JP5447474B2 - ネジ孔検査方法およびネジ孔検査装置 - Google Patents
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まず、ネジ孔検査装置1の構成について説明する。図1〜図3に示すように、ネジ孔検査装置1は、ロボット10と、アダプタ12と、ネジゲージ14と、スタンド16、制御部18と、搬送部20などから構成される。このネジ孔検査装置1は、詳しくは後述するように、ネジゲージ14を用いてワーク30のネジ孔32のネジ山の精度を検査するものである。
以上のような構成のネジ孔検査装置1は、ワーク30のネジ孔32を検査するとき、図4のフローチャート図で示されるような動作を行う。まず、ロボット10を起動し(ステップS1)、メスアダプタ24を保管する不図示のスタンドから所望のメスアダプタ24を取り出して、当該メスアダプタ24をロボット10の回転軸11に接続するオスアダプタ22に嵌合させて取り付ける(ステップS2)。
次に、前記のようにネジ孔挿入プログラムにおいて規定されているネジゲージ14を用いてネジ孔32の精度の検査を行うネジ孔検査方法の詳細について説明する。ここでは、主にネジゲージ14として通ネジ34を例に挙げ、通ネジ34を用いてネジ孔32の精度の検査を行うネジ孔検査方法について説明する。なお、本発明のネジ孔検査方法における各部品の動作は、前記のネジ孔検査装置1の制御部18により制御される。
まず、実施例1について説明する。ここで、図5は、実施例1においてアダプタ12の位置と通ネジ34の先端部48(詳しくは、最先端部49)(図6参照)の位置とアダプタ12の回転速度についての時間変化、および各時間における回転軸11を駆動させるための電力値を示した図である。この図5は、横軸が時間(単位はs)を示し、縦軸がワーク30の端面38(図6参照)からの距離(単位はmm)やアダプタ12の回転速度(単位はrpm)や回転軸11を駆動させるための電力値(単位はW)を示している。なお、ここでは、一例として、ネジ孔32について、ネジの呼び径を8mm、ピッチを1.25mm、深さを30mmとする。
次に、実施例2について説明するが、実施例1と同等の構成要素については、同一の符号を付して説明を省略し、異なった点を中心に述べる。ここで、図21は、実施例2においてアダプタ12の位置と通ネジ34の先端部48(詳しくは、最先端部49)の位置とアダプタ12の回転速度についての時間変化と、回転軸電力についての時間変化とを示した図である。この図21は、横軸が時間(単位はs)を示し、縦軸がワーク30の端面38からの距離(単位はmm)とアダプタ12の回転速度(単位はrpm)と回転軸電力(単位はW)を示している。
上記の実施例においては、通ネジ34による検査を例に挙げて説明したが、変形例として、本発明は止ネジ36による検査にも適用させることができる。例えば、止ネジ36と嵌合するアダプタ12を回転させることにより止ネジ36をネジ孔32に螺合させて移動させるときに、止ネジ36の中心軸S方向についてアダプタ12と止ネジ36との間に隙間δを有しておく。
10 ロボット
12 アダプタ
14 ネジゲージ
18 制御部
24 メスアダプタ
26 マグネット
30 ワーク
32 ネジ孔
34 通ネジ
38 (ワークの)端面
40 端部
42 (通ネジの)端面
44 嵌合部
46 奥行き面
48 先端部
52 ネジ底
δ 隙間
Claims (5)
- ネジゲージを用いてネジ孔を検査するネジ孔検査方法において、
前記ネジゲージが前記ネジ孔に螺合している状態で、前記ネジゲージと嵌合するアダプタの回転により前記ネジゲージを当該ネジゲージの軸方向に移動させるときに、
前記軸方向について前記アダプタと前記ネジゲージとの間に隙間を有し、
前記ネジゲージは、前記アダプタに対して相対回転不能かつ前記軸方向に移動可能に嵌合し、
前記ネジゲージは、前記隙間が形成されていないときに、前記アダプタに磁力による吸引力で吸着され、
前記隙間は、前記ネジゲージの先端部が前記ネジ孔に螺合したときに、前記軸方向について前記アダプタを前記ネジゲージから離れる側に移動させて形成され、
前記隙間を形成し終えたときに、前記アダプタの1回転あたりの前記軸方向の移動量を前記ネジ孔のピッチと同じ大きさにすること、
を特徴とするネジ孔検査方法。 - 請求項1のネジ孔検査方法において、
前記隙間を形成し終えたときに、前記ネジゲージの移動速度を増加させること、
を特徴とするネジ孔検査方法。 - 請求項1または2のネジ孔検査方法において、
前記ネジゲージを前記ネジ孔の奥行き方向に移動させるときに、前記アダプタの回転トルクが所定の閾値を超えたときに前記ネジゲージの先端部が前記ネジ孔のネジ底に達したものと判断して、前記アダプタの回転を一旦停止させた後に前記アダプタの回転方向を逆転させて前記ネジゲージを前記ネジ孔の口元方向に移動させること、
を特徴とするネジ孔検査方法。 - 請求項1乃至3のいずれか1つのネジ孔検査方法において、
前記ネジゲージを前記ネジ孔の奥行き方向に移動させた後に前記ネジ孔の口元方向に移動させて前記ネジ孔から開放させるときに、前記アダプタと前記ネジゲージとの間に生じる吸引力により前記軸方向について前記アダプタと前記ネジゲージとを当接させること、
を特徴とするネジ孔検査方法。 - ネジゲージを用いてネジ孔を検査するネジ孔検査装置において、
前記ネジゲージと嵌合するアダプタと、
前記ネジゲージが前記ネジ孔に螺合している状態で、前記アダプタの回転により前記ネジゲージを当該ネジゲージの軸方向に移動させるときに、前記軸方向について前記アダプタと前記ネジゲージとの間に隙間を有するように制御する制御部と、を有し、
前記ネジゲージは、前記アダプタに対して相対回転不能かつ前記軸方向に移動可能に嵌合し、
前記ネジゲージは、前記隙間が形成されていないときに、前記アダプタに磁力による吸引力で吸着され、
前記制御部は、前記ネジゲージの先端部が前記ネジ孔に螺合したときに、前記軸方向について前記アダプタを前記ネジゲージから離れる側に移動させて前記隙間を形成し、前記隙間を形成し終えたときに、前記アダプタの1回転あたりの前記軸方向の移動量を前記ネジ孔のピッチと同じ大きさにするように制御すること、
を特徴とするネジ孔検査装置。
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