JP5467221B2 - 基板搬送装置及びこれを用いた高速基板処理システム - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 874
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 255
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 284
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 277
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 78
- 239000012636 effector Substances 0.000 claims description 62
- 238000002203 pretreatment Methods 0.000 claims description 9
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims description 6
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 33
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 20
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 11
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 11
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 10
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 9
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 8
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 7
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 5
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 5
- 238000004380 ashing Methods 0.000 description 4
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 238000004378 air conditioning Methods 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 210000002816 gill Anatomy 0.000 description 1
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
Images
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H01L21/67742—Mechanical parts of transfer devices
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- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/67196—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the construction of the transfer chamber
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- H—ELECTRICITY
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- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67745—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber characterized by movements or sequence of movements of transfer devices
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68707—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a robot blade, or gripped by a gripper for conveyance
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/139—Associated with semiconductor wafer handling including wafer charging or discharging means for vacuum chamber
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
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- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S901/00—Robots
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- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Robotics (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Cell Separators (AREA)
Description
110 キャリア
200 ロードロックチャンバ
210 大気圧搬送ロボット
400 トランスファーチャンバ
410 第3基板出入口
500 第1工程チャンバ
510 第1基板出入口
520、522、620、622 基板支持台
600 第2工程チャンバ
610 第2基板出入口
700 プラズマソース
800 基板搬送装置
810 回転プレートアーム
820 ローディング用アーム
822 アンローディング用アーム
830 スピンドル
840 駆動部
Claims (33)
- ロードロックチャンバと複数の基板を処理するための第1及び第2工程チャンバとの間で基板を搬送する基板搬送装置において、
前記ロードロックチャンバは、前記ロードロックチャンバと前記第1及び第2工程チャンバの間に位置するトランスファーチャンバに隣接し、
回転力を提供する駆動部と、
前記駆動部に連結される少なくとも一つのスピンドルと、
第1工程チャンバに基板をローディング/アンローディングするための複数の第1 回転プレートアームと、及び
第2工程チャンバに基板をローディング/アンローディングするための複数の第2 回転プレートアームを含み、
前記スピンドルは前記トランスファーチャンバ内の1箇所に配置され、
1つの前記スピンドルにより同時に複数の基板支持台に基板をローディング/アンローディングすることを特徴とする基板搬送装置。 - 第1及び第2回転プレートアームの各々は、
処理前基板をローディングさせるための一つ以上のローディング用回転プレートアームと、及び
処理後基板をアンローディングさせるための一つ以上のアンローディング用回転プレートアームを含む請求項1に記載の基板搬送装置。 - 第1及び第2回転プレートアームが分けて装着され、各々独立的に回転する少なくとも2個の互いに異なるスピンドルを含む請求項1に記載の基板搬送装置。
- 少なくとも2個の互いに異なるスピンドルで回転力を提供する一つ以上の駆動部を含む請求項3に記載の基板搬送装置。
- 前記第1回転プレートアームと前記第2回転プレートアームの各々は、一側が開放した開口部を有し、上面に基板端が載置される支持台を有する馬蹄状のエンドエフェクタ(END EFFECTOR)を含む請求項2に記載の基板搬送装置。
- 前記エンドエフェクタは、基板を受け渡しするために前記ロードロックチャンバに設けられた大気圧搬送ロボットのエンドエフェクタが進入するように形成された進入通路を有することを特徴とする請求項5に記載の基板搬送装置。
- 請求項1の基板搬送装置を用いた基板処理システムにおいて、
少なくとも2個の基板支持台を含む第1工程チャンバと、
少なくとも2個の基板支持台を含む第2工程チャンバと、
基板搬送装置が設けられたトランスファーチャンバと、
第1工程チャンバとトランスファーチャンバ間に開設される第1基板出入口と、
第2工程チャンバとトランスファーチャンバ間に開設される第2基板出入口と、
トランスファーチャンバと外部間に開設される第3基板出入口を含み、
基板搬送装置は、
第3基板出入口を通じて外部から/に処理前後の基板を引き渡され及び移送し、
引き受けた処理前基板を第1または第2工程チャンバに搬送し、第1または第2工程チャンバで処理された処理後基板を第3基板出入口を通じて外部に渡される基板処理システム。 - 更に、前記第3基板出入口に連結されるロードロックチャンバを含み、前記ロードロックチャンバは大気圧で基板を搬送する大気圧搬送ロボットを含む請求項7に記載の基板処理
システム。 - 更に、前記第3基板出入口を通じて排出された、前記処理後基板を冷却させるための冷却チャンバを含む請求項7に記載の基板処理システム。
- 前記第1及び第2工程チャンバはプラズマ処理が行われるプラズマチャンバである請求項7に記載の基板処理システム。
- 前記第1工程チャンバはプラズマ処理が行われるプラズマチャンバであり、前記第2工程チャンバは処理後加熱された基板を冷却するための冷却チャンバである請求項7に記載の基板処理システム。
- 前記トランスファーチャンバと別の外部間に開設される第4基板出入口をさらに含み、
前記基板搬送装置は、前記第3基板出入口を通じて外部から処理前基板を引き渡され、前記処理された基板を、前記第4基板出入口を通じて外部に渡される請求項7に記載の基板処理システム。 - 更に、前記第4基板出入口に連結されるロードロックチャンバを含み、前記ロードロックチャンバは大気圧で前記基板を搬送する大気圧搬送ロボットを含む請求項12に記載の基板処理システム。
- 前記第4基板出入口を通じて排出された前記処理後基板を冷却させるための冷却チャンバを含む請求項13に記載の基板処理システム。
- 基板処理システムにおいて、
前方に複数のキャリアが装着されるインデックスを有するロードロックチャンバと、及び前記ロードロックチャンバの後方に配置され、多段に積層されるように配置される複数の処理グループを含み、
前記複数の処理グループのうちいずれか一つの処理グループは、
第1基板搬送装置が設けられた第1トランスファーチャンバと、及び
前記第1トランスファーチャンバの両側面に、第1、2基板出入口を通じて連結され、2個の基板支持台が備えられた第1及び第2工程チャンバを含み、
前記複数の処理グループのうち、別の一つの処理グループは、
第2基板搬送装置が設けられた第2トランスファーチャンバと、及び
前記第2トランスファーチャンバの両側面に第1、2基板出入口を通じて連結され、二つの基板アライナが備えられた第1及び第2整列チャンバを含み、
前記ロードロックチャンバは、前記第1及び第2トランスファーチャンバに隣接し、前記第1、2基板搬送装置の各々は、
回転力を提供する駆動部と、
前記駆動部に連結される少なくとも一つのスピンドルと、及び
前記スピンドルに互いに異なる高さで装着され、該当する位置上に位置するように前記スピンドルと連動する複数の回転プレートアームが備えられ、
前記スピンドルは前記トランスファーチャンバ内の1箇所に配置され、
1つの前記スピンドルにより同時に複数の基板支持台に基板をローディング/アンローディングすることを特徴とする基板処理システム。 - 前記第1基板搬送部材は前記第1トランスファーチャンバの待機位置に提供される4枚の基板を同時に引き渡され、前記第1及び第2工程チャンバに設けられた4個の基板支持台上部に移送するように開き、前記4個の基板支持台上部で前記各々の基板を引き渡され、前記第1トランスファーチャンバの待機位置へ前記各々の基板を移送するように折り畳むことを特徴とする請求項15に記載の基板処理システム。
- 前記第2基板搬送部材は前記第2トランスファーチャンバの待機位置に提供される4枚の基板を同時に引き渡され、前記第1及び第2整列チャンバに設けられた少なくとも2個の基板アライナに移送するように左右に開き、前記少なくとも2個の基板アライナから前記各々整列された基板を引き渡され、前記第2トランスファーチャンバの待機位置へ前記各々の整列された基板を移送するように折り畳むことを特徴とする請求項15に記載の基板処理システム。
- 前記複数の処理グループのうち別の一つの処理グループは、
第3基板搬送装置が設けられた第3トランスファーチャンバと、及び
前記第3トランスファーチャンバの一側面に第1出入口を通じて連結され、少なくとも一つの基板を冷却するための冷却チャンバを含むことを特徴とする請求項15に記載の基板処理システム。 - 前記第3基板搬送装置は、
回転力を提供する駆動部と、
前記駆動部に連結される少なくとも一つのスピンドルと、及び
前記スピンドルに互いに異なる高さで装着され、該当する位置上に位置するように前記スピンドルと連動する複数の回転プレートアームが備えられることを特徴とする請求項18に記載の基板処理システム。 - 前記回転プレートアームの各々は一側が開放した開口部を有し、上面に基板端が載置される支持台を有する馬蹄状のエンドエフェクタ(END EFFECTOR)を含み、
前記搬送装置は、前記回転プレートアームのエンドエフェクタが各々の該当する位置に位置するようにスイングし、かつ前記第1、2、3トランスファーチャンバの待機位置で一つの整列線に垂直に整列されるようにスイングすることを特徴とする請求項19に記載の基板処理システム。 - 前記第1基板搬送装置は前記1トランスファーチャンバの待機位置に提供される複数の基板を同時に引き渡され、前記第1、2工程チャンバ上部の前記基板支持台へ前記基板を移送し、前記支持台上部で各々の基板を引き渡され、前記第1トランスファーチャンバの待機位置に基板を集中移送する複数の回転プレートアームを含むことを特徴とする請求項15に記載の基板搬送装置。
- 前記基板アライナの各々は、
前記基板が載置されるスピンチャックと、
前記スピンチャックに載置された前記基板の整列状態を感知するセンサと、及び
前記回転プレートアームの高さに従って前記スピンチャックの高低を調節する昇降装置を含むことを特徴とする請求項17に記載の基板処理システム。 - 前記ロードロックチャンバは大気圧で前記基板を搬送する大気圧搬送ロボットを含むことを特徴とする請求項15に記載の基板処理システム。
- 前記第1及び第2工程チャンバはプラズマ処理が行われるプラズマチャンバであることを特徴とする請求項15に記載の基板処理システム。
- 前記ロードロックチャンバは前記キャリアから一回の動作に4枚の基板を搬出して前記第1トランスファーチャンバまたは前記第2トランスファーチャンバに搬入する4個のエンドエフェクタを備えたダブルアーム構造を有する大気圧搬送ロボットを含み、
前記第1と前記第2トランスファーチャンバの各々は前記ロードロックチャンバから前記基板が出入する第3基板出入口を有し、
前記第3基板出入口は前記大気圧搬送ロボットが上下方向に移動した状態で前記基板搬送が可能になるように同一線上に配置されることを特徴とする請求項15に記載の基板処理システム。 - 一つの基板支持台を含む第1工程チャンバと、
一つの基板支持台を含む第2工程チャンバと、
基板搬送装置が設けられたトランスファーチャンバと、
前記トランスファーチャンバと外部間に開設される第1基板出入口と、
前記第1工程チャンバと前記トランスファーチャンバ間に開設される第2基板出入口と、
及び
前記第2工程チャンバと前記トランスファーチャンバ間に開設される第3基板出入口を含む一つ以上の処理グループを有し、
前記基板搬送装置は、
前記第1基板出入口を通じて外部と処理前後の前記基板を引き渡され、及び移送し、
前記引き受けた処理前基板を第2または第3基板出入口を通じて第1または第2工程チャンバに搬送し、
前記第1または第2工程チャンバで処理された前記処理後基板を前記第2または第3基板出入口を通じて受け取り、前記第1基板出入口を通じて外部に移送し、
更に、前記第1基板出入口に連結されるロードロックチャンバを含み、前記ロードロックチャンバは、前記トランスファーチャンバに隣接し、大気圧で前記基板を搬送する大気圧搬送ロボットを含み、
前記基板搬送装置は、
回転力を提供する駆動部と、
前記駆動部に連結される少なくとも一つのスピンドルと、
第1工程チャンバに基板をローディング/アンローディングするための複数の第1 回転プレートアームと、及び
第2工程チャンバに基板をローディング/アンローディングするための複数の第2 回転プレートアームを含み、
前記スピンドルは前記トランスファーチャンバ内の1箇所に配置され、
1つの前記スピンドルにより同時に複数の基板支持台に基板をローディング/アンローディングすることを特徴とする基板処理システム。 - 前記第1および第2工程チャンバのうち少なくともいずれか一つはプラズマ処理チャンバであることを特徴とする請求項26に記載の基板処理システム。
- 前記第1および第2工程チャンバのうち少なくともいずれか一つは冷却処理チャンバであることを特徴とする請求項26に記載の基板処理システム。
- 前記第1および第2工程チャンバのうち少なくともいずれか一つは整列処理チャンバであることを特徴とする請求項26に記載の基板処理システム。
- 前記第1及び第2回転プレートアームが別々に装着され、前記ピストンが各々独立的に回転する少なくとも2個の互いに異なるスピンドルを含む請求項26から請求項29のいずれか1項に記載の基板処理システム。
- 前記駆動部が少なくとも2個の互いに異なるスピンドルで回転力を提供する一つ以上の駆動部を含む請求項30に記載の基板処理システム。
- 前記第1回転プレートアームと前記第2回転プレートアームの各々は、一側が開放した開口部を有し、上面に基板端が載置される支持台を有する馬蹄状のエンドエフェクタ(END EFFECTOR)を含む請求項26に記載の基板処理システム。
- 前記エンドエフェクタは、前記基板を受け渡しするために前記ロードロックチャンバに設けられた大気圧搬送ロボットの前記エンドエフェクタが出入りするように形成された進入通路を有することを特徴とする請求項32に記載の基板処理システム。
Applications Claiming Priority (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060039744A KR100814238B1 (ko) | 2006-05-03 | 2006-05-03 | 기판 반송 장치 및 이를 이용한 기판 처리 시스템 |
KR10-2006-0039744 | 2006-05-03 | ||
KR10-2006-0090225 | 2006-09-18 | ||
KR1020060090225A KR100781816B1 (ko) | 2006-09-18 | 2006-09-18 | 기판 반송 장치 및 이를 이용한 기판 처리 시스템 |
KR10-2006-0129476 | 2006-12-18 | ||
KR1020060129476A KR101364583B1 (ko) | 2006-12-18 | 2006-12-18 | 기판 처리 시스템 |
KR1020070007160A KR101416780B1 (ko) | 2007-01-23 | 2007-01-23 | 고속 기판 처리 시스템 |
KR10-2007-0007160 | 2007-01-23 | ||
PCT/KR2007/002133 WO2007126289A1 (en) | 2006-05-03 | 2007-05-01 | Substrate transfer equipment and high speed substrate processing system using the same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010507221A JP2010507221A (ja) | 2010-03-04 |
JP5467221B2 true JP5467221B2 (ja) | 2014-04-09 |
Family
ID=38655752
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009509412A Expired - Fee Related JP5467221B2 (ja) | 2006-05-03 | 2007-05-01 | 基板搬送装置及びこれを用いた高速基板処理システム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9054146B2 (ja) |
EP (1) | EP2020024A4 (ja) |
JP (1) | JP5467221B2 (ja) |
TW (1) | TWI476855B (ja) |
WO (1) | WO2007126289A1 (ja) |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20150038360A (ko) | 2007-05-18 | 2015-04-08 | 브룩스 오토메이션 인코퍼레이티드 | 빠른 교환 로봇을 가진 컴팩트 기판 운송 시스템 |
US9117870B2 (en) * | 2008-03-27 | 2015-08-25 | Lam Research Corporation | High throughput cleaner chamber |
JP5511273B2 (ja) | 2008-09-12 | 2014-06-04 | 株式会社日立国際電気 | 基板処理装置及び基板処理方法 |
KR101680295B1 (ko) | 2009-03-18 | 2016-11-29 | 에바텍 어드벤스드 테크놀로지스 아크티엔게젤샤프트 | 진공처리 장치 |
WO2011001881A1 (en) | 2009-06-30 | 2011-01-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing semiconductor device |
JP2011071293A (ja) * | 2009-09-25 | 2011-04-07 | Tokyo Electron Ltd | プロセスモジュール、基板処理装置、および基板搬送方法 |
JP5452166B2 (ja) * | 2009-10-23 | 2014-03-26 | 川崎重工業株式会社 | アライナ装置、及びそれを備える半導体処理設備 |
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-
2007
- 2007-04-30 TW TW096115374A patent/TWI476855B/zh not_active IP Right Cessation
- 2007-05-01 EP EP07746289A patent/EP2020024A4/en not_active Withdrawn
- 2007-05-01 WO PCT/KR2007/002133 patent/WO2007126289A1/en active Application Filing
- 2007-05-01 JP JP2009509412A patent/JP5467221B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-01 US US12/298,972 patent/US9054146B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010507221A (ja) | 2010-03-04 |
US20110318141A1 (en) | 2011-12-29 |
EP2020024A1 (en) | 2009-02-04 |
TW200818378A (en) | 2008-04-16 |
EP2020024A4 (en) | 2011-03-30 |
WO2007126289A1 (en) | 2007-11-08 |
TWI476855B (zh) | 2015-03-11 |
US9054146B2 (en) | 2015-06-09 |
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Legal Events
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A602 | Written permission of extension of time |
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|
A602 | Written permission of extension of time |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A602 | Written permission of extension of time |
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|
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|
A602 | Written permission of extension of time |
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|
A601 | Written request for extension of time |
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|
A602 | Written permission of extension of time |
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|
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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