前記基準加工品の前記較正済みの少なくとも1つの特性との差から前記誤差マップまたは関数を生成する工程を含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記工程(ii)は、前記基準加工品の特性のそれぞれの測定を通じ、前記走査ヘッドを用いて前記表面検出デバイスを前記走査ヘッドの少なくとも1軸のまわりに回転させる工程を含むことを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
- 前記走査ヘッドは、座標位置決め装置の可動アームに取り付け可能なベース部を含み、前記工程(ii)は、前記基準加工品の特性測定のそれぞれを通じて、前記走査ヘッドの前記ベース部の最小限の動きのみを提供する工程を含むことを特徴とする請求項3に記載の方法。
- 前記工程(ii)は、前記基準加工品の特性測定のそれぞれを通じて、前記走査ヘッドの前記ベース部を静止状態に保つ工程を含むことを特徴とする請求項4に記載の方法。
- 前記工程(ii)は、前記基準加工品の少なくとも1つの較正済み寸法の測定を含むことを特徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載の方法。
- 前記工程(ii)は、前記基準加工品の少なくとも1つの特徴部の位置の測定を含むことを特徴とする請求項1ないし6のいずれかに記載の方法。
- 前記基準加工品は、相対的な位置が較正されている複数の特徴部の配列を含むことを特徴とする請求項1ないし7のいずれかに記載の方法。
- 前記走査ヘッドは座標位置決め装置の可動アームに取り付け可能なベース部を含み、前記走査ヘッドの前記ベース部は前記工程(i)を通じて実質的に静止状態に保持されることを特徴とする請求項8に記載の方法。
- 前記基準加工品は単一の特徴部を含んでいることを特徴とする請求項1ないし7のいずれかに記載の方法。
- 前記走査ヘッドは座標位置決め装置の可動アームに取り付けられ、前記工程(i)は、前記表面検出デバイスが異なる複数の角度方向のそれぞれに移動する際に前記基準加工品に対して前記走査ヘッドを移動させる工程をさらに含むことを特徴とする請求項10に記載の方法。
- 前記基準加工品は、球、リングゲージ、ボア、ボスまたは立方体の少なくとも1つを含んでいることを特徴とする請求項1ないし11のいずれかに記載の方法。
- 前記走査ヘッドに取り付けられる前記表面検出デバイスは走査プローブを含み、前記工程(ii)は、前記基準加工品の表面上の経路に沿って走査を行うことで、異なる角度方向のそれぞれで前記基準加工品の特性を測定する工程を含むことを特徴とする請求項1ないし12のいずれかに記載の方法。
- 前記基準加工品は少なくとも1つの球を含み、前記工程(ii)は、異なる角度方向のそれぞれについて前記球の表面上の円状経路に沿った走査を行い、当該球の半径および/または中心位置を確定する工程を含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 前記走査ヘッドに取り付けられる前記表面検出装置はタッチトリガプローブを含み、工程(ii)は、異なる角度方向のそれぞれで基準加工品の表面上の分散した複数ポイントの測定を行う工程を含むことを特徴とする請求項1ないし14のいずれかに記載の方法。
- 座標位置決め装置のための走査ヘッドシステムであって、請求項1ないし15のいずれかの方法を用いて演算された誤差マップまたは関数を記憶することを特徴とする走査ヘッドシステム。
- 複数の較正済み特徴部を含んだ較正用加工品を用いて走査ヘッド内の測定スケールを較正するための方法であって、
(i)前記走査ヘッドに取り付けられた表面検出デバイスを前記走査ヘッドの少なくとも1軸のまわりに回転させ、前記複数の較正済み特徴部のうち選択された較正済み特徴部に対して表面検出関係をもつように前記表面検出デバイスを移動させる工程と、
(ii)前記表面検出デバイスにより、前記較正用加工品の前記選択された較正済み特徴部の少なくとも1つの特性を測定する工程と、
(iii)さらに選択された少なくとも1つの較正済み特徴部に関して前記工程(i)および(ii)を繰り返す工程と、
(iv)前記工程(ii)で測定された前記較正用加工品の特性と前記較正用加工品の較正済みの特性との差から、前記走査ヘッドの角度方向に対する前記測定スケールの測定値に関連した誤差マップまたは関数を生成する工程と、
を具えたことを特徴とする方法。 - 前記工程(i)を通じた前記表面検出デバイスの動きは、前記走査ヘッドの前記少なくとも1軸のまわりの、前記走査ヘッドの回転のみで提供されることを特徴とする請求項17に記載の方法。
- 第1の特徴部を含んだ基準加工品を用いて走査ヘッド内の測定スケールを較正する方法であって、
(i)前記走査ヘッドに取り付けられた表面検出デバイスを前記第1の特徴部に対する第1の角度方向に配置する工程(i)と、
(ii)前記表面検出デバイスにより、前記基準加工品の前記第1の特徴部の特性を測定する工程と、
(iii)前記走査ヘッドを用いて前記表面検出デバイスを前記走査ヘッドの少なくとも1軸のまわりに回転させることで、前記表面検出デバイスが前記基準加工品の前記第1の特徴部に対して異なる角度方向を取るようにする工程と、
(iv)前記表面検出デバイスにより、前記基準加工品の前記第1の特徴部の特性を再測定する工程と、
(v)前記工程(ii)および(iv)を通じて得られた前記基準加工品の前記第1の特徴部の測定された特性から、前記走査ヘッドの角度方向に対する前記測定スケールの測定値に関連した誤差マップまたは関数を生成する工程と、
を具えたことを特徴とする方法。 - 前記走査ヘッドは座標位置決め装置の可動アームに取り付けられ、工程(iii)は前記可動アームを用いて前記走査ヘッドを移動させる工程を含むことを特徴とする請求項19に記載の方法。
- 走査ヘッド内の測定スケールを較正するための方法であって、
(i)前記走査ヘッドに取り付けられた表面検出デバイスを用いて基準加工品の特性を測定する工程と、
(ii)異なる角度方向の範囲で回転する前記走査ヘッドの1以上の回転軸に関して前記工程(i)の測定を繰り返す工程と、
(iii)前記工程(i)で得られた前記加工品の測定された特性から、前記走査ヘッドの角度方向に対する前記測定スケールの測定値に関連した誤差マップまたは関数を生成する工程と、
を具えたことを特徴とする方法。
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