JP5478723B2 - 成膜装置 - Google Patents

成膜装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5478723B2
JP5478723B2 JP2012520437A JP2012520437A JP5478723B2 JP 5478723 B2 JP5478723 B2 JP 5478723B2 JP 2012520437 A JP2012520437 A JP 2012520437A JP 2012520437 A JP2012520437 A JP 2012520437A JP 5478723 B2 JP5478723 B2 JP 5478723B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
discharge
sub
substrate
introduction
forming apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2012520437A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2011158781A1 (ja
Inventor
康正 鈴木
賢治 木村
和也 塚越
宣昭 池長
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ulvac Inc
Original Assignee
Ulvac Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ulvac Inc filed Critical Ulvac Inc
Priority to JP2012520437A priority Critical patent/JP5478723B2/ja
Publication of JPWO2011158781A1 publication Critical patent/JPWO2011158781A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5478723B2 publication Critical patent/JP5478723B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45563Gas nozzles
    • C23C16/45578Elongated nozzles, tubes with holes
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/22Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
    • C23C16/30Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
    • C23C16/305Sulfides, selenides, or tellurides
    • C23C16/306AII BVI compounds, where A is Zn, Cd or Hg and B is S, Se or Te

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Description

本発明は、成膜装置に係り、特にCVD技術の分野に関する。
現在、窒化ガリウム(GaN)は、発光ダイオードなどの電子素子の材料に用いられている。窒化ガリウムの結晶を作製するためには有機金属気相成長(MOCVD)法の成膜装置が使用されている。
図8はMOCVD法に使用する従来の成膜装置110の内部構成図を示している。
成膜装置110は、真空槽112と、基板140を保持する基板保持台141と、第一、第二の原料ガスが通る第一、第二の配管132a、132bとを有している。
真空槽112には真空排気装置113が接続され、真空槽112内は真空排気可能に構成されている。
第一、第二の配管132a、132bは真空槽112内に配置され、一端に設けられた第一、第二の放出孔122a、122bはそれぞれ基板保持台141上の基板140に向けられている。第一、第二の配管132a、132bの他端はそれぞれ真空槽112の壁面を気密に貫通して真空槽112の外側まで延ばされ、第一、第二の原料ガスを放出する第一、第二のガス供給部135a、135bに接続されている。
基板保持台141には電熱器142が取り付けられ、電熱器142には電源装置144が電気的に接続されている。電源装置144から電熱器142に直流電圧を印加すると、電熱器142は発熱して、基板保持台141の表面に保持された基板140を加熱するようになっている。
基板保持台141の裏面には裏面と直角に回転軸146が取り付けられ、回転軸146には回転軸146を回転軸146の中心軸線を中心に回転させる回転装置147が接続されている。回転装置147によって回転軸146を回転させると、基板保持台141と基板140は一緒に基板140表面平行に回転するようになっている。
成膜装置110を使って基板140表面にGaNの薄膜を形成する方法を説明する。
真空槽112内を真空排気し、以後真空排気を継続する。基板保持台141に基板140を載置し、基板140を基板140表面と平行に回転させておく。
基板140を加熱しながら、基板140表面に向けて第一、第二の放出孔122a、122bから第一の原料ガスであるアンモニア(NH3)と、第二の原料ガスであるトリメチルガリウム(TMGa、(CH33Ga)とをそれぞれ放出し、混合させると、
(CH33Ga+NH3→GaN+3CH4
の化学反応により基板140表面にGaNが成膜される。GaNと一緒に生成されたCH4は真空排気装置113によって真空槽112の外側に真空排気される。
第一、第二の原料ガスは混ざると反応するので、第一、第二の原料ガスを基板140に到達するまで反応させないためには、第一、第二の配管132a、132bの第一、第二の放出孔122a、122bを基板140表面から10〜40mmの距離に近づけて、第一、第二の原料ガスを基板140表面の直前で混合させる必要がある。さらに、基板140表面に均質に成膜するために、第一、第二の放出孔122a、122bを基板140と対面する平面上に行列状に交互に配置して、第一、第二の原料ガスを基板140表面に均一な割合で放出する必要がある。
また成膜中は基板140を1100℃の高温に加熱するのだが、第一、第二の配管132a、132bを基板140に近づけると、第一、第二の配管132a、132bが加熱され、第一、第二の配管132a、132bの内部で原料ガスが分解する虞がある。そのため、第一、第二の配管132a、132bを冷却する冷却手段が必要である。
以上の要件を満たすためには、成膜装置の原料ガス放出部の構造は、例えば層状構造を有し、数万個の放出孔を細管で形成するなど複雑な構造をとる必要があり、製作が困難であるという課題があった。
特開平8−91989号公報
本発明は上記従来技術の不都合を解決するために創作されたものであり、その目的は、従来より製作が容易な構造により、複数の原料ガスを冷却しながら混合させずに基板上に放出できる原料ガス放出部を有する成膜装置を提供することにある。
上記課題を解決するために本発明は、真空槽と、前記真空槽内に配置され、複数の放出孔が設けられた中空の放出容器と、前記放出容器の中空の部分に配置された複数の管状の導入部と、各前記導入部に原料ガスを供給するガス供給部と、前記放出容器の前記放出孔と対面する位置に基板を保持する基板保持部と、前記放出容器の前記中空の部分に配置され、外周側面に複数の副貫通孔が設けられた複数の副配管と、一端が前記副貫通孔に接続され、他端が前記放出孔に接続され、前記副貫通孔と前記放出孔とを連通させる複数の接続管と、を有し、各前記導入部の外周側面は前記放出容器の前記中空の部分に面する壁面に密着され、各前記導入部の前記密着する部分には前記導入部の内部空間と前記放出孔とを連通させる貫通孔が設けられ、前記副貫通孔の外周部分は前記放出容器の前記中空の部分に面する前記壁面と離間され、前記ガス供給部は、第一、第二の原料ガスを放出する第一、第二のガス供給部を有し、前記導入部は前記第一のガス供給部に接続され、前記副配管は前記第二のガス供給部に接続された成膜装置である。
本発明は成膜装置であって、各前記導入部は、前記放出容器の前記中空の部分に面する前記壁面に、互いに平行に向けられて等間隔に配置された成膜装置である
発明は成膜装置であって、前記放出容器の容器壁には導入口と排出口とが設けられ、前記導入口から前記放出容器の前記中空の部分に温度管理された冷媒が導入され、前記排出口から前記冷媒が排出されるように構成された成膜装置である。
本発明は成膜装置であって、前記副配管と前記導入部とは、前記冷媒中に浸されるように構成された成膜装置である。
本発明は成膜装置であって、前記基板保持部に保持された前記基板からは、前記導入部よりも前記副配管の方が離れて位置された成膜装置である。
本発明は成膜装置であって、前記副配管の方が、前記導入部よりも前記冷媒との接触面積が大きくされた成膜装置である。
本発明は成膜装置であって、前記第二の原料ガスは、前記第一の原料ガスよりも熱で分解しやすいガスである成膜装置である。
放出容器の中空の部分に冷媒を入れて導入部を冷媒中に浸すと、導入部の内側を流れる原料ガスの冷却効果を高めて熱分解を防止できる。
原料ガスを放出する数万本の細管をろう付加工するという従来の製作方法に比べて、簡便な方法で原料ガス放出部を製作できる。
本発明の成膜装置の内部構成図 本発明の成膜装置のA−A線切断断面図 (a)〜(d):原料ガス放出部の作製方法を説明するための模式図 (a)〜(f):配管と底板との固定方法を説明するための模式図 原料ガス放出部の第二例の内部構成図 原料ガス放出部の第二例のB−B線切断断面図 (a)、(b):副配管を有する原料ガス放出部を説明するための模式図 従来の成膜装置の内部構成図
本発明の成膜装置の構造を説明する。図1は成膜装置10の内部構成図、図2は同A−A線切断断面図を示している。
成膜装置10は、真空槽12と、基板40を保持する基板保持台(基板保持部)41と、放出口22から原料ガスを放出する原料ガス放出部20とを有している。
真空槽12の槽壁には排気口12aが設けられ、排気口12aには真空排気装置13が接続されている。真空排気装置13は真空槽12内を真空排気できるように構成されている。
基板保持台41は真空槽12内に配置され、放出口22と対面する表面に基板40を保持できるように構成されている。
基板保持台41には電熱器42が取り付けられ、電熱器42には電源装置44が電気的に接続されている。電源装置44から電熱器42に直流電圧を印加すると、電熱器42は発熱して、基板保持台41に保持された基板40を加熱するようになっている。
基板保持台41の裏面には裏面に対して直角に回転軸46の一端が取り付けられている。回転軸46の他端は真空槽12の槽壁を気密に貫通して真空槽12の外側まで延ばされ、回転装置47に接続されている。回転装置47はここではモーターを有し、回転軸46を回転軸46の中心軸線を中心として回転可能に構成されている。
回転装置47によって回転軸46を回転させると、基板保持台41と、基板保持台41に保持された基板40は一緒に、基板保持台41の裏面、すなわち基板40表面平行に、言い換えると基板40表面に対して直角な回転軸線を中心に回転するようになっている。
原料ガス放出部20の第一例の構造を説明する。
原料ガス放出部20は、複数の放出孔22が設けられた中空の放出容器21と、放出容器21の中空の部分25に配置された管状の複数の導入部31a1〜31a3、31b1〜31b3とを有している。
各導入部31a1〜31a3、31b1〜31b3の外周側面は放出容器21の中空の部分25に面する壁面に密着され、各導入部31a1〜31a3、31b1〜31b3の前記壁面に密着する部分には導入部31a1〜31a3、31b1〜31b3の内部空間と放出孔22とを連通させる貫通孔32a1〜32a3、32b1〜32b3が設けられている。
原料ガス放出部20の各導入部31a1〜31a3、31b1〜31b3は、外周側面に貫通孔32a1〜32a3、32b1〜32b3が設けられた配管である。
図3(a)〜(d)は原料ガス放出部20の作製方法を説明するための模式図である。各配管(導入部)31a1〜31a3、31〜33の構造は同じであり、符号31a1の配管(導入部)で代表して説明する。
放出容器21は平板形状の底板21aを有している。
図3(a)を参照し、底板21aの表面に一端が閉口された配管31a1を互いに平行に等間隔に配置する。ここでは、底板21aの表面に互いに平行な複数本の窪みをあらかじめ等間隔に形成し、各窪みに沿って配管31a1をそれぞれ配置しているが、本発明はこれに限定されず、平面状の底板21aの表面に窪みを形成せずに配管31a1を配置してもよい。
図3(b)を参照し、底板21aの表面と配管31a1の外周側面との間に溶けたろう29を流し入れた後、ろう29を冷まして固め、いわゆるろう付加工により、底板21aの表面と配管31a1の外周側面とを固定する。
図3(c)を参照し、底板21a表面のうち配管31a1の外周側面とろう付加工で密着する部分の裏面側から底板21aの裏面と直角に、底板21aと、配管31a1の壁面とを連続して貫通する孔を、レーザー加工又は機械加工により形成する。
形成した孔のうち底板21aに形成された部分が放出孔22であり、配管31a1に形成された部分が貫通孔32a1である。ろう29の部分も配管31a1の一部とみなすと、配管31a1の外周側面のうち貫通孔32a1の外周(周囲)部分は、底板21aの表面に密着している。
各配管31a1〜31a3、31〜33の孔の位置関係を説明すると、図2を参照し、放出容器21の壁面と配管31a1〜31a3、31b1〜31b3の側壁とを連続して貫通する孔を、複数の放出孔22が放出容器21の一の壁面上で互いに等間隔に離間して行列状に配列するように、各配管31a1〜31a3、31b1〜31b3に沿って等間隔に形成する。ここで「行列状に配列する」とは、互いに平行で等間隔の第一の直線L1〜L4と、互いに平行で等間隔であり、第一の直線L1〜L4と交差する第二の直線M1〜M5との各交点に配置されることをいう。
配管31a1と底板21aとの固定方法は上記方法(第一の方法)に限定されず、図4(a)に示すように、配管31a1の外周側面にあらかじめ貫通孔32a1を等間隔で形成しておき、底板21aにあらかじめ放出孔22を貫通孔32a1の中心間隔と同じ間隔で形成しておき、配管31a1と底板21aとを、各貫通孔32a1とそれぞれ異なる放出孔22とが対面する(連通する)ように位置合わせした後、図4(b)に示すように、配管31a1の外周側面と底板21a表面とをろう付加工して固定してもよい(第二の方法)。
しかしながら、第二の方法では、放出孔22の数が増大すると位置合わせが困難になり、また、ろう付加工の際に溶けたろう29が放出孔22の内側にはみ出て放出孔22を塞ぐ虞があるため、第一の方法の方が簡便であり好ましい。
第二の方法の場合には、図4(c)に示すように、配管31a1の外周側面に貫通孔32a1を、一つの貫通孔32a1の外周が複数の放出孔22の外側を取り囲むような大きさに形成しておき、一つの貫通孔32a1の内側に複数の放出孔22が位置する(一つの貫通孔32a1が複数の放出孔22と連通する)ように位置合わせした後、図4(d)に示すように、配管31a1の外周側面と底板21a表面とをろう付加工して、一つの貫通孔32a1をそれぞれ複数の放出孔22と連通させてもよい。
この場合には、放出孔22の数が増大しても位置合わせは容易であり、また配管31a1の外周側面と底板21a表面とを放出孔22の外周から離間した位置でろう付加工するので、ろう29が放出孔22の内側にはみ出る可能性が低減する。
また、第二の方法の場合には、図4(e)に示すように、一つの放出孔22の外周を、複数の貫通孔32a1の外側を囲むような大きさに形成し、一つの放出孔22の内側に複数の貫通孔32a1が位置する(一つの放出孔22が複数の貫通孔32a1と連通する)ように位置合わせした後、図4(f)に示すように、配管31a1の外周側面と底板21a表面とをろう付加工して、一つの放出孔22を複数の貫通孔32a1と連通させてもよい。
次いで、図3(d)を参照し、底板21aの表面上に、凸状に膨出した形状(一端が蓋された筒形状)の蓋部21bを、配管31a1を覆うように配置し、蓋部21bの縁を底板21aの外周に密着して固定し、配管31a1の開口端である一端を蓋部21bの壁面を気密に貫通させて蓋部21bの外側に露出させる。
底板21aと蓋部21bとで中空の放出容器21が構成される。
原料ガス放出部20の第二例の構造を説明する。
図5は原料ガス放出部20の第二例の内部構成図、図6は同B−B線切断断面図を示している。原料ガス放出部20の第二例の構造のうち第一例の構造と同じ部分には同じ符号を付して説明を省略する。原料ガス放出部20の第二例は、符号31a1〜31a3、31b1〜31b3の導入部の代わりに、符号33a1〜33a3、33b1〜33b3の導入部を有している。
各導入部33a1〜33a3、33b1〜33b3の外周側面は放出容器21の中空の部分25に面する壁面に密着され、各導入部33a1〜33a3、33b1〜33b3の前記壁面に密着する部分には導入部33a1〜33a3、33b1〜33b3の内部空間と放出孔22とを連通させる貫通孔39a1〜39a3、39b1〜39b3が設けられている。
原料ガス放出部20の各導入部33a1〜33a3、33b1〜33b3は、溝であり、溝の開口が貫通孔39a1〜39a3、39b1〜39b3を成している。
原料ガス放出部20の作製方法を説明すると、ここでは一端が閉じられた溝(導入部)33a1〜33a3、33b1〜33b3の開口(貫通孔)39a1〜39a3、39b1〜39b3が底板21aの表面と対面する向きで、溝33a1〜33a3、33b1〜33b3の縁を底板21aの表面に密着させて、ろう付加工により固定する。次いで、底板21aの裏面からレーザー加工又は機械加工により放出孔22を形成して、溝33a1〜33a3、33b1〜33b3の内部空間と放出孔22とを連通させる。次いで、蓋部21bを溝33a1〜33a3、33b1〜33b3の側面を覆うように配置し、蓋部21bの縁を底板21aの外周に密着して固定し、溝33a1〜33a3、33b1〜33b3の開口端を蓋部21bの壁面を気密に貫通させて蓋部21bの外側に露出させ、中空の放出容器21を形成する。
第一例の構造では、一の配管31a1〜31a3、31b1〜31b3の半径を広げると隣接する他の配管と接触するため、配管の内径面積を所定値以上に広げることができない。一方、第二例の構造では、溝33a1〜33a3、33b1〜33b3の深さを大きくすることで、溝の内径面積を広げることができ、溝の内側を通る原料ガスのコンダクタンスを増加させることができるという利点がある。
図1、図5を参照し、原料ガス放出部20の放出容器21は真空槽12内で、放出孔22が設けられた壁面が基板保持台41に保持された基板40表面と平行に対面できる位置に配置されている。
図2、図6を参照し、複数の導入部(配管31a1〜31a3、31b1〜31b3又は溝33a1〜33a3、33b1〜33b3)のうち、少なくとも一の導入部(ここでは符号31a1〜31a3の配管又は符号33a1〜33a3の溝)の開口端には第一の外部配管38a1〜38a3の一端が気密に接続され、他の導入部(符号31b1〜31b3の配管又は符号33b1〜33b3の溝)の開口端には第二の外部配管38b1〜38b3の一端が気密に接続されている。
第一、第二の外部配管38a1〜38a3、38b1〜38b3の他端はそれぞれ真空槽12の壁面を気密に貫通して真空槽12の外側まで延ばされ、第一、第二の原料ガスを放出する第一、第二のガス供給部35a、35bに接続されている。ここでは第二の原料ガスは第一の原料ガスと混ざると反応するガスである。
ここでは第一のガス供給部35aに接続された導入部(符号31a1〜31a3の配管又は符号33a1〜33a3の溝)と、第二のガス供給部35bに接続された導入部(符号31b1〜31b3の配管又は符号33b1〜33b3の溝)とは、放出容器21の中空の部分25に面する壁面に、交互に並んで配置され、互いに異なる放出口22から放出された第一、第二の原料ガスは均一な割合で混合するようになっている。
第一例の構造の原料ガス放出部20は、一本の配管31a1〜31a3、31b1〜31b3と一本の外部配管38a1〜38a3、38b1〜38b3とが分離可能である場合に限定されず、一本の配管31a1〜31a3、31b1〜31b3と一本の外部配管38a1〜38a3、38b1〜38b3とが一本の連続した管で形成されている場合も本発明に含まれる。
図1、図5を参照し、放出容器21の壁面には導入口23aと排出口23bとが設けられている。導入口23aと排出口23bにはそれぞれ第一、第二の冷媒管52a、52bが接続され、第一、第二の冷媒管52a、52bは真空槽12の壁面を気密に貫通して、真空槽12の外側に配置された冷媒循環装置51に接続されている。
冷媒循環装置51は、導入口23aから放出容器21の中空の部分25に温度管理された冷媒を導入して、各導入部(配管31a1〜31a3、31b1〜31b3又は溝33a1〜33a3、33b1〜33b3)の外周側面を冷媒と接触させ、各導入部を冷媒中に浸した後、排出口23bから冷媒を排出して、すなわち放出容器21の中空の部分25に冷媒を循環させるように構成されている。
本発明の原料ガス放出部20は、図7(a)、(b)に示すように、放出容器21の中空の部分25に配置された複数の副配管36b1〜36b3を有していてもよい。各配管36b1〜36b3の外周側面には複数の副貫通孔37b1〜37b3が設けられ、外周側面の副貫通孔37b1〜37b3の外周部分は底板21aの表面と離間されている。
原料ガス放出部20の製作方法を説明すると、底板21a表面に垂直に複数の接続管341〜343の一端をろう付加工で固定し、接続管341〜343の他端に副配管36b1〜36b3の外周側面をろう付加工で固定して、次いで底板21aの裏面側からレーザー加工又は機械加工により、接続管341〜343の内側を通り、底板21aと副配管36b1〜36b3の壁面とを貫通する孔(すなわち放出孔22と副貫通孔37b1〜37b3)を形成する。副配管36b1〜36b3の外周側面の副貫通孔37b1〜37b3の外周部分は放出容器21の壁面から離間され、副貫通孔37b1〜37b3と放出孔22は接続管341〜343を介して連通される。なお、導入部(配管31a1〜31a3又は溝33a1〜33a3)は上述の説明と同様の方法で加工する。
冷媒循環装置51により放出容器21の中空の部分25に液体の冷媒を循環させる場合には、冷媒の水面の高さを副配管36b1〜36b3の高さと導入部(配管31a1〜31a3又は溝33a1〜33a3)の高さの両方よりも高い位置に維持させて、副配管36b1〜36b3と導入部とを冷媒中に浸しながら循環させる。
副配管36b1〜36b3の方が導入部(配管31a1〜31a3又は溝33a1〜33a3)よりも、冷媒との接触面積が大きく、かつ基板40から離れて位置するので、冷却されやすい。従って第二の原料ガスが第一の原料ガスよりも熱で分解しやすい場合には、第一の原料ガスを導入部に流し、第二の原料ガスを副配管36b1〜36b3に流すと、第二の原料ガスの熱分解を防止できるので好ましい。たとえば原料ガスとして有機金属ガスとNH3ガスを用いる場合には、NH3ガスを導入部に流し、有機金属ガスを副配管36b1〜36b3に流すとよい。
本発明の成膜装置10を用いて基板40表面にGaNの薄膜を形成する方法を説明する。
ここでは原料ガス放出部20には配管31a1〜31a3、31b1〜31b3を有する第一例の構造のものを使用するが、溝33a1〜33a3、33b1〜33b3を有する第二例の構造の原料ガス放出部20や、副配管36b1〜36b3を有する構造の原料ガス放出部20を使用する場合も使用方法は同じである。
図1、図2を参照し、真空槽12内を真空排気する。以後、真空排気を継続して真空槽12内の真空雰囲気を維持する。
不図示の搬送ロボットにより、真空槽12内に基板40を搬入し、基板40を基板保持台41上に載置する。
基板保持台41と基板40とを一緒に、基板40表面平行に(すなわち基板40表面に対して直角な回転軸線を中心に)回転させ、以後基板40の回転を継続する。放出容器21の中空の部分25に温度管理された冷媒を導入し、各配管31a1〜31a3、31b1〜31b3を冷媒中に浸して冷却させ、以後中空の部分25に冷媒を循環させて冷却を継続する。
電熱器42を発熱させて、基板40を加熱する。
第二のガス供給部35bでは液体のTMGaをH2ガス又はN2ガスによりバブリングして、第二の原料ガスであるTMGaガスを放出させ、第一のガス供給部35aから第一の原料ガスであるNH3ガスを放出させる。第一の原料ガスは符号31a1〜31a3の配管を通り、第二の原料ガスは符号31b1〜31b3の配管を通って、放出容器21のそれぞれ異なる放出孔22から基板40表面に向けて放出される。
放出された第一、第二の原料ガスは基板40表面上で混合して、基板表面にGaNの薄膜が生成される。GaNと一緒に生成される副生成物は排気口12aから真空槽12の外側に真空排気される。
複数の放出孔22は放出容器21の壁面に、互いに等間隔に離間して行列状に配列されているので、各放出孔22から放出された第一、第二の原料ガスは基板40上で均一な割合で混合し、基板40表面には均質な薄膜が成膜される。
放出容器21の中空の部分25には冷媒が循環され、各配管31a1〜31a3、31b1〜31b3の外周側面は冷媒と接触して冷却されている。そのため各配管31a1〜31a3、31b1〜31b3は基板40が発する熱によって加熱されても昇温せず、各配管31a1〜31a3、31b1〜31b3の内部で第一、第二の原料ガスが熱分解されることが防止されている。
基板40表面にあらかじめ定められた膜厚の薄膜を形成した後、第一、第二のガス供給部35a、35bからの第一、第二の原料ガスの供給を停止し、GaNの薄膜の形成を終了する。
薄膜を成膜した後、回転装置47による基板40の回転を停止し、電熱器42による基板40の加熱を停止して、不図示の搬送ロボットにより基板40を真空槽12の外側に搬出し、次工程に渡す。
次いで成膜装置10の真空槽12内に別の基板40を不図示の搬送ロボットにより搬入して上記方法で成膜を繰り返す。
上記説明では第二のガス供給部35bは、液体のTMGaをH2ガス又はN2ガスでバブリングしてTMGaガスを第の原料ガスとして放出したが、本発明は、TMGaと、トリエチルガリウム(TEGa)と、トリメチルアルミニウム(TMAl)と、トリメチルインジウム(TMIn)と、シラン(SiH4)と、ビスシクロペンタジエニルマグネシウム(CP2Mg)とをそれぞれ異なる反応容器内でバブリングして、各反応容器のバルブを開閉することで、一種類の有機金属ガス又は二種類以上の有機金属ガスの混合ガスを第二の原料ガスとして放出するように構成してもよい。
この場合には、真空槽12内にサファイア、SiC、Si又はGaNの基板40を搬入した後、同じ真空槽12内で基板40上にLT−GaN層と、GaN層と、Siドープn型GaN層と、GaN/InGaN多層膜層と、Mgドープp型AlGaN層とを順に積層することができ、すなわち発光ダイオード素子の積層構造を作製できる。
10……成膜装置
12……真空槽
21……放出容器
22……放出孔
25……中空の部分
23a……導入口
23b……排出口
31a1〜31a3、31b1〜31b3……導入部(配管)
32a1〜32a3、32b1〜32b3……貫通孔
33a1〜33a3、33b1〜33b3……導入部(溝)
35a……第一のガス供給部
35b……第二のガス供給部
36b1〜36b3……副配管
37b1〜37b3……副貫通孔
39a1〜39a3、39b1〜39b3……貫通孔(開口)
41……基板保持部(基板保持台)

Claims (7)

  1. 真空槽と、
    前記真空槽内に配置され、複数の放出孔が設けられた中空の放出容器と、
    前記放出容器の中空の部分に配置された複数の管状の導入部と、
    各前記導入部に原料ガスを供給するガス供給部と、
    前記放出容器の前記放出孔と対面する位置に基板を保持する基板保持部と、
    前記放出容器の前記中空の部分に配置され、外周側面に複数の副貫通孔が設けられた複数の副配管と、
    一端が前記副貫通孔に接続され、他端が前記放出孔に接続され、前記副貫通孔と前記放出孔とを連通させる複数の接続管と、
    を有し、
    各前記導入部の外周側面は前記放出容器の前記中空の部分に面する壁面に密着され、
    各前記導入部の前記密着する部分には前記導入部の内部空間と前記放出孔とを連通させる貫通孔が設けられ、
    前記副貫通孔の外周部分は前記放出容器の前記中空の部分に面する前記壁面と離間され、
    前記ガス供給部は、第一、第二の原料ガスを放出する第一、第二のガス供給部を有し、
    前記導入部は前記第一のガス供給部に接続され、前記副配管は前記第二のガス供給部に接続された成膜装置。
  2. 各前記導入部は、前記放出容器の前記中空の部分に面する前記壁面に、互いに平行に向けられて等間隔に配置された請求項1記載の成膜装置。
  3. 前記放出容器の容器壁には導入口と排出口とが設けられ、前記導入口から前記放出容器の前記中空の部分に温度管理された冷媒が導入され、前記排出口から前記冷媒が排出されるように構成された請求項1又は請求項2のいずれか1項記載の成膜装置。
  4. 前記副配管と前記導入部とは、前記冷媒中に浸されるように構成された請求項3記載の成膜装置。
  5. 前記基板保持部に保持された前記基板からは、前記導入部よりも前記副配管の方が離れて位置された請求項1乃至請求項4のいずれか1項記載の成膜装置。
  6. 前記副配管の方が、前記導入部よりも前記冷媒との接触面積が大きくされた請求項1乃至請求項5のいずれか1項記載の成膜装置。
  7. 前記第二の原料ガスは、前記第一の原料ガスよりも熱で分解しやすいガスである請求項1乃至請求項6のいずれか1項記載の成膜装置。
JP2012520437A 2010-06-14 2011-06-13 成膜装置 Active JP5478723B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012520437A JP5478723B2 (ja) 2010-06-14 2011-06-13 成膜装置

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010135503 2010-06-14
JP2010135503 2010-06-14
PCT/JP2011/063483 WO2011158781A1 (ja) 2010-06-14 2011-06-13 成膜装置
JP2012520437A JP5478723B2 (ja) 2010-06-14 2011-06-13 成膜装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2011158781A1 JPWO2011158781A1 (ja) 2013-08-19
JP5478723B2 true JP5478723B2 (ja) 2014-04-23

Family

ID=45348180

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012520437A Active JP5478723B2 (ja) 2010-06-14 2011-06-13 成膜装置

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP5478723B2 (ja)
KR (1) KR101553453B1 (ja)
CN (1) CN102939406B (ja)
TW (1) TWI496941B (ja)
WO (1) WO2011158781A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102106969B1 (ko) * 2013-02-26 2020-05-08 삼성디스플레이 주식회사 기판 열처리 장치 및 그 방법
KR102159868B1 (ko) * 2015-10-06 2020-09-24 가부시키가이샤 알박 혼합기, 진공 처리 장치

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002536829A (ja) * 1999-02-04 2002-10-29 シュテアク エルテーペー システムズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 急速熱処理(rtp)装置のための冷却シャワーヘッド
JP2010028056A (ja) * 2008-07-24 2010-02-04 Nuflare Technology Inc 成膜装置および成膜方法
JP2010027675A (ja) * 2008-07-15 2010-02-04 Sharp Corp 気相成長装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101657565A (zh) * 2007-04-17 2010-02-24 株式会社爱发科 成膜装置
US20110135843A1 (en) * 2008-07-30 2011-06-09 Kyocera Corporation Deposited Film Forming Device and Deposited Film Forming Method

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002536829A (ja) * 1999-02-04 2002-10-29 シュテアク エルテーペー システムズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 急速熱処理(rtp)装置のための冷却シャワーヘッド
JP2010027675A (ja) * 2008-07-15 2010-02-04 Sharp Corp 気相成長装置
JP2010028056A (ja) * 2008-07-24 2010-02-04 Nuflare Technology Inc 成膜装置および成膜方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW201211306A (en) 2012-03-16
KR20130027035A (ko) 2013-03-14
WO2011158781A1 (ja) 2011-12-22
CN102939406A (zh) 2013-02-20
JPWO2011158781A1 (ja) 2013-08-19
CN102939406B (zh) 2014-09-03
TWI496941B (zh) 2015-08-21
KR101553453B1 (ko) 2015-09-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5474193B2 (ja) 成膜装置
JP6360849B2 (ja) 多レベルシャワーヘッド設計
US20150292088A1 (en) Deposition systems having interchangeable gas injectors and related methods
KR101232800B1 (ko) Iii족/v족 화합물을 증착시키는 방법
US9449859B2 (en) Multi-gas centrally cooled showerhead design
KR100928290B1 (ko) Hvpe 샤우어헤드
KR101180214B1 (ko) 전구체 공급원을 구비한 샤우어헤드
TW201209214A (en) Gas distribution showerhead with high emissivity surface
CN102576667A (zh) 中空阴极喷头
TWI825173B (zh) 噴淋頭組件及藉由分段式噴淋頭引入前驅物的方法
US20080276860A1 (en) Cross flow apparatus and method for hydride vapor phase deposition
US20160145767A1 (en) Deposition systems having access gates at desirable locations, and related methods
JP5478723B2 (ja) 成膜装置
JP7349341B2 (ja) 気相成長装置及び気相成長方法
TWM464459U (zh) 金屬有機化學氣相沉積反應器的氣體分佈裝置及反應器
JP2009032785A (ja) 気相成長装置、及び半導体素子の製造方法
KR102063490B1 (ko) 반도체 제조장치
KR20120073782A (ko) 질화갈륨계 엘이디 박막성장을 위한 화학기상증착장치
US9644285B2 (en) Direct liquid injection for halide vapor phase epitaxy systems and methods
KR20140083440A (ko) 질화갈륨 기판 제조용 성장로

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140204

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140210

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5478723

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250