JP5420442B2 - 光モジュール、筐体温度推定方法、筐体温度推定装置及び筐体温度推定プログラム - Google Patents

光モジュール、筐体温度推定方法、筐体温度推定装置及び筐体温度推定プログラム Download PDF

Info

Publication number
JP5420442B2
JP5420442B2 JP2010023592A JP2010023592A JP5420442B2 JP 5420442 B2 JP5420442 B2 JP 5420442B2 JP 2010023592 A JP2010023592 A JP 2010023592A JP 2010023592 A JP2010023592 A JP 2010023592A JP 5420442 B2 JP5420442 B2 JP 5420442B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
laser diode
housing
amount
current flowing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2010023592A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011165721A (ja
Inventor
敏也 石野
賢治 吉本
功介 下舘
耕平 相良
秀幸 芹澤
元気 安田
Original Assignee
日本オクラロ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日本オクラロ株式会社 filed Critical 日本オクラロ株式会社
Priority to JP2010023592A priority Critical patent/JP5420442B2/ja
Publication of JP2011165721A publication Critical patent/JP2011165721A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5420442B2 publication Critical patent/JP5420442B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、光モジュール、筐体温度推定方法、筐体温度推定装置及び筐体温度推定プログラムに関する。
10 Gigabit Small Form Factor Pluggable XFPをはじめとした、光通信用の送受信機では、電気のデータ信号を、光送信サブアセンブリ(TOSA(Transmitter Optical Sub-Assembly))内部のレーザダイオードで光信号に変換する。また、光通信用の送受信機では、フォトダイオードを内蔵した光受信モジュールである光受信サブアセンブリ(ROSA(Receiver Optical Sub-Assembly))によって受信した光信号を電気信号に変換及び増幅し、その電気信号をCDR(Clock Data Recovery)回路によって信号レベルを識別再生して出力する。このように、光通信用の送受信機は内部にレーザダイオードやフォトダイオードのような素子を有している。そして、レーザダイオードの発振波長の制御などのためには素子の動作温度の制御が必要となる。
例えば、光送受信機においてレーザダイオードは熱電冷却器(TEC(Thermo-Electric-Cooler))と呼ばれる電子冷却器を内蔵している光送信モジュールであるTOSAに内蔵される。TECは、流れる電流量や電流の流れる方向によって加熱及び冷却温度が変化するので、TECに所定の量の電流(TEC電流)を流すことによってレーザダイオードは安定した動作をすることとなる。レーザダイオードの動作を安定させるには、レーザダイオードの温度を検出し、検出温度に対応した量のTEC電流をTECに流す必要がある。
レーザダイオードの動作を安定させる方法としては、例えば、TOSA内のサーミスタによってレーザダイオードの温度を検出し、その検出信号をATC(Auto Temperature Control)回路(サーミスタの出力をある基準値に保持する回路)に入力して、この入力された検出信号に対応する出力信号をTECの駆動回路に出力することによって、レーザダイオードの温度を一定に保つ方法がある。また、例えば、特許文献1に記載されているように、一定のTEC電流によってレーザダイオードを冷却しつつ、TOSA内のサーミスタによってレーザダイオードの温度を検出し、検出した信号によってレーザダイオード駆動電流を変化させる方法もある。
また、一般的に、光通信用送受信機は保証する動作温度をその筐体の温度により規定している。そのための筐体温度モニタ技術として、例えば、特許文献2には、筐体内部の基板に温度センサを設け、この温度センサにより筐体の温度を推定する技術が記載されている。
特開2004−296805号公報 特開2008−16511号公報
光送受信機の筐体温度をモニタする方法としては、筐体に温度センサを取り付けて、筐体の温度を直接モニタする方法がある。この方法では、サーミスタ等の温度センサを筐体に直接取り付ける必要があり、実装上のスペースがかさむことが懸念される。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであって、筐体温度の推定に必要な実装上のスペースの増加を従来よりも抑えることができる光モジュール、筐体温度推定方法、筐体温度推定装置及び筐体温度推定プログラムを提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明に係る光モジュールは、筐体内に格納されたレーザダイオードと、前記筐体内に格納された、前記レーザダイオードの温度に応じた信号を出力するレーザダイオード温度検出手段と、流れる電流の量に応じて前記レーザダイオードの温度を変化させる温度制御手段と、前記レーザダイオード温度検出手段により出力される信号に対応する温度が所定の目標温度値となる状態での、前記筐体の温度と前記温度制御手段に流れる電流の量との関係に基づいて、前記温度制御手段に流れる電流の量と前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度との組合せと、前記筐体の温度の推定値と、の関係を示す関係情報を生成する関係情報生成手段と、前記関係情報と、前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度と、前記温度制御手段に流れる電流の量と、に基づいて、前記筐体の温度の推定値を示す筐体温度推定値情報を生成する筐体温度推定値情報生成手段と、を含むことを特徴とする。
また、本発明に係る筐体温度推定方法は、筐体内に格納されたレーザダイオードの温度に応じた信号を出力する温度検出手段により出力される信号に対応する温度が所定の目標温度値となる状態での、前記筐体の温度と、流れる電流の量に応じて前記レーザダイオードの温度を変化させる前記温度制御手段に流れる電流の量と、の関係に基づいて、前記温度制御手段に流れる電流の量と前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度との組合せと、前記筐体の温度の推定値と、の関係を特定するステップと、前記特定された関係と、前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度と、前記温度制御手段に流れる電流の量と、に基づいて、前記筐体の温度を推定するステップと、を含むことを特徴とする。
また、本発明に係る筐体温度推定装置は、筐体内に格納されたレーザダイオードの温度に応じた信号を出力する温度検出手段により出力される信号に対応する温度が所定の目標温度値となる状態での、前記筐体の温度と、流れる電流の量に応じて前記レーザダイオードの温度を変化させる温度制御手段に流れる電流の量と、の関係に基づいて、前記温度制御手段に流れる電流の量と前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度との組合せと、前記筐体の温度の推定値と、の関係を示す関係情報を生成する関係情報生成手段と、前記関係情報と、前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度と、前記温度制御手段に流れる電流の量と、に基づいて、前記筐体の温度の推定値を示す筐体温度推定値情報を生成する筐体温度推定値情報生成手段と、を含むことを特徴とする。
また、本発明に係る筐体温度推定プログラムは、筐体内に格納されたレーザダイオードの温度に応じた信号を出力する温度検出手段により出力される信号に対応する温度が所定の目標温度値となる状態での、前記筐体の温度と、流れる電流の量に応じて前記レーザダイオードの温度を変化させる温度制御手段に流れる電流の量と、の関係に基づいて、前記温度制御手段に流れる電流の量と前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度との組合せと、前記筐体の温度の推定値と、の関係を示す関係情報を生成する関係情報生成手段、前記関係情報と、前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度と、前記温度制御手段に流れる電流の量と、に基づいて、前記筐体の温度の推定値を示す筐体温度推定値情報を生成する筐体温度推定値情報生成手段、としてコンピュータを機能させることを特徴とする。
本発明によれば、温度センサを筐体に取り付ける必要がなくなるため、筐体温度の推定に必要な実装上のスペースの増加を従来よりも抑えることができる。
本発明の一態様では、前記レーザダイオード及び前記レーザダイオード温度検出手段が光送信サブアセンブリの筐体内に格納されており、前記光送信サブアセンブリの筐体が、空気より熱伝導率の高い部材を介して前記光モジュールの筐体と接続されていることを特徴とする。この態様によれば、光モジュールの筐体の温度の過渡変化時における光モジュールの筐体の温度と筐体温度の推定値との間の誤差を従来よりも低減することができる。
また、本発明の一態様では、前記関係情報生成手段が、前記レーザダイオード温度検出手段により出力される信号に対応する温度が所定の目標温度値となる状態での、前記筐体の温度が前記目標温度値に対応する場合における前記温度制御手段に流れる電流の量と、前記筐体の温度が前記目標温度値より高い所与の温度値である場合における前記温度制御手段に流れる電流の量と、の違いに基づいて、高温における前記関係情報である高温関係情報を生成し、前記レーザダイオード温度検出手段により出力される信号に対応する温度が所定の目標温度値となる状態での、前記筐体の温度が前記目標温度値に対応する場合における前記温度制御手段に流れる電流の量と、前記筐体の温度が前記目標温度値より低い所与の温度値である場合における前記温度制御手段に流れる電流の量と、の違いに基づいて、低温における前記関係情報である低温関係情報を生成し、前記筐体温度推定値情報出力手段が、前記温度制御手段に流れる電流の量に応じて、前記高温関係情報に基づく前記筐体温度推定値情報を出力するか、前記低温関係情報に基づく前記筐体温度推定値情報を出力するか、を切り替えることを特徴とする。この態様によれば、光モジュールの筐体の温度の推定精度が向上する。
また、本発明の一態様では、前記関係情報生成手段が、前記レーザダイオード温度検出手段により出力される信号に対応する温度が所定の目標温度値となる状態での、前記筐体の温度と前記温度制御手段に流れる電流の量との関係、及び、前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度を所定の範囲内に維持した状態での、前記レーザダイオードを駆動する駆動電流の量と前記温度制御手段に流れる電流の量との関係に基づいて、前記温度制御手段に流れる電流の量と前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度と前記駆動電流の量との組合せと、前記筐体の温度の推定値と、の関係を示す前記関係情報を生成し、筐体温度推定値情報生成手段が、前記関係情報と、前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度と、前記温度制御電流測定手段により測定される前記温度制御手段に流れる電流の量と、前記駆動電流の量と、に基づいて、前記筐体の温度の推定値を示す筐体温度推定値情報を生成することを特徴とする。この態様によれば、レーザダイオードを駆動する駆動電流の量が光モジュールの筐体の温度の推定値に反映される。
本実施形態に係る光モジュールの内部構造の一例を概略的に示す一部切り欠き概略平面図である。 図1に示す光モジュールのII−II線断面の一例を概略的に示す一部切り欠き概略断面図である。 図1に示す光モジュールに含まれるTOSAのIII−III線断面の一例を概略的に示す概略断面図である。 図2に示す光モジュールに含まれるTOSAのIV−IV線断面の一例を概略的に示す概略断面図である。 図1〜図4に示す光モジュールの構成の一例を示す構成図である。 本実施形態に係る光モジュールに含まれる演算処理装置により実現される機能の一例を示す機能ブロック図である。 本実施形態に係る光モジュールで行われる処理の流れの一例を示すフロー図である。 本実施形態に係る光モジュールで行われる処理の流れの一例を示すフロー図である。 従来の光モジュールにおける、光モジュールの筐体温度の過渡変化時における温度センサの挙動の一例を示す図である。 本実施形態に係る光モジュールで行われる処理の流れの一例を示すフロー図である。
以下、本発明の一実施形態について図面に基づき詳細に説明する。
図1は、本実施形態に係る光モジュール1の内部構造の一例を概略的に示す一部切り欠き概略平面図である。図2は、図1に示す光モジュール1のII−II線断面の一例を概略的に示す一部切り欠き概略断面図である。図3は、図1に示す光モジュール1に含まれるTOSA2のIII−III線断面の一例を概略的に示す概略断面図である。図4は、図2に示す光モジュール1に含まれるTOSA2のIV−IV線断面の一例を概略的に示す概略断面図である。図5は、図1〜図4に示す光モジュール1の構成の一例を示す構成図である。
本実施形態に係る光モジュール1は、TOSA2とROSA3と回路基板4とを含んだ光送受信モジュールである。TOSA2は、その筐体5の内部にレーザダイオード6と、レーザダイオード6の温度を監視して、レーザダイオード6の温度に応じた信号を出力するレーザダイオード温度検出部(本実施形態では、例えば、サーミスタ7)と、レーザダイオード6を冷却又は加熱して、レーザダイオード6の温度を変化させる温度制御部(本実施形態では、例えば、TEC8)と、レーザダイオード6から出射される光が通過するレンズ9を有する。回路基板4には、TEC8に流す電流(TEC電流)の量を制御して、レーザダイオード6の温度を一定に保持するよう動作するATC回路10、及び、レーザダイオード6の発光強度を一定に保つよう動作するAPC(Auto Power Control)回路11が実装されている。このように、本実施形態では、温度制御部に流れる電流の量に応じて、レーザダイオード6の温度が変化する。
また、ATC回路10は、TEC電流の量を検出して、TEC電流の量に応じた信号を出力する回路であるTEC電流検出モニタ12を含んでいる。そして、APC回路11は、レーザダイオード6を駆動する駆動電流(バイアス電流)の量を検出して、駆動電流の量に応じた信号を出力する回路であるバイアス電流検出モニタ13を含んでいる。そして、回路基板4とTOSA2との間、及び、回路基板4とROSA3との間はフレキシブル基板14により接続されている。
TOSA2の筐体5と光モジュール1の筐体15との間は、空気よりも熱伝導率のよい、金属などの熱伝導部材16が設けられている。
また、回路基板4上には、制御部(例えば、CPU等)、記憶部(例えば、メモリ等)、外部との間でデータのやりとりを行う入出力端子、を含んで構成されるマイクロコンピュータなどの演算処理装置17が搭載されている。
図6は、本実施形態に係る光モジュール1に含まれる演算処理装置17により実現される機能の一例を示す機能ブロック図である。
演算処理装置17は、機能的には、例えば、データ記憶部20と、関係情報生成部22と、筐体温度推定値情報生成部24と、筐体温度推定値情報出力部26と、を含んでいる。データ記憶部20は、演算処理装置17の記憶部を主として実現される。その他の要素は、演算処理装置17の制御部を主として実現される。
これらの要素は、コンピュータである演算処理装置17にインストールされたプログラムを、演算処理装置17の制御部で実行することにより実現されている。このプログラムは、例えば、CD−ROM、DVD−ROMなどのコンピュータ可読な情報伝達媒体を介して、あるいは、インターネットなどの通信手段を介して演算処理装置17に供給される。
ここで、本実施形態に係る光モジュール1が、サーミスタ7、TEC電流検出モニタ12及びバイアス電流検出モニタ13からの出力信号を利用して、光モジュール1の筐体15の温度を推定する原理について説明する。
ATC回路10は、レーザダイオード6の温度が一定に保持されるようにTEC電流の量を制御する。すなわち、ATC回路10は、レーザダイオード6と熱的に結合しているサーミスタ7から出力される、レーザダイオード6の温度に応じた信号が示すサーミスタ出力値TTHをある一定の基準値に保持するように動作する。レーザダイオード6の温度は、光モジュール1の筐体15の温度(光モジュール1の筐体15の周囲の温度)の影響を受けるため、例えば、ある定常状態よりも光モジュール1の筐体15の温度が高くなった場合には、レーザダイオード6に対して、より大きな熱量が加えられることとなる。そのため、ATC回路10は、TEC8に、定常状態である場合よりも大きな電流を流さなければサーミスタ出力値TTHが目標値になるよう冷却することができない。
つまり、ATC回路10の出力(TEC電流の量)は、TOSA2の周囲温度によって変化する。なお、本実施形態では、TOSA2の筐体5と光モジュール1の筐体15とが熱伝導部材16で接続されているので、TOSA2の周囲温度は、光モジュール1の筐体15の温度に対応している。また、光モジュール1の筐体15の温度が過渡的に変化する際には、サーミスタ7から出力されるべき信号に対応する値と、サーミスタ7から実際に出力される信号に対応する値と、の間に差が生じることとなる。そこで、TEC電流モニタ値ITECとサーミスタ出力値TTHをモニタすることで、定常状態だけではなく、光モジュール1の筐体15の温度が過渡的に変化する際においても精度よく光モジュール1の筐体15の温度を推定することができる。
関係情報生成部22は、サーミスタ出力値TTHに対応する温度が所定の目標温度値となる状態での、光モジュール1の筐体15の温度とTEC電流の量との関係に基づいて、TEC8に流れる電流の量とサーミスタ出力値TTHに対応する温度との組合せと、光モジュール1の筐体15の温度の推定値と、の関係を示す関係情報を生成する。具体的には、例えば、後述の係数A、B、C及びDの値を示す情報を生成する。
筐体温度推定値情報生成部24は、関係情報生成部22が生成する関係情報と、サーミスタ出力値TTHに対応する温度と、TEC電流の量と、に基づいて、光モジュール1の筐体15の温度の推定値(例えば、後述の筐体温度推定値TC_EST)を示す筐体温度推定値情報を生成する。
筐体温度推定値情報出力部26は、筐体温度推定値情報生成部24により生成される筐体温度推定値情報を、演算処理装置17に含まれる入出力端子などを経由して外部に出力する。
ここで、本実施形態に係る光モジュール1で行われる初期化処理の流れの一例を、図7に示すフロー図を参照しながら説明する。なお、以下の処理例において、レーザダイオード6の活性層の温度がT_LDである場合のサーミスタ出力値TTHがTTH_LDであるとする。そしてサーミスタ出力値TTH_LDは予めデータ記憶部20に記憶されていることとする。
まず、恒温槽(図示せず)にて、光モジュール1の筐体15の温度が、所与のレーザダイオード6の動作温度目標値T_LDより低い温度値TC_1となるようにした上で、レーザダイオード6を動作温度目標値T_LDにて動作させる(S101)。そして、利用者による操作に応じて、関係情報生成部22が、このときのTEC電流モニタ値ITEC_1を演算処理装置17のデータ記憶部20に出力する(S102)。
次に、光モジュール1の筐体15の温度が、所与のレーザダイオード6の動作温度目標値T_LDと同じ温度値TC_2となるようにした上で、レーザダイオード6を動作温度目標値T_LDにて動作させる(S103)。そして、利用者による操作に応じて、関係情報生成部22が、このときのTEC電流モニタ値ITEC_2を演算処理装置17のデータ記憶部20に出力する(S104)。
次に、光モジュール1の筐体15の温度が、所与のレーザダイオード6の動作温度目標値T_LDよりも高い温度値TC_3となるようにした上で、レーザダイオード6を動作温度目標値T_LDにて動作させる(S105)。そして、利用者による操作に応じて、関係情報生成部22が、このときのTEC電流モニタ値ITEC_3を演算処理装置17のデータ記憶部20に出力する(S106)。
このようにして、互いに異なる3つの、光モジュール1の筐体15の温度値TC(例えば、レーザダイオード6の動作温度目標値T_LDより低い温度値TC_1、T_LDと同じ温度値TC_2、及び、T_LDより高い温度値TC_3)それぞれに対応する、TEC電流モニタ値ITEC(ITEC_1、ITEC_2及びITEC_3)が演算処理装置17のデータ記憶部20に記憶される。
そして、関係情報生成部22が、以下のようにして算出される係数の値をデータ記憶部20に出力する(S107)。
TEC8の特性は、TEC8が発熱する場合とTEC8が吸熱する場合とで異なる。そのため、本実施形態では、光モジュール1の筐体15の温度の推定値である筐体温度推定値TC_ESTと、TEC電流モニタ値ITECとの関係は、ITEC≧ITEC_2(すなわち、TC≧T_LD)である場合と、ITEC<ITEC_2(すなわち、TC<T_LD)である場合と、に分けて、2種類の1次式により以下のように近似することとする。
筐体温度推定値TC_ESTは、係数A、B、C及びDを用いて以下の式1及び式2で推定される。
ITEC≧ITEC_2(すなわち、TC≧T_LD)である場合:TC_EST=A×ITEC+(TTH−TTH_LD)+B。なお、A=(TC_3−TC_2)/(ITEC_3−ITEC_2)、B=TC_2−(TC_3−TC_2)/(ITEC_3−ITEC_2)×ITEC_2・・・(式1)
ITEC<ITEC_2(すなわち、TC<T_LD)である場合:TC_EST=C×ITEC+(TTH−TTH_LD)+D。なお、C=(TC_2−TC_1)/(ITEC_2−ITEC_1)、D=TC_2−(TC_2−TC_1)/(ITEC_2−ITEC_1)×ITEC_2・・・(式2)
上述のS107に示す処理では、関係情報生成部22が、例えば、上述の係数A、B、C及びDの値を算出して、データ記憶部20に出力する。
上述のように、本実施形態に係る光モジュール1では、例えば、関係情報生成部22は、高温における関係情報と、低温における関係情報を生成する。
なお、上述の処理例では、演算処理装置17により係数A、B、C及びDの値を算出したが、光モジュール1に接続された公知のパーソナルコンピュータなどの情報処理装置により、係数A、B、C及びDの値を算出するようにしてもよい。
また、利用者が、レーザダイオード6を所与の目標温度(動作温度目標値T_LDに対応する。)にて動作させ、恒温槽を用いて光モジュール1の筐体15を互いに異なる3つの温度(例えば、動作温度目標値T_LDよりも低い温度値TC_1、動作温度目標値T_LDと同じ温度値TC_2、及び、動作温度目標値T_LDよりも高い温度値TC_3)にて定常動作させた状態で、それぞれの場合についてのTEC電流モニタ値ITECを記録するようにしてもよい。そして、利用者が、上述の係数A、B、C及びDの値を計算して、利用者によるキーボード操作などにより、外部からこれらの係数の値をデータ記憶部20に出力するようにしてもよい。
本実施形態では、筐体温度推定値情報出力部26が、予め定められた時間間隔で、上述の筐体温度推定値TC_ESTに対応する筐体温度推定値情報を外部に出力する。ここで、本実施形態に係る光モジュール1で行われる、時刻tに対応する筐体温度推定値情報の出力処理の一例を、図8に示すフロー図を参照しながら説明する。なお、本処理例では、上述の初期化処理が既に実行されており、TEC電流モニタ値ITECとサーミスタ出力値TTHとの組合せと、筐体温度推定値TC_ESTと、の関係を示す関係情報(具体的には、例えば、上述の係数A、B、C及びDの値、及び、上述の式1及び式2に対応する推定式情報)が、予めデータ記憶部20に記憶されていることとする。
まず、筐体温度推定値情報生成部24が、TEC電流検出モニタ12から出力される、時刻tにおけるTEC電流モニタ値ITECを取得する(S201)。そして、筐体温度推定値情報生成部24が、サーミスタ7から出力される、時刻tにおけるレーザダイオード6の温度に応じた信号が示すサーミスタ出力値TTHを取得する(S202)。そして、筐体温度推定値情報生成部24が、S201に示す処理で取得したTEC電流モニタ値ITECと、S202に示す処理で取得したサーミスタ出力値TTHと、データ記憶部20に記憶されている係数A、B、C及びDの値、とに基づいて、上述の推定式により、筐体温度推定値TC_ESTを算出して、この筐体温度推定値TC_ESTに対応する筐体温度推定値情報を生成する(S203)。そして、筐体温度推定値情報出力部26が、S203に示す処理で生成された筐体温度推定値情報を、入出力端子などを経由して外部に出力する(S204)。
本実施形態に係る光モジュール1によれば、光モジュール1の筐体15に温度センサを直接取り付けなくても、従来よりも精度よく光モジュール1の筐体15の温度の推定が可能となるので、光モジュール1の実装に必要なスペースの増加を抑えることができる。
また、光モジュール1の筐体15は場所によって温度が異なり、特にレーザダイオード周辺部の温度は高くなる。そのため、レーザダイオード周辺部の温度に基づいて筐体温度を規定することが好ましい。本実施形態に係る光モジュール1では、レーザダイオード周辺部の温度に基づいて筐体温度を規定しているので、従来よりも精度よく光モジュール1の筐体15の温度を推定することができる。
また、本実施形態に係る光モジュール1では、TEC電流モニタ値ITECに応じて、高温における関係情報に基づく筐体温度推定値情報を出力するか、低温における関係情報に基づく前記筐体温度推定値情報を出力するかが切り替わる。
また、従来の光モジュール1のように、光モジュール1の筐体15内の回路基板4に温度センサを設けて、光モジュール1の筐体15と温度センサとの間の温度差を補正する場合には、回路基板4上の温度センサ出力値が光モジュール1の筐体15の温度に対してある時定数を持つこととなる。そのため、図9に示すように、定常時には温度センサが光モジュール1の筐体15の正確な温度を出力するとしても、光モジュール1の筐体15の温度の過渡変化時には、光モジュール1の筐体15の温度と筐体温度推定値との間に誤差が生じるおそれがある。本実施形態に係る光モジュール1では、TOSA2と光モジュール1の筐体15との間に、空気よりも熱伝導率のよい、金属などの熱伝導部材16が設けられているので、光モジュール1の筐体15の温度の過渡変化時における光モジュール1の筐体15の温度と筐体温度推定値との間の誤差を低減することができる。
以下、レーザダイオード6を駆動する駆動電流の量の変化を考慮した場合について説明する。
例えば、レーザダイオード6を駆動する駆動電流の量が変化すると、レーザダイオード6の自己発熱量が変化するため、TEC電流の量が同じでも、レーザダイオード6の周囲の温度及び光モジュール1の筐体15の温度は変動する。そのため、レーザダイオード6が劣化するなどして、レーザダイオード6を駆動する駆動電流を増加させ、一定の光出力を保持するようなAPC回路11を有している場合は、光モジュール1の筐体15の温度の推定に、TEC電流値ITEC及びサーミスタ出力値TTHに加え、バイアス電流検出モニタ13から出力される、レーザダイオード6を駆動する駆動電流の量を表すバイアス電流モニタ値Ibiasを用いて、上述の推定式により導かれる筐体温度推定値TC_ESTを補正する必要がある。
ここで、本実施形態に係る光モジュール1で行われる、レーザダイオード6を駆動する駆動電流の量の変化を考慮した初期化処理の流れの一例を、図10に示すフロー図を参照しながら説明する。そして、以下の説明において、上述の処理例と共通する点については説明を省略する。
まず、レーザダイオード6の駆動電流の量をIbias1に保持した状態で、上述のS101〜S106と同様の処理を実行する(S301〜S306)。
そして、光モジュール1の筐体15の温度をTC_4(ただし、TC_4≧T_LD)に変化させる(S307)。そして、利用者による操作に応じて、関係情報生成部22が、このときのTEC電流モニタ値ITEC_4を演算処理装置17のデータ記憶部に出力する(S308)。そして、光モジュール1の筐体15の温度をTC_4に保持したまま、レーザダイオード6の駆動電流の量をIbias_2へ増加させる(S309)。そして、利用者による操作に応じて、関係情報生成部22が、このときのTEC電流モニタ値ITEC_5を演算処理装置17のデータ記憶部に出力する(S310)。
そして、光モジュール1の筐体15の温度をTC_5(ただし、TC_5<T_LD)に変化させる(S311)。そして、利用者による操作に応じて、関係情報生成部22が、このときのTEC電流モニタ値ITEC_6を演算処理装置17のデータ記憶部に出力する(S312)。そして、光モジュール1の筐体15の温度をTC_5に保持したまま、レーザダイオード6の駆動電流の量をIbias_2へ増加させる(S313)。そして、利用者による操作に応じて、関係情報生成部22が、このときのTEC電流モニタ値ITEC_7を演算処理装置17のデータ記憶部に出力する(S314)。
そして、関係情報生成部22が、以下のようにして算出される係数の値をデータ記憶部20に出力する(S315)。
本処理例では、光モジュール1の筐体15の温度TCは、上述の係数A、B、C及びDに加え、係数E、Fを用いて以下の式3及び式4で推定される。
ITEC≧ITEC_2(すなわち、TC≧T_LD)である場合:TC=A×ITEC+(TTH−TTH_LD)+B+E(Ibias−Ibias_1)。なお、係数A及びBについては、式1と同様。E=A×(ITEC_5−ITEC_4)/(Ibias_2−Ibias_1)・・・(式3)。
ITEC<ITEC_2(すなわち、TC<T_LD)である場合:TC=C×ITEC+(TTH−TTH_LD)+D+F(Ibias−Ibias_1)。なお、係数C及びDについては、式2と同様。F=C×(ITEC_7−ITEC_6)/(Ibias_2−Ibias_1)・・・(式4)。
上述のS315に示す処理では、例えば、関係情報生成部22は、上述の係数A、B、C、D、E及びFの値を算出して、データ記憶部20に出力する。
なお、上述の処理例では、演算処理装置17により係数A、B、C、D、E及びFの値を算出したが、光モジュール1に接続された公知のパーソナルコンピュータなどの情報処理装置により、係数A、B、C、D、E及びFの値を算出するようにしてもよい。
また、利用者が、上述のバイアス電流モニタ値Ibiasを記録するようにしてもよい。そして、利用者が、手計算により上述の係数A、B、C、D、E及びFの値を算出して、利用者によるキーボード操作などにより、外部からこれらの係数の値をデータ記憶部20に出力するようにしてもよい。
そして、筐体温度推定値情報生成部24は、予め定められた時間間隔で、データ記憶部20に記憶されている、上述の係数A、B、C、D、E及びFの値と、上述の推定式を示す推定式情報と、TEC電流検出モニタ12から出力される、時刻tにおけるTEC電流モニタ値ITECと、サーミスタ7から出力される、時刻tにおけるサーミスタ出力値TTHと、に基づいて、筐体温度推定値TC_ESTを算出して、この筐体温度推定値TC_ESTに対応する筐体温度推定値情報を生成する。そして、筐体温度推定値情報出力部26が、この筐体温度推定値情報を、入出力端子などを経由して外部に出力する。
なお、本発明は上記実施形態には限定されない。
上記各実施形態に係る光モジュール1では、光モジュール1の筐体15の温度の特性の近似のために1次式を用いたが、近似式として異なる次数の多項式を用いても構わない。
また、例えば、CPU等の制御部やメモリやハードディスクドライブなどの記憶部を備えた、外部の情報処理装置において光モジュール1の筐体15の温度を推定しても構わない。また、例えば、光モジュール1がROSA3を備えていなくてもよい。
1 光モジュール、2 TOSA、3 ROSA、4 回路基板、5 筐体、6 レーザダイオード、7 サーミスタ、8 TEC、9 レンズ、10 ATC回路、11 APC回路、12 TEC電流検出モニタ、13 バイアス電流検出モニタ、14 フレキシブル基板、15 筐体、16 熱伝導部材、17 演算処理装置、20 データ記憶部、22 関係情報生成部、24 筐体温度推定値情報生成部、26 筐体温度推定値情報出力部。

Claims (7)

  1. 筐体内に格納されたレーザダイオードと、
    前記筐体内に格納された、前記レーザダイオードの温度に応じた信号を出力するレーザダイオード温度検出手段と、
    流れる電流の量に応じて前記レーザダイオードの温度を変化させる温度制御手段と、
    前記レーザダイオード温度検出手段により出力される信号に対応する温度が所定の目標温度値となる状態での、前記筐体の温度と前記温度制御手段に流れる電流の量との関係に基づいて、前記温度制御手段に流れる電流の量と前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度との組合せと、前記筐体の温度の推定値と、の関係を示す関係情報を生成する関係情報生成手段と、
    前記関係情報と、前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度と、前記温度制御手段に流れる電流の量と、に基づいて、前記筐体の温度の推定値を示す筐体温度推定値情報を生成する筐体温度推定値情報生成手段と、
    を含むことを特徴とする光モジュール。
  2. 前記レーザダイオード及び前記レーザダイオード温度検出手段が光送信サブアセンブリの筐体内に格納されており、
    前記光送信サブアセンブリの筐体が、空気より熱伝導率の高い部材を介して前記光モジュールの筐体と接続されている、
    ことを特徴とする請求項1に記載の光モジュール。
  3. 前記関係情報生成手段が、
    前記レーザダイオード温度検出手段により出力される信号に対応する温度が所定の目標温度値となる状態での、前記筐体の温度が前記目標温度値に対応する場合における前記温度制御手段に流れる電流の量と、前記筐体の温度が前記目標温度値より高い所与の温度値である場合における前記温度制御手段に流れる電流の量と、の違いに基づいて、高温における前記関係情報である高温関係情報を生成し、
    前記レーザダイオード温度検出手段により出力される信号に対応する温度が所定の目標温度値となる状態での、前記筐体の温度が前記目標温度値に対応する場合における前記温度制御手段に流れる電流の量と、前記筐体の温度が前記目標温度値より低い所与の温度値である場合における前記温度制御手段に流れる電流の量と、の違いに基づいて、低温における前記関係情報である低温関係情報を生成し、
    前記筐体温度推定値情報出力手段が、前記温度制御手段に流れる電流の量に応じて、前記高温関係情報に基づく前記筐体温度推定値情報を出力するか、前記低温関係情報に基づく前記筐体温度推定値情報を出力するか、を切り替える、
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の光モジュール。
  4. 前記関係情報生成手段が、前記レーザダイオード温度検出手段により出力される信号に対応する温度が所定の目標温度値となる状態での、前記筐体の温度と前記温度制御手段に流れる電流の量との関係、及び、前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度を所定の範囲内に維持した状態での、前記レーザダイオードを駆動する駆動電流の量と前記温度制御手段に流れる電流の量との関係に基づいて、前記温度制御手段に流れる電流の量と前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度と前記駆動電流の量との組合せと、前記筐体の温度の推定値と、の関係を示す前記関係情報を生成し、
    筐体温度推定値情報生成手段が、前記関係情報と、前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度と、前記温度制御電流測定手段により測定される前記温度制御手段に流れる電流の量と、前記駆動電流の量と、に基づいて、前記筐体の温度の推定値を示す筐体温度推定値情報を生成する、
    ことを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の光モジュール。
  5. 筐体内に格納されたレーザダイオードの温度に応じた信号を出力する温度検出手段により出力される信号に対応する温度が所定の目標温度値となる状態での、前記筐体の温度と、流れる電流の量に応じて前記レーザダイオードの温度を変化させる前記温度制御手段に流れる電流の量と、の関係に基づいて、前記温度制御手段に流れる電流の量と前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度との組合せと、前記筐体の温度の推定値と、の関係を特定するステップと、
    前記特定された関係と、前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度と、前記温度制御手段に流れる電流の量と、に基づいて、前記筐体の温度を推定するステップと、
    を含むことを特徴とする筐体温度推定方法。
  6. 筐体内に格納されたレーザダイオードの温度に応じた信号を出力する温度検出手段により出力される信号に対応する温度が所定の目標温度値となる状態での、前記筐体の温度と、流れる電流の量に応じて前記レーザダイオードの温度を変化させる温度制御手段に流れる電流の量と、の関係に基づいて、前記温度制御手段に流れる電流の量と前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度との組合せと、前記筐体の温度の推定値と、の関係を示す関係情報を生成する関係情報生成手段と、
    前記関係情報と、前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度と、前記温度制御手段に流れる電流の量と、に基づいて、前記筐体の温度の推定値を示す筐体温度推定値情報を生成する筐体温度推定値情報生成手段と、
    を含むことを特徴とする筐体温度推定装置。
  7. 筐体内に格納されたレーザダイオードの温度に応じた信号を出力する温度検出手段により出力される信号に対応する温度が所定の目標温度値となる状態での、前記筐体の温度と、流れる電流の量に応じて前記レーザダイオードの温度を変化させる温度制御手段に流れる電流の量と、の関係に基づいて、前記温度制御手段に流れる電流の量と前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度との組合せと、前記筐体の温度の推定値と、の関係を示す関係情報を生成する関係情報生成手段、
    前記関係情報と、前記レーザダイオード温度検出手段から出力される信号に対応する温度と、前記温度制御手段に流れる電流の量と、に基づいて、前記筐体の温度の推定値を示す筐体温度推定値情報を生成する筐体温度推定値情報生成手段、
    としてコンピュータを機能させることを特徴とする筐体温度推定プログラム。
JP2010023592A 2010-02-04 2010-02-04 光モジュール、筐体温度推定方法、筐体温度推定装置及び筐体温度推定プログラム Active JP5420442B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010023592A JP5420442B2 (ja) 2010-02-04 2010-02-04 光モジュール、筐体温度推定方法、筐体温度推定装置及び筐体温度推定プログラム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010023592A JP5420442B2 (ja) 2010-02-04 2010-02-04 光モジュール、筐体温度推定方法、筐体温度推定装置及び筐体温度推定プログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011165721A JP2011165721A (ja) 2011-08-25
JP5420442B2 true JP5420442B2 (ja) 2014-02-19

Family

ID=44596089

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010023592A Active JP5420442B2 (ja) 2010-02-04 2010-02-04 光モジュール、筐体温度推定方法、筐体温度推定装置及び筐体温度推定プログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5420442B2 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102570292B (zh) * 2012-01-18 2013-05-29 天津市天坤光电技术有限公司 一种用于清除微通道冷却设备内堵塞物并自我修复的方法
JP6232986B2 (ja) * 2013-12-05 2017-11-22 住友電気工業株式会社 光送信器
KR101753246B1 (ko) * 2013-12-19 2017-07-05 주식회사 오이솔루션 광 모듈 및 광 모듈의 동작온도 제어방법
JP6565632B2 (ja) * 2015-11-24 2019-08-28 富士通株式会社 電子機器、表面温度計算方法および表面温度計算プログラム
CN115016075B (zh) * 2021-03-04 2023-08-18 青岛海信宽带多媒体技术有限公司 一种光模块
CN113672005B (zh) * 2021-04-28 2022-07-22 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种用于光电望远镜的智能加热装置及其加热方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1041575A (ja) * 1996-07-17 1998-02-13 Furukawa Electric Co Ltd:The 光伝送装置
JPH10229231A (ja) * 1997-02-18 1998-08-25 Furukawa Electric Co Ltd:The 光送信装置
JP3603082B2 (ja) * 1997-10-17 2004-12-15 富士通株式会社 波長多重伝送装置
JP2000323785A (ja) * 1999-05-10 2000-11-24 Nec Corp 半導体レーザモジュールの制御装置及びその制御方法
JP4336091B2 (ja) * 2001-10-09 2009-09-30 古河電気工業株式会社 光モジュール、光送信器及びwdm光送信装置
JP2006005042A (ja) * 2004-06-16 2006-01-05 Opnext Japan Inc 光送信器および光送信方法
JP2006302967A (ja) * 2005-04-15 2006-11-02 Sumitomo Electric Ind Ltd 光モジュール
JP2007194502A (ja) * 2006-01-20 2007-08-02 Sumitomo Electric Ind Ltd 光通信モジュール
JP2008016511A (ja) * 2006-07-03 2008-01-24 Sumitomo Electric Ind Ltd 光通信モジュールの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011165721A (ja) 2011-08-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5420442B2 (ja) 光モジュール、筐体温度推定方法、筐体温度推定装置及び筐体温度推定プログラム
JP2669309B2 (ja) デバイスモジュール
US6859471B2 (en) Method and system for providing thermal control of superluminescent diodes
WO2016029812A1 (zh) 光纤光栅解调仪及其温度控制方法
US10693276B2 (en) Optical transmitter
US9577757B2 (en) Optical transmitter
US20060239314A1 (en) Electro-optic transducer die mounted directly upon a temperature sensing device
US20110158269A1 (en) Laser module, control method of the same, control data of the same, and control data generation method
JP2000323785A (ja) 半導体レーザモジュールの制御装置及びその制御方法
US7706421B2 (en) Temperature sensing device patterned on an electro-optic transducer die
JP2010251646A (ja) 光送信器、光送受信器、駆動電流制御方法、及び温度測定方法
JPH0818145A (ja) 波長安定化装置
JP2004079989A (ja) 光モジュール
JP2008016511A (ja) 光通信モジュールの製造方法
EP1096626A2 (en) Process and device for the thermal conditioning of electronic components
JP2002158383A (ja) レーザ光源の適正駆動温度を決定するための方法および装置
JP5070819B2 (ja) 固体レーザ装置
JP2014143347A (ja) 半導体レーザの駆動方法及び半導体レーザ装置
US20090296761A1 (en) Optical device including a bimorph-type piezoelectric element
JP2006114774A (ja) 波長安定化半導体レーザ装置
KR20160069501A (ko) 적외선 온도 센서 및 온도 측정 방법
JP2008078405A (ja) 光通信器
US20060237807A1 (en) Electro-optic transducer die including a temperature sensing PN junction diode
JP2013131696A (ja) 光モジュール、光送信装置及び光モジュール製造方法
JP2023089933A (ja) 光出力信号制御を改善した光リンク

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120920

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131028

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131105

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131120

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5420442

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250