JP5387156B2 - 基板搬送装置及び基板検査装置 - Google Patents

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本発明は、例えば液晶ディスプレイパネルやプラズマディスプレイパネル等に用いられるガラス基板やカラーフィルタなどを搬送及び検査する基板搬送装置及び基板検査装置に関するものである。
近年の液晶ディスプレイパネルやプラズマディスプレイパネル等のフラットパネルディスプレイ等に用いられるガラス基板やカラーフィルタ等では、製造工程において欠陥等の検査が行われている。近年では、フラットパネルディスプレイ等の大型化、薄型化と同時に、例えばカラーフィルター等では画面の高精細化が進み、これに伴って検査機自体も高性能なものが求められている。例えば、5μm以下の欠陥を検査するような場合、分解能が3μm以下の超高分解能カメラを用いた検査機が品質保証の点から必須となってきている。このため、ガラス基板やカラーフィルタを検査する場合には、それを搬送する搬送装置には高い搬送精度が求められるようになっている。
基板検査工程における基板の搬送方法として、従来は次に示す3つの搬送方式が用いられていた。第一の方式は、図1に示すように基板1を円柱状の回転用シャフト2に設けられた多数の回転コロ3上を搬送する方式(コロ搬送装置)が主に用いられてきたが、例えば、搬送中の基板の重さによる撓みや搬送時の上下変動や蛇行により検査が不正確になったり、基板がコロに衝突してしまい傷つきや割れといった様々な問題が発生していた。
この様な、基板の撓みや搬送時の上下変動や蛇行、傷つきや割れを回避するために振動が大きい大型基板に関してはコロを用いたコンベア搬送に替えて、基板全面をエアによって浮上させ非接触に搬送する第二の方式(エア搬送装置)が用いられている。
エア搬送装置は、前記のように搬送面とは接触しないでエア浮上による搬送が行われるものである。しかしながら、当初の非接触エア浮上搬送技術は基板をエアの吹き出しにより基板を浮上させるだけであったので、基板の浮上精度むらが大きく、搬送中の浮上むらから基板の上下変動が起きてしまい、検査面が検査用カメラの被写体深度から外れてしまう問題があり、正確な検査を行うことが出来なかった。そこで基板の浮上に関するこのような問題の解決策として、図2に示されるような、エアの吹き出しと同時に吸い込みを行うことで、浮上量の変動をエアの吸引力によって抑える基板浮上機構が開発された。図2示す基板浮上機構は、基板1を基板浮上パッド4及び5によって浮上させながら矢印9の方向に搬送し、基板浮上機構4及び5の隙間8で検査画像を得て検査を行うものである。基板浮上パッド4及び5にはエアー供給機構6及びエアー排気機構7によってエアの吹き出しと同時に吸い込みを行うものである。
上記の技術において、エア搬送による浮上むらは解消され、安定した浮上精度にて基板を浮上させることが可能になったが、エア浮上による搬送においても基板の蛇行を解決するには至らず、更に、例えば透過照明を用いた検査カメラで撮像する際に、前記基板浮上機構を並べて設置し基板浮上機構間で撮像しなければならない。また反射照明を用いる際でも、例えば基板浮上機構の映し込みによる擬似欠陥といった誤検出を防ぐために透過照明を使用する場合と同様に基板浮上機構間の隙間を利用して撮像しなければならない。従って、基板検査装置においては基板浮上機構を切り離して基板浮上機構と基板浮上機構間の隙間を有する構造とする必要がある。
前記基板浮上機構を用いた場合、基板全面が基板浮上機構上にある場合は浮上変動が抑えられ安定した浮上が可能となるが、基板を基板浮上機構と基板浮上機構間の隙間を搬送させた場合、エアの吹き出しとエアの吸引や基板自体の撓みによって、基板の搬送方向先端部及び後端部ばたつきが起きてしまい、超高分解カメラにおいては被写体深度から外れてしまうおそれがある。また、基板浮上機構上で基板を搬送させた場合においても、基板浮上機構表面全面のエア吹き出し部とエア吸引部はスポット的に配列されているために、基板がエア吹き出し部とエア吸引部を交互に乗り越える度に基板の搬送方向先端部及び後端部にばたつきが発生してしまう。
基板が前記基板浮上機構間の隙間を通過する際のばたつきを抑えるために基板浮上機構間の隙間にコロが取り付けてあり、基板の通過後下方に移動するという方法が挙げられる。
しかしながら、基板の欠陥検査用に例えばラインセンサー型の高分解能カメラを使用し基板全面の検査を行う場合、基板浮上機構間の隙間に前記コロを使用すると、照明の設置が難しく、また、コロ上の基板面に関しては欠陥検査が行えないという問題が出てくる。
このように基板を浮上させて搬送した場合においても、基板の搬送時における蛇行の問題や、基板浮上機構間を通過する際の基板のばたつきの問題や、照明設置が困難であるといった問題があった。
上記のコロ搬送方式や基板浮上機構を用いた基板搬送方式とは別方式の第三の方式の基板搬送装置の例を図3及び図4に示す。図3及び図4に示す基板搬送装置は、基板を保持しながら搬送する装置(基板保持搬送装置)である。図3(a)は、基板保持搬送装置を上面から見た模式図、図3(b)は図3(a)の基板搬送方向手前(A)から見た側面の模式図、図4(c)は図3(a)の(B)から見た側面の模式図を示したものである。
図3(a)及び(b)に示す第三の方式の基板保持搬送装置において、基板1は基板搬送方向11に対して直交する方向の左右の両端部12a及び12bが、基板支え板14a及び14bに備えられたコロ18a及び18bと、クランプ金具20a及び20bとに、挟まれるように固定される。基板支え板14a及び14bを昇降する昇降機構として、例えば、エアーシリンダ21a及び21bは移動台24の上に固定されており、移動台24は移動台ステージ25上を紙面の手前及び奥方向に向かって移動する。コロ群16は支柱23によって支えられたコロ用シャフト26に固定されており、搬送される基板1に接触しながら回転する。
図3及び図4に示す基板保持搬送装置によって基板を搬送した場合には、搬送中の基板の重さによる撓みや搬送時の上下変動や蛇行により検査が不正確になったり、基板がコロに衝突してしまい傷つきや割れといった様々な問題が解決される。しかし、この基板保持搬送装置に基板1を出し入れする場合は、基板1を基板保持搬送装置にロボットハンドによって移載するが、基板1をロボットのハンドに載せたまま基板保持搬送装置に載置し、検査装置によって検査し、検査終了後、再びロボットのハンドを搬送装置に挿入して基板1を受け取り、搬送装置の外に移載する。ロボットのハンドを搬送装置に挿入する場合にはエアーシリンダ21b及び21c(同様にもう一方は、エアーシリンダ21a及び21d)を下降させることによって、コロ18a及び18bと基板1の間にロボットのハンドを挿入する隙間をつくる必要がある。また、逆に基板1を搬送装置に載置させた後には、エアーシリンダ21bと21c(エアーシリンダ21a及び21d)を上昇させて検査に入る。エアーシリンダ21bと21c(エアーシリンダ21a及び21d)を上昇させる際には、エアーシリンダ21bと21c(エアーシリンダ21a及び21d)の上昇速度を同じにして上昇させること(同期を取る)が必要で、同期が取れない場合はエアーシリンダ内部にかじりが発生してエアーシリンダの上昇または下降動作が停止してしまう問題点がある。
特開2009−22823号公報 特開2008−7319号公報 特開2002−301618号公報
上記第三の方式の基板保持搬送装置を用いて基板を搬送する場合には、搬送中の基板の重さによる撓みや搬送時の上下変動や蛇行により検査が不正確になったり、基板がコロに衝突してしまい傷つきや割れといった様々な問題が解決されが、次に示す問題点がある。
図5は上記第三の方式である基板保持搬送装置を用いて基板の検査を行う場合の搬送装置の動作フローを示す図である。また、図6(a)及び図6(b)は搬送装置の状態図を示す。
図3(a)の基板保持搬送装置の上面図、図5の動作フロー図、図6、図7の搬送装置の状態図を用いて搬送装置の動作フローを説明する。移動台24が検査スタート位置において(S−1)、基板1を上流の製造装置または基板収納装置から搬送装置に移載するために移載ロボットA(図示せず)のハンド上に基板1を載置し(S−2)、基板1をコロ群16上に載置する(S−3)。移動台24が検査スタート位置にある時は、搬送装置は図6(a)に示す状態にあり、移載ロボットAのハンドは基板1を載せたまま搬送装置の搬送方向と直交する方向からコロ群16と基板支え板17bの間30に移載ロボットAのハンドを挿入して基板1をコロ群16上に載置する。
基板1をコロ群16上に載置した後、移載ロボットAのハンドが退き更に昇降機構として例えばエアーエアーシリンダ21b、21c(同様にエアーシリンダ21a及び21d)を用いて、エアーエアーシリンダ21b、21c(エアーシリンダ21a及び21d)が上昇して最上点で停止する(S−4)。この最上点は、基板1がロータ群16及びコロ18b(同様にもう一方は18a)に水平に載置されるような位置であって、エアーシリンダ21b、21c(エアーシリンダ21a及び21d)にかかる圧力を予め調整することによって最上点の位置が求められる。次に、基板1の外側から回転したクランプ金具20b(もう一方は20a)によって基板1の両端部12a、12bの上面を押さえ、コロ18b(18a)に保持する(S−5)。この時の搬送装置の状態を図6(b)に示す。
基板1が保持された後、移動台24が移動台ステージ25上を移動して基板1を搬送する(S−6)。この時、基板1は両端部12a,12bがコロ18b(18a)及びクランプ金具20b(20a)によって保持された状態でコロ群16上を搬送される。また、搬送の途中で検査装置(図示せず)によって検査される。
移動台ステージ25の上を移動台24が移動して検査エンド位置で停止した後(S−7)、基板1を基板搬送装置の外(検査工程の下流の製造装置あるいは基板収納装置)に移載するために、クランプ金具20b(20a)のクランプが外れ、更にクランプ金具20b(20a)が基板1の外側に回転した後(S−8)、エアーシリンダ21b、21c(エアーシリンダ21a及び21d)が下降し、下降最下点で停止する(S−9)。エアーシリンダ21b、21c(エアーシリンダ21a及び21d)が下降最下点で停止した時の搬送装置の状態を図7(c)に示す。
次に図7(c)の状態で、移載ロボットB(図示せず)のハンドを矢印30で示される間隔、即ち、基板1の下面と基板支え板17b(もう一方は17a)の上面との隙間に移載ロボットB(図示せず)のハンドを挿入して基板1を移載ロボットB(図示せず)のハンドに載置して(S−10)、搬送装置の外に移載する(S−11)。基板1を搬送装置の外に移載した後、エアーシリンダ21b、21c(エアーシリンダ21a及び21d)が最下点に下降した状態で移動台24が検査スタート位置まで戻る(S−12)。この時の搬送装置の状態は図6(a)で示される状態となっており、次の基板の検査フローに移る。
このように、基板に用いて基板の検査を行う場合には、基板保持搬送装置に基板を投入した後に基板支え板をエアーシリンダ21b、21c(エアーシリンダ21a及び21d)を上昇させ、逆に基板保持搬送装置から基板を搬出する前には下降させる動作が基板1枚毎に必要となる。このエアーシリンダ21b、21c(エアーシリンダ21a及び21d)の上昇、下降は基板1枚を検査する毎に行われる。この上昇と下降を行う際には、基板支え板17b(17a)の昇降動作は一対2組計4個のエアーシリンダによって駆動している為、昇降の際には各対の2つのエアーシリンダの上昇、下降動作の同期を合わせなければならない。
しかしながら、エアーシリンダの寿命やエアーシリンダにかかる空気圧力変動により2つのエアーシリンダの同期が崩れた場合、基板支えプレートが傾きエアーシリンダ内部にかじりが発生し、エアーシリンダにかかる負荷が大きくなり、エアーシリンダの寿命低下や動作不良が起こり、エアーシリンダの停止の原因となる。搬送装置が停止した場合は停止後の処置に時間と費用がかかり、それを未然に防ぐためにはエアーシリンダの定期チェックが必要となるが、エアーシリンダの上昇、下降の際の速度は、スピードコントローラを用いて圧力調整を行うが、これには多くの時間を要するといった問題がある。
昇降機構としてエアーシリンダを例に説明したが、エアーシリンダではなくボールねじをパルス制御して昇降機構として用いた場合等においても、上記同期の崩れが発生する問題がある。
そこで本発明は係る問題を解決するために、基板保持搬送装置を用いた基板検査装置において、エアーシリンダの寿命や圧力変動により2つのエアーシリンダの同期が崩れた場合にエアーシリンダ内部のかじりを吸収して、エアーシリンダにかかる負荷を少なくし、エアーシリンダの寿命低下や動作不良を低減する搬送装置を備えた基板検査装置を提供することを課題とする。
上記の課題を解決するための手段として、基板の搬送方向に対して直交する方向の基板の左右の両端部を基板保持部で保持して多数の回転コロ上の基板を搬送する搬送装置であって、基板保持部の昇降を1対からなる2組のエアーシリンダで駆動させ、1対のエアーシリンダの内、一方のエアーシリンダ上部には基板保持部が搬送方向と平行な方向に回転可能な機能を有する回転機構部と、他のエアーシリンダ上部には基板保持部が搬送方向と平行な方向に回転可能で且つ可動可能な機能を有する回転機構部と、を備えたことを特徴とする基板搬送装置である。
また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の基板搬送装置を用いて基板を検査することを特徴とする基板検査装置である。
本発明によれば、基板を検査するために搬送装置で基板を搬送する場合、基板の重さによる撓みや搬送時の上下変動や蛇行がなく正確な検査を可能とする。また、基板の傷つきや割れを防ぎ、更に、搬送装置への基板の出し入れの際に基板保持部を昇降するための2
つのエアーシリンダのの昇降の同期が崩れた場合に起こるエアーシリンダ内部のかじりを吸収して、エアーシリンダにかかる負荷を少なくし、エアーシリンダの動作不良を低減することが可能となる。その結果、エアーシリンダの定期的な調整を省くことが出来、更にエアーシリンダの寿命を伸ばすことができるので、設備に要する費用を削減することが期待出来、更に検査処理の効率を上げることが出来るので、結果として基板の製造効率を向上させることが期待出来る。
従来用いられているコロ搬送装置を示す図。 従来用いられている基板浮上機構による搬送装置を示す図。 従来用いられている基板を保持しながら搬送する基板保持搬送装置を示す図。 (a)は基板保持搬送装置を上面から見た模式図。 (b)は図3(a)の基板搬送方向手前(A)から見た側面の模式図。 従来用いられている基板を保持しながら搬送する基板保持搬送装置を示す図。 (c)は図3(a)の側面(B)から見た側面の模式図 従来用いられている基板保持搬送装置を用いて基板の検査を行う場合の搬送装置 の動作フローを示す図。 搬送装置の状態を示す図。 (a)は移動台が検査スタート位置にある状態を示す図。 (b)は基板の両端部が保持された状態を示す図。 搬送装置の状態を示す図。 (c)はエアーシリンダが下降最下点で停止した状態をに示す図。 本発明に係る基板検査装置の概略構成図。 本発明に係る基板検査装置に用いられる基板搬送装置を示す図。 (a)は上方から見た概略図。 (b)は図9(a)の基板搬送方向の手前(C)からみた模式図。 本発明に係る基板検査装置に用いられる基板搬送装置を示す図。 (c)は図9(a)の側面(D)から見た側面の模式図。 本発明に係る基板検査装置に用いられる基板搬送装置のエアーシリンダの上部を示す図。 (a)と(b)は、基板支え板44bが回転可能な機能を有する回転機構部60bを説明するための図。 (c)と(d)は、基板支え板44bが回転可能で且つ可動可能な機能を有する回転機構部61cを説明するための図。 本発明に係る基板検査装置に用いられる基板搬送装置の動作フローを示す図。 本発明に係る基板検査装置に用いられる基板搬送装置の状態を示す図。 (a)は移動台が検査スタート位置にある状態を示す図。 (b)は基板の両端部が保持された状態を示す図。 本発明に係る基板検査装置に用いられる基板搬送装置の状態を示す図。 (c)はエアーシリンダが下降最下点で停止した状態をに示す図。
以下、本発明の実施形態である基板検査装置について図面に基づいて説明する。
図8は本発明に係る基板検査装置の概略構成図である。基板検査装置は基板搬送装置31と基板30を照明する反射用光源32と透過用光源33と基板30を撮像する撮像カメラ34と撮像カメラ34で撮像した画像を処理する画像処理部35と基板搬送装置31、反射用光源32、透過用光源33、撮像カメラ34等を制御する制御部36を有するコントローラ部37を備えている。
反射用光源32及び透過用光源33によって基板30の搬送方向に直交する方向に線状に基板30が照明されており、一方、撮像カメラ34にはリニアセンサカメラが使用され基板30の搬送方向に直交する方向に1対配置され、基板30が一定距離搬送される毎に基板30の画像を線状に撮像し、これを繰り返すことによって基板30の全面が撮像され、画像処理することによって検査が行われる。
図9を用いて本発明に係る基板検査装置に用いられる基板搬送装置の一例を説明する。図9(a)は上方から見た概略図、図9(b)は基板搬送方向41に対して手前(C)からみた模式図、図10(c)は図9(a)の側面(D)から見た側面の模式図を示す。
図9(a)、(b)において、基板40は基板搬送方向41に対して直交する基板の両端部の一方の端部42aが、基板保持部である基板支え板44aに備えられたコロ48aとクランプ金具50aによって、クランプ金具50aとコロ48aに挟まれるように固定される。また、もう一方の基板の端部42bが、基板保持部である基板支え板44bに備えられたコロ48bとクランプ金具50bに挟まれるように固定される。基板40はクランプ金具50aとコロ48a及びクランプ金具50bとコロ48bに挟まれるように固定されたまま、移動台ステージ55上を移動台54が移動して、矢印41で示される基板搬送方向に搬送される。
図9(b)において、エアーシリンダ51aの上部には連結治具60aが固定されており、連結治具60aには更に基板支え板44aが回転可能な機能を有する回転機構部61aが連結され、更に回転機構部61aは基板支え板44aに固定されている。もう一方のエアーシリンダ51bの上部にも同様に連結治具60bが固定されており、連結治具60bには更に基板支え板44bが回転可能な機能を有する回転機構部61bが連結され、回転機構部61bは基板支え板44bに固定されている。
図10(c)において、前記エアーシリンダ51bの他の一方のエアーシリンダ51cの上部には連結治具60cが固定されている。連結治具60cには基板支え板44bが基板の搬送方向41と平行な方向に回転可能で且つ可動可能な機能を有する回転機構部が連結されている。
図11は、図9に示されるエアーシリンダ51bとエアーシリンダ51cの上部の機構を例として図11(a)と図11(b)は、基板支え板44bが回転可能な機能を有する回転機構部60bを説明するための図で、同様に図11(c)と図11(d)は、基板支え板44bが回転可能で且つ可動可能となる機能を有する回転機構部61cを説明するための図である。図11(a)は図10(c)に示されるエアーシリンダ51bの周辺部を詳細に示した図で、基板支え板44b、連結治具60b、回転用シャフト62b、エアーシリンダ51b、移動台54を示し、図11(b)は、図11(a)の(E)の方向から見た側面図を示す。図11(c)は図10(c)に示されるエアーシリンダ51cの周辺を詳細に示した図で、基板支え板44b、連結治具60c、エアーシリンダ51c、回転用シャフト62c、移動台54を示し、図11(d)は、図11(c)の(F)の方向から見た側面図を示す。
図11(b)において、エアーシリンダ51bの上部には連結治具60bが固定されており、連結治具60bには回転用シャフト62bが固定されている。回転機構部61bにはベアリング63bが内蔵されており、ベアリング63bには回転用シャフト62bが挿入され、回転機構部61bは図11(a)の64bで示す回転方向(図11(b)の65bで示す回転方向)に回転する。また、回転機構部61bは基板支え板44bに固定されているため、基板支え板44bは回転機構部61の回転の動きに対応して回転する。
一方、図11(d)において、エアーシリンダ51cの上部には連結治具60cが固定され、連結治具60cには回転用シャフト62cが固定されている。基板支え板44aが回転可能で且つ可動可能な機能を有する回転機構部61cは基板支え板44bが可動可能とするガイドレール66を備えている。連結治具60cには回転用シャフト62cが固定されている。回転機構部61cにはベアリング63cが内蔵されており、ベアリング63cには回転用シャフト62cが挿入され、回転機構部61cは図11(c)の64cで示す回転方向(図11(d)では65cで示す回転方向)に回転する。また、基板支え板44bにはガイドレール66に対応するガイドレール用溝67が設けられており、基板支え板44bが可動できる機構を有する構造となっている。これによってガイドレール66がガイドレール用溝67に沿って移動するようになっており、基板支え板44bは図11(c)の矢印69で示される方向(図11(d)では紙面の手前及び奥方向)に移動することが出来る。
図12は本発明に係る基板搬送装置の動作フロー図を示す。図12の動作フロー図と図9の基板搬送装置を示す図とを用いて本発明に係る基板搬送装置の動作フローを説明する。移動台54が検査スタート位置にある時(H−1)、基板40を上流の製造装置または基板収納装置から搬送装置に移載するために移載ロボットC(図示せず)のハンドによって基板40を移載ロボットC(図示せず)のハンドに載せ(H−2)、コロ群46上に載置する(H−3)。移動台54が検査スタート位置にある時は、搬送装置は図13(a)の状態にあり、移載ロボットCのハンドは基板40を載せたまま搬送装置の搬送方向と直交する方向からコロ群46の間に移載ロボットCのハンドを挿入して基板40をコロ群46上に載置する。
基板40をコロ群46上に載置した後、移載ロボットCのハンドが退き、更に昇降機構であるエアーシリンダ51a、51b、51c、51dが上昇して最上点で停止する(H−4)。この最上点は、基板40がローラ群46及びコロ48a、48bに水平に載置されるような位置であって、エアーシリンダ51a、51b、51c、51dにかかる空気圧力を各々予め調整することによって最上点の位置が求められる。また、エアーシリンダ51a、51b、51c、51dが最上点に上昇するときの上昇速度カーブは、各々のエアーシリンダにかかる空気圧力のカーブを予め調整することによって決められる。しかしながら、予め調整された各々のエアーシリンダにかかる空気圧力のカーブが変わったり、エアーシリンダそのものが性能が劣化した場合には、要求された上昇速度が得られなくなることがある。そのため、例えばエアーシリンダ51aと51d(または、エアーシリンダ51bと51c)の上昇速度に速度差が生じ(即ち、上昇速度が同期していない)、基板支え板44a(または、44b)は上昇時に水平を保って上昇することが出来なくなり、その結果、エアーシリンダ内部にかじりが発生し、エアーシリンダの動きが止まったり、故障の原因となってしまう。そこで、本発明では、基板支え板が回転可能な機能を有する回転機構部(図11(a),(b)に示される)と基板支え板が回転可能で且つ可動可能な機能を有する回転機構部(図11(c),(d))を設けて上記エアシリンダの上昇速度に速度差が発生した場合でも、エアシリンダ内部のかじりを発生せずに最上点まで基板支え板44a(または、44b)を上昇させることが出来る。次に、基板40の外側から回転するクランプ金具50a、50bによって基板40の両端部42a、42bの上面を押さえ、コロ48a、48bに保持する(H−5)。この時の搬送装置の状態を図13(b)に示す。
基板40が保持された後、移動台54が移動台ステージ55上を移動して基板40を搬送する(H−6)。この時、基板40は両端部42a、42bがコロ48a、48b及びクランプ金具50a、50bによって保持された状態でコロ群46上を搬送されながら検査装置(図示せず)によって検査される。
移動台ステージ55上を移動台54が移動して検査エンド位置で停止した後(H−7)、基板40を基板搬送装置の外(検査工程の下流の製造装置あるいは基板収納装置)に移載するために、クランプ金具50a、50bのクランプが外れ、更にクランプ金具50a、50bが基板40の外側に回転した後(H−8)、エアーシリンダ48a、48b、48c、48dが下降し、下降最下点で停止する(H−9)。エアーシリンダ48a、48b、48c、48dが下降最下点で停止した時の状態を図14(c)に示す。エアーシリンダ48a、48b、48c、48dの下降時の下降速度も上昇速度のカーブと同様に予め各々のエアーシリンダ48a、48b、48c、48d毎に調整された空気圧力のカーブによって決められ下降する。下降時においても、上昇時と同様にエアーシリンダ51aと51d(または、エアーシリンダ51bと51c)に下降速度差が生じた(即ち下降速度が同期しない)場合は、エアーシリンダ内部にかじりが発生し、エアーシリンダの動きが止まったり、故障の原因となってしまう。本発明では、下降時の速度差が発生した場合でも、基板支え板が基板の搬送方向と平行な方向に回転可能な機能を有する回転機構部(図11(a),(b)に示される)と基板支え板が基板の搬送方向と平行な方向に回転可能で且つ可動可能な機能を有する回転機構部(図11(c),(d))によって、エアシリンダ内部のかじりを発生せずに最下点まで基板支え板44a、44bを下降することが出来る。
次に図14(c)の状態で、矢印70で示される間隔、即ち、基板40の下面と基板支え板44b(44a)の上面との隙間に移載ロボットD(図示せず)のハンドを挿入して基板40を移載ロボットD(図示せず)のハンドに載せたまま(H−10)、搬送装置の外に移載する(H−11)。基板40を搬送装置の外に移載した後、エアーシリンダ51b、51cが最下点に下降した状態で移動台54が検査スタート位置まで戻る(H−12)。この時の搬送装置の状態は図13(a)で示される状態となっており、次の基板の検査フローに移る。
本発明に係る基板検査装置に用いられる基板搬送装置の実施の形態では、図9に示されるエアーシリンダ51aと51bの上部に基板支え板が基板の搬送方向と平行に回転可能な機能を有する回転機構を設け、一方エアーシリンダ51cと51dの上部には基板支え板が基板の搬送方向と平行に回転可能で且つ可動可能な機能を有する回転機構を備えた例を説明したが、エアーシリンダ51aと51bの上部に基板支え板が基板の搬送方向と平行に回転可能で且つ可動可能な機能を有する回転機構を設け、一方エアーシリンダ51cと51dの上部に基板支え板が基板の搬送方向と平行に回転可能な機能を有する回転機構を設けても良い。
本発明は、液晶ディスプレイパネルやプラズマディスプレイパネル等に用いられるガラス基板やカラーフィルタの検査装置に適用される。
以上のように、本発明によれば基板を搬送装置によって搬送しながら検査する場合に、基板の搬送方向と直交する方向の基板の両端部を保持しながら検査することによって、基板の撓みや蛇行の無い、高分解能な検査を行うことが出来る。また、基板の傷つきやわれを防ぐことが出来る。更に、搬送装置への基板の出し入れの際に行う基板保持部の昇降時に、1対の昇降機構の昇降速度の同期が取れなかった場合でも、一方の昇降機構の上部には基板支え板が基板の搬送方向と平行に回転可能な機能を有する回転機構と、他の昇降機構の上部には基板支え板が基板の搬送方向と平行に回転可能で且つ可動可能な機能を有する回転機構を設けることによって、昇降機構の内部にかじりが発生することが無くなる。その結果、昇降機構の昇降速度の定期的な調整の手間が省け、また昇降機構の寿命を長くし、設備費用の低減や検査効率の向上が期待できる。
1・・・基板
2・・・回転用シャフト
3・・・多数の回転コロ
4・・・基板浮上パッド
5・・・基板浮上パッド
6・・・エアー供給機構
7・・・エアー排気機構
8・・・隙間
9・・・基板の搬送方向を示す矢印
11・・・基板の搬送方向を示す矢印
12a、12b・・・基板の左右の両端部
14a、14b・・・基板支え板
18a、18b・・・コロ
20a、20b・・・クランプ金具
21a、21b、21c、21d・・・エアーシリンダ
24・・・移動台
25・・・移動台ステージ
16・・・コロ群
23・・・支柱
26・・・コロ用シャフト
18a、18b・・・コロ
20a、20b・・・クランプ金具
30・・・間隔を示す矢印
17a、17b・・・基板支え板
31・・・基板搬送装置
30・・・基板
32・・・反射用光源
33・・・透過用光源
34・・・撮像カメラ
35・・・画像処理部
36・・・制御部
37・・・コントローラ部
40・・・基板
41・・・基板搬送方向
42a、42b・・・基板の両端部
44a、44b・・・基板支え板
48a、48b・・・コロ
50a、50b・・・クランプ金具
55・・・移動台ステージ
54・・・移動台
41・・・基板搬送方向を示す矢印
51a、51b、51c、51d・・・エアーシリンダ
60a、60b、60c・・・連結治具
61a、61b、61c・・・回転機構部
62b、62c・・・回転用シャフト
65b、65c・・・回転方向を示す矢印
66・・・ガイドレール
67・・・ガイドレール用溝
69・・・基板支え板44bの移動方向を示す矢印

Claims (2)

  1. 基板の搬送方向に対して直交する方向の基板の左右の両端部を基板保持部で保持して多数の回転コロ上の基板を搬送する搬送装置であって、基板保持部の昇降を1対からなる2組のエアーシリンダで駆動させ、1対のエアーシリンダの内、一方のエアーシリンダ上部には基板保持部が搬送方向と平行な方向に回転可能な機能を有する回転機構部と、他のエアーシリンダ上部には基板保持部が搬送方向と平行な方向に回転可能で且つ可動可能な機能を有する回転機構部と、を備えたことを特徴とする基板搬送装置。
  2. 請求項1に記載の基板搬送装置を用いて前記基板を検査することを特徴とする基板検査装置。
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