JP5489749B2 - 抵抗温度ヒューズ - Google Patents

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Description

本発明は、外部からの信号に基づいて発熱抵抗体を高温にし、発熱抵抗体の温度に起因して温度ヒューズエレメントを溶断する抵抗温度ヒューズに関する。
電子機器の誤動作を防止する目的で、外部の電子機器に組み込み、その誤動作を事前に検知する抵抗温度ヒューズが開発されている(例えば、特許文献1参照)。
特開平11−96871号公報
抵抗温度ヒューズの開発において、特定の回路に異常検出器とともに組み込む回路保護素子としての信頼性が求められている。本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、信頼性の向上に寄与することが可能な抵抗温度ヒューズを提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明の実施の態様に係る抵抗温度ヒューズは、基板と、前記基板上に設けられる第1温度ヒューズエレメントと、前記基板上に設けられ、平面視して前記第1温度ヒューズエレメントと間を空けて配置される第2温度ヒューズエレメントと、前記基板内に設けられ、平面視透視して前記第1温度ヒューズエレメントと重なる領域及び前記第2温度ヒューズエレメントと重なる領域のそれぞれに設けられる発熱抵抗体と、を備え、前記基板は、上面の高さ位置が異なる第1主面と第2主面が形成されており、前記第1温度ヒューズエレメントは、前記第1主面上に設けられ、前記第2温度ヒューズエレメントは、前記第2主面上に設けられることを特徴とする。
本発明によれば、信頼性の向上に寄与することが可能な抵抗温度ヒューズパッケージ、並びに抵抗温度ヒューズを提供することができる。
本実施形態に係る抵抗温度ヒューズの概観を示す斜視図である。 図1のX−X’に沿った抵抗温度ヒューズの断面図である。 本実施形態に係る抵抗温度ヒューズの発熱抵抗体を示す基板内部の透過斜視図である。 平面透視して抵抗温度ヒューズと発熱抵抗体とを重ね合わせた状態を示す平面図である。 本実施形態の抵抗温度ヒューズと接続部在との接続した状態を示す概観斜視図である。 一変形例に係る抵抗温度ヒューズと接続部材とを接合した状態を示す斜視図である。 図6のY−Y’に沿った抵抗温度ヒューズの断面図である。
以下に添付図面を参照して、本発明にかかる抵抗温度ヒューズの実施形態を説明する。なお、本発明は以下の実施形態に限定されないものとする。
<抵抗温度ヒューズの概略構成>
図1は、本実施形態に係る抵抗温度ヒューズの概観斜視図であって、温度ヒューズエレメントを被覆するフラックスを透過したものである。また、図2は、図1のX−X’に沿った抵抗温度ヒューズの断面図である。図3は、抵抗温度ヒューズの発熱抵抗体を示す基板内部の透過斜視図である。図4は、温度ヒューズエレメントと発熱抵抗体との位置関係を示す平面図である。なお、図2の断面図は、一方の温度ヒューズエレメントの断面を示すものであるが、もう一方の温度ヒューズエレメントの断面も図2と同様の断面である。また、図4では、温度ヒューズエレメントと発熱抵抗体の間に介在される基板4の一部を除いた状態である。
本実施形態の抵抗温度ヒューズは、回路保護素子として用いるものであって、特定の回路に異常検出器とともに組み込むものである。そして、回路の異常発生時に、異常検出器が回路の異常を検出し発熱抵抗体を通電する。その結果、抵抗温度ヒューズは、発熱抵抗体が高温となり、その温度によって温度ヒューズエレメントを溶断することで、回路の動作を緊急停止させるものである。
本実施形態に係る抵抗温度ヒューズ1は、抵抗温度ヒューズパッケージ2と、抵抗温度ヒューズパッケージ2に実装される温度ヒューズエレメント3とを備えている。なお、本実施形態では、温度ヒューズエレメント3とは、第1温度ヒューズエレメント3aと第2温度ヒューズエレメント3bの総称とする。
また、本実施形態に係る抵抗温度ヒューズパッケージ2は、基板4と、基板4上に設けられる第1温度ヒューズエレメント3aと、基板4上に設けられ、平面視して第1温度ヒューズエレメント3aと間を空けて配置される第2温度ヒューズエレメント3bと、基板4内に設けられ、平面視透視して第1温度ヒューズエレメント3aと重なる領域及び第2温度ヒューズエレメント3bと重なる領域に設けられる発熱抵抗体5と、を備えている。
基板4は、絶縁性の基板であって、例えば、アルミナ、ムライト又は窒化アルミ等のセラミック材料、或いはガラスセラミック材料等から成る。または、これらの材料のうち複数の材料を混合した複合系材料から成る。または、絶縁性基板4を構成する絶縁材料の内の一部分の材料として、閉気孔を多数有することにより熱伝導度を低下させたものが含まれてもよい。なお、基板4の厚みは、例えば、0.05mm以上2mm以下に設定されている。また、基板4の熱伝導率は、例えば、8W/m・K以上200W/m・K以下に設定されている。
基板4は、複数の層を積層させて一体化したものである。基板4は、例えば、複数のセラミックグリーンシートの層を積層させた後に、一体焼成することによって形成することができる。
基板4の上面には、温度ヒューズエレメント3を実装したときに、温度ヒューズエレメント3と電気的に接続される電極層6がパターニングして形成されている。また、電極層6の一部は、基板4の上面から基板4の側面を介して基板4の下面にわたって形成されている。本実施形態では、電極層6は、温度ヒューズエレメント3が溶断したときに、電極層6が電気的にオープンになるように形成されている。なお、電極層6は、温度ヒューズエレメント3と電気的に接続されるものであって、任意のパターンに形成されている。電極層6の幅は、例えば、0.05mm以上10mm以下に設定されている。ここで、電極層6の幅とは、電極層6に流れる電流方向と直交する方向の幅をいう。なお、電極層6の一部は、基体4の側面から基体4内にまで延在されている。
電極層6は、例えば、タングステン、モリブデン、ニッケル、銅、銀、金又はアルミニウム等の金属材料、或いはそれらの合金、或いはこれらの材料のうち複数の材料を混合した複合系材料、或いはそれらの材料の複合層からなる。
また、基板4の上面に形成される電極層6は、第1温度ヒューズエレメント3aと、第2温度ヒューズエレメント3bのそれぞれと電気的に独立して接続されるように、パターニングされている。このように、電極層6がパターニングされるのは、第1温度ヒューズエレメント3a又は第2温度ヒューズエレメント3bのどちらか一方の温度ヒューズエレメントが溶断したときに、その電極層6に流れる電流を遮断することになるが、他方の温度ヒューズエレメントに流れる電流を遮断することがないようにするためである。
基板4の下面には、平面透視して発熱抵抗体5を間に挟むように一対の支持体7が設けられている。
支持体7は、抵抗温度ヒューズ1を外部の回路に設けるときに、土台となるものである。そして、支持体7が外部の回路との接合用土台となることで、外部の回路から伝わる熱を支持体7上に設けられる基板4に伝わりにくくすることができ、外部の温度影響による抵抗温度ヒューズ1の誤作動を抑制するとともに、抵抗温度ヒューズ1の発熱抵抗体5か発熱した際の熱が外部の回路に伝わりにくくすることにより、抵抗温度ヒューズ1の温度上昇特性を向上させることができる。
支持体7は、例えば、アルミナ又はムライト等のセラミック材料、ガラスセラミック材料、金属材料、或いはプラスチックから成る。または、これらの材料のうち複数の材料を混合した複合系材料から成る。なお、支持体7の厚みは、例えば、0.05mm以上2mm以下に設定されている。また、支持体7の熱伝導率は、例えば、8W/m・K以上210W/m・K以下に設定されている。
また、支持体7は、支持体7の長手方向に支持体7の高さに相当する切り欠き部を設ける手段により支持体7の熱が伝達する断面積を小さくすることによる熱抵抗を増大させたり、支持体7に基板4の熱伝導率よりも小さい熱伝導率の材料を選択したりすることにより、外部の回路から支持体7に伝わる熱の容量を小さくすることができ、外部の回路から伝わる熱を基板4に伝わりにくくすることができる。そして、発熱抵抗体5が発する熱は、基板4を介して温度ヒューズエレメント3に伝わりやすくすることができる。
支持体7の下面には、導電層8が形成されている。導電層8は、支持体7の下面から支持体7及び基板4の側面を介して基板4の内部にわたって連続して形成される。
導電層8は、支持体7の下面、支持体7の側面及び基板4の側面に第1温度ヒューズエレメント3aと、第2温度ヒューズエレメント3bのそれぞれが電気的に独立するように、パターニングされている。抵抗温度ヒューズ1とともに回路に組込まれた異常検出器による回路の異常検出により、導電層8を介して、発熱抵抗体5に通電し、発熱抵抗体5の温度を上昇させる。さらに、発熱抵抗体5の温度に起因して、温度ヒューズエレメント3を溶断することができる。なお、導電層8の幅は、例えば、0.05mm以上10mm以下に設定されている。ここで、導電層8の幅とは、導電層8に流れる電流方向と直交する方向の幅をいう。
導電層8は、例えば、タングステン、モリブデン、ニッケル、銅、銀、金又はアルミニウム等の金属材料、或いはそれらの合金、複数の材料を混合した複合系材料、或いはそれらの材料の複合層からなる。
基板4の上面には、二つの温度ヒューズエレメント3が実装される。温度ヒューズエレメント3は、特定の温度以上になると溶断するものである。温度ヒューズエレメント3は、例えば、インジウム、ビスマス又は錫等の導電材料、或いはこれらの混合材料からなる。また、温度ヒューズエレメント3の溶断する融点は、例えば、80℃以上180℃以下に設定されている。なお、本実施形態では、基板4に形成される温度ヒューズエレメント3の個数を二つにしているが、これに限られない。1つの基板4上に形成することができるのであれば、3個又は4個等の複数個であってもよい。
温度ヒューズエレメント3は、図4に示すように、平面透視したときに発熱抵抗体5と重なる領域に設けられ、矩形状に形成される。また、温度ヒューズエレメント3は、平面透視したときに発熱抵抗体5が存在する領域から食み出さないように設けられると、発熱抵抗体5の温度を効率良く温度ヒューズエレメント3に伝えることができる。なお、温度ヒューズエレメント3の厚みは、例えば、0.1mm以上3.0mm以下であって、平面視したときの一辺の長さが、例えば、0.1mm以上10.0mm以下に設定されている。
また、第1温度ヒューズエレメント3aは、第2温度ヒューズエレメント3bよりも溶断温度が高く設定されている。第1温度ヒューズエレメント3aの溶断温度は、例えば、140度以上200度以下に設定されている。また、第2温度ヒューズエレメント3bの溶断温度は、例えば、120度以上150度以下に設定されている。
第1温度ヒューズエレメント3aの最低溶融温度が、第2温度ヒューズエレメント3bの最低溶融温度よりも高く設定されていることで、発熱抵抗体の熱が両者に加わったときに、第2温度ヒューズエレメント3bが第1温度ヒューズエレメント3aよりも先に溶断する。そして、その溶断したときの温度が、所望する温度であれば、第1温度ヒューズエレメント3aが溶断する温度で、所望する温度で溶断することを予測することができる。ここで、抵抗温度ヒューズ1の作動特性の確認を行なう工程では、第2温度ヒューズエレメント3bが溶断したのち、第1温度ヒューズエレメント3aが溶断する温度にまで、発熱抵抗体5の温度を上昇させずに、動作確認を終了させる。
抵抗温度ヒューズ1は、温度ヒューズエレメント3が溶断してしまうと、外部の回路に組み込んで使用することができなくなる。そこで、抵抗温度ヒューズ1の動作特性を確認するために、抵抗温度ヒューズ1に複数の温度ヒューズエレメント3を設けて、製品出荷前に動作特性を確認する製品検査を実施することができる。そして、不良品を予め、発見することができ、不良品を出荷するという事態を低減することができ、信頼性を向上させた抵抗温度ヒューズ1を提供することができる。
また、本実施形態によれば、抵抗温度ヒューズ1に複数の温度ヒューズエレメント3を設けることで、一つの抵抗温度ヒューズ1が複数の機能を備えた回路保護素子として用いることができ、複数の外部回路を一つの抵抗温度ヒューズ1にて保護することができ、外部回路の保護素子としての信頼性を向上させることができる。
基板4上には、図2に示すように、温度ヒューズエレメント3と重なる領域の一部に被覆層9が形成されている。被覆層9は、基板4の温度ヒューズエレメント3が実装される実装面R上に形成されている。被覆層9は、温度ヒューズエレメント3の溶融体との濡れ性が、実装面Rの濡れ性よりも小さい濡れ性の材料であって、例えば、ガラス又はポリテトラフルオロエチレン等の材料から成る。
実装面Rは、温度ヒューズエレメント3が溶断したときに、温度ヒューズエレメント3を構成する材料の溶融体が濡れやすくするためのものであって、被覆層9上に溶断した温度ヒューズエレメント3の一部が付着しにくくするものである。実装面Rは、実装面R上に溶断した温度ヒューズエレメント3を構成する材料の溶融体が濡れ、溶融体の表面張力作用により被覆層9上の温度ヒューズエレメント3を構成する材料の溶融体を吸収する作用により、被覆層9上に温度ヒューズエレメント3を構成する材料の溶融体が残存付着しにくくなり、温度ヒューズエレメント3の直下に位置する一対の電極層6間を電気的にオープンにすることができる。
基板4の間には、図1又は図2に示すように、発熱抵抗体5が形成されている。発熱抵抗体5は、温度ヒューズエレメント3に発熱した温度を伝えて、温度ヒューズエレメント3を溶断するものである。発熱抵抗体5は、平面透視して第1温度ヒューズエレメント3aと重なる領域及び第2温度ヒューズエレメント3bと重なる領域の両方の領域に設けられている。なお、発熱抵抗体5は、第1温度ヒューズエレメント3aと第2温度ヒューズエレメント3bと重なる領域に設けられていればよく、発熱抵抗体5同士が電気的に並列に接続されていても、電気的に直列に接続されていてもよい。
発熱抵抗体5は、図3に示すように、一端が電極層6と接続され、他端が導電層8と接続される。発熱抵抗体5は、所要の発熱量を確保するための抵抗値を有しており、例えば、そのパターン形状は基板4の内にて何度も折れ曲がって形成されている。そして、発熱抵抗体5の幅は、電極層6及び導電層8の幅よりも小さく設定されている。発熱抵抗体5の幅を電極層6及び導電層8の幅よりも小さくすることで、発熱抵抗体5の電気抵抗を大きくし、発熱抵抗体5部分にて発生するジュール熱の制御を容易にすることができる。
発熱抵抗体5には、抵抗温度ヒューズとともに回路に組込まれた異常検出器による回路の異常検出によって、導電層8を介して発熱抵抗体5に通電する。そして、発熱抵抗体5の電気抵抗が大きいために、発熱抵抗体5の温度が上昇する。さらに、その温度が、基板4を介して温度ヒューズエレメント3に伝わり、温度ヒューズエレメント3が所定温度以上になると溶断する。なお、発熱抵抗体5は、例えば、タングステン又はプラチナ等の材料から成る。
温度ヒューズエレメント3は、フラックス10で被覆されている。フラックス10は、熱伝導性の優れた材料であって、例えば、松脂をテレピン油に溶かしてペースト状にしたもの、或いは塩化亜鉛等の材料から成る。フラックス10は、温度ヒューズエレメント3に発熱抵抗体5の温度を伝えやすくするものである。そして、発熱抵抗体5の温度と温度ヒューズエレメント3の温度差を小さくすることができる。
図5は、抵抗温度ヒューズ1と接続部材11とを接続した状態を示す概観斜視図である。
図5に示すように、抵抗温度ヒューズ1の支持体7の下面には、接続部材11が形成されている。接続部材11は、抵抗温度ヒューズ1を外部の回路に実装するときに、外部の回路と電気的に接続するものである。抵抗温度ヒューズ1を外部の回路に実装するときに、仮に、接続部材11がなく抵抗温度ヒューズ1の基板4を半田等の接着材を介して外部の回路と接続しようとすると、接着材の溶融温度によっては、抵抗温度ヒューズ1の温度ヒューズエレメント3が溶断する虞がある。このようなケースにおいては、抵抗温度ヒューズ1に接続部材11を設け、接続部材11の下面を介して外部の回路と接続することにより、抵抗温度ヒューズの実装作業を容易にするとともに、実装後の抵抗温度ヒューズの作動信頼性を向上させ得る。
接続部材11には、図5に示すように、貫通孔Hが形成されている。貫通孔Hは、接続部材11の下面の高さ位置よりも高い箇所であって、抵抗温度ヒューズ1と接続部材11との間に設けられている。接続部材11の下面を半田等の接着材を介して外部の回路と接続するときに、接続部材11の下面の電気伝導性接合材の接合時の熱が抵抗温度ヒューズ1に伝わろうとする。接続部材11と抵抗温度ヒューズ1との間に貫通孔Hが形成されていることにより、接続部材11の下面から抵抗温度ヒューズ1に向かって伝わる熱の熱伝導断面積を小さくすることができ、抵抗温度ヒューズ1に熱を伝わりにくくすることができる。
上述したように、本実施形態によれば、外部回路に組み込んだ抵抗温度ヒューズ1は、抵抗温度ヒューズ1に複数の温度ヒューズエレメント3を実装し、事前に作動特性を確認したのち、外部に出荷することができ、信頼性を向上させた抵抗温度ヒューズを提供することができる。
なお、本発明は上述の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良等が可能である。以下、本実施形態の変形例について説明する。なお、本実施形態の変形例に係る抵抗温度ヒューズ1のうち、本実施形態に係る抵抗温度ヒューズ1と同様な部分については、同一の符号を付して適宜説明を省略する。
<変形例>
図6は、一変形例に係る抵抗温度ヒューズ1の概観斜視図である。図7は、図6のY−Y’に沿った抵抗温度ヒューズの断面図である。
上述した実施形態では、図1に示すように、基板4の上面の高さ位置が一様であったが、上面の高さ位置が異なる主面を複数設け、それぞれに温度ヒューズエレメントを実装してもよい。
図6に示すように、基板4は、上面の高さ位置が異なる第1主面S1と第2主面S2が形成されており、第1温度ヒューズエレメント3aは、第1主面S1上に設けられ、第2温度ヒューズエレメント3bは、第2主面S2上に設けられている。そして、第1主面S1の高さ位置は、第2主面S2の高さ位置よりも高く設定されている。
上述した実施形態では、第1温度ヒューズエレメント3aは、第2温度ヒューズエレメント3bよりも溶断温度が、高く設定されていたが、これに限られない。第1温度ヒューズエレメント3aと第2温度ヒューズエレメント3bを、例えば、材料組成・構造・寸法等の仕様を同一とすることにより、同一溶断温度を示すエレメントにより構成して、両者が同じ溶断温度になっても構わない。
第1主面S1の高さ位置を第2主面S2の高さ位置よりも高くしたことにより、同じ溶断温度の温度ヒューズエレメント3を実装したとしても、両者を加熱すると、先に、第2主面S2上に設けられる第2温度ヒューズエレメント3bが溶断する。その後、発熱抵抗体5を加熱し、発熱抵抗体5の温度を上昇させることで、第1主面S1上に設けられる第1温度ヒューズエレメント3aが溶断する。
このように、両者の溶断するタイミングをずらすことで、抵抗温度ヒューズ1の製品出荷前に動作特性を確認する製品検査を実施することができる。そして、意図的に一方の温度ヒューズエレメントを溶断し、所望の温度条件で溶断できたか否かを見極め、不良品を発見することができる。そして、不良品を出荷するという事態を低減することができ、信頼性を向上させた抵抗温度ヒューズ1を提供することができる。
また、第1温度ヒューズエレメント3aと第2温度ヒューズエレメント3bを、たとえば材料組成・構造・寸法等の仕様を同一とすることにより、同一溶断温度を示すエレメントにより構成して、両者を同じ溶断温度にするとともに、平面透視してそれぞれと重なる領域に位置する発熱抵抗体の温度上昇特性を異なるようにしても構わない。発熱抵抗体の温度上昇特性を異ならせることで、第1温度ヒューズエレメント3aと第2温度ヒューズエレメント3bの溶断するタイミングを異ならせることができる。
発熱抵抗体の温度上昇特性を異ならせる方法としては、第1温度ヒューズエレメント3aと重なる領域に位置する発熱抵抗体の材料と、第2温度ヒューズエレメント3bと重なる領域に位置する両発熱抵抗の材料を異ならせることにより、両発熱抵抗体の抵抗温度係数を異なるように設定する方法や、同一発熱抵抗体材料による発熱抵抗体のパターン形状を異ならせたり、同一パターン形状ではあるがパターン厚みを異ならせることにより各発熱抵抗体の抵抗値を異ならせる方法がある。
また、第1温度ヒューズエレメント3aと発熱抵抗体の間、または第2温度ヒューズエレメント3bと発熱抵抗体のいずれか一方の間を構成する材料を、他方の当該部分を構成する材料と比較して熱伝導特性の大きい材料、または、小さい材料とすることにより第1温度ヒューズエレメント3aと第2温度ヒューズエレメント3bの溶断するタイミングを異ならせることができる。
また、どちらか一方の発熱抵抗体の下方の基板4の内部に断熱空間層を設けることによっても両温度ヒューズエレメントの溶断タイミングを異ならせることが出来る。なお、断熱空間層の内面の温度ヒューズ配置面直下の面に、発熱抵抗体を設ける構造であってもよい。さらに、断熱空間層が、基板4の下面に形成された一対の支持体7で挟まれる空間であってもよい。
<抵抗温度ヒューズの製造方法>
ここで、図1乃至図4に示す抵抗温度ヒューズ1、並びに抵抗温度ヒューズパッケージ2の製造方法について説明する。
基板4となるセラミックグリーンシートを複数枚準備する。基板4が、例えば酸化アルミニウム質焼結体から成る場合、酸化アルミニウム、酸化珪素、酸化マグネシウム及び酸化カルシウム等の原料粉末に、有機バインダー、可塑剤、および溶剤等を添加混合して得た混合物よりグリーンシートを成型する。
また、タングステン又はモリブデン等の高融点金属粉末を準備し、この粉末に有機バインダー、可塑剤又は溶剤等を添加混合して金属ペーストを得る。
そして、セラミックグリーンシートに対して、例えばスクリーン印刷法を用いて、金属ペーストを塗って発熱抵抗体5、電極層6の一部及び導電層8の一部を形成する。また、同様にして、別のセラミックグリーンシートに対して、電極層6を形成する。
次に、一対の支持体7を準備する。基板4と同様に、セラミックグリーンシートを成形する。そして、支持体7の下面、側面側上面に対して、例えばスクリーン印刷法を用いて、金属ペーストを塗って導電層8を形成する。
次に、準備した焼結前の基板4及び支持体7を接続させた状態で、約1600度の温度で焼成する。そして、基板4及び支持体7を一体焼結する。一体焼結後の部材の、温度ヒューズエレメント搭載部、回路基板実装部及び支持体の表面に所要のめっきを行う。ここでは、抵抗温度ヒューズについての個片製品の製法を述べたが、多数個取のシート形状による製造が量産性、コスト面からは好ましい。このようにして、抵抗温度ヒューズパッケージ2を作製することができる。
次に、基板4上の所定箇所に第1温度ヒューズエレメント3a及び第2温度ヒューズエレメント3bを実装する。そして、それぞれの温度ヒューズエレメント3と電極層6とを電気的に接続する。また、基板4上に、温度ヒューズエレメント3を被覆するようにフラックス10を形成する。その結果、抵抗温度ヒューズ1を作製することができる。
尚、多数個取のシート形状にて作成した抵抗温度ヒューズパッケージ2の個々の抵抗温度ヒューズに相当する部位の所定箇所に温度ヒューズエレメント3を実装した後に、温度ヒューズエレメント3を被覆するようにフラックス10を形成し、その後に多数個取シートを個片に分割することが量産性、コスト面からは好ましい。
1 抵抗温度ヒューズ
2 抵抗温度ヒューズパッケージ
3 温度ヒューズエレメント
3a 第1温度ヒューズエレメント
3b 第2温度ヒューズエレメント
4 基板
5 発熱抵抗体
6 電極層
7 支持体
8 導電層
9 被覆層
10 フラックス
11 接続部材
R 実装面
H 貫通孔
S1 第1主面
S2 第2主面

Claims (2)

  1. 基板と、
    前記基板上に設けられる第1温度ヒューズエレメントと、
    前記基板上に設けられ、平面視して前記第1温度ヒューズエレメントと間を空けて配置される第2温度ヒューズエレメントと、
    前記基板内に設けられ、平面視透視して前記第1温度ヒューズエレメントと重なる領域及び前記第2温度ヒューズエレメントと重なる領域のそれぞれに設けられる発熱抵抗体と、を備え
    前記基板は、上面の高さ位置が異なる第1主面と第2主面が形成されており、
    前記第1温度ヒューズエレメントは、前記第1主面上に設けられ、
    前記第2温度ヒューズエレメントは、前記第2主面上に設けられることを特徴とする抵抗温度ヒューズ。
  2. 請求項1に記載の抵抗温度ヒューズであって、
    前記第1温度ヒューズエレメントは、前記第2温度ヒューズエレメントよりも溶断温度が高いことを特徴とする抵抗温度ヒューズ。
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