JP5535007B2 - イオナイザモジュール - Google Patents
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Description
この出願で使用されている用語は、説明を容易にし、概念の理解の助けとするために、此処に、以下の通り定義されるが、これらの定義は、本発明の範囲を制限することを意図するものではない。
図4は、イオン発生器110の基本構造を示す図である。このイオン発生器110は、イオン発生電極111と高電圧源112とイオンを対象物もしくは対象となる領域に向けて移動するファン113もしくはそれに類したものから構成されている。
図1Aを参照して述べると、イオン発生電極(図4の符号111で示されるもの)は、4層基板6として設計されている。この電極111は、最上層に配置された導電性のイオン発生素子1と、それに続く層としての誘電層5と、第1中間層61上の導電性バイアス素子3と、絶縁性を有する基板6と、第2中間層62上のもう1つの導電性バイアス素子4と、もう1つの誘電層5と、最後に最下層上のイオン発生素子2とから構成されている。最上層は、第1中間層61と対になっており、最下層は、第2中間層62と対になっている。
イオンを発生させるために、イオン発生素子1、2とそれに対となるバイアス素子3、4との間に高電圧が印加される。この高電圧信号は、直流(DC)、交流(AC)、高周波交流(HF−AC)、パルスACとすることができる。しかも、高電圧信号は、DCバイアスがかかっていてもかかっていなくてもよい。
電極111から対象物もしくは対象領域に素早くイオンを運ぶために、いくつかの機器が用いられる。その1つは、イオン発生器110の一部分ともなるファン又はブロアー113である。ファン又はブロアー113は、イオン発生器110の外部にあってそれから独立したものとしてもよいし、またイオン発生器110の一部分としてもよい。イオンを移送する他の手段としては、加圧空気タンク又はエアコンプレッサからの圧縮空気を使用してもよい。
本発明は、3つの実施例、即ち、(a)図1A乃至1Cに示されるアクティブバイアス、(b)図2A乃至2Cに示される アイソレイティドバイアス及び(c)図3A乃至3Dに示されるアイソレイティド発生素子に分類される。
本発明の第1の実施例は、図1A乃至図1Cに示されているアクティブバイアスデザイン10,20、30である。図1Aは、4層電極111を用いて実施されたアクティブバイアスデザイン10を示している。これは、1つの共通の基板6、最上層上の導電性のイオン発生素子1、誘電層5、第1中間層61上の導電性バイアス素子3、絶縁性基板6、第2中間層62に設けられたもう1つの導電性バイアス素子4、もう1つの誘電層5、最後に最下層上の導電性イオン発生素子2から構成されている。
本発明の第2の実施例は、図2A〜2Cに示されたアイソレイティドバイアスのデザイン40、50、60である。
図2Aでは、アイソレイティドバイアスのデザイン40は、4層基板6上に施されている。最上層のイオン発生素子1は、高電圧源の一方の極と電気的に接続され、最下層のイオン発生素子2は、高電圧源の他方の極に電気的に接続されている。第1中間層61上と第2中間層62上のバイアス素子3、4は電気的に一体に接続され、これらは、グランドやその他の回路から分離(アイソレイト)されている。
本発明の第3の実施例は、図3A乃至図3Dに示されたアイソレイティドイオン発生素子70、80、90、100の設計である。
本発明の他の実施の形態を図6乃至図13を参照して以下にのべる。
正イオン発生は、負イオン発生に比べて多くのエネルギーを必要とすることが確証されている。この不均衡を補償してイオンの発生量を均等にするために、多くのイオン発生器は、正イオン発生電極に負イオン発生電極よりも高い電圧を印加してイオン出力をバランスさせている。この手法の欠点は、より高い電圧のかかる正のイオン発生電極がより早く摩耗し、かつ埃の蓄積が増大することである。
上記した問題に対応する他の手法は、イオンの発生を向上させるために、イオン発生素子1、2をドーピングすることである。正イオン発生素子電極には正のドーピングを施して正イオンの発生を向上させ、負イオン発生素子電極には負のドーピングを施して負のイオン発生を向上させることができる。それぞれのドーピングレベルは、イオン発生器が所定の印加電圧でイオンバランスを保つことができるように調整することができる。それに代えて、この4.2の方式と4.1とで述べた方式を組み合わせることによってイオンの発生量とバランスを向上させることもできる。
半導体に不純物をドーピングするには、一般的に拡散又はイオン注入を利用した技術が用いられている。拡散は、半導体ウエハーを炉の中に入れ、必要なドーパントを含んだ不活性ガスを流し加熱処理する方法によって達成される。例えば、Si(ケイ素)の拡散は、BN(窒化ホウ素)等の固体ソースを加熱炉中に配置して、基板を800℃から1200℃に加熱して不活性ガスを流すことにより行われ、これによってSi基板中にB(ホウ素)が高濃度で添加される。また、イオン注入は、イオン注入装置を用いてB、P(リン)、As(ヒ素)、In(インジウム)、Sb(アンチモン)等の不純物をイオン化し、加速してエネルギーを付与し、半導体基板にイオンを注入する方法である。これによって形成される不純物の分布は、加速される不純物イオンの質量と加速エネルギーでコントロールすることができるため、次のような特徴を有している。
(1)不純物量を電荷量で制御することができるので、注入する不純物の量を正確に制御することができ、不純物分布の再現性がよい。
(2)不純物のドーピングにあたり、1010から1014/cm2 と広範囲なドーズ量の制御が可能である。
(3)不純物を低温でドーピングすることができる。
(4)加速電圧を制御することによって、基板表面の酸化膜や窒化膜を通して、基板中に不純物の注入が可能である。
数多くのイオナイザの製造現場においては、清掃やメンテナンスの容易なイオナイザを有することが望ましい。従来技術においては、イオン発生素子1、2は、誘電層5の最上面から突き出して形成されている。このように、イオン発生素子1、2が突起状であると、イオン発生素子1、2に塵や埃が吸引し、付着し易くなる。
イオン発生電極は、図7乃至図9に示すように、符号130で示す水平配置や符号140で示す垂直配置や符号150で示す水平垂直の組み合わせ配置のような取り外し可能なルーバー型に設計することができる。この構成においては、イオンは、ルーバーの個々の仕切り内で生成され、ルーバーから飛び出すときに平行になる。これらの構成においては、イオンは、一層速い速度で方向を集中して飛び出すことができる。これにより、それぞれのイオンが反対極性のイオンと再結合する前に、イオンをイオナイザから更に遠くへ運ぶことができるようになる。更に、取り外し可能な設計130、140、150とすると、清掃やメンテナンスが一層簡単となる。1つの例として、図10は、ファンを内蔵した卓上型イオナイザ160にルーバー型電極を設けた例を示す。
本発明の他の態様では、イオン発生器110は、図11に示すように、電極111の表面についた塵や粒子を清掃するためのクリーニングローラもしくはワイパ171を備えている。クリーニングローラ若しくはワイパを左右に手で移動させることによって清掃が行われる。クリーニングローラ若しくはワイパは、取り外し可能にすることができ、それによってクリーニングローラ若しくはワイパ自体の清掃やメンテナンスも容易に行える。
イオン発生電極111、高電圧源112、ファンその他の送風システム113は、数多くの異なる種類のイオナイザに使用することができる。また、イオン発生器110は、卓上型若しくは天井取付(オーバーヘッド)型イオナイザとして、1つ又はそれ以上のファンを取り付けることができる。イオン発生電極111と高電圧源112とは、イオンを搬送するための圧縮空気を用いるガン型又はノズル型のイオナイザとして組み込むことができる。それに代えて、イオン発生電極111と高電圧源112とは、イオンを搬送するための圧縮空気又は外部空気流を用いるバー型のイオナイザとして組み込むことができる。
イオン発生電極111と高電圧源112とは、その独自のデザインにより、とても小さく設計することができ、図12に示すように、小型のイオナイザモジュール181、182として設計することができる。イオナイザモジュール181は、ファン若しくは送風システム113を有しないで組み立てられてより小型にすることができる。実際の使用においては、イオナイザモジュールは、効率よく機能するように、使用環境中にある空気流を利用する。イオナイザモジュールは、DC24Vの如き低電圧を供給して使用することができる。
図1乃至図6の形態では、電極を構成するイオン発生素子やバイアス素子が直線的な櫛歯状であるのが示されているが、これらの素子の形状は、これに限らず、任意の形態とすることができる。例えば、図14(A)(B)に示すような渦巻状、図14(C)に示すような切欠き円状とすることができる。 なお、図14において、点線の円は、高圧電源の接続部位を示す。
3、4 バイアス素子
5 誘電層
6 基板
7 ヴィア
8 正の高圧電源
9 負の高圧電源
10、20、30 アクティブバイアスのデザイン
40、50、60 アイソレイティドバイアスのデザイイン
61 第1中間層
62 第2中間層
70、80、90、100 アイソレイディドイオン発生素子
110 イオン発生器
111 イオン発生電極
112 高電圧源
113 ファン又はブロアー
114 高圧配線
130、140、150 イオン発生電極のルーバー型の異なる設計
171 ワイパ
181、182 イオナイザモジュール
183 空気吹き出し孔
184 空気入口
185 空洞
190 回路基板
N、N1、N2、N3、N4 ノイズ
Claims (2)
- 1つの共通基板と、前記1つの共通基板に保持された第1と第2のイオン発生素子と、前記1つの共通基板に保持され前記第1と第2のイオン発生素子とそれぞれ対となる第1と第2のバイアス素子と、前記第1と第2のイオン発生素子と前記第1と第2のバイアス素子との間にそれぞれ配置された誘電層とから成り、前記第1と第2のイオン発生素子又は前記第1と第2のバイアス素子に正負の高電圧をそれぞれ印加し且つ前記第1と第2のバイアス素子又は第1と第2のイオン発生素子をグランド又は他の回路から隔離して前記第1と第2のイオン発生素子又は前記第1と第2のバイアス素子から正負のイオンをそれぞれ発生し、前記高電圧は、直流DC、交流AC、高周波交流電流HF−AC、パルスDC、パルスACのいずれかであるイオン発生電極と、前記イオン発生電極を付勢する正負の高圧電源と、空気取り入れ口と空気取り出し口と前記空気取り入れ口と前記空気取り出し口との間に空気通路を形成する空洞とから成る空気補助アセンブリとを備え、前記空気取り入れ口又は前記空気取り出し口は、前記イオン発生電極に設けられていることを特徴とするイオナイザモジュール。
- 1つの共通基板と、前記1つの共通基板に保持された第1と第2のイオン発生素子と、前記1つの共通基板に保持され前記第1と第2のイオン発生素子とそれぞれ対となる第1と第2のバイアス素子と、前記第1と第2のイオン発生素子と前記第1と第2のバイアス素子との間にそれぞれ配置された誘電層とから成り、前記第1と第2のイオン発生素子又は前記第1と第2のバイアス素子に正負の高電圧をそれぞれ印加し且つ前記第1と第2のバイアス素子又は第1と第2のイオン発生素子をグランド又は他の回路から隔離して前記第1と第2のイオン発生素子又は前記第1と第2のバイアス素子から正負のイオンをそれぞれ発生し、前記高電圧は、直流DC、交流AC、高周波交流電流HF−AC、パルスDC、パルスACのいずれかであるイオン発生電極と、前記イオン発生電極を付勢する正負の高圧電源と、空気取り入れ口と空気取り出し口と前記空気取り入れ口と前記空気取り出し口との間に空気通路を形成する空洞とから成る空気補助アセンブリとを備え、前記空気取り入れ口又は前記空気取り出し口は、前記イオン発生電極に設けられ、前記グランド又は他の回路から隔離される前記第1と第2のバイアス素子又は前記第1と第2のイオン発生素子は、共通の素子であって前記共通の素子と共通でない素子との間には、1つの共通の誘電層が介在していることを特徴とするイオナイザモジュール。
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