JP5494224B2 - 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法 - Google Patents
両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5494224B2 JP5494224B2 JP2010116582A JP2010116582A JP5494224B2 JP 5494224 B2 JP5494224 B2 JP 5494224B2 JP 2010116582 A JP2010116582 A JP 2010116582A JP 2010116582 A JP2010116582 A JP 2010116582A JP 5494224 B2 JP5494224 B2 JP 5494224B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- double
- carrier
- side polishing
- resin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005498 polishing Methods 0.000 title claims description 112
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 10
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 68
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 68
- 239000012779 reinforcing material Substances 0.000 claims description 17
- 238000009864 tensile test Methods 0.000 claims description 14
- 239000004744 fabric Substances 0.000 claims description 7
- 125000003903 2-propenyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])=C([H])[H] 0.000 claims description 4
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 claims description 4
- 239000002023 wood Substances 0.000 claims description 4
- 239000004962 Polyamide-imide Substances 0.000 claims description 3
- 229920002312 polyamide-imide Polymers 0.000 claims description 3
- 229920006337 unsaturated polyester resin Polymers 0.000 claims description 2
- KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 2-methoxy-6-methylphenol Chemical compound [CH]OC1=CC=CC([CH])=C1O KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 235000013312 flour Nutrition 0.000 claims 1
- 229920001568 phenolic resin Polymers 0.000 claims 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 124
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 47
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 14
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 10
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- NIPNSKYNPDTRPC-UHFFFAOYSA-N N-[2-oxo-2-(2,4,6,7-tetrahydrotriazolo[4,5-c]pyridin-5-yl)ethyl]-2-[[3-(trifluoromethoxy)phenyl]methylamino]pyrimidine-5-carboxamide Chemical compound O=C(CNC(=O)C=1C=NC(=NC=1)NCC1=CC(=CC=C1)OC(F)(F)F)N1CC2=C(CC1)NN=N2 NIPNSKYNPDTRPC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 6
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 6
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 5
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 5
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 4
- 239000011256 inorganic filler Substances 0.000 description 3
- 229910003475 inorganic filler Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920006231 aramid fiber Polymers 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 2
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000012050 conventional carrier Substances 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000008188 pellet Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- -1 specifically Substances 0.000 description 1
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Description
このため、ウェーハの周縁部を金属製の両面研磨装置用キャリアによるダメージから保護するために樹脂リングが保持孔の内周部に沿って取り付けられている。
このように、キャリアの保持孔とウェーハの間に樹脂リングを取り付けて研磨することでウェーハの周縁部が破損するのを防ぐことができる。
このような問題に対し、ウェーハの面取り形状の悪化を抑制することを目的として、エポキシ樹脂製のキャリアの保持孔のウェーハが接する内端面の形状を、ウェーハの面取り部と同様の形状に形成した両面研磨用キャリア(特許文献1参照)、また、ワーク保持孔の周縁部分が含まれる領域を、樹脂を含浸したガラス繊維を同心円状に配向して構成し、ワーク保持孔の内周面に曲面凹部を形成した研磨機用キャリア(特許文献2参照)が開示されている。
さらに、キャリアによってはウェーハ面内又は面取り部にスクラッチが発生してしまうという問題もあった。
このように、前記本発明に係る両面研磨装置用キャリアを具備した両面研磨装置を用いてウェーハの両面研磨を行えば、研磨するウェーハの周縁部の破損を防ぎつつ、ウェーハの面取り形状の悪化及びウェーハ面内や面取り部におけるスクラッチの発生を抑制して、ウェーハの両面研磨を行うことができる。
従来、周縁に面取り部を有するウェーハの両面研磨を行う際、キャリアとウェーハとの接触によってウェーハの周縁部が摩耗し、面取り形状が悪化するという問題があった。この問題に対し、ウェーハの面取り形状の悪化を抑制するため、エポキシ樹脂製や樹脂を含浸したガラス繊維製のキャリアの保持孔の内周面に曲面凹部を形成した両面研磨装置用キャリアが知られているが、このようなキャリアを用いても、依然として面取り形状が悪化する場合があった。さらに、キャリアの材質によってはウェーハ面内又は面取り部にスクラッチが発生するという問題もあった。
本発明の両面研磨装置用キャリアにおける樹脂リング2は、ASTM D638に準拠した引張試験に基づく引張弾性率が12GPa以上、20GPa以下であり、例えば、ガラス繊維や無機フィラー等のような無機系強化材を含まない樹脂より成るものである。
ここで、図4にウェーハWが両面研磨装置用キャリア1の保持孔4に挿入され、ウェーハWの周縁部が樹脂リング2の内周面と接触した様子を示す。
図4に示すように、研磨するウェーハWの周縁部には面取りが施されており、面取り部8を有している。この面取り部8を有するウェーハWの周縁部を樹脂リング2の内周と接触させてウェーハWを保持する。
従来の引張弾性率が12GPa未満の軟らかい樹脂から成る樹脂リングを用いた場合、その樹脂リングが、例え上記したようなウェーハWの面取り部8の形状に沿った凹形状に形成された内周面を有していたとしても、ウェーハWの周縁部は、特にその厚さ方向の中心付近において、摩耗によってウェーハWの内側方向へ凹んだ形状に変形し、面取り形状が悪化てしまう。
さらに、本発明の樹脂リング2は無機系強化材を含まないので、無機系強化材が細かく破砕されることによるウェーハ面内又は面取り部8におけるスクラッチの発生を抑制することもできる。
一般的に、無機系強化材を含まない樹脂の中では全芳香族液晶ポリエステル樹脂が最も高い引張弾性率(19.69GPa)を有していることから、本発明のウェーハWの面取り形状の変形と、ウェーハ面内又は面取り部8におけるスクラッチの発生を抑制する効果を同時に奏するためには、引張弾性率は20GPa以下である必要がある。
本発明のウェーハの両面研磨方法は、ASTM D638に準拠した引張試験に基づく引張弾性率が12GPa以上、20GPa以下であり、無機系強化材を含まない樹脂より成る樹脂リング2を有した図3に示すような両面研磨装置用キャリア1、及びその両面研磨装置用キャリア1を具備した図1に示すような両面研磨装置20を用い、まず、両面研磨装置20の研磨布5が貼付された上下定盤6、7の間に両面研磨装置用キャリア1を配設する。
そして、上下定盤6、7に貼付された研磨布5でウェーハWの上下研磨面を挟み込み、研磨面に研磨剤を供給しながらウェーハの両面研磨を行う。
図3に示すような両面研磨装置用キャリアを具備した図1のような両面研磨装置を用いて、直径300mmのシリコンウェーハ200枚を本発明の両面研磨方法に従って両面研磨した。両面研磨装置用キャリアの樹脂リングの材質を、全芳香族液晶ポリエステル樹脂(実施例1)、アリル樹脂(実施例2)、木粉充填フェノール樹脂(実施例3)とし、それぞれの場合の研磨後のウェーハの周縁部の形状と、面内及び面取り部におけるキズの発生率を評価した。
この引張弾性率の測定は、ASTM D638に準拠した引張試験に基づき行い、引張試験機は、試験中にクロスヘッドの移動速度を一定に保つもので、つかみ具、荷重指示計、伸び計により構成されるものを用いた。
E=σ/ε
また、キズの測定はKLA−TENCOR SURFSCAN SP−1により行った。
結果を表1に示す。表1に示すように実施例1−3のいずれも、上記した位置の差が極めて小さく、すなわちウェーハの周縁部の形状の変化はほとんどなく、面内及び面取り部におけるキズの発生率も十分に抑制されている。この結果は、後述する比較例1、2の結果と比べ、改善されていることが分かった。
また、ウェーハの周縁部の破損も一切発生しなかった。
このように、本発明の両面研磨装置用キャリアを用いて両面研磨することにより、ウェーハの周縁部の破損を防ぎつつ、ウェーハの面取り形状の悪化及びウェーハ面内や面取り部におけるスクラッチ(キズ)の発生を抑制できることが確認できた。
両面研磨装置用キャリアの樹脂リングの材質を、アラミド繊維強化エポキシ樹脂(比較例1)、ポリカーボネイト樹脂(比較例2)、ガラス繊維強化エポキシ樹脂(比較例3)とした以外、実施例1−3と同様な条件でシリコンウェーハを両面研磨し、実施例1−3と同様に評価した。ここで、アラミド繊維強化エポキシ樹脂、ポリカーボネイト樹脂の引張弾性率はそれぞれ9.00GPa、2.38GPaと12GPa未満であり、ガラス繊維強化エポキシ樹脂の引張弾性率は21.09GPaと20GPa以上である。
図6に示すように、比較例1において、ウェーハの周縁部が摩耗により変形し、ウェーハの内側に向って凹形状になっている様子が確認できた。また、図7に示すように、比較例2において、ウェーハの内側に向って大きく凹形状に変形している様子が確認できた。
4…保持孔、 5…研磨布、 6…上定盤、 7…下定盤、 8…面取り部、
9…サンギア、 10…インターナルギア、 20…両面研磨装置、W…ウェーハ。
Claims (3)
- 周縁に面取り部を有するウェーハの両面を研磨する両面研磨装置における両面研磨装置用キャリアであって、少なくとも、研磨布が貼付された上下定盤の間に配設され、研磨の際に前記上下定盤の間に挟まれる前記ウェーハを保持するための保持孔が形成されたキャリア母体と、該キャリア母体の保持孔の内周に沿って配置され、前記保持されるウェーハの面取り部と接して該面取り部を保護するリング状の樹脂リングとを具備し、前記樹脂リングは、ASTM D638に準拠した引張試験に基づく引張弾性率が12GPa以上、20GPa以下であり、無機系強化材を含まない樹脂より成るものであり、木粉充填フェノール樹脂、チップド・ロービング充填不飽和ポリエステル樹脂、ポリアミドイミド樹脂、アリル樹脂のいずれかより成るものであることを特徴とする両面研磨装置用キャリア。
- 少なくとも、請求項1に記載の両面研磨装置用キャリアを具備したものであることを特徴とする両面研磨装置。
- ウェーハを両面研磨する方法であって、研磨布が貼付された上下定盤の間に請求項1に記載の両面研磨装置用キャリアを配設し、該キャリアの保持孔の内周に配置された、ASTM D638引張試験による引張弾性率が12GPa以上、20GPa以下である樹脂より成る樹脂リングと前記ウェーハの面取り部とを接触させて保持し、前記上下定盤の間にウェーハを挟み込んで両面研磨することを特徴とするウェーハの両面研磨方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010116582A JP5494224B2 (ja) | 2010-05-20 | 2010-05-20 | 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010116582A JP5494224B2 (ja) | 2010-05-20 | 2010-05-20 | 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011240460A JP2011240460A (ja) | 2011-12-01 |
JP5494224B2 true JP5494224B2 (ja) | 2014-05-14 |
Family
ID=45407650
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010116582A Active JP5494224B2 (ja) | 2010-05-20 | 2010-05-20 | 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5494224B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5748717B2 (ja) * | 2012-09-06 | 2015-07-15 | 信越半導体株式会社 | 両面研磨方法 |
CN109015334A (zh) * | 2018-09-17 | 2018-12-18 | 杭州中芯晶圆半导体股份有限公司 | 一种研磨过程中减少刚性材料因碰撞导致破裂的方法 |
JP7276246B2 (ja) * | 2020-05-19 | 2023-05-18 | 信越半導体株式会社 | 両面研磨装置用キャリアの製造方法及びウェーハの両面研磨方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3524978A1 (de) * | 1985-07-12 | 1987-01-22 | Wacker Chemitronic | Verfahren zum beidseitigen abtragenden bearbeiten von scheibenfoermigen werkstuecken, insbesondere halbleiterscheiben |
JP3439726B2 (ja) * | 2000-07-10 | 2003-08-25 | 住友ベークライト株式会社 | 被研磨物保持材及びその製造方法 |
JP2008006526A (ja) * | 2006-06-28 | 2008-01-17 | Konica Minolta Opto Inc | 研磨キャリア |
-
2010
- 2010-05-20 JP JP2010116582A patent/JP5494224B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011240460A (ja) | 2011-12-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9050698B2 (en) | Manufacturing method of carrier for double-side polishing apparatus, carrier for double-side polishing apparatus, and double-side polishing method of wafer | |
JP5648623B2 (ja) | 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法 | |
KR101565026B1 (ko) | 양면 연마 장치용 캐리어 및 이를 이용한 양면 연마 장치, 및 양면 연마 방법 | |
KR101707056B1 (ko) | 유리 기판 및 그 제조 방법 | |
JP5847789B2 (ja) | 両面研磨装置用キャリアの製造方法およびウエーハの両面研磨方法 | |
KR102050750B1 (ko) | 양면연마장치용 캐리어 및 웨이퍼의 양면연마방법 | |
JP5494224B2 (ja) | 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法 | |
JP5516941B2 (ja) | ガラス基板およびその製造方法 | |
JP5212041B2 (ja) | 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法 | |
JP5516940B2 (ja) | ガラス基板およびその製造方法 | |
US11453098B2 (en) | Carrier for double-side polishing apparatus, double-side polishing apparatus, and double-side polishing method | |
KR102657849B1 (ko) | 캐리어의 제조방법 및 웨이퍼의 양면 연마방법 | |
JP2007007747A (ja) | 被研磨物保持枠材および研磨ヘッド | |
JP5605260B2 (ja) | インサート材及び両面研磨装置 | |
CN112091811B (zh) | 载体及使用该载体的基板的制造方法 | |
JP6074245B2 (ja) | 研磨パッド | |
JP4698178B2 (ja) | 被研磨物保持用キャリア | |
JP2009154280A (ja) | 被研磨物保持具 | |
JP2009166228A (ja) | ウェーハ研磨用キャリアプレート | |
JP2018167358A (ja) | 保持具 | |
KR100897677B1 (ko) | 기판 양면연마 장치용 캐리어 플레이트 | |
JP2012006099A (ja) | 回転弾性砥石の補強パッド及びパッドによる補強構造 | |
KR20210115308A (ko) | 홀 절삭 공구, 이를 포함하는 광학 필름의 홀 형성 장치 및 이를 사용한 광학 필름의 홀 형성 방법 | |
WO2011083667A1 (ja) | 化合物半導体ウェハの加工方法及び加工装置 | |
TW201524687A (zh) | 玻璃板之製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120528 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130905 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130910 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131029 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140204 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140217 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5494224 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |