JP5392966B2 - パワー半導体モジュールやディスクセル用のコンタクト装置並びに該コンタクト装置を備える組立品 - Google Patents

パワー半導体モジュールやディスクセル用のコンタクト装置並びに該コンタクト装置を備える組立品 Download PDF

Info

Publication number
JP5392966B2
JP5392966B2 JP2005239709A JP2005239709A JP5392966B2 JP 5392966 B2 JP5392966 B2 JP 5392966B2 JP 2005239709 A JP2005239709 A JP 2005239709A JP 2005239709 A JP2005239709 A JP 2005239709A JP 5392966 B2 JP5392966 B2 JP 5392966B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
connection
contact
power semiconductor
contact device
spring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2005239709A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006114883A (ja
Inventor
クロネーダー クリスチアン
タウシャー ビヨルン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Semikron Elektronik GmbH and Co KG
Original Assignee
Semikron Elektronik GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Semikron Elektronik GmbH and Co KG filed Critical Semikron Elektronik GmbH and Co KG
Publication of JP2006114883A publication Critical patent/JP2006114883A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5392966B2 publication Critical patent/JP5392966B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/71Means for bonding not being attached to, or not being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/72Detachable connecting means consisting of mechanical auxiliary parts connecting the device, e.g. pressure contacts using springs or clips
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/0102Calcium [Ca]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01042Molybdenum [Mo]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1301Thyristor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1301Thyristor
    • H01L2924/13034Silicon Controlled Rectifier [SCR]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1901Structure
    • H01L2924/1904Component type
    • H01L2924/19043Component type being a resistor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/30105Capacitance
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/35Mechanical effects
    • H01L2924/351Thermal stress

Description

ディスクセル及びパワー半導体モジュール内のパワー半導体素子の制御接続部用のコンタクト装置に関して記載される。
この種のコンタクト装置は、例えば非特許文献1から知られているようにディスクセルの部分であり、また例えば特許文献1から知られているように好ましくは押圧コンタクト式のパワー半導体モジュールの部分である。
例えば特許文献1に従うもののような押圧コンタクト式のパワー半導体モジュールは、通電容量と信頼性に関して極めて高い電力要求に適している。それによりここでは制御接続部(コントロール・ターミナル)にも電力接続部(パワー・ターミナル)と同様の意味の役割がある。電力接続部の押圧コンタクト接続は、半導体モジュールの製造から接続技術として十分に知られていて多岐に渡って認められている。それに対し、制御接続部のコンタクト接続のためには多数のバリエーションがあり、これらのバリエーションでは、製造手間の程度が異なっていて、それには直接的に由来しないで信頼性の程度が異なっている。
パワー半導体素子の制御接続部においてはロウ付け接続が知られている。同様に様々な種類のバネ負荷式の押圧コンタクトが知られていて、それらにとって共通のことは、それらが、複雑で多くの場合はマニュアルでのみ可能である製造を前提とし、及び/又は、それらの信頼性が十分ではないということである。
独国特許出願公開第19651632A1号明細書 ホイマン(Heumann)著「パワーエレクトロニクスの基礎(Grundlagen der Leistungselektronik)」(トイプナー(Teubner)出版、第6版、ISBN 3-519-06110-4、37ページ)
本発明の基礎を成す課題は、汎用的に使用可能であり、永続的に確実な電気コンタクトを保証し、簡単に取り付けが成される、ディスクセル及びパワー半導体モジュール内のパワー半導体素子の制御接続部のコンタクト装置を紹介することである。
前記の課題は、本発明に従い、請求項1に記載した構成を有するコンタクト装置により解決される。また、そのようなコンタクト装置を含む組立品も対象となる。有利な実施形態については下位請求項に記載されている。
本発明の基本思想は、1つの又は複数のパワー半導体素子又は1つのディスクセルが好ましくは押圧コンタクト状態にあるパワー半導体モジュールから出発している。1つのディスクセル内には典型的に1つだけのパワー半導体素子が配置されているが、ハウジング内に複数のパワー半導体素子を有する特殊形式もある。
本発明は、サイリスタやトランジスタのような少なくとも1つの被制御式パワー半導体素子を有するパワー半導体モジュール又はディスクセルに関する。それらのパワー半導体素子は制御接続部を有し、この制御接続部はパワー半導体モジュール又はディスクセルの外部から制御信号を用いて付勢される。
多くの場合、パワー半導体モジュール及びディスクセル内の半導体素子は両側で其々につき平坦な金属体と接続されていて、その熱膨張係数は、半導体素子に対する熱ストレスを減少するために、半導体素子の熱膨張係数と、電力接続部に接続するコンタクト装置の熱膨張係数との間に位置する。好ましくはモリブデンから成る平坦な金属体と半導体素子との接続は様々な方法で実現され得て、両方のパートナーにおける、例えば、ロウ付け、接着、又は押圧コンタクトである。平坦な金属体は、典型的に、十分の数ミリメートルから数ミリメートルに至るまでのサイズオーダーの厚さを有する。
少なくとも1つのパワー半導体素子の制御接続部をコンタクトするための本発明に従うコンタクト装置には、主接続部及び制御接続部を支持する主面上に、成形体、例えば上記の平坦な金属体が付設されている。この成形体は制御接続部の上側の領域に穴を有し、この穴の方は支持部を有している。
コンタクト装置自体は、制御接続部にコンタクトするバネ端部にピン状の突起を有するコンタクトバネから成り、更に、他方のバネ端部に、直接的に又は金属成形部品を介して形成されている、外部接続のための接続ケーブルとの接続機構を有している。コンタクトバネ及びオプションとしての金属成形部品は絶縁材料スリーブ内に配置されていて、この際、この絶縁材料スリーブは少なくとも1つのロックノーズを有し、このロックノーズは前記の成形体の支持部と共にスナップ・ロック・接続機構を構成する。
次に本発明の思想を図1〜図5の実施形態に基づいて詳細に説明する。
図1は、従来技術に従うディスクセル(950)の部分断面図を示している。このディスクセルは、好ましくはセラミックから成る絶縁材料体(954)を有している。この絶縁材料体はディスクセル(950)のハウジングを形成し、ディスクセル(950)の上側及び下側のカバー(956、952)は金属成形体として形成されている。ディスクセル(950)の内部にはパワー半導体素子(600)が配置されている。
ディスクセル(950)のこの構成では一方の金属成形体(956)が穴(958)を有している。この穴(958)内にはゲートコンタクト装置が配置されている。このゲートコンタクト装置は、絶縁被覆を有する弾性ワイヤ要素(962)として形成されている。絶縁部は、ワイヤ要素(962)において金属成形体(956)とコンタクトし得る部分だけを覆っている。ワイヤ要素(962)の第1端部は、金属スリーブ(964)を備えている絶縁材料体(954)の穴内に配置されていて、従って金属スリーブ(964)と電気伝導接続されている。ワイヤ要素(962)の第2端部(960)はパワー半導体素子(600)のゲート接続部(ゲート・ターミナル)上に載置されている。ワイヤ要素(962)の金属スリーブ(964)内の配置構成とワイヤ要素(962)の形状とにより、パワー半導体素子(600)の方向でワイヤ要素(962)の第2端部(960)に対する力導入を施すバネ作用が得られる。
ディスクセル(950)のこの構成における短所は、金属成形体(956)が、ワイヤ要素(962)を受容するための半径方向外側に向かって進んでゆく穴(958)を有さなくてはならないということである。この穴(958)は低コストで製造可能なものではなく、同様にコンタクト装置の取り付けも自動化可能であるとは言えない。
図2は、従来技術による、押圧コンタクト式のパワー半導体モジュール(900)の構成の断面図を示している。ここでは、金属ベースプレート(902)と、プラスチックハウジング(908)と、プラスチックカバー(910)とが図示されている。ベースプレート(902)上には、絶縁層に続き、第1金属成形体(904)が配置されていて、この第1金属成形体上にはパワー半導体素子(600)が配置されていて、その上には第2金属成形体(908)が配置されている。この第2金属成形体は押圧コンタクト装置(906)を用いて圧力付勢され、それによりパワー半導体素子(600)を第1金属成形体(904)に対して押し付け、第1金属成形体(904)をベースプレート(902)に対して押し付ける。それにより両方の金属成形体(904、908)に対するパワー半導体素子(600)の確実な電気コンタクトと、追加的にベースプレート(902)に対する熱コンタクトが保証されている。それにより両方の金属成形体(904、908)は主接続部(メイン・ターミナル)のコンタクトのために用いられる。
パワー半導体素子(600)の制御接続部(610)はコンタクト装置を用いてコンタクトされている。このコンタクト装置は金属ワイヤ要素(914)から構成されていて、この金属ワイヤ要素はハウジングの保持装置(912)内で固定されている。この保持装置から出発し、外部接続部に対するもので電気絶縁されているワイヤ接続部材(916)が設けられている。第2金属成形体(908)は穴(920)を有し、その経過部内にはワイヤ要素(914)が配置されていて、そこで制御接続部(610)にコンタクトしている。ワイヤ要素(914)並びにその保持装置(912)は、ワイヤ要素(914)がバネ力を構成し、このバネ力がパワー半導体素子(600)に向かって指向されているように構成されている。従ってパワー半導体モジュール(900)の制御接続部も押圧コンタクト技術で実施されている。
コンタクト装置のこの構成における短所は、しかしながら、第2金属成形体(908)内の穴(920)により、パワー半導体素子(600)に対する押圧力導入が半径方向対称には行われないということである。更に短所として、パワー半導体モジュール(900)の様々なパワークラス、及び、それに起因するパワー半導体素子(600)の異なる直径のために、コンタクト装置が異なって形成されているということである。コンタクト装置の取付手間はここでも低コストの製作に相反するものである。
更に、図1によるディスクセル及び図2によるパワー半導体モジュールのためのコンタクト装置の構成における短所として、保持具(964、912)とパワー半導体素子(600)のコンタクト個所即ち制御接続部(610)との間のバネアーム即ち側方の延びが極めて大きいということがある。弾性ワイヤ要素(962、914)のこの構成によりコンタクト確実性には問題があり、その理由は、バネ力の均質性が、多数のディスクセル或いはパワー半導体モジュールの生産に介し、多大な手間をもってのみ提供されているためである。
図3は、パワー半導体モジュール内の本発明に従うコンタクト装置を示している。パワー半導体素子(600)が図示されていて、このパワー半導体素子では、その第1主面上の中央に制御接続部(610)が配置されていて、対向する両方の主面上に第1及び第2電力接続部(620)が配置されている。パワー半導体素子(600)の第1主面上には、2つの部分成形体のサンドイッチ構造から構成されている金属成形体(700)が配置されている。この金属成形体は円形の中央穴(710)を有し、この中央穴はエッジ(720)を有している。
コンタクト装置自体は、熱可塑性プラスチック又は好ましくは熱硬化性プラスチックから成る絶縁材料スリーブ(300)と、バネ要素(100)と、プラグとして形成されている金属成形部品(200)とから構成されている。絶縁材料スリーブとしてのプラスチックスリーブ(300)は、金属成形体(700)により形成される電力接続部から制御信号を電気絶縁するために用いられる。プラスチックスリーブ(300)は2つのロックノーズ(360)を有する。これらのロックノーズは、支持部として用いられる金属成形体(700)のエッジ(720)と共にスナップ・ロック・接続機構を構成する。従って金属成形体(700)内のコンタクト装置の簡単な取り付けが可能である。
プラスチックスリーブ(300)の内部には樽形コイルバネとして形成されているコンタクトバネ(100)が配置されている。このコンタクトバネは、パワー半導体素子(600)の方を向いた側に、バネ軸に対して中央に配置されているピン状の突起(110)を有し、この突起は、異なって形成された端部を有する。この端部は、例えば、鈍端状、ボール状、又は図示されているようにアーチ状に形成され得る。突起(110)はプラスチックスリーブ(300)を貫き通り、この際、プラスチックスリーブ(300)は、バネ要素(100)が制御接続部(610)の方向で脱落から保護されているように形成されている。突起(110)はパワー半導体素子(600)の制御接続部(610)のコンタクトのために用いられる。コンタクトバネ(100)の弾性部分は、ディスクセル或いはパワー半導体モジュールの寿命に渡って一定の押圧力導入、従って制御接続部(610)の確実なコンタクトのために用いられる。
同様にプラスチックスリーブ(300)の内部に配置されている金属成形部品(200)は、ディスクセル或いはパワー半導体素子の外部制御接続部とコンタクトバネ(100)との電気接続のために用いられる。このために金属成形部品(200)は第1ラグ(210)を有し、この第1ラグは金属成形部品(200)を案内するために用いられ、コンタクトバネ(100)の内部領域にまで達している。更に2つの他のラグ(230)は第1ラグ(210)に対して直角に配置されていて、これらのラグはコンタクトバネ(100)のためのストッパを形成し、従って押圧力構成のために用いられる。
プラグスリーブ(510)を有する接続ケーブル(500)との接続のために金属成形部品(200)は第2ラグ(220)を有していて、この第2ラグはプラグとして形成されている。従って外部接続部に対する接続機構が形成されている。
選択的に及びより安価なものとしてコンタクト装置の次の構成がある、即ち、プラスチックスリーブ(300)自体がバネ要素のための支持部を有し且つパワー半導体素子とは反対側のバネ端部がロウ付け接続又は溶接接続を用いて接続ケーブル(500)と直接的に接続されているという構成である。
図4は、本発明に従うコンタクト装置(400)の3次元分解図を示している。ここでは、プラスチックスリーブ(300)と、コンタクトバネ(100)と、金属成形部品(200)とが図示されている。ここでプラスチックスリーブ(300)は2部材式で形成されている。第1部分スリーブ(302)は、パワー半導体素子(600)の方を向いているプラスチックスリーブ(300)の部分を構成している。第1部分スリーブ(302)は、鈍端を備えたコンタクトバネ(100)が制御接続部(610)の方向で脱落から保護されていて且つそのためにコンタクトバネ(100)のピン状の突起(110)の直径よりもほぼ0.2mm大きい穴(310)を有するように形成されている。更に第1部分スリーブ(302)はロックエッジ(320)並びに上縁部の2つの穴(330)を有し、これらの機能については以下に説明する。
また、4つのロックノーズ(360)を有する第2部分スリーブ(304)が図示されていて、これらのノーズは外側に向けられて配置されていて、これは、対応する支持部(図3参照、符号720)における金属成形体(図3参照、符号700)とのスナップ・ロック・接続機構のためである。更に第2部分スリーブ(304)は4つの他のロックノーズ(350)を有し、これらのノーズは内側に向けられて配置されていて、それらの支持部は第1部分スリーブ(302)のロックエッジ(320)に位置している。この第2スナップ・ロック・接続機構を用い、両方の部分スリーブ(302、304)が互いに固定される。
更に、両方の部分スリーブ(302、304)をプラスチックスリーブ(300)へと前記のように固定する際、コンタクトバネ(100)も上記の金属成形部品(200)もプラスチックスリーブ(300)の内部で固定される。そのために第1部分スリーブ(302)の上縁部の両方の穴(330)が用いられる。この第1部分スリーブ(302)内にはコンタクトバネ(100)が配置されていて、この際、ピン状の突起(110)は下側の穴(310)を通じて差し出されていて、従ってコンタクトバネ(100)を下側に向かって固定する。上側のバネ端部において金属成形部品(200)は第1ラグ(210)を用いてコンタクトバネ(100)の内部に突出する。第1ラグ(210)に対して直角に形成されている他の両方のラグ(320)は第1部分スリーブ(302)の穴(330)内に配置され、両方の部分スリーブ(302、304)の結合によりそこで固定される。従って、コンタクトバネ(100)と、金属成形部品(200)と、プラスチックスリーブ(300)の両方の部分(302、304)とから形成される取付ユニットが得られる。
図5は、本発明に従うコンタクト装置(400)を有するパワー半導体モジュール(800)の3次元分解図を示している。押圧コンタクト技術で構成されている、2つのサイリスタ(600)を有するパワー半導体モジュール(800)が図示されている。ベースプレート(802)上には適切に以下のものが配置されている:
・ ベースプレート(802)からパワー半導体モジュール(800)の電流案内部分を電気絶縁するための絶縁材料
・ 適切な電気接続要素(812)を有する両方のサイリスタ(600)
・ コンタクト装置を受容するため及び押圧力を導入するための2つの成形体(700)
・ その押圧力は、図2に関して説明された装置と比較可能な押圧コンタクト装置(808)からのものである
・ カバー(810)を有するハウジング(804)
本発明に従うコンタクト装置(400)は、ここではパワー半導体モジュール(800)の組立時の取付ユニットである。そのために各々のコンタクト装置(400)は対応する成形体(700)内に取り入れられ、それらのロックエッジ(720)と噛合する。これらの成形体(700)は熱硬化性プラスチックから形成されていて、その理由は、これらの成形体(700)が押圧力コンタクト装置(808)を介した押圧力導入のためだけに用いられ、電気接続のためには用いられないためであり、またその理由は、負荷接続部(812)がここでは金属接続プレートとして実施されているためである。コンタクト装置(400)と外部との電気接続は、差込スリーブ(510)と接続されているケーブル(500)を用いて構成される。このために差込スリーブ(510)は、コンタクト装置(400)においてプラグとして形成されている第2ラグ(図3参照、符号220)上に配置されている。
従来技術によるディスクセルの構成を示す図である。 従来技術による、押圧コンタクト式のパワー半導体モジュールの構成の断面図を示す図である。 パワー半導体モジュール内の本発明に従うコンタクト装置を示す図である。 本発明に従うコンタクト装置の3次元分解図を示す図である。 本発明に従うコンタクト装置を備えたパワー半導体モジュールの3次元分解図を示す図である。
符号の説明
100 バネ要素/コンタクトバネ
110 突起
200 金属成形部品
210 第1ラグ
220 第2ラグ
230 ラグ
300 絶縁材料スリーブ
302 第1部分スリーブ
304 第2部分スリーブ
310 穴
320 ロックエッジ
330 穴
350 ロックノーズ
360 ロックノーズ
400 コンタクト装置
500 接続ケーブル
510 プラグスリーブ
600 パワー半導体素子
610 制御接続部
620 電力接続部
700 金属成形体
710 中央穴
720 エッジ
800 パワー半導体モジュール
802 ベースプレート
804 ハウジング
808 押圧コンタクト装置
810 カバー
812 電気接続要素
900 パワー半導体モジュール
902 金属ベースプレート
904 第1金属成形体
906 押圧コンタクト装置
908 第2金属成形体
910 プラスチックカバー
912 保持装置
914 ワイヤ要素
916 ワイヤ接続部材
920 穴
950 ディスクセル
952 下側のカバー
954 絶縁材料体
956 上側のカバー
958 穴
960 ワイヤ要素の第2端部
962 ワイヤ要素
964 金属スリーブ

Claims (6)

  1. パワー半導体モジュール(800)又はディスクセル内のパワー半導体素子(600)の制御接続部(610)と接触するためのコンタクト装置(400)であって、
    パワー半導体素子(600)の上に、制御接続部(610)の領域で成形体の全長にわたる穴(710)を有した成形体(700)が配置されていて、前記穴は支持部(720)を有しており、
    コンタクト装置(400)が、コンタクトバネ(100)と、このコンタクトバネを内部に配置する絶縁材料スリーブ(300)とから構成され、
    前記コンタクトバネ(100)は、一方のバネ端部に、制御接続部(610)に接触するピン状の突起(110)を有し、他方のバネ端部に、直接的に又は金属成形部品(200)を介して形成されている、外部接続用の接続ケーブル(500)との接続機構を有しており、
    前記絶縁材料スリーブ(300)は少なくとも1つのロックノーズ(360)を有し、このロックノーズが前記成形体(700)の前記支持部(720)と共にスナップイン・ロック・接続機構を構成すること、
    前記絶縁材料スリーブ(300)が2部材式で形成されていて、両方の部分(302、304)がスナップイン・ロック・接続機構を介して互いに配置されていること、
    前記絶縁材料スリーブ(300)の、制御接続部(610)の方を向いた第1部分(302)が、前記コンタクトバネ(100)が制御接続部(610)の方向にて脱落阻止を保証するように形成されていることを特徴とするコンタクト装置。
  2. コンタクトバネ(100)が樽形コイルバネとして形成されていることを特徴とする、請求項1に記載のコンタクト装置。
  3. 接続ケーブル(500)と請求項1又は2に記載のコンタクト装置(400)とから構成される第1組立品であって、前記コンタクトバネ(100)が前記他方のバネ端部に、金属成形部品(200)を介して形成された、前記接続ケーブル(500)との接続機構を有しており、前記金属成形部品(200)が第1ラグ(210)を有し、この第1ラグがコンタクトバネ(100)の内部領域にまで達し、更に第2ラグ(220)を有し、この第2ラグがプラグとして形成されていて、プラグスリーブ(510)を有する接続ケーブル(500)と、それから形成されている差込接続機構を用いて接続されていることを特徴とする、第1組立品。
  4. 金属成形部品(200)が、第1ラグ(210)及び第2ラグ(220)に対して直角に配置されている更なるラグ(230)を有し、前記金属成形部品(200)がこれら更なるラグにより絶縁材料スリーブ(300)の両方の部分(302、304)に保持されることを特徴とする、請求項3に記載の第1組立品。
  5. 接続ケーブル(500)と請求項1又は2に記載のコンタクト装置(400)とから構成される第1組立品であって、前記コンタクトバネ(100)が前記他方のバネ端部に、直接的に形成された、外部接続用の前記接続ケーブル(500)との接続機構を有しており、前記コンタクトバネ(100)が溶接接続又はロウ付け接続を用いて接続ケーブル(500)と接続されていることを特徴とする、第1組立品。
  6. 成形体(700)と請求項1又は2に記載のコンタクト装置(400)とから構成される第2組立品であって、パワー半導体素子(600)の上に、制御接続部(610)の領域で成形体の全長にわたる穴(710)を有した成形体(700)が配置されていて、前記穴は支持部(720)を有しており、更に、前記成形体(700)が、1部材式又は複数部材式で形成されていて、金属材料からなり、パワー半導体素子(600)の電力接続部(620)に電気的に接触し、前記成形体(700)の前記支持部(720)が、前記コンタクト装置(400)の絶縁材料スリーブ(300)が有するロックノーズ(360)と共に、スナップイン・ロック・接続機構を構成することを特徴とする、第2組立品
JP2005239709A 2004-10-16 2005-08-22 パワー半導体モジュールやディスクセル用のコンタクト装置並びに該コンタクト装置を備える組立品 Active JP5392966B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200410050588 DE102004050588B4 (de) 2004-10-16 2004-10-16 Anordnung mit einem Leistungshalbleiterbauelement und mit einer Kontakteinrichtung
DE102004050588.8 2004-10-16

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006114883A JP2006114883A (ja) 2006-04-27
JP5392966B2 true JP5392966B2 (ja) 2014-01-22

Family

ID=35502719

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005239709A Active JP5392966B2 (ja) 2004-10-16 2005-08-22 パワー半導体モジュールやディスクセル用のコンタクト装置並びに該コンタクト装置を備える組立品

Country Status (9)

Country Link
US (1) US7396261B2 (ja)
EP (1) EP1648029B1 (ja)
JP (1) JP5392966B2 (ja)
CN (1) CN100442493C (ja)
AT (1) ATE400061T1 (ja)
DE (2) DE102004050588B4 (ja)
DK (1) DK1648029T3 (ja)
ES (1) ES2309627T3 (ja)
PL (1) PL1648029T3 (ja)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7640267B2 (en) * 2002-11-20 2009-12-29 Radar Networks, Inc. Methods and systems for managing entities in a computing device using semantic objects
DE102004058946B4 (de) * 2004-12-08 2009-06-18 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul mit Hilfsanschluss
DE102005055713B4 (de) * 2005-11-23 2011-11-17 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul mit Anschlusselementen
DE102006006421B4 (de) * 2006-02-13 2014-09-11 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul
DE102006034964B3 (de) * 2006-07-28 2007-09-06 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Anordnung mit einem Leistungshalbleiterbauelement und mit einer Kontakteinrichtung
DE102006058694B4 (de) * 2006-12-13 2011-06-16 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul mit Kontaktfedern
DE102006058692A1 (de) * 2006-12-13 2008-06-26 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul mit Kontaktfedern
CN201000993Y (zh) * 2006-12-18 2008-01-02 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器
DE102007010883A1 (de) * 2007-03-06 2008-09-18 Infineon Technologies Ag Leistungshalbleiteranordnung und Verfahren zu dessen Herstellung
JP4900165B2 (ja) * 2007-09-27 2012-03-21 三菱電機株式会社 電力半導体モジュール
DE102008058189A1 (de) 2008-11-20 2010-07-22 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Feuchtigkeitsdichtes Leistungshalbleitermodul mit Zentriereinrichtung
DE102009022659B4 (de) 2009-05-26 2012-01-19 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Kontakteinrichtung für ein Leistungshalbleitermodul
DE102009024421B3 (de) * 2009-06-09 2010-07-08 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Steueranschlusskontakteinrichtung für ein Leistungshalbleiterbauelement
DE102010035980B4 (de) * 2010-09-01 2014-03-20 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Anschlusseinrichtung für ein Leistungshalbleitermodul
JP5952626B2 (ja) 2012-04-19 2016-07-13 矢崎総業株式会社 基板コネクタ
US20140115891A1 (en) * 2012-10-25 2014-05-01 Po-Kai Hsu Connector terminal preparation method
US8651900B1 (en) * 2012-10-25 2014-02-18 Po-Kai Hsu Connector terminal
JP6877251B2 (ja) * 2017-06-09 2021-05-26 三菱電機株式会社 電力用半導体装置
CN111681995B (zh) * 2020-04-29 2022-09-09 株洲中车时代半导体有限公司 晶闸管元件、晶闸管元件装配结构及软启动器
US20230116532A1 (en) * 2021-10-13 2023-04-13 Eaton Intelligent Power Limited Connector packages for fastenerless circuit coupling

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL294497A (ja) * 1963-06-24
GB1078342A (en) * 1965-02-23 1967-08-09 Westinghouse Brake & Signal Semi-conductor device and manufacture thereof
DE1564567C3 (de) * 1966-04-16 1975-03-27 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Halbleiteranordnung
US3448352A (en) * 1966-07-26 1969-06-03 Westinghouse Electric Corp Multiple electrical contact assembly for compression bonded electrical devices
US3457988A (en) * 1967-05-15 1969-07-29 Westinghouse Electric Corp Integral heat sink for semiconductor devices
US3513361A (en) * 1968-05-09 1970-05-19 Westinghouse Electric Corp Flat package electrical device
US4263607A (en) * 1979-03-06 1981-04-21 Alsthom-Atlantique Snap fit support housing for a semiconductor power wafer
DE9113930U1 (ja) * 1991-11-08 1992-02-13 Aerzener Maschinenfabrik Gmbh, 3258 Aerzen, De
DE4227063A1 (de) * 1992-08-15 1994-02-17 Abb Research Ltd Abschaltbares Hochleistungs-Halbleiterbauelement
JP3000809B2 (ja) * 1993-01-08 2000-01-17 富士電機株式会社 半導体装置
US5631959A (en) * 1995-05-01 1997-05-20 Lucent Technologies Inc. Method and apparatus for protecting circuitry accessible through metallic contacts from static discharge damage
DE19651623A1 (de) * 1996-12-12 1998-06-18 Zunhammer Sebastian Dipl Ing F Güllefahrzeug
DE19651632C2 (de) * 1996-12-12 2000-12-14 Semikron Elektronik Gmbh Leistungshalbleitermodul
CN1257209A (zh) * 1998-11-17 2000-06-21 埃皮技术公司 小间距接触装置
US6155846A (en) * 2000-01-03 2000-12-05 Motorola, Inc. Electrical contactor assembly
DE10017319C2 (de) * 2000-04-10 2003-12-18 2 E Mechatronic Gmbh & Co Kg Anordnung zur elektrischen Kontaktierung
EP1291914A1 (de) * 2001-09-10 2003-03-12 ABB Schweiz AG Druckkontaktierbares Leistungshalbleitermodul
DE10231219C1 (de) * 2002-07-11 2003-05-22 Semikron Elektronik Gmbh Druckkontaktiertes Halbleiterrelais
CN2660716Y (zh) * 2003-09-23 2004-12-01 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器
TW200536211A (en) * 2004-04-16 2005-11-01 Advanced Connection Tech Inc Electric connector
CN200941348Y (zh) * 2006-08-18 2007-08-29 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 开关

Also Published As

Publication number Publication date
US7396261B2 (en) 2008-07-08
CN1763940A (zh) 2006-04-26
EP1648029A2 (de) 2006-04-19
DE102004050588A1 (de) 2006-04-20
ES2309627T3 (es) 2008-12-16
EP1648029A3 (de) 2006-09-13
CN100442493C (zh) 2008-12-10
PL1648029T3 (pl) 2008-12-31
JP2006114883A (ja) 2006-04-27
EP1648029B1 (de) 2008-07-02
ATE400061T1 (de) 2008-07-15
DK1648029T3 (da) 2008-10-20
DE502005004565D1 (de) 2008-08-14
US20060154527A1 (en) 2006-07-13
DE102004050588B4 (de) 2009-05-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5392966B2 (ja) パワー半導体モジュールやディスクセル用のコンタクト装置並びに該コンタクト装置を備える組立品
US10243292B2 (en) Holder assembly
JP5156355B2 (ja) 接触バネを有するパワー半導体モジュール
JPH0799766B2 (ja) 半導体素子
JP2011513980A (ja) ワイヤ素子とワイヤ素子を固定する少なくとも1つのバンプを備えた溝を有するマイクロエレクトロニックチップのアセンブリ
JP5238198B2 (ja) パワー半導体素子及びコンタクト装置を有する装置
JPS61200675A (ja) 過渡現象抑圧電気コネクタ
US7450389B2 (en) Sub-assembly
CN104425399A (zh) 半导体模块
JP5555477B2 (ja) プレストレスされる補助接点ばねを有するパワー半導体モジュール
JP5175535B2 (ja) 接触バネを有するパワー半導体モジュール
JP4848252B2 (ja) 端子要素を備えたパワー半導体モジュール
CN100395928C (zh) 半导体激光设备
JP4002758B2 (ja) パワー半導体モジュール
JP2012533897A (ja) 電気的接点接続部を備える圧電アクチュエータ
JP4659370B2 (ja) 避雷器の能動部
US3293510A (en) Semiconductor controlled rectifier with spring biased electrode contacts
KR200434043Y1 (ko) 전류-전압 발생용 적층형 압전소자 장착용 케이스
CN108010891B (zh) 功率半导体模块
JP5856864B2 (ja) 接続端子および接続端子ユニット
US20140335706A1 (en) Electrical connector
KR101111038B1 (ko) 보조 연결부를 구비하는 전력 반도체 모듈
CN102782958A (zh) 跳线装置
CN108780832B (zh) 热电转换模块
JPWO2019146796A1 (ja) 試料保持具

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080708

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110628

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110705

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110926

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120703

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120924

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130528

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130716

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20130717

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20130828

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131008

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131015

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5392966

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250