JP5531823B2 - 発光装置およびその検査方法、製造方法 - Google Patents
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Description
また、発光素子の実装領域に向けて突設される突設部をワイヤボンディング部として利用することにより、発光素子と配線層との間に掛け渡されるワイヤの長さを短くできる。
一般に、円形を呈する実装領域に対して発光素子を格子状に配列した場合、格子配列のコーナー部には発光素子を配置できない中途半端な空きスペースが生じやすく、この空きスペースを跨いで発光素子と配線層とをワイヤ接続した場合にはワイヤ長が必要以上に長くなる。
図1および図2を参照して本発明の第1実施形態を説明する。なお、図2においては図面を判りやすくするため光反射材6の外郭線を二点鎖線にて示してある。他の図面においても適宜に光反射材6を二点鎖線にて示してある。
基板5は、発光素子2を配置するためのものであり、例えば矩形平板状に形成されている。基板5上には複数の発光素子2を配置するための実装領域3が区画されている。基板5のサイズは特に限定されず、発光素子2の数や配列間隔等、目的および用途に応じて適宜選択することができる。
実装領域3は、複数の発光素子2を配置するための基板5上の領域であり、本実施形態では基板5の中央にほぼ真円形の領域として区画されている。実装領域3のサイズは特に限定されず、発光素子2の数や配列間隔等、目的および用途に応じて適宜選択することができる。
配線層4は、基板5上において前記実装領域3の周囲を囲むように形成される環状の部位であり、ワイヤWにより発光素子2と導通する。具体的には、配線層4は、円形の実装領域3の約半分の周囲に沿って半環状に延設される正極側配線層4Aと、実装領域3の残り半分の周囲に沿って半環状に延設される負極側配線層4Bとから構成される。正極側配線層4A、負極側配線層4Bはそれぞれ外方に延設した引出し配線層8A、8Bを介して正極パッド(正極給電部)9A、負極パッド(負極給電部)9Bに通じている。ここで本発明においては、光反射材6で覆われることとなる引出し配線層8A、8Bの各引出し基端部8C周りも配線層4の一部とみなすものとする。正極パッド9A、負極パッド9Bは、基板5の対角部近傍に形成されており、導電性のワイヤによって図示しない外部電源側と電気的に接続される。配線層4に形成される位置ずれ判定部14については後記する。
発光素子2は、電圧を印加することで自発光する半導体発光素子であり、実装領域3を構成する金属膜7上に複数配置される。本実施形態の発光素子2は、直方体形状を呈しており、その長手方向の一端側、他端側の各上面にp電極、n電極が設けられて上面が発光する、いわゆるフェースアップ素子である。
光反射材6は、実装領域3を全周にわたって囲むように環状に形成されて、正極側配線層4A、負極側配線層4Bに対する引出し配線層8A、8Bの各引出し基端部8C周りを含んで、正極側配線層4A、負極側配線層4Bを覆う。光反射材6は実装領域3を囲み、発光素子2からの光を反射する光反射枠である。光反射材6の内周縁は若干金属膜7の外周縁にかかっているため、光反射材6と金属膜7との間に基板5の露出部は殆ど無い。基板5としてセラミックスや樹脂等の絶縁性の材料を用いる場合、通常、基板5は金属層4や金属膜7よりも発光素子からの光に対する反射率が低い。したがって、このような基板5を露出させない、または露出部を小さくすることで、光反射材6内の領域をほぼ全て金属膜7の反射領域に充てることができ、発光装置1の光の取り出し効率をより向上させることができる。
図1に示す封止部材13は、発光素子2、金属膜7、ワイヤW等を塵芥、水分、外力等から保護するための部材である。封止部材13は、基板5上において、光反射材6により囲った実装領域3内に樹脂を充填することで形成される。封止部材13の材料は、発光素子2からの光を透過可能な透光性を有するものであり、具体的な材料としてはシリコン樹脂、エポキシ樹脂、ユリア樹脂等が挙げられる。また、封止部材13は、このような材料に加えて着色剤、光拡散剤、フィラー、蛍光剤等を含有させることもできる。
なお、切り欠き凹部17の露出の有無の検査についても、目視検査に限られることなく、画像認識による検査が実施可能である。
また、位置ずれ判定部14として、切り欠き凹部17を設けることなく突設部15のみ設けた態様にしても良い。
そして、位置ずれ判定部14として、金属層4の実装領域側となる内周縁および金属層4の外周側となる外周縁の内の少なくとも一方に形成される突設部15または凹部(切り欠き凹部17)から構成することにより、各種形状パターンの金属層4に対して位置ずれ判定部14を容易に形成できる。特に、発光素子2の実装領域3に対する光反射材6の位置ずれという観点から、位置ずれ判定部14は金属層4の内周縁に設けることが好ましい。また、位置ずれ判定部14は複数設けることが好ましく、さらには、複数の位置ずれ判定部14を点とする多角形の中心が、実装領域3の中心とほぼ一致するように位置ずれ判定部14を配置することが好ましい。なお、本実施形態では金属層4は配線層を兼ねているが、金属層と配線層を異なる部材として設けることもできる。
図4は第2実施形態に係る説明図である。第1実施形態では、実装領域3側に向けて突設部15を4つ突設させたのに対し、この第2実施形態では実装領域3側に向けて突設部15を3つ突設させた態様を示している。その他の構成は第1実施形態と同じ構成であり、その詳細な説明は省略する。
また、突設部15の数を3つに抑えることで、突設部15の構成材料(Au、Ag等)を節約できる。
図5は第3実施形態に係る説明図である。この第3実施形態は、実装領域3側に向けて突設部15を2つ突設させ、かつ、引出し基端部8Cに切り欠き凹部17を1つ設けた態様を示している。その他の構成は第1実施形態と同じ構成であり、その詳細な説明は省略する。切り欠き凹部17の形状は第1実施形態と同様の矩形を呈している。
図6は第4実施形態に係る説明図である。この第4実施形態は、第3実施形態における切り欠き凹部17の代わりに矩形状の凸部18を設けた態様を示している。この凸部18も位置ずれ判定部14を構成するものであり、配線層4と同一平面上に形成されている。その他の構成は第3実施形態と同じ構成であり、その詳細な説明は省略する。
図7は第5実施形態に係る説明図である。第1実施形態および第2実施形態では、突設部15を金属層4の内周縁に設けたのに対し、この第5実施形態では突設部15を金属層4の外周縁に設けた態様を示している。その他の構成は第1実施形態、第2実施形態と同じ構成であり、その詳細な説明は省略する。
図8を参照して本発明の第6実施形態を説明する。第5実施形態では、突設部15を金属層4の外周縁に設けたのに対し、この第6実施形態では更に凹設部15bを形成した態様を示している。その他の構成は第5実施形態と同じ構成であり、その詳細な説明は省略する。
図9および図10を参照して本発明の第7実施形態を説明する。なお、第1実施形態と同一構成のものについては同一の符号を付して、以下では主に相違点についてのみ説明する。第1〜第6実施形態では実装領域3が円形であったのに対し、この第7実施形態は実装領域3が矩形を呈している。
なお、突設部15を各配線層4から外方に向けて形成することも可能である。また、上述の第6実施形態のように、金属層4の内側と外側の両方に一組の位置ずれ判定部14を設けることもでき、これによって位置ずれ判定の精度を向上できる。例えば、図11(a),(b)において、下側の突設部15に対応する位置に基板外周側へ突出した突設部を設けることで、本実施形態において判定困難である上方向への位置ずれも判定することができる。
図12は第8実施形態に係る説明図である。実装領域3が矩形状を呈している場合には光反射材6の前後左右の4方向のずれに対応可能なように、実装領域3の4辺全てに臨むように位置ずれ判定部14を設けることが好ましい。この第8実施形態は、実装領域3の4辺全てに臨むように、各辺のほぼ中央に臨んだ突設部15を1つずつ、計4つの突設部15を設けた態様を示している。なお、図12では説明の便宜上、正極側配線層4A、負極側配線層4Bを実装領域3のほぼ全周に沿って形成されたものとして図示している。
なお、突設部15を各配線層4から外方に向けて形成することも可能である。
図13は第9実施形態に係る説明図である。実装領域3が矩形をはじめとする多角形状を呈している場合、実装領域3の各辺のほぼ中央に突設部15を形成すると、光反射材6の回転ずれを検出しにくいという問題がある。この第9実施形態では、矩形を呈する実装領域3に対し、突設部15を、実装領域3の4辺全てに臨み、かつ対角位置に偏らせて設けた態様を示している。
なお、突設部15を各配線層4から外方に向けて形成することも可能である。
基板作成工程では、基板5上に配線パターン等を形成する。めっき工程では、配線パターン等が形成された基板5に金属層4を形成し、必要に応じて金属膜7を形成する。ダイボンディング工程では、実装領域3(金属膜7)上に発光素子2を載置する。ワイヤボンディング工程では、ダイボンディング工程の後に、発光素子2同士を、および発光素子2と金属層4とをワイヤWにより電気的に接続する。光反射材形成工程では、ワイヤボンディング工程の後に、金属層4を覆うように光反射材6を形成する。封止部材充填工程では、光反射材6の内側に、発光素子2および金属膜7を被覆するように封止部材13を充填する。封止部材13は加熱や光照射等によって硬化処理される。
2 発光素子
3 実装領域
4 金属層(配線層)
4A 正極側配線層(配線層)
4B 負極側配線層(配線層)
5 基板
6 光反射材
7 金属膜
9A 正極パッド
9B 負極パッド
14 位置ずれ判定部
15 突設部
16 空きスペース
17 切り欠き凹部
18 凸部
W ワイヤ
Claims (9)
- 発光素子と、
前記発光素子の実装領域の周囲に形成された金属層を有した基板と、
前記金属層を覆い前記発光素子からの光を反射する光反射材と、
を備えた発光装置であって、
前記金属層の実装領域側となる内周縁および前記金属層の外周側となる外周縁の内の少なくとも一方に突設部または凹部を設けたことを特徴とする発光装置。 - 前記突設部は、複数設けられたことを特徴とする請求項1に記載の発光装置。
- 前記突設部は、前記金属層の内周縁に設けられており、
前記金属層は配線層であり、
前記発光素子と前記配線層とはワイヤにより導電接続し、
前記突設部が前記配線層におけるワイヤボンディング部を兼ねることを特徴とする請求項2に記載の発光装置。 - 前記実装領域は円形であって、前記配線層は該実装領域を囲むように環状に形成され、
前記発光素子は前記実装領域の略全面にわたり格子状に配列され、
前記突設部は、前記発光素子の格子配列のコーナー部に生じた空きスペースに臨むように形成され、該突設部と前記空きスペースに臨む発光素子とをワイヤにより導電接続したことを特徴とする請求項3に記載の発光装置。 - 前記実装領域に、前記発光素子からの光を反射する金属膜が設けられたことを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記金属膜に凹部を設け、当該凹部に向けて突設するように前記突設部を前記金属層の内周縁に配置することを特徴とする請求項5に記載の発光装置。
- 発光素子と、
前記発光素子の実装領域の周囲に形成された金属層を有した基板と、
前記金属層を覆い前記発光素子からの光を反射する光反射材と、
を備えた発光装置の検査方法であって、
前記金属層の実装領域側となる内周縁および前記金属層の外周側となる外周縁の内の少なくとも一方に形成される突設部または凹部からなる位置ずれ判定部が、前記光反射材から露出しているか否かを目視あるいは画像認識で確認することにより、前記光反射材の位置ずれを判定することを特徴とする発光装置の検査方法。 - 前記位置ずれ判定部は、前記金属層の内周縁から突設された複数の突設部から構成され、少なくとも1つの突設部が前記光反射材から露出しているとき前記光反射材が位置ずれしていると判定することを特徴とする請求項7に記載の発光装置の検査方法。
- 発光素子と、
前記発光素子の実装領域の周囲に形成された金属層を有した基板と、
前記金属層を覆い前記発光素子からの光を反射する光反射材と、
を備えた発光装置の製造方法であって、
前記金属層の実装領域側となる内周縁および前記金属層の外周側となる外周縁の内の少なくとも一方に突設部を設け、
前記光反射材の縁が前記突設部の突端にほぼ当接するように前記光反射材を形成することを特徴とする発光装置の製造方法。
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